一種陣列渦流檢測鋁合金薄板缺陷的檢測工藝的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及無損檢測領域，具體涉及一種陣列渦流檢測鋁合金薄板缺陷的檢測工
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【背景技術】
[0002]鋁合金薄板供應狀態為冷乳，可能產生成分偏析、裂紋、分層和帶狀組織等缺陷，鋁合金薄板入廠檢測項目中的無損檢測采用手工超聲掃描檢測和超聲表面波檢測，均存裂紋漏檢、無法出材料成分不均勻、工藝實施穩定性差、檢測結果與操作人員水平相關、難以實現質量追溯、檢測速度慢、效率低等問題，檢測質量難以保證。

【發明內容】

[0003]本專利在比較其他無損檢測方法基礎上，采用陣列渦流檢測技術檢測鋁合金薄板，調整激勵方法調節滲透深度，抑制干擾，提高信噪比關鍵技術，采用圖像方式顯示，實現快速檢測，可有效檢出檢測薄壁鋁板裂紋類和帶氧化膜的分層等典型缺陷，通過信號幅值分布圖像評估薄壁鋁板性能均勻性、實現鋁合金薄板缺陷和材質特性的快速無損檢測。
[0004]本發明采用的技術方案如下:一種陣列渦流檢測鋁合金薄板缺陷的檢測工藝，其特征在于包括以下步驟:確定陣列渦流檢測儀器，選擇檢測探頭，確定檢測標準試塊，掃描檢查方式設置，探頭參數設置，探頭驅動電流設置，探頭增益設置，探頭信號相位設置，探頭信號垂直增益設置，探頭平衡調整，探頭提離調整，檢測增益，調整顏色盤，使用濾波器處理提離信號，提高小缺陷顯示比率，讀取掃描圖像判斷鋁合金薄板缺陷。
[0005]進一步的，所述的檢測探頭分為表面缺陷檢測陣列渦流探頭和分層缺陷檢測陣列渦流探頭;所述的探頭參數設置為表面缺陷檢測陣列渦流探頭設置檢測頻率1MHz，分層缺陷檢測陣列渦流探頭設置檢測頻率500kHz。
[0006]進一步的，所述的掃描檢查方式設置為選擇單線掃描類型，然后輸入頻率值，輸入完成所查所需的時間值，并且保證控制好掃查速度來保證數據同步。
[0007]進一步的，所述的探頭驅動電流設置為輸入與探頭和材料相對應的驅動電流;所述的探頭增益設置為輸入與探頭和材料相對應的探頭增益;所述的探頭信號相位設置為輸入與探頭和材料相對應的相位旋轉值;所述的探頭信號垂直增益設置為輸入與探頭和材料相對應的信號垂直分量值。
[0008]進一步的，所述的探頭平衡調整為將探頭放置在標準試塊沒有缺陷區域的標準區域，在平衡探頭的過程中探頭一定要和標準試塊貼合，并且按壓力度應和掃描檢查力度一致，如果平衡失敗，確保探頭頻率符合要求，可降低驅動電流。
[0009]進一步的，所述的探頭提離調整，在標準試塊上無缺陷區域掃描檢查并產生C2掃描圖像提離信號;在掃描檢查結束后，設備屏幕上會出現一個阻抗平面圖、一個條形圖和一個C3掃描圖像;阻抗平面圖中所顯示的圖像是由C3掃描圖中光標的位置決定的，開啟相旋轉功能，旋轉旋鈕，并觀察阻抗平面圖，最終旋至信號完全水平，在旋轉旋鈕的過程中，C3掃描圖像也是實時變化的，當提離信號水平時，在C3掃描圖像中提離信號就會消失，得C4掃描圖像。
[0010]進一步的，所述的檢測增益，對標準試塊進行掃描檢查，并保證掃查路徑穿過最大缺陷區域，掃描檢查結束后，設備屏幕上會顯示一個阻抗平面圖、一個條形圖、一個C5掃描圖像;開啟增益功能，旋轉旋鈕，直到最小尺寸人工缺陷信號幅值達到滿幅值的30%?50%，得C6掃描圖像;開啟垂直增益功能，旋轉旋鈕，使檢測信號朝Y軸方向移動，即缺陷信號的Y軸分量增加，最終使得缺陷信號更加明顯，得C7掃描圖像。
[0011]進一步的，所述的調整顏色盤，對固定的C7掃描圖像進行處理，最終實現使得缺陷更加容易察覺，得CS掃描圖像;CS掃描圖像背景色是淺黃色或者是淺藍色，返回實時顯示數據狀態，再次進行探頭平衡，重新對標準試塊進行掃描檢查，并保證掃描檢查時力度是不變的，掃描檢查結束后，背景色將變成綠色，得C9掃描圖像。
[0012]進一步的，所述的使用濾波器處理提離信號為使用高通濾波器去除信號中由提離效應造成的低頻干擾，特別是采用編碼器掃描檢查方式效果更佳。
[0013]進一步的，所述的提高小缺陷顯示比率，為設備處于接收模式，設置實時顯示的最小范圍，得到ClO掃描圖像，在ClO掃描圖像的底部將顯示掃描檢查所處的位置。
[0014]進一步的，所述的讀取掃描圖像判斷鋁合金薄板缺陷為根據讀取的ClO掃描圖像形狀和掃描檢查所處的位置，判斷鋁合金薄板的缺陷。
[0015]所述C2、C3、C4、C5、C6、C7、C8、C9、C10掃描圖像，只表示區分不同的掃描圖像，不代表具體的含義。
