高精度電測裝置的制造方法
【專利說明】
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及觸控行業檢測過程中的電測裝置，尤其涉及一種高精度電測裝置。
【【背景技術】】
[0002]目前在手機或平板電腦行業，在檢測過程中由于ITO電路多為消隱電路，肉眼很難看到，而有些銀漿線路線徑小、間距近且線路多，靠肉眼分辯檢測勞動強度大，效率低且誤判率尚，致使不合格品進入到下道工序，造成成品的良率不尚。為了提尚成品良率，將不合格的半成品及時檢出。這就需要一種高精度的電測設備代替人工檢測，將不合格的半成品及時檢出，提高不合品的檢出率，同時降低檢測人員的勞動強度。
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【發明內容】
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[0003]本實用新型針對以上問題提出了一種觸控行業進行檢測所用的高精度電測裝置，該裝置能夠提尚不良廣品的檢出率，避免不良品混入良品中，提尚檢測效率和準確度，降低檢測人員的勞動強度。
[0004]本實用新型所述涉及的高精度電測裝置，包括機臺底座、吸附測量平臺、X軸移動機構、Y軸移動機構、Z軸升降機構以及視覺識別機構，機臺底座表面設置了吸附測量平臺，在該吸附測量平臺四周設置X軸移動機構和Y軸移動機構，在其中Y軸移動機構上設有Z軸升降機構，在Z軸升降機構上設置了視覺識別機構。
[0005]該X軸移動機構包括一對平行的第一 X軸移動副、第二 X軸移動副，其中每一個X軸移動副都包含伺服電機、高精密滾珠絲桿、高精密直線導軌。
[0006]該Y軸移動機構包括一對平行的第一 Y軸移動副和第二 Y軸移動副，該第一 /第二 Y軸移動副與第一 /第二 X軸移動副垂直；該每一副Y軸移動副都包含驅動電機、直線模組和模組支座，模組支座配合安裝在X軸移動副的高精密滾珠絲桿上。
[0007]該Z軸升降機構包括第一 Z軸升降副以及第二 Z軸升降副，其中第一 Z軸升降副安裝在第一 Y軸移動副上，而第二 Z軸升降副安裝在第二 Y軸移動副上。
[0008]該每一副Z軸升降副都包括一個直線步進電機、直線導軌、檢測探針，直線步進電機驅動檢測探針沿著直線導軌升降導向。
[0009]視覺識別機構包括相機、鏡頭、光源，該視覺識別機構包括兩組，分別設置正在Z軸升降副上。
【【附圖說明】】
[0010]圖1是本實用新型高精度電測裝置結構示意圖；
[0011]圖2是本實用新型X軸移動機構結構示意圖；
[0012]圖3是本實用新型Y軸移動機構結構示意圖；
[0013]圖4是本實用新型Z軸升降機構結構示意圖；
[0014]圖5是本實用新型視覺識別結構結構示意圖；
[0015]圖6是本實用新型高精度電測裝置結構示意圖；
[0016]其中:10、機臺底座；20、吸附測量平臺；30、X軸移動機構；31、伺服電機；32、高精密滾珠絲桿；33、高精密直線導軌；40、Y軸移動機構；41、驅動電機；42、直線模組；43、模組支座；50、Z軸升降機構；51、直線步進電機；52、直線導軌；53、檢測探針；60、視覺識別機構；61、相機；62、鏡頭；63、光源。
【【具體實施方式】】
[0017]下面將結合附圖及實施例對本實用新型進行詳細說明。
[0018]請參考附圖1，其中示出了高精度電測裝置，包括機臺底座10、吸附測量平臺20、X軸移動機構30、Y軸移動機構40、Ζ軸升降機構50以及視覺識別機構60，機臺底座10表面設置了吸附測量平臺20，在該吸附測量平臺20四周設置X軸移動機構30和Y軸移動機構40，在其中Y軸移動機構40上設有Z軸升降機構50，在Z軸升降機構50上設置了視覺識別機構60。
