專利名稱：一種用戶接口厚膜電路測試裝置及方法
技術領域：
本發明涉及電子通信技術領域，尤其涉及一種用戶接口厚膜電路測試裝置 及方法。
背景技術：
在程控數字交換機中，SLIC (Subscriber Line Interface Circuit,用戶接口 電路)是用于實現用戶線與交換網絡之間的連接。其可以分為兩類模擬用戶 接口電路和數字用戶接口電路。模擬用戶接口電路是為了適應模擬用戶環境而 配置的，而數字用戶接口電路是為了適應數字用戶環境而設置的。本發明以下 提及的用戶接口電路為模擬用戶接口電路。目前程控數字交換機用戶接口電路廣泛采用厚膜電路形式。厚膜電路是集 成電路的一種，是指將電阻、電感、電容、半導體元件和互連導線通過印刷、 燒成和焊接等工序，在基板上制成的具有一定功能的電路單元。用戶接口厚膜電路的基本功能包括(1) 調整交換機至電話用戶終端方向的模擬信號增益；(2) 調整電話用戶終端至交換機方向的模擬信號增益；(3) 向電話用戶終端提供恒流饋電；(4) 檢測電話用戶終端的摘掛機狀態。由于厚膜電路加工工藝和成本的限制，厚膜電路的合格率一直是電子通信 技術領域十分關注的問題，可以設置測試系統對厚膜電路進行測試以判斷厚膜 電路合格與否。所述測試系統的功能主要包括厚膜電路靜態參數測試、功能測 試和動態性能測試三部分，所述靜態參數包括饋電參數等，所述功能包括摘掛 機功能，所述動態性能主要包括用戶厚膜電路上/下行語音通路DTMF (Double Tone Mul證requency，雙音多頻信號)撥號/收號功能和用戶接口厚 膜電路上/下行增益調整指標。中國專利CN91210479提供了厚膜混合集成電路測試裝置。該裝置采用直 流電壓方式，提供一個穩定的直流電壓、 一個可調穩定直流電流以及一個可調 負載電阻，通過分別獨立的插座，加在被測厚膜混合集成電路的相應引出端進 行靜態測試。該現有技術提供的測試裝置，只能對用戶接口厚膜電路的靜態特 性進行測試，對于動態性能如電路的功能實現及信號增益調整等指標無法測試o另一種現有技術采用信號發生器及示波器等設備來進行用戶接口厚膜電 路信號增益調整指標等動態性能的測量，但該技術無法實現自動化測試，測試 效率較低。綜上可知，現有的用戶接口厚膜電路測試技術，在實際使用上顯然存在不 便與缺陷，所以有必要加以改進。發明內容針對上述的缺陷，本發明的第一目的在于提供一種用戶接口厚膜電路測試 裝置，該裝置可以自動化測試用戶接口厚膜電路的靜態參數、功能和動態性能， 并且測試效率高。本發明的第二目的在于提供一種用戶接口厚膜電路測試方法，該方法可以 自動化測試用戶接口厚膜電路的靜態參數、功能和動態性能，并且測試效率高。 為了實現上述第一目的，本發明提供一種用戶接口厚膜電路測試裝置，包括主控單元，用于在接收到用戶接口厚膜電路測試指令后控制通道切換單 元、負載單元和信號發生及測試單元；通道切換單元，用于在該主控單元的控制下將被測用戶接口厚膜電路的用 戶側線切換到與該用戶接口厚膜電路測試指令對應的測試通道；負載單元，用于在該主控單元的控制下為與該用戶接口厚膜電路測試指令 對應的測試通道提供測試負載；信號發生及測試單元，用于在該主控單元的控制下根據所述測試通道和測 試負載對被測用戶接口厚膜電路進行測試。根據本發明的測量裝置，所述用戶接口厚膜電路測試指令包括靜態參數 測試指令、功能測試指令和/或動態性能測試指令；所述靜態參數測試指令包括饋電參數測試指令；
所述功能測試指令包括摘/掛機功能測試指令；所述動態性能測試指令包括用戶厚膜電路上/下行語音通路撥號/收號功 能和用戶接口厚膜電路上/下行增益調整指標測試。根據本發明的測量裝置，所述測試通道包括靜態參數測試通道和/或功 能及動態性能測試通道；所述功能及動態性能測試通道進一步包括摘機測試 通道和掛機測試通道。根據本發明的測量裝置，所述信號發生及測試單元進一步包括第一信號發生及測試單元，位于被測用戶接口厚膜電路的交換機側，用于 在主控單元的控制下根據測試通道和測試負載測試上行方向被測用戶接口厚 膜電路；第二信號發生及測試單元，位于被測用戶接口厚膜電路的用戶側，用于在 主控單元控制下根據測試通道和測試負載測試下行方向被測用戶接口厚膜電 路。根據本發明的測量裝置，所述負載單元包括可調精密電阻器，用于與靜態參數測試通道相連，并向第二信號發生及測 試單元提供靜態參數測試負載；恒流負載，用于與摘機測試通道相連，并向所述第一信號發生及測試單元 和/或第二語音信號發生及測試單元提供功能測試和動態性能測試負載。