本(ben)實用新型涉及產品(pin)測(ce)試領域，尤其(qi)涉及一種多接口(kou)安全產品(pin)測(ce)試系統。

背景技術：

隨著信息(xi)技術的發展，安(an)全(quan)產(chan)(chan)品(pin)(pin)越來越普遍，并且在通(tong)訊(xun)、金融、政府及(ji)公共安(an)全(quan)等領域得到了(le)廣泛的應用，例如：身(shen)份(fen)證檢測產(chan)(chan)品(pin)(pin)、銀(yin)行(xing)UK、電子鑰匙等。不(bu)同的領域或者不(bu)同的應用場景，涉及(ji)到的安(an)全(quan)產(chan)(chan)品(pin)(pin)形(xing)態會有很大(da)的差異，因(yin)此，對這些(xie)安(an)全(quan)產(chan)(chan)品(pin)(pin)進行(xing)測試(shi)時(shi)就會涉及(ji)到不(bu)同的測試(shi)接口(kou)、不(bu)同的測試(shi)環境。

現有技(ji)術(shu)中，提供了同(tong)一的(de)(de)(de)(de)安全平臺(tai)對(dui)不(bu)(bu)同(tong)的(de)(de)(de)(de)安全產(chan)品進行開發，但是仍需要(yao)技(ji)術(shu)人(ren)員熟悉(xi)不(bu)(bu)同(tong)的(de)(de)(de)(de)開發測(ce)試環境，這(zhe)樣不(bu)(bu)僅給技(ji)術(shu)人(ren)員帶來了很大的(de)(de)(de)(de)工作量(liang)，而(er)且不(bu)(bu)同(tong)的(de)(de)(de)(de)產(chan)品的(de)(de)(de)(de)代碼重用率也比較(jiao)差(cha)，也不(bu)(bu)易于產(chan)品的(de)(de)(de)(de)維護。

技術實現要素：

有鑒于(yu)此，本實(shi)用新型實(shi)施例公(gong)開了(le)一種多(duo)接口安全(quan)產品測(ce)試系統，解決了(le)現有技術(shu)(shu)中，針(zhen)對于(yu)不同(tong)的(de)安全(quan)測(ce)試產品，技術(shu)(shu)人員需要編寫不同(tong)的(de)測(ce)試程序(xu)的(de)問(wen)題，提高了(le)代碼(ma)的(de)重(zhong)用率。

本實用新型實施例公(gong)開(kai)的一種多(duo)接(jie)口(kou)安全產品測試(shi)系(xi)統，包括：

上位機和測試裝置；

所(suo)述測(ce)試裝(zhuang)置包括(kuo)：主(zhu)控芯片(pian)、第一接口和多個(ge)不同(tong)的第二接口；

其中，所(suo)(suo)述(shu)(shu)上位機通過所(suo)(suo)述(shu)(shu)第(di)一接口(kou)(kou)與所(suo)(suo)述(shu)(shu)主(zhu)控(kong)芯片相連(lian)接，所(suo)(suo)述(shu)(shu)主(zhu)控(kong)芯片通過與待(dai)測安(an)全(quan)(quan)產(chan)品相匹(pi)配(pei)的第(di)二(er)接口(kou)(kou)與所(suo)(suo)述(shu)(shu)待(dai)測安(an)全(quan)(quan)產(chan)品相連(lian)接；

所(suo)述上(shang)位(wei)機(ji)用于，獲取關于所(suo)述待(dai)測安(an)全產(chan)品(pin)的第(di)一測試(shi)信息，將(jiang)所(suo)述第(di)一測試(shi)信息通過所(suo)述第(di)一接(jie)口發送給所(suo)述主控芯片(pian)，并接(jie)收所(suo)述主控芯片(pian)反饋的所(suo)述待(dai)測安(an)全產(chan)品(pin)生成的第(di)二測試(shi)結果；