[0019]請參考附圖2:該X軸移動機構包括一對平行的第一X軸移動副、第二X軸移動副，其中每一個X軸移動副都包含伺服電機31、高精密滾珠絲桿32、高精密直線導軌33。
[0020]請參考附圖3:該Y軸移動機構40包括一對平行的第一 Y軸移動副和第二 Y軸移動副，該第一 /第二 Y軸移動副與第一 /第二 X軸移動副垂直；該每一副Y軸移動副都包含驅動電機41、直線模組42和模組支座43，模組支座43配合安裝在X軸移動副的高精密滾珠絲桿上。而驅動電機41驅動直線模組42沿著Y軸方向上移動。
[0021]請參考附圖4:該Z軸升降機構50包括第一 Z軸升降副以及第二 Z軸升降副，其中第一 Z軸升降副安裝在第一 Y軸移動副上，而第二 Z軸升降副安裝在第二 Y軸移動副上。
[0022]該每一副Z軸升降副都包括一個直線步進電機51、直線導軌52、檢測探針53，直線步進電機51驅動檢測探針53沿著直線導軌52升降導向。
[0023]請參考附圖5:視覺識別機構包括相機61、鏡頭62、光源63，該視覺識別機構包括兩組，分別設置正在Z軸升降副上。
[0024]以上所述，僅是本實用新型較佳實施例而已，并非對本實用新型作任何形式上的限制，雖然本實用新型以較佳實施例揭露如上，然而并非用以限定本實用新型，任何熟悉本專業的技術人員，在不脫離本實用新型技術方案范圍內，當利用上述揭示的技術內容作出些許變更或修飾為等同變化的等效實施例，但凡是未脫離本實用新型技術方案內容，依據本實用新型技術是指對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均屬于本實用新型技術方案的范圍內。
【主權項】
1.一種高精度電測裝置，其特征在于，該高精度電測裝置包括機臺底座、吸附測量平臺、X軸移動機構、Y軸移動機構、Z軸升降機構以及視覺識別機構，機臺底座表面設置了吸附測量平臺，在該吸附測量平臺四周設置X軸移動機構和Y軸移動機構，在其中Y軸移動機構上設有Z軸升降機構，在Z軸升降機構上設置了視覺識別機構。2.根據權利要求1所述高精度電測裝置，其特征在于，該X軸移動機構包括一對平行的第一 X軸移動副、第二 X軸移動副，其中每一個X軸移動副都包含伺服電機、高精密滾珠絲桿、高精密直線導軌。3.根據權利要求2所述高精度電測裝置，其特征在于，該Y軸移動機構包括一對平行的第一 Y軸移動副和第二 Y軸移動副，該第一 /第二 Y軸移動副與第一 /第二 X軸移動副垂直；該每一副Y軸移動副都包含驅動電機、直線模組和模組支座，模組支座配合安裝在X軸移動副的高精密滾珠絲桿上。4.根據權利要求3所述高精度電測裝置，其特征在于，該Z軸升降機構包括第一Z軸升降副以及第二 Z軸升降副，其中第一 Z軸升降副安裝在第一 Y軸移動副上，而第二 Z軸升降副安裝在第二Y軸移動副上。5.根據權利要求4所述高精度電測裝置，其特征在于，該每一副Z軸升降副都包括一個直線步進電機、直線導軌、檢測探針，直線步進電機驅動檢測探針沿著直線導軌升降導向。6.根據權利要求5所述高精度電測裝置，其特征在于，視覺識別機構包括相機、鏡頭、光源，該視覺識別機構包括兩組，分別設置正在Z軸升降副上。
【專利摘要】一種高精度電測裝置，其特征在于，該高精度電測裝置包括機臺底座、吸附測量平臺、X軸移動機構、Y軸移動機構、Z軸升降機構以及視覺識別機構，機臺底座表面設置了吸附測量平臺，在該吸附測量平臺四周設置X軸移動機構和Y軸移動機構，在其中Y軸移動機構上設有Z軸升降機構，在Z軸升降機構上設置了視覺識別機構。
【IPC分類】G01R31/00, G01N21/84
【公開號】CN204882375
【申請號】CN201520320376
【發明人】鄭春曉
【申請人】深圳市極而峰工業設備有限公司
【公開日】2015年12月16日
【申請日】2015年5月18日