根據本發明的測量裝置，所述第一信號發生及測試單元進一步包括第一數字信號處理器，用于在主控單元的控制下根據動態性能測試指令或 功能測試指令檢測被測用戶接口厚膜電路的上行方向測試信號，和/或根據動 態性能測試指令產生下行方向測試信號，并將其發送至被測用戶接口厚膜電 路；第一測試通道接口電路，用于連接第一數字信號處理器和測試通道； 第一通訊接口電路，用于連接第一數字信號處理器和主控單元，并向主控 單元上報第一數字信號處理器所檢測的上行方向測試信號； 所述第二信號發生及測試單元進一步包括第二數字信號處理器，用于在主控單元的控制下根據靜態參數測試指令檢 測被測用戶接口厚膜電路的靜態參數測試信號和/或根據功能測試或動態性能 測試指令檢測通過被測用戶接口厚膜電路的下行方向測試信號和/或根據功能 測試或動態性能測試指令產生上行方向測試信號，并將其發送至被測用戶接口 厚膜電路；第二測試通道接口電路，用于連接第二數字信號處理器和測試通道；第二通訊接口電路，用于連接第二數字信號處理器和主控單元，并向主控 單元上報第二數字信號處理器所檢測的靜態參數測試信號和/或下行方向測試 信號。根據本發明的測量裝置，所述第一測試通道接口電路包括第一上行方向 功能及動態性能測試通道接口電路和第一下行方向功能及動態性能測試通道接口電路；所述第二測試通道接口電路包括靜態參數測試通道接口電路、第二上行 功能及動態性能測試通道接口電路和第二下功能及行方向動態性能測試通道 接口電路。根據本發明的測量裝置，所述測量裝置進一步包括 夾具，用于連接所述測試裝置和用戶接口厚膜電路。為了實現上述第二目的，本發明提供一種用戶接口厚膜電路測試方法，包 括如下歩驟A、 主控單元接收用戶接口厚膜電路測試指令；B、 通道切換單元在該主控單元的控制下將被測用戶接口厚膜電路的用戶 側線切換到與用戶接口厚膜電路測試指令對應的測試通道；C、 負載單元在該主控單元的控制下為與用戶接口厚膜電路測試指令對應 的測試通道提供測試負載；D、 信號發生及測試單元在該主控單元的控制下根據所述測試通道和測試 負載對被測用戶接口厚膜電路迸行測試。根據本發明的測試方法，所述測試指令包括靜態參數測試指令、功能測試 指令和動態性能測試指令；所述測試通道包括靜態參數測試通道和功能及動 態性能測試通道；所述測試負載包括靜態參數測試負載和動態參數負載。根據本發明的測試方法，所述步驟D進一歩包括Dl 、信號發生及測試單元在主控單元的控制下根據測試通道和測試負載 對被測用戶接口厚膜電路進行靜態參數測試和/或動態性能測試和/或功能測 試； D2、信號發生及測試單元將靜態參數測試和/或動態性能測試和/或功能測 試結果上報給主控單元。根據本發明的測試方法，所述步驟D2之后進一步包括D3、主控單元對所上報的靜態參數測試和/或動態性能測試和/或功能測試結果進行計算，得到被測用戶接口厚膜電路的靜態參數和/或動態性能和/或功 能。本發明中，測試人員向主控單元發送用戶接口厚膜電路測試指令，該測試 指令可以包括靜態參數測試指令和/或動態性能測試指令和/或功能測試指令， 所述主控單元根據所接收的用戶接口厚膜電路測試指令，控制通道切換單元切 換測試通道和控制負載單元提供測試負載，并且信號發生及測試單元在主控單 元的控制下通過測試通道和測試負載測試用戶接口厚膜電路。借此，本發明實 現了用戶接口厚膜電路的如靜態參數、功能及動態性能等的自動化測試，從而 大大提高了測試效率。


圖1是本發明提供的用戶接口厚膜電路測試裝置模塊示意圖；圖2是本發明第一實施例提供的第一信號發生及測試單元結構模塊示意圖；圖3是本發明第一實施例提供的第二信號發生及測試單元結構模塊示意圖；圖4是本發明第二實施例提供的第一/第二信號發生及測試單元結構模塊 示意圖；圖5是本發明提供的用戶接口厚膜電路測試方法流程圖；圖6是本發明第三實施例提供的用戶接口厚膜電路測試方法流程圖；圖7是本發明第四實施例提供的用戶接口厚膜電路測試方法流程圖；圖8是本發明第五實施例提供的同時并行執行多個用戶接口厚膜電路測試指令的方法流程圖。
具體實施方式
為了使本發明的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實
