1.一種基(ji)于(yu)時域(yu)反射法(fa)的電子線路(lu)太(tai)赫(he)(he)茲(zi)(zi)無(wu)損(sun)檢測(ce)系統(tong)(tong)，其(qi)特征在于(yu)，所述系統(tong)(tong)包括光源與分光模(mo)塊(kuai)、強場太(tai)赫(he)(he)茲(zi)(zi)脈沖(chong)產生模(mo)塊(kuai)、太(tai)赫(he)(he)茲(zi)(zi)收集與傳輸模(mo)塊(kuai)、樣(yang)品檢測(ce)模(mo)塊(kuai)和太(tai)赫(he)(he)茲(zi)(zi)脈沖(chong)探測(ce)模(mo)塊(kuai)；其(qi)中，
2.根據權利要求(qiu)1所(suo)述的(de)基于時域反射(she)法(fa)的(de)電(dian)子線路(lu)太赫茲(zi)無(wu)損檢測系統，其(qi)特征在于：
3.根據權利要求2所述(shu)的基于時域(yu)反射法的電(dian)子線(xian)路太(tai)赫茲(zi)無損檢測(ce)系統，其特征在(zai)于，對于所述(shu)太(tai)赫茲(zi)脈沖探(tan)測(ce)模(mo)塊：
4.根據權利要求1所(suo)述的基于時(shi)域反射(she)法的電(dian)子線路太赫茲(zi)無損檢測系統，其特征在于：
5.根(gen)據(ju)權利要求4所述(shu)的(de)基于時域反射法的(de)電(dian)子(zi)線路太赫茲無損檢測系統，其特征在于，對于所述(shu)太赫茲脈(mo)沖探測模塊：
6.根據權利要求2-5中任(ren)一項所(suo)述的基于時域(yu)反射法(fa)的電子線路太赫茲無損檢測系(xi)統，其(qi)特征(zheng)在于，對于所(suo)述強(qiang)場太赫茲脈沖產(chan)生模(mo)塊：
7.根據權利要求6所述的基于(yu)時域反射法的電(dian)子線路太(tai)赫(he)(he)茲無損檢測(ce)系(xi)統，其特征在于(yu)，對(dui)于(yu)所述太(tai)赫(he)(he)茲收集與(yu)傳輸模塊：
8.根(gen)據權(quan)利要求7所述(shu)的(de)基于時域反射法(fa)的(de)電子線路(lu)太(tai)赫茲無損(sun)檢測(ce)系統(tong)，其特征在于，對于所述(shu)樣品檢測(ce)模塊：
9.根據權利要求8所述(shu)的(de)基于時域反射法的(de)電子線路太赫茲無損檢(jian)測(ce)系統，其特征在于：所述(shu)激(ji)光器(qi)(1)為飛秒(miao)激(ji)光器(qi)或皮(pi)秒(miao)激(ji)光器(qi)，所述(shu)脈(mo)寬壓縮器(qi)(15)將脈(mo)寬壓縮至(zhi)100fs以內。
10.根據權利要(yao)求9所(suo)述(shu)的(de)基于時域反射法(fa)的(de)電子(zi)線路太赫茲無損(sun)檢測系(xi)統，其特征(zheng)在(zai)于：所(suo)述(shu)探測晶(jing)體(ti)(22)使用電光晶(jing)體(ti)。