所(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)主控芯片(pian)用(yong)于(yu)，將(jiang)接(jie)收到的第(di)(di)(di)(di)(di)一(yi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)信息(xi)(xi)轉(zhuan)換為(wei)適用(yong)于(yu)所(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)待測(ce)(ce)安(an)全(quan)產(chan)品接(jie)口(kou)格(ge)式的第(di)(di)(di)(di)(di)二(er)(er)測(ce)(ce)試(shi)(shi)信息(xi)(xi)，并通(tong)過與(yu)(yu)所(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)待測(ce)(ce)安(an)全(quan)產(chan)品相匹配的第(di)(di)(di)(di)(di)二(er)(er)接(jie)口(kou)，將(jiang)所(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)第(di)(di)(di)(di)(di)二(er)(er)測(ce)(ce)試(shi)(shi)信息(xi)(xi)發送給(gei)所(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)待測(ce)(ce)安(an)全(quan)產(chan)品，以使所(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)待測(ce)(ce)安(an)全(quan)產(chan)品依據所(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)第(di)(di)(di)(di)(di)二(er)(er)測(ce)(ce)試(shi)(shi)信息(xi)(xi)生成第(di)(di)(di)(di)(di)一(yi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)結(jie)果(guo)，并通(tong)過與(yu)(yu)所(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)待測(ce)(ce)安(an)全(quan)產(chan)品相匹配的第(di)(di)(di)(di)(di)二(er)(er)接(jie)口(kou)，將(jiang)所(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)第(di)(di)(di)(di)(di)一(yi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)結(jie)果(guo)反(fan)饋給(gei)所(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)主控芯片(pian)，所(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)主控芯片(pian)將(jiang)接(jie)收到的所(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)第(di)(di)(di)(di)(di)一(yi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)結(jie)果(guo)轉(zhuan)換為(wei)適用(yong)于(yu)所(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)第(di)(di)(di)(di)(di)一(yi)接(jie)口(kou)格(ge)式的第(di)(di)(di)(di)(di)二(er)(er)測(ce)(ce)試(shi)(shi)結(jie)果(guo)，并將(jiang)所(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)第(di)(di)(di)(di)(di)二(er)(er)測(ce)(ce)試(shi)(shi)結(jie)果(guo)通(tong)過所(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)第(di)(di)(di)(di)(di)一(yi)接(jie)口(kou)發送給(gei)所(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)上位機(ji)。

可選(xuan)的，所(suo)述(shu)與(yu)所(suo)述(shu)待(dai)測(ce)安(an)全產品連接的不同接口包括：

集成電路總線IIC接口、串行(xing)外設SPI接口、通(tong)用異(yi)步收發傳感器UART接口和(he)ISO7816接口。

可(ke)選(xuan)的(de)，所述(shu)第(di)一接口為USB接口。

可選的(de)，所述第一接口(kou)為(wei)串(chuan)行通信接口(kou)。

可選的(de)(de)，所述(shu)第一測(ce)試信息包括：測(ce)試所述(shu)待測(ce)安全產品的(de)(de)相關信息以及所述(shu)待測(ce)安全產品的(de)(de)接口信息。