施例，對本發明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅 僅用以解釋本發明，并不用于限定本發明。本發明的基本思想是測試人員向主控單元發送用戶接口厚膜電路測試指 令，該測試指令可以包括靜態參數測試指令和/或動態性能測試指令和/或功能 測試指令，所述主控單元根據所接收的用戶接口厚膜電路測試指令，控制通道 切換單元切換測試通道和控制負載單元提供測試負載，并且信號發生及測試單 元在主控單元的控制下通過測試通道和測試負載測試用戶接口厚膜電路。本發明提供的用戶接口厚膜電路測試裝置100如圖1所示，其適用于模擬 用戶厚膜電路的測試。該裝置100包括夾具IOI、主控單元102、通道切換 單元103、負載單元104以及信號發生及測試單元，其中夾具101，用于連接測試裝置100和被測用戶接口厚膜電路107。本發明中，對于不同引腳定義的被測用戶接口厚膜電路107有不同類型的 夾具101與之對應，以使得被測用戶接口厚膜電路107的安裝測試比較方便。本發明中，所述測試裝置100可以為4片用戶接口厚膜電路進行并行測試 并且提供測試通路。主控單元102，用于在接收到用戶接口厚膜電路測試指令后控制通道切換 單元103、負載單元104以及信號發生及測試單元。所述用戶接口厚膜電路測試指令后包括靜態參數測試指令、功能測試指 令和動態性能測試指令。其中，所述靜態參數包括饋電參數；所述功能測試 指令包括摘掛機功能；所述動態性能包括用戶厚膜電路上/下行語音通路 DTMF撥號/收號功能和用戶接口厚膜電路上/下行增益調整指標。該主控單元102是通過總線與通道切換單元103、負載單元104、信號發 生及測試單元和被測用戶接口厚膜電路107相連，用于控制所述通道切換單元 103、負載單元104、信號發生及測試單元和被測用戶接口厚膜電路107。具體而言，所述主控單元可以根據用戶配置，對被測用戶接口厚膜電路 107的單個及多個功能或者性能指標測試進行控制；可以控制信號發生及測試 單元發送上/下行語音信號或測試上/下行行語音信號；可以控制通路切換單元 103對測試通路進行切換;可以控制負載單元104為測試回路配置不同的負載； 可以讀取被測試用戶接口厚膜電路單元206的摘掛機輸出電平信號；可以獲取 信號發生及測試單元的檢測結果，并計算所述檢測結果、顯示及上報測試數據。
信號發生及測試單元，用于在主控單元102的控制下測試被測用戶接口厚 膜電路107。為了表述方便，本發明做如下設定對于被測用戶接口厚膜電路107與電 話用戶接口的一側，稱之為"用戶側"；另一側則稱之為"交換機側"，參見 圖1。對于語音測試信號的傳輸方向，由電話用戶終端到交換機的方向稱為"上 行方向"，由交換機到電話用戶終端的方向稱為"下行方向"。通道切換單元103，位于被測用戶接口厚膜電路107的用戶側，由繼電器 組成，用于在主控單元102的控制下將被測用戶接口厚膜電路107的用戶側線 切換到與用戶接口厚膜電路測試指令對應的測試通道。所述測試通道如圖1所示，位于通路切換單元103和負載單元104之間， 其包括靜態參數測試通道1和功能及動態性能測試通道，而功能及動態性能測 試通道又進一步包括摘機測試通道3和掛機測試通道2。其中，所述掛機測 試通道2的負載端懸空。具體而言，當用戶接口厚膜電路測試指令為饋電測試指令即靜態參數測試 指令時，將被測用戶接口厚膜電路107的用戶側線切換到靜態參數測試通道1。 當用戶接口厚膜電路測試指令為掛機測試指令時，將被測用戶接口厚膜電路 107的用戶側線切換到掛機測試通道2，當用戶接口厚膜電路測試指令為摘機 測試指令或動態性能測試指令時，將被測用戶接口厚膜電路107的用戶側線切 換到摘機測試通道3。負載單元104，與通道切換單元103和信號產生及測試單元相連，用于在 主控單元102的控制下為測試通道提供測試負載。該負載單元104包括可調精密電阻器1041和恒流負載1042。其中，可調精密電阻器1041，用于與靜態參數測試通道1和信號發生及測試單 元相連，并向信號發生及測試單元提供靜態參數測試負載。本發明通過設置可調的精密電阻器，使得信號發生及測試單元在較寬的負 載范圍內對靜態參數即饋電參數進行測試。恒流負載1042，用于與摘機測試通道3和信號發生及測試單元相連，并 向信號發生及測試單元提供摘機功能測試和動態性能測試負載。所述信號發生及測試單元包括第一信號發生及測試單元105和第二信號 發生及測試單元106。其中，第一信號發生及測試單元105，位于被測用戶接口厚膜電路107的交換機 側，與主控單元102和被測用戶接口厚膜電路107相連，用于在主控單元102 的控制下根據測試通道和測試負載測試上行方向被測用戶接口厚膜電路107。第二信號發生及測試單元106，位于被測用戶接口厚膜電路107的用戶側， 與主控單元102和負載單元104相連，用于在主控單元102控制下根據測試通 道和測試負載測試下行方向被測用戶接口厚膜電路107。