一種雙工位wdm測試系統的制作方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種雙工位WDM的測試系統，包括第一測試子系統和第二測試子系統，所述第一測試子系統包括并聯的第一裝配監控模塊和第一全波掃描模塊，所述第二測試子系統包括并聯的第二裝配監控模塊和第二全波掃描模塊；所述第一全波掃描模塊和第二全波掃描模塊都包括ASE光源和光譜分析儀，所述第一裝配監控模塊包括依次串聯的第一點光源、第三光開關、第四光開關和第一光功率計，所述第二裝配監控模塊包括第二點光源、第五光開關、第六光開關和第二光功率計，所述ASE電源連接第三開關、光譜分析儀連接第四光開關組成了所述第一全波掃描模塊，所述ASE電源連接第五光開關、光譜分析儀連接第六光開關組成了所述第二全波掃描模塊。
【專利說明】
一種雙工位WDM測試系統
技術領域
[0001 ]本實用新型涉及WDM測試領域，更具體的說，是涉及一種雙工位WDM測試系統。
【背景技術】
[0002]WDM(ffavelength Divis1n Multiplexing，波分復用)技術是利用單根光纖傳輸多個載波實現超大容量光傳輸。
[0003]近年來，隨著FTTH技術的飛速發展，WDM應用逐步普及，在光通信行業內，組裝WDM產品必須在線監測其插損(IL)，但是也必須同時進行全波掃描來確定中心波長漂移(Center Wavelength Shift)、隔離度(Isolat1n)等參數。一些光學指標是在組裝時必須在線監控的，而另一些指標必須在組裝的同時進行監控的。光學設備如光譜分析儀、寬帶光源成本都比較高，所以，減少設備投入和提高生產效率是企業降低成本的關鍵。
[0004]WDM測試是管控WDM產品品質的一個及其重要的環節，國家標準對WDM的測試項目進行了詳細的規范和定義，這些測試項目中最為重要的有:插入損耗(IL)指標的測試；中心波長漂移(Center Wavelength Shift)和隔離度(IsoIat1n)的測試計算。傳統測試針對這些項目是分開進行的，完成這三個項目的測試至少需要兩個工位來完成，在器件的測試過程中一根光纖需要熔接兩次以上，多次熔接會增加成本，浪費時間，不必要的熔接甚至還會影響最終數據的精準度。
[0005]傳統組裝監控技術設備使用率低，占用空間大，難以精確測量出產品的各項性能指標，難以實時快速地對器件實施關鍵數據的掃描測試。
【實用新型內容】
[0006]有鑒于此，有必要針對上述問題，提供一種雙工位WDM測試系統，占用空間小，成本低，效率高，計量精度高并且可在線組裝。
[0007]為了實現上述目的，本實用新型的技術方案如下:
[0008]—種雙工位WDM測試系統，包括第一測試子系統和第二測試子系統，所述第一測試子系統包括并聯的第一裝配監控模塊和第一全波掃描模塊，所述第二測試子系統包括并聯的第二裝配監控模塊和第二全波掃描模塊;所述第一全波掃描模塊和第二全波掃描模塊都包括ASE光源和光譜分析儀，第一全波掃描模塊和第二全波掃描模塊通過第一光開關、第二光開關并聯。
[0009]作為優選的，所述第一裝配監控模塊包括依次串聯的第一點光源、第三光開關、第四光開關和第一光功率計，所述第二裝配監控模塊包括第二點光源、第五光開關、第六光開關和第二光功率計，所述ASE電源連接第三開關、光譜分析儀連接第四光開關組成了所述第一全波掃描模塊，所述ASE電源連接第五光開關、光譜分析儀連接第六光開關組成了所述第二全波掃描模塊。
[0010]作為優選的，所述第三光開關與第四光開關間、四五光開關與第六光開關間連接待測器件。
[0011]作為優選的，所述ASE光源通過第一光開關分別連接所述第三光開關、第五光開關，所述光譜分析儀通過第二光開關分別連接所述第四光開關、第六光開關。
[0012]與現有技術相比，本實用新型的有益效果在于:一方面它能夠在線監控產品組裝性能，減少跳線切換和熔接次數，測試效率更高，另一方面，運用本系統的并聯集成方式可使一套ASE光源和光譜分析儀應用在多個工位上，達到充分利用設備，減小占用空間，節約設備成本的目的。
【附圖說明】
[0013]圖1為本實用新型實施例第一測試子系統的結構框圖；
[0014]圖2為本實用新型實施例第二測試子系統的結構框圖；
[0015]圖3為本實用新型實施例雙工位WDM測試系統的集成總圖。
【具體實施方式】
[0016]下面結合附圖和實施例對本實用新型所述的一種雙工位WDM測試系統作進一步說明。
[0017]以下是本實用新型所述的的最佳實例，并不因此限定本實用新型的保護范圍。
[0018]圖1至圖3示出了一種雙工位WDM測試系統，所述雙工位測試系統包括第一測試子系統(圖1所示)和第二測試子系統(圖2所示)，在本實施例中的雙工位WDM測試系統包括ASE光源1、第一點光源2、第二點光源8、第一光開關7、第二光開關12、第三光開關3、第四光開關
