1.一種基(ji)于圖像(xiang)識別的陶瓷封裝基(ji)本表面缺陷(xian)檢測(ce)方法，其特(te)征在于，包括(kuo)：

2.如(ru)權(quan)利要求(qiu)1所述的基于圖像識(shi)別(bie)的陶瓷封(feng)裝基本(ben)表面(mian)缺(que)陷檢測(ce)方法，其特征在(zai)于：

3.如權利要求2所述的基(ji)于圖像識別(bie)的陶瓷封(feng)裝基(ji)本(ben)表面缺(que)陷檢測方法，其特征在于：

4.如權利要(yao)求1所(suo)述(shu)的基于圖像識別的陶瓷封裝基本表面(mian)缺陷(xian)檢(jian)測(ce)方法，其特(te)征在于：

5.如(ru)權利(li)要求1所(suo)述的(de)基(ji)于圖(tu)像識別(bie)的(de)陶瓷封(feng)裝基(ji)本表面缺(que)陷檢(jian)測(ce)方法，其特征在(zai)于：

6.一(yi)種基于圖像識別的(de)陶瓷(ci)封裝基本表(biao)面缺(que)陷檢測系(xi)統，其特征在于，包括：

7.如(ru)權利(li)要求6所述(shu)的基于圖像識別的陶瓷封裝基本表面缺陷(xian)檢測系統，其特征在于：

8.如權利要(yao)求6所(suo)述的基(ji)于圖像(xiang)識別的陶瓷封裝(zhuang)基(ji)本(ben)表(biao)面缺陷檢測系統，其特征在于：

9.如權利要(yao)求6所述的基于(yu)圖像識別的陶(tao)瓷封(feng)裝(zhuang)基本(ben)表(biao)面(mian)缺陷檢測系統，其特征在(zai)于(yu)：