作為本發明的第一實施方式，所述第一信號發生及測試單元105和第二信 號發生及測試單元106的結構模塊不一致，可參見圖2和圖3。圖2中該第一發生及測試單元105進一步包括第一 DSP (Digital Signal Processor,數字信號處理器)201、第一測試通道接口電路202、第一通訊接 口電路203、第一上行語音調理電路204、第一下行語音調理電路205和第一 CODEC (編解碼)芯片206。其中，第一數字信號處理器201，與第一通訊接口電路203和下行語音調理電路 206相連，用于在主控單元102的控制下根據動態性能測試指令或功能測試指 令檢測被測用戶接口厚膜電路107的上行方向測試信號，和/或根據動態性能 測試指令產生下行方向測試信號，并將其發送至被測用戶接口厚膜電路107。第一測試通道接口電路202，用于連接第一數字信號處理器201和測試通道。該第一測試通道接口電路202進一步包括第一上行方向功能及動態性能 測試通道接口電路2021和第一下行方向功能及動態性能測試通道接口電路 2022。其中，第一上行方向功能及動態性能測試通道接口電路2021用于連接 上行語音調理電路204和被測用戶接口厚膜電路107的交換機側。所述第一下 行方向功能及動態性能測試通道接口電路2022用于連接下行語音調理電路 205和被測用戶接口厚膜電路107的交換機側。第一數字信號處理器201在主控單元102的控制下根據動態性能測試指令 通過該第一測試通道接口電路202檢測被測用戶接口厚膜電路107的上行方向 測試信號。第一通訊接口電路203，用于連接第一數字信號處理器201和主控單元 102，并向主控單元102上報第一數字信號處理器201所檢測的上行方向測試 信號。
第一上行語音調理電路204，與第一編解碼芯片(CODEC) 206和第一上 行方向功能及動態性能測試通道接口電路2021相連，用于對第一數字信號處 理器201所檢測的上行方向測試信號的幅值進行調整使其位于第一編解碼芯 片(CODEC) 204的門限范圍內。
第一下行語音調理電路205，與第一編解碼芯片(CODEC) 206和第一下 行動態性能測試通道接口電路2021相連，用于對第一數字信號處理器201所 產生的下行方向測試信號的幅值進行調整，以適合下行方向上的傳輸。
第一編解碼芯片(CODEC) 206，用于對檢測到的上行方向的測試信號進 行A/D (模擬數字)轉換或對第一數字信號處理器201所產生的下行方向測試 信號進行D/A (數字模擬)轉換。該第一編解碼芯片(CODEC) 206進一歩包 括A/D轉換器2061和D/A轉換器2062。其中，所述A/D轉換器2061，連接第一上行語音調理電路204和第一數字信號 處理器201，用于將檢測到的上行方向的測試信號進行A/D轉換。所述D/A轉換器2062，連接第一下行語音調理電路205和第一數字信號 處理器201，用于將第一數字信號處理器201產生的下行方向測試信號進行 D/A轉換。參見圖3，該第二發生及測試單元106進一步包括第二數字信號處理器 301、第二測試通道接口電路302、第二通訊接口電路303、第二上行語音調理 電路304、第二下行語音調理電路305、第二編解碼芯片306、饋電調理電路 307和A/D轉換器308。其中，第二數字信號處理器301，用于在主控單元102的控制下根據靜態參數測 試指令檢測被測用戶接口厚膜電路107的靜態參數測試信號和/或動態性能測 試指令或功能測試指令檢測通過被測用戶接口厚膜電路107的下行方向測試 信號和/或根據動態性能測試指令或功能測試指令產生上行方向測試信號，并 將其發送至被測用戶接口厚膜電路107。本發明中，第一數字信號處理器201所產生的下行方向測試信號為下行方 向語音測試信號。第二數字信號處理器301所產生的上行方向測試信號為上行 方向語音測試信號。第二測試通道接口電路302，用于連接第二數字信號處理器301和測試通 道。該第二測試通道接口電路302進一歩包括靜態參數測試通道接口電路3021、第二上行方向功能及動態性能測試通道接口電路3022和第二下行方向 動態性能測試通道接口電路3023。所述靜態參數測試通道接口電路3021，用于連接饋電調理電路307和負 載單元104的可調精密電阻器1041;所述第二上行動態性能測試通道接口電 路3022用于連接第二上行語音調理電路304和負載單元104的恒流負載1042; 所述第二下行方向功能及動態性能測試通道接口電路3023用于連接第二下行 語音調理電路305和負載單元104的恒流負載1042。