技術編號：39427267
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及太赫茲無損檢測，具體涉及一種基于時域反射法的電子線路太赫茲無損檢測系統。背景技術、電子線路和半導體器件如今正在向著高集成度、小尺寸封裝的方向發展，這也對這些線路和器件的質量、成本和可靠性等方面提出了越來越高的要求。通過無損檢測技術，可以對電子線路和半導體器件進行排查，若存在缺陷，需要對缺陷的位置進行快速且精準的定位。時域反射計(tdr)系統是一種可以實現半導體封裝、電子元件和印刷電路板中存在故障的檢測的無損檢測系統。然而，傳統的基于階躍響應的分析系統通過tdr波形的幅度變化來區別故障...
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