可選的，所(suo)述上位機包括：

存儲模塊，用于存儲所述待測安(an)全(quan)產(chan)品的(de)接口信息。

可(ke)選的，所(suo)述上(shang)位(wei)機還包括(kuo)：

顯示器，用(yong)于顯示生(sheng)成的第一測試(shi)信息以及所述上位機接收(shou)到的第二測試(shi)結果。

本實施(shi)例中，該多接(jie)口安(an)全(quan)產(chan)(chan)品測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)系(xi)統包括，上位機(ji)和(he)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)裝(zhuang)置，所(suo)述(shu)(shu)上位機(ji)通(tong)(tong)過(guo)(guo)所(suo)述(shu)(shu)第(di)(di)(di)一(yi)(yi)接(jie)口與(yu)所(suo)述(shu)(shu)主控(kong)芯(xin)片(pian)相(xiang)連(lian)接(jie)，所(suo)述(shu)(shu)主控(kong)芯(xin)片(pian)通(tong)(tong)過(guo)(guo)與(yu)待(dai)(dai)(dai)(dai)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)安(an)全(quan)產(chan)(chan)品相(xiang)匹配的(de)(de)第(di)(di)(di)二(er)接(jie)口與(yu)所(suo)述(shu)(shu)待(dai)(dai)(dai)(dai)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)安(an)全(quan)產(chan)(chan)品相(xiang)連(lian)接(jie)。上位機(ji)將獲取到的(de)(de)待(dai)(dai)(dai)(dai)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)安(an)全(quan)產(chan)(chan)品的(de)(de)第(di)(di)(di)一(yi)(yi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)信(xin)(xin)(xin)息通(tong)(tong)過(guo)(guo)第(di)(di)(di)一(yi)(yi)接(jie)口發送(song)(song)給主控(kong)芯(xin)片(pian)，主控(kong)芯(xin)片(pian)將該第(di)(di)(di)一(yi)(yi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)信(xin)(xin)(xin)息轉換(huan)為適用于(yu)第(di)(di)(di)二(er)接(jie)口的(de)(de)第(di)(di)(di)二(er)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)信(xin)(xin)(xin)息，并通(tong)(tong)過(guo)(guo)與(yu)待(dai)(dai)(dai)(dai)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)安(an)全(quan)產(chan)(chan)品相(xiang)匹配的(de)(de)第(di)(di)(di)二(er)接(jie)口，將該第(di)(di)(di)二(er)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)信(xin)(xin)(xin)息發送(song)(song)給待(dai)(dai)(dai)(dai)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)安(an)全(quan)產(chan)(chan)品，待(dai)(dai)(dai)(dai)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)安(an)全(quan)產(chan)(chan)品依據第(di)(di)(di)二(er)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)信(xin)(xin)(xin)息生成測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)結果，并將測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)結果通(tong)(tong)過(guo)(guo)該主控(kong)芯(xin)片(pian)反(fan)饋給上位機(ji)。因此，通(tong)(tong)過(guo)(guo)該系(xi)統，解決了現有技術(shu)(shu)中，針對于(yu)不同的(de)(de)安(an)全(quan)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)產(chan)(chan)品，技術(shu)(shu)人(ren)員需要編寫不同的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)程序(xu)的(de)(de)問題，提高(gao)了代碼的(de)(de)重用率。

附圖說明

為了更(geng)清楚地說明本(ben)(ben)實(shi)(shi)用新型實(shi)(shi)施例(li)(li)(li)或現有技術中的(de)技術方案，下(xia)面將對(dui)(dui)實(shi)(shi)施例(li)(li)(li)或現有技術描述中所需要使用的(de)附圖作簡(jian)單地介紹，顯而易見地，下(xia)面描述中的(de)附圖僅(jin)僅(jin)是本(ben)(ben)實(shi)(shi)用新型的(de)實(shi)(shi)施例(li)(li)(li)，對(dui)(dui)于本(ben)(ben)領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的(de)前提(ti)下(xia)，還(huan)可以根據(ju)提(ti)供的(de)附圖獲得其(qi)他的(de)附圖。

圖(tu)1示出了本(ben)實施例提供的(de)一種多接口安全產品測試系(xi)統的(de)結(jie)構(gou)示意圖(tu)。

具體實施方式

下面將(jiang)結合本實(shi)(shi)(shi)(shi)用(yong)新(xin)型(xing)(xing)實(shi)(shi)(shi)(shi)施(shi)例(li)中的(de)(de)附圖，對本實(shi)(shi)(shi)(shi)用(yong)新(xin)型(xing)(xing)實(shi)(shi)(shi)(shi)施(shi)例(li)中的(de)(de)技(ji)術方案(an)進行清(qing)楚、完整(zheng)地描述，顯然，所描述的(de)(de)實(shi)(shi)(shi)(shi)施(shi)例(li)僅僅是本實(shi)(shi)(shi)(shi)用(yong)新(xin)型(xing)(xing)一(yi)部(bu)分實(shi)(shi)(shi)(shi)施(shi)例(li)，而不(bu)是全部(bu)的(de)(de)實(shi)(shi)(shi)(shi)施(shi)例(li)。基于(yu)本實(shi)(shi)(shi)(shi)用(yong)新(xin)型(xing)(xing)中的(de)(de)實(shi)(shi)(shi)(shi)施(shi)例(li)，本領(ling)域普通技(ji)術人員(yuan)在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的(de)(de)所有其他實(shi)(shi)(shi)(shi)施(shi)例(li)，都屬(shu)于(yu)本實(shi)(shi)(shi)(shi)用(yong)新(xin)型(xing)(xing)保護的(de)(de)范圍。