第二通訊接口電路303，用于連接第二數字信號處理器301和主控單元 102，并向主控單元102上報第二數字信號處理器301所檢測的靜態參數測試 信號和/或下行方向測試信號。饋電調理電路307，與靜態參數測試通道接口電路3021和A/D轉換器308 相連，用于對被測用戶接口厚膜電路107產生的饋電參數進行幅值調整使其位 于A/D轉換器308的門限范圍內。A/D轉換器308，與饋電調理電路307和第二數字信號處理器301進行相 連，用于將經過幅值調整的饋電參數進行A/D轉換，然后發送至第二數字信 號處理器301進行檢測處理。第二上行語音調理電路304，與第二編解碼芯片(CODEC) 306和第二上 行動態性能測試通道接口電路3022相連，用于對第二數字信號處理器301所 產生的上行方向測試信號的幅值進行調整，以適合上行方向的傳輸。第二下行語音調理電路305，與第二編解碼芯片(CODEC) 306和第二下 行動態性能測試通道接口電路3023相連，用于對第二數字信號處理器301所 檢測的下行方向測試信號的幅值進行調整使其位于第二編解碼芯片(CODEC) 306的門限范圍內。第二編解碼芯片(CODEC) 306，用于對檢測到的下行方向的測試信號進 行A/D (模擬數字)轉換或對第二數字信號處理器301所產生的上行方向測試 信號進行D/A (數字模擬)轉換。該第二編解碼芯片(CODEC) 306進一步包 括A/D轉換器3061和D/A轉換器3062。其中，所述A/D轉換器3061 ，連接第二下行語音調理電路305和第二數字信號 處理器301，用于將檢測到的上行方向的測試信號進行A/D轉換。所述D/A轉換器3062，連接第二上行語音調理電路304和第二數字信號處理器301，用于將第二數字信號處理器301產生的上行方向測試信號進行D/A轉換。作為本發明的第二實施方式，所述第一信號發生及測試單元105和第二信 號發生及測試單元106的結構模塊一樣，可參見圖4，均包括第一/第二數字信 號處理器401、第一/第二測試通道接口電路402、通訊接口電路403、第一/ 第二上行語音調理電路404、第一/第二下行語音調理電路405、第一/第二編解 碼芯片(CODEC) 406、饋電調理電路407和A/D轉換器408。當第一信號發 生及測試單元105工作時，只執行第一/第二數字信號處理器401、第一/第二 測試通道接口電路402、通訊接口電路403、第一/第二上行語音調理電路404、 第一/第二下行語音調理電路405、第一/第二編解碼芯片(CODEC) 406，并 且執行過程和功能與圖2相同，當第二信號發生及測試單元106工作時，執行 全部模塊，但所述模塊的執行過程和功能與圖3相同，基于篇幅所限，此處不 --描述。圖5是本發明提供的用戶接口厚膜電路測試方法流程圖，該測試方法包括如下步驟S501，主控單元102接收用戶接口厚膜電路測試指令，主控單元102 接下來實現對通道切換單元103、負載單元104和信號發生及測試單元的控制。本發明中，主控單元102會根據用戶的配置的指令，控制被測用戶接口厚 膜電路107的測試。根據用戶接口厚膜電路的4個基本功能，本發明設置了與 其對應的用戶接口厚膜電路測試指令，包括靜態參數測試指令、功能測試指 令和動態性能測試指令。所述靜態參數測試指令包括饋電參數測試指令；所 述功能測試包括摘掛機功能測試；所述動態性能測試指令包括用戶厚膜電 路上/下行語音通路DTMF撥號/收號功能測試指令和用戶接口厚膜電路上/下 行增益調整指標測試指令。用戶可以根據需要選擇用戶接口厚膜電路測試指令，并向主控單元102 發送。步驟S502，通道切換單元103在主控單元102的控制下將被測用戶接口 厚膜電路107的用戶側線切換到用戶接口厚膜電路測試指令對應的測試通道。步驟S503，負載單元104在主控單元102的控制下為測試通道提供測試 負載。