[0016]—種用于陣列渦流檢測鋁合金薄板缺陷的檢測工藝的檢測標準試塊，其特征在于:所述試塊為L3M招合金薄板，形狀為矩形倒圓角，長380mm，寬280mm，厚4mm，圓角半徑8mm;有刻槽9個，刻槽寬度0.2mm，其中槽深度為0.2mm的刻槽3個，槽深度為0.3mm的刻槽3個，槽深度為0.4mm的刻槽3個;有平底孔16個，其中孔深度為3.5mm的平底孔4個，孔深度為
3.0mm的平底孔4個，孔深度為2.5mm的平底孔4個，孔深度為2.0mm的平底孔4個。
[0017]進一步的，所述的一種用于陣列渦流檢測鋁合金薄板缺陷的檢測工藝的檢測標準試塊，表面清潔，無油污，無氧化皮，無雜質，無劃傷。
[0018]本發明用于鋁合金薄板入廠無損檢測，和現有技術相比，檢測速度快，檢測結果直觀，適于鋁合金薄板的快速無損檢測，提高勞動生產效率。
【附圖說明】
[0019]圖1為檢測標準試塊示意圖。
[0020]圖2為C2掃描圖像。
[0021]圖3為C3掃描圖像。
[0022]圖4為C4掃描圖像。
[0023]圖5為C5掃描圖像。
[0024]圖6為C6掃描圖像。
[0025]圖7為C7掃描圖像。
[0026]圖8為C8掃描圖像。
[0027]圖9為C9掃描圖像。
[0028]圖10為ClO掃描圖像。
[0029]圖11為Cll掃描圖像。
[0030]圖12為C12掃描圖像。
【具體實施方式】
[0031]為了使本發明的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖，對本發明作進一步詳細說明。
[0032]實施例一:
一種陣列渦流檢測鋁合金薄板缺陷的檢測工藝，其特征在于包括以下步驟:確定陣列渦流檢測儀器，選擇檢測探頭，確定檢測標準試塊，掃描檢查方式設置，探頭參數設置，探頭驅動電流設置，探頭增益設置，探頭信號相位設置，探頭信號垂直增益設置，探頭平衡調整，探頭提離調整，檢測增益，調整顏色盤，使用濾波器處理提離信號，提高小缺陷顯示比率，讀取掃描圖像判斷鋁合金薄板缺陷。
[0033]如圖1所示，一種用于陣列渦流檢測鋁合金薄板缺陷的檢測工藝的檢測標準試塊，其特征在于:所述試塊為L3M招合金薄板，形狀為矩形倒圓角，長380mm，寬280mm，厚4mm，圓角半徑8mm;有刻槽9個，刻槽寬度0.2mm，其中槽深度為0.2mm的刻槽3個，槽深度為0.3mm的刻槽3個，槽深度為0.4mm的刻槽3個;有平底孔16個，其中孔深度為3.5mm的平底孔4個，孔深度為3.0mm的平底孔4個，孔深度為2.5mm的平底孔4個，孔深度為2.0mm的平底孔4個。
[0034]所述的一種用于陣列渦流檢測鋁合金薄板缺陷的檢測工藝的檢測標準試塊，表面清潔，無油污，無氧化皮，無雜質，無劃傷。
[0035]待檢測招合金薄板，有深度0.2mm，寬度0.2mm，長度分別為2mm、3mm、4mm的裂紋，沿寬度方向檢測。
[0036]檢測儀器為Omniscan MX EC陣列渦流檢測儀器，檢測探頭為表面缺陷檢測OLMPUSSAB-067-010-064 64陣列渦流探頭，頻率1MHz。激勵電壓為3V。開機啟動預熱15分鐘。
[0037]掃描檢查方式設置，選擇單線掃描類型，然后輸入頻率值，輸入完成所查所需的時間值，并且保證控制好掃查速度來保證數據同步。具體為選擇面板上Scan > Inspect1n >Type= One Line Scan;選擇面板上Scan > Inspect1n > Scan = Time;選擇面板上Scan
>Inspect1n > Acq.Rate,然后輸入頻率值；選擇面板上 Choose Scan > Area > ScanEnd,然后輸入完成所查所需的時間值，并且保證控制好掃查速度來保證數據同步。
[0038]探頭驅動電流設置為輸入與探頭和材料相對應的驅動電流。具體為選擇ECSettings > Settings > Probe Drive，輸入與探頭和材料相對應的驅動電流;按下Accept按鍵。
[0039]探頭增益設置為輸入與探頭和材料相對應的探頭增益。具體為選擇ECSettings
>Settings >Gain，輸入與探頭和材料相對應的探頭增益;按下Accept按鍵。
[0040]探頭信號相位設置為輸入與探頭和材料相對應的相位旋轉值。具體為選擇ECSettings > Settings > Rotat1n，輸入與探頭和材料相對應的相位旋轉值;按下Accept按鍵。
[0041]探頭信號垂直增益設置為輸入與探頭和材料相對應的信號垂直分量值。具體為選擇EC Settings > Settings >Vertical Gain，輸入與探頭和材料相對應的信號垂直分量值;按下Accept按鍵。
[0042]探頭平衡調整，將探頭放置在標準試塊沒有缺陷區域的標準區域;選擇Probe>Settings > Balance;在平衡探頭的過程中探頭一定要和標準試塊貼合，并且按壓力度應和掃查力度一致，如果平衡失敗，確保探頭頻率符