4、第五光開關9、第六光開關10、第一光功率計5、第二光功率計11和光譜分析儀6;第一點光源2、第三光開關3、第四光開關4、和第一光功率計5相互連接組成了第一裝配監測模塊;第二點光源8、第五光開關9、第六光開關10和第二光功率計相互連接組成了第二裝配監控模塊;所述ASE光源、第三光開關3、第四光開關4、和光譜分析儀6相互連接組成了第一全波掃描模塊;ASE光源、第五光開關9、第六光開關10和光譜分析儀6相互連接組成了第二全波掃描模塊。
[0019]從圖1和圖2中可以看出，第一測試子系統由第一裝配監控模塊和第一全波掃描模塊通過第三光開關3、第四光開關4并聯集成;第二測試子系統由第二裝配監控模塊和第二全波掃描模塊通過第五光開關9、第六光開關10并聯集成。
[0020]圖3是第一測試子系統和第二測試子系統通過第一光開關7、第二光開關12并聯集成后的整個系統的結構框圖，在并聯集成中，通過所述ASE光源通過第一光開關分別連接所述第三光開關、第五光開關，所述光譜分析儀通過第二光開關分別連接所述第四光開關、第六光開關，因此，所述ASE電源連接第三開關、光譜分析儀連接第四光開關組成了所述第一全波掃描模塊，所述ASE電源連接第五光開關、光譜分析儀連接第六光開關組成了所述第二全波掃描模塊。
[0021 ]本【具體實施方式】為:將所有光開關集成到一個盒子里，設計邏輯電路來控制光開關，通過串口連接PC，使用已編寫程序控制光開關的連通狀態使系統形成多種所需組合來適應不同生產需求。
[0022]具體實施步驟如下:
[0023]第一步:(參看圖3)工位一在線組裝待測器件I(DUTl)時，通過程序控制光開關3、4將點第一光源2和功率計5連通，用以在線監控產品的插入損耗(IL)。
[0024]第二步:待測器件I插損(IL)合格后需要監控產品的中心波長漂移(CenterWavelength Shift)和隔離度(Isolat1n)，此時需對待測器件I進行全波掃描，可立即通過已寫程序控制第一光開關7、第二光開關12、第三光開關3、第四光開關4將寬帶光源和光譜分析儀與待測器件I (DUT1)連接進行掃描。
[0025]第三步:工位一對待測器件I(DUT1)進行全波掃描時，工位二可開始裝配待測器件2(DUT2)，同樣的，在線組裝待測器件2時，控制第五光開關9、第六光開關10將第二點光源8和第二光功率計11連通。
[0026]第四步:待測器件2插損(IL)合格的同時需要對其進行全波掃描，此時器件I掃描完成，可立即控制第一光開關7、第二光開關12、第五光開關9、第六光開關10將寬帶光源和光譜分析儀與待測器件2(DUT2)連接進行掃描，達到對寬帶光源和光譜分析儀的時分復用，充分利用貴重設備。
[0027]第五步:工位二掃描完成后，工位一開始掃描器件三。
[0028]第六步:工位一掃描完成，工位二掃描器件四。
[0029]……
[0030]可以看出，在線組裝時，從插損(IL)的監控到對產品進行全波掃描，僅僅需要對光開關進行控制，而不需要移動產品和重新熔接光纖，而兩個工位交替生產的工作方式，達到了對寬帶光源和光譜分析儀這樣的貴重設備的充分利用。
[0031]以上所述實施例僅表達了本實用新型的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對本實用新型專利范圍的限制。應當指出的是，對于本領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本實用新型的保護范圍。因此，本實用新型專利的保護范圍應以所附權利要求為準。
【主權項】
1.一種雙工位WDM測試系統，其特征在于，包括第一測試子系統和第二測試子系統，所述第一測試子系統包括并聯的第一裝配監控模塊和第一全波掃描模塊，所述第二測試子系統包括并聯的第二裝配監控模塊和第二全波掃描模塊;所述第一全波掃描模塊和第二全波掃描模塊都包括ASE光源和光譜分析儀，第一全波掃描模塊和第二全波掃描模塊通過第一光開關、第二光開關并聯。2.根據權利要求1所述的雙工位WDM測試系統，其特征在于，所述第一裝配監控模塊包括依次串聯的第一點光源、第三光開關、第四光開關和第一光功率計，所述第二裝配監控模塊包括第二點光源、第五光開關、第六光開關和第二光功率計，所述ASE電源連接第三開關、光譜分析儀連接第四光開關組成了所述第一全波掃描模塊，所述ASE電源連接第五光開關、光譜分析儀連接第六光開關組成了所述第二全波掃描模塊。3.根據權利要求2所述的雙工位WDM測試系統，其特征在于，所述第三光開關與第四光開關間、四五光開關與第六光開關間連接待測器件。4.根據權利要求2所述的雙工位WDM測試系統，其特征在于，所述ASE光源通過第一光開關分別連接所述第三光開關、第五光開關，所述光譜分析儀通過第二光開關分別連接所述第四光開關、第六光開關。
【文檔編號】H04B10/079GK205490550SQ201620243448
【公開日】2016年8月17日
【申請日】2016年3月28日
【發明人】張齊凌, 喻琴, 周加文, 朱付金
【申請人】武漢奧新科技有限公司