步驟S504，信號發生及測試單元在主控單元102的控制下測試通道和測試負載對被測用戶接口厚膜電路107進行測試。具體而言，該步驟包括步驟S510,信號發生及測試單元在主控單元102的控制下根據測試通道 和測試負載對被測用戶接口厚膜電路107進行靜態參數測試和/或動態性能測 試和/或功能測試；步驟S512，信號發生及測試單元將靜態參數測試和/或動態性能測試和/ 或功能測試結果上報給主控單元102。步驟S5U，主控單元102對所上報的靜態參數測試和/或動態性能測試和/ 或功能測試結果進行計算得到被測用戶接口厚膜電路107的靜態參數和/或動 態性能和/或功能。本發明第三實施例提供了一種用戶接口厚膜電路測試方法如圖6所示，結 合圖l、圖2和圖3所示的測試裝置100進行描述，該第三實施例中，被測用 戶接口厚膜電路107通過夾具101與測試裝置100相連，且用戶向主控單元 102下發用戶接口厚膜電路上行增益調整指標測試指令，該方法具體包括如 下步驟S601,主控單元102接收用戶接口厚膜電路上行增益調整指標測試 指令，以便后續步驟中根據用戶接口厚膜電路上行增益調整指標測試指令控制 通道切換單元103、負載單元104、第一信號發生及測試單元105和第二信號 產生及測試單元106。步驟S602,通道切換單元103在主控單元102的控制下將用戶接口厚膜 電路的用戶側線即AB線切換到與用戶接口厚膜電路上行增益調整指標測試 指令對應的摘機測試通道3。步驟S603，負載單元104在主控單元102的控制下為摘機測試通道3提 供恒流負載1042。由此，測試通道處于模擬通話狀態。步驟S604，第二信號產生及測試單元106在主控單元102的控制下產生并 向被測用戶接口厚膜電路107和主控單元102發送上行方向測試信號。本實施例中，所述測試信號為語音測試信號，其可以在較寬的范圍內 20Hz-20kHz，用戶接口厚膜電路上行增益調整指標測試過程需要測試到多個 頻點，本步驟中，僅以1000Hz正弦波為例，其它頻點的測試流程與之一致。該1000Hz正弦波由第二信號產生及測試單元106的第二數字信號處理器 301產生，該1000Hz正弦波經過第二編解碼芯片(CODEC) 306、第二上行 語音調理電路304、第二上行方向功能及動態性能測試通道接口電路3022到 達負載單元104的恒流負載1042，然后經由摘機測試通道3、通道切換單元 103到達被測用戶接口厚膜電路107的用戶側。步驟S605，被測用戶接口厚膜電路107接收到所述1000Hz正弦波測試信 號后，對該測試信號進行增益調整，并將其從被測用戶接口厚膜電路107的交 換機側發送給第一信號產生及測試單元105。步驟S606，第一信號產生及測試單元105檢測所述1000Hz正弦波測試信號具體而言，該1000Hz正弦波測試信號到達第一信號產生及測試單元105 的第一上行動態性能測試通道接口電路2021，然后經過第一上行語音調理電 路204和第一編解碼芯片(CODEC) 206的A/D轉換后進入第一數字信號處 理器201，第一數字信號處理器201根據相應的算法對該1000Hz正弦波測試 信號進行檢測。步驟S607，第一信號產生及測試單元105將所述1000Hz正弦波測試信號 的檢測結果數據通過第一通訊接口電路203上報給主控單元102。步驟S608，主控單元102根據第二信號產生及測試單元106所發送的 1000Hz正弦波測試信號和第一信號產生及測試單元105所上報的1000Hz正弦 波測試信號的檢測結果計算得到該1000Hz正弦波測試信號的增益調整大小。本發明第四實施例提供了一種用戶接口厚膜電路測試方法如圖7所示，結 合圖l、圖2和圖3所示的測試裝置100進行描述，該第四施例中，被測用戶 接口厚膜電路107通過夾具101與測試裝置100相連，且用戶向主控單元102 下發用戶接口厚膜電路饋電參數測試指令，該方法具體包括如下步驟S701，主控單元102接收用戶接口厚膜電路饋電參數測試指令，以便后續步驟中根據用戶接口厚膜電路饋電參數測試指令控制通道切換單元103 、 負載單元104、第二信號產生及測試單元106和被測用戶接口厚膜電路107。步驟S702，通道切換單元103在主控單元102的控制下將用戶接口厚膜電 路的用戶側線即AB線切換到與用戶接口厚膜電路饋電參數測試指令對應的