參考圖1，示(shi)出了本實用新型實施(shi)例提供的一種對接口安全產(chan)品測試系統，在本實施(shi)例中，所述系統包括(kuo)：

上位機(ji)100和測試(shi)裝置200；

所(suo)述測試(shi)裝置包括：主控芯片300、第一接口400、與多個不同(tong)的第二(er)接口500；

其中，所(suo)述(shu)上位(wei)機(ji)100通過(guo)(guo)所(suo)述(shu)第一(yi)接口(kou)400與所(suo)述(shu)主控芯片(pian)相(xiang)連接，所(suo)述(shu)主控芯片(pian)通過(guo)(guo)與待(dai)測安(an)全(quan)產品相(xiang)匹配的第二接口(kou)與所(suo)述(shu)待(dai)測安(an)全(quan)產品相(xiang)連接；

所(suo)述(shu)(shu)上位機100用于，獲取關于所(suo)述(shu)(shu)待(dai)測安(an)全產品的(de)(de)第一(yi)測試信息(xi)，將所(suo)述(shu)(shu)第一(yi)測試信息(xi)通(tong)過所(suo)述(shu)(shu)第一(yi)接(jie)口400發送(song)給所(suo)述(shu)(shu)主控芯(xin)片，并接(jie)收所(suo)述(shu)(shu)主控芯(xin)片300通(tong)過所(suo)述(shu)(shu)第一(yi)接(jie)口400反饋的(de)(de)所(suo)述(shu)(shu)待(dai)測安(an)全產品的(de)(de)第二測試結果；

所(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)主(zhu)控芯片300用(yong)于，將(jiang)接(jie)(jie)收到(dao)的(de)第(di)一測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)信息(xi)轉(zhuan)(zhuan)換為適(shi)用(yong)于所(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)待(dai)(dai)測(ce)(ce)(ce)(ce)安(an)全(quan)(quan)產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)接(jie)(jie)口(kou)格式的(de)第(di)二測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)信息(xi)，并通過與所(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)待(dai)(dai)測(ce)(ce)(ce)(ce)安(an)全(quan)(quan)產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)相(xiang)匹配的(de)第(di)二接(jie)(jie)口(kou)500，將(jiang)所(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)第(di)二測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)信息(xi)發(fa)送給(gei)所(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)待(dai)(dai)測(ce)(ce)(ce)(ce)安(an)全(quan)(quan)產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)，以使所(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)待(dai)(dai)測(ce)(ce)(ce)(ce)安(an)全(quan)(quan)產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)依(yi)據所(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)第(di)二測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)信息(xi)生成第(di)一測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結(jie)(jie)果(guo)，并通過與所(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)待(dai)(dai)測(ce)(ce)(ce)(ce)安(an)全(quan)(quan)產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)相(xiang)匹配的(de)第(di)二接(jie)(jie)口(kou)500，將(jiang)所(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)第(di)一測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結(jie)(jie)果(guo)反饋(kui)給(gei)所(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)主(zhu)控芯片，所(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)主(zhu)控芯片將(jiang)接(jie)(jie)收到(dao)的(de)所(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)第(di)一測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結(jie)(jie)果(guo)轉(zhuan)(zhuan)換為適(shi)用(yong)于所(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)第(di)一接(jie)(jie)口(kou)格式的(de)第(di)二測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結(jie)(jie)果(guo)，并將(jiang)所(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)第(di)二測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結(jie)(jie)果(guo)通過所(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)第(di)一接(jie)(jie)口(kou)300發(fa)送給(gei)所(suo)(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)上位機100。

本實施例(li)中，所(suo)述(shu)(shu)上(shang)位機100生成第一測試(shi)信(xin)息的(de)(de)操作，可(ke)以是(shi)(shi)技術人員通過上(shang)位機100編寫的(de)(de)測試(shi)所(suo)述(shu)(shu)待測信(xin)息的(de)(de)相(xiang)關(guan)程序，或者是(shi)(shi)通過上(shang)位機上(shang)傳所(suo)述(shu)(shu)測試(shi)所(suo)述(shu)(shu)待測信(xin)息相(xiang)關(guan)的(de)(de)程序。