靜態測試通道1即饋電測試通道。步驟S703，負載單元104在主控單元102的控制下為靜態測試通道1提 供可調電阻負載。本步驟中負載單元104是通過可調電阻器1041為靜態測試通道1提供可 調電阻。步驟S704，被測用戶接口厚膜電路107在主控單元102的控制下產生饋 電恒流測試信號，并向通道切換單元103發送。步驟S705，饋電恒流測試信號通過通道切換單元103、靜態測試通道1 和可調電阻負載轉換為電壓測試信號，并發送至第二信號產生及測試單元 106。歩驟S706，第二信號產生及測試單元106檢測所述電壓測試信號。具體而言，該電壓測試信號到達第二信號產生及測試單元106靜態參數測 試通道接口電路3021，由饋電調理電路307和A/D轉換器308進行模數轉換 后到達第二數字處理器301，第二數字處理器301對該電壓測試信號進行濾波 預處理，然后對該信號進行檢測。步驟S707,第二信號產生及測試單元106將所述電壓測試信號的檢測結 果數據通過第二通訊接口 303上報給主控單元102。歩驟S708，主控單元102根據所上報的電壓測試信號的檢測結果數據計 算得到被測用戶接口厚膜電路107饋電恒定電流的大小。本發明中，用戶接口厚膜電路下行增益調整指標、用戶厚膜電路上/下行 語音通路DTMF撥號/收號功能以及摘掛機功能等功能及動態性能測試過程與 第三實施例的測試過程大致一致，居于篇幅所限，這里不作一一描述，具體可 參見圖6。須聲明，本發明提供的測試方法可以在一個被測用戶接口厚膜電路107 執行一個用戶接口厚膜電路測試指令，或在一個被測用戶接口厚膜電路107 同時執行多個用戶接口厚膜電路測試指令，并且該測試方法也可以同時并行測 試多個被測用戶接口厚膜電路107和在多個被測用戶接口厚膜電路107執行多 個用戶接口厚膜電路測試指令。參見圖8所示的同時并行執行多個用戶接口厚膜電路測試指令，包括如下 歩驟 步驟S801，測試裝置IOO自檢。步驟S802,判斷是否存在n個用戶接口厚膜電路測試指令或存在用戶接 口厚膜電路測試結束指令，若存在n個測試指令或測試結束指令，則執行步驟 S803，否則繼續執行步驟S802。步驟S803，根據用戶接口厚膜電路測試指令測試被測用戶接口厚膜電路 107,并在測試完畢后返回步驟S802或根據用戶接口厚膜電路測試結束指令結 束被測用戶接口厚膜電路107的測試過程。本步驟中，若用戶接口厚膜電路測試指令為饋電參數測試指令，則按照第 四實施例所提供的測試方法進行被測用戶接口厚膜電路107的測試；若用戶接 口厚膜電路測試指令為功能及動態性能測試指令，則其測試過程與第三實施例 所提供的測試方法類似，可參見該第三實施例進行被測用戶接口厚膜電路107 的測試。綜上可知，本發明中，測試人員向主控單元發送用戶接口厚膜電路測試指 令，該測試指令可以包括靜態參數測試指令和/或動態性能測試指令和/或功能 測試指令，所述主控單元根據所接收的用戶接口厚膜電路測試指令，控制通道 切換單元切換測試通道和控制負載單元提供測試負載，并且信號發生及測試單 元在主控單元的控制下通過測試通道和測試負載測試用戶接口厚膜電路。借 此，本發明實現了用戶接口厚膜電路的如靜態參數、功能及動態性能等的自動 化測試，從而大大提高了測試效率。當然，本發明還可有其它多種實施例，在不背離本發明精神及其實質的情 況下，熟悉本領域的技術人員當可根據本發明作出各種相應的改變和變形，但 這些相應的改變和變形都應屬于本發明所附的權利要求的保護范圍。
權利要求
1、 一種用戶接口厚膜電路測試裝置，其特征在于，包括-主控單元，用于在接收到用戶接口厚膜電路測試指令后控制通道切換單元、負載單元和信號發生及測試單元；通道切換單元，用于在該主控單元的控制下將被測用戶接口厚膜電路的用 戶側線切換到與該用戶接口厚膜電路測試指令對應的測試通道；負載單元，用于在該主控單元的控制下為與該用戶接口厚膜電路測試指令 對應的測試通道提供測試負載；信號發生及測試單元，用于在該主控單元的控制下根據所述測試通道和測 試負載對被測用戶接口厚膜電路進行測試。
2、 根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述用戶接口厚膜電 路測試指令包括靜態參數測試指令、功能測試指令和/或動態性能測試指令；所述靜態參數測試指令包括饋電參數測試指令； 所述功能測試指令包括摘/掛機功能測試指令；所述動態性能測試指令包括用戶厚膜電路上/下行語音通路撥號/收號功 能和用戶接口厚膜電路上/下行增益調整指標測試。
3、 根據權利要求2所述的測試裝置，其特征在于，所述測試通道包括 靜態參數測試通道和/或功能及動態性能測試通道；所述功能及動態性能測試 通道進一步包括摘機測試通道和掛機測試通道。
4、 根據權利要求3所述的測試裝置，其特征在于，所述信號發生及測試 單元進一步包括第一信號發生及測試單元，位于被測用戶接口厚膜電路的交換機側，用于 在主控單元的控制下根據測試通道和測試負載測試上行方向被測用戶接口厚 膜電路；第二信號發生及測試單元，位于被測用戶接口厚膜電路的用戶側，用于在 主控單元控制下根據測試通道和測試負載測試下行方向被測用戶接口厚膜電 路。