本(ben)實(shi)施例中，主控芯(xin)片(pian)300接收到第(di)(di)一(yi)測(ce)(ce)試信(xin)(xin)息(xi)后，需要將所述第(di)(di)一(yi)測(ce)(ce)試信(xin)(xin)息(xi)轉(zhuan)換(huan)為適用于待測(ce)(ce)安(an)(an)全(quan)產(chan)品的(de)接口格式(shi)的(de)第(di)(di)二測(ce)(ce)試信(xin)(xin)息(xi)，因此，主控芯(xin)片(pian)需要知道待測(ce)(ce)安(an)(an)全(quan)產(chan)品的(de)接口格式(shi)，在本(ben)實(shi)施例中，所述第(di)(di)一(yi)測(ce)(ce)試信(xin)(xin)息(xi)包括：測(ce)(ce)試所述待測(ce)(ce)安(an)(an)全(quan)產(chan)品的(de)相關信(xin)(xin)息(xi)以及(ji)所述待測(ce)(ce)安(an)(an)全(quan)產(chan)品的(de)接口信(xin)(xin)息(xi)。

故(gu)，所述(shu)上位機(ji)100還包(bao)括：存儲(chu)模塊，用(yong)于存儲(chu)所述(shu)待測安全(quan)產品的接口信(xin)息。

除此之外，需(xu)要主控芯片(pian)對接收到的(de)(de)第(di)一測試(shi)(shi)信息進行(xing)轉換(huan)時，還(huan)可(ke)以(yi)是主控芯片(pian)檢測與待測安全產品連(lian)接的(de)(de)第(di)二接口，通(tong)過檢測到的(de)(de)第(di)二接口，將該第(di)一測試(shi)(shi)信息轉換(huan)為適用于(yu)該第(di)二接口的(de)(de)第(di)二測試(shi)(shi)信息。

本實(shi)施例中，所述(shu)與所述(shu)第(di)一接口為USB接口。

本實施(shi)例中，所述(shu)與待(dai)測安(an)全產品連接的(de)不同接口包括(kuo)：

集成電路(lu)總線(英(ying)(ying)文(wen)(wen)(wen)全(quan)(quan)稱(cheng)(cheng)：Inter-Integrated Circuit，英(ying)(ying)文(wen)(wen)(wen)簡(jian)(jian)稱(cheng)(cheng)：IIC)接口、串行(xing)外設(英(ying)(ying)文(wen)(wen)(wen)全(quan)(quan)稱(cheng)(cheng)：Serial Peripheral Interface，英(ying)(ying)文(wen)(wen)(wen)簡(jian)(jian)稱(cheng)(cheng)：SPI)接口、通用異步(bu)收發(fa)傳輸器(英(ying)(ying)文(wen)(wen)(wen)全(quan)(quan)稱(cheng)(cheng)：Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，英(ying)(ying)文(wen)(wen)(wen)簡(jian)(jian)稱(cheng)(cheng)：UART)接口和ISO(英(ying)(ying)文(wen)(wen)(wen)全(quan)(quan)稱(cheng)(cheng)：International Organization for Standardization，中(zhong)文(wen)(wen)(wen)全(quan)(quan)稱(cheng)(cheng)：國際標準(zhun)化(hua)組織)7816接口。

由此可知，主控(kong)芯(xin)片通(tong)過USB接(jie)(jie)(jie)口(kou)從所述上位(wei)機中接(jie)(jie)(jie)收待(dai)測(ce)安(an)全(quan)(quan)(quan)產(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)(de)測(ce)試信(xin)息(xi)(xi)(xi)即第一(yi)(yi)測(ce)試信(xin)息(xi)(xi)(xi)，但是待(dai)測(ce)安(an)全(quan)(quan)(quan)產(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)(de)通(tong)信(xin)接(jie)(jie)(jie)口(kou)有很(hen)多不是USB接(jie)(jie)(jie)口(kou)，而(er)主控(kong)芯(xin)片要通(tong)過待(dai)測(ce)安(an)全(quan)(quan)(quan)產(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)(de)通(tong)信(xin)接(jie)(jie)(jie)口(kou)將(jiang)待(dai)測(ce)安(an)全(quan)(quan)(quan)產(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)(de)測(ce)試信(xin)息(xi)(xi)(xi)發送給待(dai)測(ce)安(an)全(quan)(quan)(quan)產(chan)(chan)品(pin)(pin)，因(yin)此，本實施例中，主控(kong)芯(xin)片依據待(dai)測(ce)安(an)全(quan)(quan)(quan)產(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)(de)接(jie)(jie)(jie)口(kou)信(xin)息(xi)(xi)(xi)將(jiang)第一(yi)(yi)測(ce)試信(xin)息(xi)(xi)(xi)進行格式(shi)轉換，轉換為與(yu)該待(dai)測(ce)安(an)全(quan)(quan)(quan)產(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)(de)接(jie)(jie)(jie)口(kou)信(xin)息(xi)(xi)(xi)相匹(pi)配(pei)的(de)(de)(de)格式(shi)信(xin)息(xi)(xi)(xi)。