5、 根據權利要求4所述的測試裝置，其特征在于，所述負載單元包括: 可調精密電阻器，用于與靜態參數測試通道相連，并向第二信號發生及測試單元提供靜態參數測試負載；恒流負載，用于與摘機測試通道相連，并向所述第一信號發生及測試單元 和/或第二語音信號發生及測試單元提供功能測試和動態性能測試負載。
6、 根據權利要求4或5所述的測試裝置，其特征在于，所述第一信號發生及測試單元進一步包括第一數字信號處理器，用于在主控單元的控制下根據動態性能測試指令或 功能測試指令檢測被測用戶接口厚膜電路的上行方向測試信號，和/或根據動 態性能測試指令產生下行方向測試信號，并將其發送至被測用戶接口厚膜電 路；第一測試通道接口電路，用于連接第一數字信號處理器和測試通道； 第一通訊接口電路，用于連接第一數字信號處理器和主控單元，并向主控 單元上報第一數字信號處理器所檢測的上行方向測試信號； 所述第二信號發生及測試單元進一步包括第二數字信號處理器，用于在主控單元的控制下根據靜態參數測試指令檢 測被測用戶接口厚膜電路的靜態參數測試信號和/或根據功能測試或動態性能 測試指令檢測通過被測用戶接口厚膜電路的下行方向測試信號和/或根據功能 測試或動態性能測試指令產生上行方向測試信號，并將其發送至被測用戶接口厚膜電路；第二測試通道接口電路，用于連接第二數字信號處理器和測試通道； 第二通訊接口電路，用于連接第二數字信號處理器和主控單元，并向主控單元上報第二數字信號處理器所檢測的靜態參數測試信號和/或下行方向測試信號。
7、 根據權利要求6所述的測試裝置，其特征在于，所述第一測試通道接 口電路包括第一上行方向功能及動態性能測試通道接口電路和第一下行方向 功能及動態性能測試通道接口電路；所述第二測試通道接口電路包括靜態參數測試通道接口電路、第二上行 功能及動態性能測試通道接口電路和第二下功能及行方向動態性能測試通道 接口電路。
8、 根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，進一步包括 夾具，用于連接所述測試裝置和用戶接口厚膜電路。
9、 一種應用如權利要求1 8任一項所述裝置的測試方法，其特征在于， 包括如下歩驟A、 主控單元接收用戶接口厚膜電路測試指令；B、 通道切換單元在該主控單元的控制下將被測用戶接口厚膜電路的用戶 側線切換到與用戶接口厚膜電路測試指令對應的測試通道；c、負載單元在該主控單元的控制下為與用戶接口厚膜電路測試指令對應 的測試通道提供測試負載；D、信號發生及測試單元在該主控單元的控制下根據所述測試通道和測試 負載對被測用戶接口厚膜電路進行測試。
10、 根據權利要求9所述的測試方法，其特征在于，所述測試指令包括靜 態參數測試指令、功能測試指令和動態性能測試指令；所述測試通道包括靜 態參數測試通道和功能及動態性能測試通道；所述測試負載包括靜態參數測試 負載和動態參數負載。
11、 根據權利要求10所述的測試方法，其特征在于，所述步驟D進一步 包括Dl 、信號發生及測試單元在主控單元的控制下根據測試通道和測試負載對被測用戶接口厚膜電路進行靜態參數測試和/或動態性能測試和/或功能測試；D2、信號發生及測試單元將靜態參數測試和/或動態性能測試和/或功能測 試結果上報給主控單元。
12、 根據權利要求11所述的測試方法，其特征在于，所述步驟D2之后 進一步包括D3、主控單元對所上報的靜態參數測試和成動態性能測試和域功能測試 結果進行計算，得到被測用戶接口厚膜電路的靜態參數和/或動態性能和/或功
全文摘要
本發明公開了一種用戶接口厚膜電路測試裝置，包括主控單元，用于在接收到用戶接口厚膜電路測試指令后控制通道切換單元、負載單元和信號發生及測試單元；通道切換單元，用于在該主控單元的控制下將被測用戶接口厚膜電路的用戶側線切換到與該用戶接口厚膜電路測試指令對應的測試通道；負載單元，用于在該主控單元的控制下為與該用戶接口厚膜電路測試指令對應的測試通道提供測試負載；信號發生及測試單元，用于在該主控單元的控制下根據所述測試通道和測試負載對被測用戶接口厚膜電路進行測試。本發明還相應地提供一種用戶接口厚膜電路測試方法。本發明實現了用戶接口厚膜電路的如靜態參數、功能及動態性能等的自動化測試，從而大大提高了測試效率。
文檔編號H04Q3/00GK101146239SQ20071017595
公開日2008年3月19日 申請日期2007年10月16日 優先權日2007年10月16日
發明者嶸 周, 張來喜, 徐東峰, 梁志強, 堃 牛 申請人:中興通訊股份有限公司