其(qi)中，由于待測(ce)(ce)安全產品的(de)(de)接(jie)(jie)口(kou)(kou)包括(kuo)：ICC接(jie)(jie)口(kou)(kou)、SPI接(jie)(jie)口(kou)(kou)、UART接(jie)(jie)口(kou)(kou)和ISO7816接(jie)(jie)口(kou)(kou)等(deng)非USB接(jie)(jie)口(kou)(kou)，因此主控芯片(pian)300可(ke)(ke)以根據需求將(jiang)適用于USB接(jie)(jie)口(kou)(kou)的(de)(de)第(di)(di)一測(ce)(ce)試(shi)信(xin)息(xi)(xi)轉(zhuan)換(huan)為可(ke)(ke)以通過(guo)ICC接(jie)(jie)口(kou)(kou)傳(chuan)輸(shu)的(de)(de)第(di)(di)二(er)(er)測(ce)(ce)試(shi)信(xin)息(xi)(xi)，或者也(ye)可(ke)(ke)以轉(zhuan)換(huan)為可(ke)(ke)以通過(guo)SPI接(jie)(jie)口(kou)(kou)傳(chuan)輸(shu)的(de)(de)第(di)(di)二(er)(er)測(ce)(ce)試(shi)信(xin)息(xi)(xi)，或者也(ye)可(ke)(ke)以轉(zhuan)換(huan)為通過(guo)UART接(jie)(jie)口(kou)(kou)傳(chuan)輸(shu)的(de)(de)第(di)(di)二(er)(er)測(ce)(ce)試(shi)信(xin)息(xi)(xi)，或者也(ye)可(ke)(ke)以轉(zhuan)換(huan)為可(ke)(ke)以通過(guo)ISO7816接(jie)(jie)口(kou)(kou)傳(chuan)輸(shu)的(de)(de)第(di)(di)二(er)(er)測(ce)(ce)試(shi)信(xin)息(xi)(xi)。

本(ben)實施例中，當對不同(tong)(tong)待(dai)測(ce)(ce)(ce)安(an)全產品可(ke)(ke)以用相(xiang)同(tong)(tong)的測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)信息進行(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)時，可(ke)(ke)以無(wu)需技術人員(yuan)再編寫新的程(cheng)序(xu)即(ji)第(di)一測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)信息，可(ke)(ke)以通過(guo)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)裝置(zhi)將該測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)程(cheng)序(xu)轉換為(wei)適用于不同(tong)(tong)接口(kou)格式(shi)的第(di)二測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)信息即(ji)可(ke)(ke)。舉例說明：假設(she)待(dai)測(ce)(ce)(ce)安(an)全產品為(wei)電(dian)(dian)子(zi)銀(yin)(yin)行(xing)(xing)卡(ka)(ka)UK和電(dian)(dian)子(zi)銀(yin)(yin)行(xing)(xing)卡(ka)(ka)U盾，并且電(dian)(dian)子(zi)銀(yin)(yin)行(xing)(xing)卡(ka)(ka)UK的接口(kou)格式(shi)為(wei)SPI接口(kou)，電(dian)(dian)子(zi)銀(yin)(yin)行(xing)(xing)卡(ka)(ka)U盾的接口(kou)格式(shi)為(wei)IIC接口(kou)，

若(ruo)電(dian)子(zi)(zi)銀(yin)行(xing)(xing)卡UK和(he)電(dian)子(zi)(zi)銀(yin)行(xing)(xing)卡U盾進行(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)時，用(yong)到的第(di)一測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)信息(xi)(xi)(xi)是相同的，因此(ci)，可以在(zai)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)裝(zhuang)置200的主控(kong)芯(xin)片300中將第(di)一測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)信息(xi)(xi)(xi)轉換為適用(yong)于(yu)SPI接(jie)口(kou)格式(shi)的第(di)二測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)信息(xi)(xi)(xi)，或(huo)者轉換為適用(yong)于(yu)IIC接(jie)口(kou)格式(shi)的第(di)二測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)信息(xi)(xi)(xi)。因此(ci)，無需技(ji)術(shu)人員再根(gen)據SPI接(jie)口(kou)和(he)IIC接(jie)口(kou)編寫不同的測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)信息(xi)(xi)(xi)。

除此之外，上位機與測試(shi)裝(zhuang)置(zhi)還可以是通(tong)過(guo)除USB之外的(de)其它接口(kou)相連，例如可以是通(tong)過(guo)串行(xing)通(tong)信(xin)接口(kou)，具(ju)體的(de)可以是RS323串行(xing)通(tong)信(xin)接口(kou)或(huo)者RS485串行(xing)通(tong)信(xin)接口(kou)。

本實施例中(zhong)，所述上位機(ji)還包括：顯(xian)示(shi)器(qi)，用于(yu)顯(xian)示(shi)生成的(de)第(di)一測試信(xin)息以及(ji)所述上位機(ji)接收到(dao)的(de)第(di)二測試結果。

本實(shi)施(shi)例中，該(gai)多接(jie)口(kou)(kou)安(an)全(quan)產(chan)(chan)品(pin)測(ce)(ce)試(shi)系(xi)統包括，上(shang)位機(ji)和測(ce)(ce)試(shi)裝置，所(suo)述(shu)上(shang)位機(ji)通(tong)過所(suo)述(shu)第一接(jie)口(kou)(kou)與所(suo)述(shu)主控芯(xin)片(pian)(pian)相連接(jie)，所(suo)述(shu)主控芯(xin)片(pian)(pian)通(tong)過與待測(ce)(ce)安(an)全(quan)產(chan)(chan)品(pin)相匹(pi)配的第二(er)(er)接(jie)口(kou)(kou)與所(suo)述(shu)待測(ce)(ce)安(an)全(quan)產(chan)(chan)品(pin)相連接(jie)。上(shang)位機(ji)將獲取到的待測(ce)(ce)安(an)全(quan)產(chan)(chan)品(pin)的第一測(ce)(ce)試(shi)信(xin)息(xi)(xi)通(tong)過第一接(jie)口(kou)(kou)發(fa)送給(gei)(gei)主控芯(xin)片(pian)(pian)，主控芯(xin)片(pian)(pian)將該(gai)第一測(ce)(ce)試(shi)信(xin)息(xi)(xi)轉換為適用于第二(er)(er)接(jie)口(kou)(kou)的第二(er)(er)測(ce)(ce)試(shi)信(xin)息(xi)(xi)，并通(tong)過與待測(ce)(ce)安(an)全(quan)產(chan)(chan)品(pin)相匹(pi)配的第二(er)(er)接(jie)口(kou)(kou)，將該(gai)第二(er)(er)測(ce)(ce)試(shi)信(xin)息(xi)(xi)發(fa)送給(gei)(gei)待測(ce)(ce)安(an)全(quan)產(chan)(chan)品(pin)，待測(ce)(ce)安(an)全(quan)產(chan)(chan)品(pin)依據第二(er)(er)測(ce)(ce)試(shi)信(xin)息(xi)(xi)生成測(ce)(ce)試(shi)結果，并將測(ce)(ce)試(shi)結果通(tong)過該(gai)主控芯(xin)片(pian)(pian)反饋給(gei)(gei)上(shang)位機(ji)。因此(ci)，通(tong)過該(gai)系(xi)統，解(jie)決(jue)了現有技(ji)術中，針對于不同的安(an)全(quan)測(ce)(ce)試(shi)產(chan)(chan)品(pin)，技(ji)術人員需(xu)要編寫不同的測(ce)(ce)試(shi)程序的問題，提高了代碼的重用率。

需(xu)要說(shuo)明的(de)是，本說(shuo)明書中(zhong)的(de)各個實(shi)施(shi)例(li)均采(cai)用(yong)遞進的(de)方式描述，每(mei)個實(shi)施(shi)例(li)重點說(shuo)明的(de)都是與其他實(shi)施(shi)例(li)的(de)不(bu)同(tong)之處，各個實(shi)施(shi)例(li)之間相(xiang)同(tong)相(xiang)似的(de)部分互相(xiang)參(can)見即可。

還(huan)(huan)需要(yao)(yao)說明(ming)的(de)(de)是，在本文(wen)中(zhong)，諸如第(di)(di)一和第(di)(di)二等之類的(de)(de)關(guan)系術語僅(jin)僅(jin)用來將一個實體(ti)或(huo)者(zhe)操(cao)(cao)(cao)作(zuo)(zuo)與(yu)另一個實體(ti)或(huo)操(cao)(cao)(cao)作(zuo)(zuo)區分開來，而不(bu)一定要(yao)(yao)求(qiu)或(huo)者(zhe)暗示這些(xie)實體(ti)或(huo)操(cao)(cao)(cao)作(zuo)(zuo)之間存在任何這種實際(ji)的(de)(de)關(guan)系或(huo)者(zhe)順序。而且(qie)，術語“包(bao)(bao)括(kuo)”、“包(bao)(bao)含”或(huo)者(zhe)其(qi)任何其(qi)他(ta)變體(ti)意(yi)在涵(han)蓋非(fei)排(pai)他(ta)性的(de)(de)包(bao)(bao)含，從而使得包(bao)(bao)括(kuo)一系列要(yao)(yao)素的(de)(de)物(wu)品(pin)或(huo)者(zhe)設備(bei)(bei)不(bu)僅(jin)包(bao)(bao)括(kuo)那些(xie)要(yao)(yao)素，而且(qie)還(huan)(huan)包(bao)(bao)括(kuo)沒有(you)明(ming)確列出的(de)(de)其(qi)他(ta)要(yao)(yao)素，或(huo)者(zhe)是還(huan)(huan)包(bao)(bao)括(kuo)為(wei)這種物(wu)品(pin)或(huo)者(zhe)設備(bei)(bei)所固有(you)的(de)(de)要(yao)(yao)素。在沒有(you)更(geng)多限(xian)制的(de)(de)情(qing)況下，由(you)語句“包(bao)(bao)括(kuo)一個……”限(xian)定的(de)(de)要(yao)(yao)素，并(bing)不(bu)排(pai)除在包(bao)(bao)括(kuo)上述要(yao)(yao)素的(de)(de)物(wu)品(pin)或(huo)者(zhe)設備(bei)(bei)中(zhong)還(huan)(huan)存在另外的(de)(de)相(xiang)同要(yao)(yao)素。

對(dui)所(suo)(suo)(suo)公開的(de)實施(shi)(shi)例(li)的(de)上(shang)述說(shuo)明，使(shi)本(ben)(ben)領(ling)域專(zhuan)業(ye)技術人員能(neng)夠實現或使(shi)用(yong)本(ben)(ben)實用(yong)新型(xing)。對(dui)這些實施(shi)(shi)例(li)的(de)多種修改對(dui)本(ben)(ben)領(ling)域的(de)專(zhuan)業(ye)技術人員來說(shuo)將是顯而易見的(de)，本(ben)(ben)文(wen)(wen)中所(suo)(suo)(suo)定義的(de)一般原(yuan)理可以在不脫(tuo)離本(ben)(ben)實用(yong)新型(xing)的(de)精神或范圍(wei)的(de)情況(kuang)下，在其它實施(shi)(shi)例(li)中實現。因此，本(ben)(ben)實用(yong)新型(xing)將不會被(bei)限制于本(ben)(ben)文(wen)(wen)所(suo)(suo)(suo)示的(de)這些實施(shi)(shi)例(li)，而是要(yao)符(fu)合與(yu)本(ben)(ben)文(wen)(wen)所(suo)(suo)(suo)公開的(de)原(yuan)理和(he)新穎(ying)特點(dian)相(xiang)一致的(de)最(zui)寬的(de)范圍(wei)。