專利名稱：相位檢測裝置、度盤式檢測裝置及相位檢測方法
技術領域：
本發明涉及相位檢測裝置、度盤式檢測裝置及相位檢測方法。
背景技術：
在眾多的電子裝置中，作為用戶輸入操作指令的裝置，使用度盤式檢測裝置。度盤式檢測裝置具有能旋轉的度盤和檢測度盤的旋轉相位的相位檢測裝置。電子裝置根據相位檢測裝置輸出的兩相的相位(通常，相位彼此相差π/2)，導出度盤的旋轉方向及旋轉角度，根據這些信息，進行例如影像顯示畫面上的光標的移動、顯示內容的變更(例如被顯示的數值的加1或減1等)、以及其他處理。
通過將相位檢測裝置安裝在進行直線移動的操作桿(與轉子被安裝在后面所述的度盤上同樣地安裝移動子)上，能檢測操作桿的移動方向及移動量。電子裝置通過安裝了相位檢測裝置的操作桿，輸入來自用戶的操作指令。操作桿的操作方向及移動量的檢測方法與后面所述的度盤式檢測裝置的方法相同。以下，以度盤式檢測裝置為例進行說明。
用圖6～圖14，說明現有例的相位檢測裝置。作為現有例的相位檢測裝置，提出了采用磁方式、光學方式、以及機構方式的相位檢測裝置。
圖6是表示安裝在度盤式檢測裝置中的現有例1的相位檢測裝置的結構框圖。度盤式檢測裝置被設置在電子裝置的操作桿上。現有例1的相位檢測裝置采用磁方式。在圖6中，20a及20b是磁通檢測部，31是電源部。在用戶進行旋轉操作的度盤的底面上，沿著外周或底面安裝著被多極勵磁了的環狀磁鐵(轉子)。磁通檢測部20a及20b被從電源部31常時地供給電源，檢測安裝在度盤上的磁鐵所產生的磁場(磁通密度)，分別發生其相位相差π/2的兩個二值化的信號(稱為A相輸出電壓或A相輸出信號、B相輸出電壓或B相輸出信號)。
圖8是表示磁通檢測部20a輸出的A相輸出電壓、以及磁通檢測部20b輸出的B相輸出電壓的時序圖。電子裝置的微型計算機輸入其相位相差π/2的A相輸出電壓及B相輸出電壓，根據相位超前多少，能檢測度盤的旋轉方向。計數A相輸出電壓及/或B相輸出電壓的相位的變化量，能導出度盤的旋轉角度。在專利文獻1(特開昭57-175260號公報)中記載了使用拾音線圈的現有例的旋轉方向檢測裝置。
例如，通過將相位檢測裝置輸出的二值化的A相輸出電壓及B相輸出電壓(相位相差π/2)中的一方輸入到D觸發器的時鐘輸入端，將另一方輸入到數據輸入端，D觸發器輸出旋轉方向檢測信號(例如為Q輸出信號，數值0或1表示旋轉方向)。另外，通過將A相輸出電壓(或B相輸出電壓)輸入到可逆計數器的時鐘輸入端，將旋轉方向檢測信號輸入到UP/DOWN切換端子，可逆計數器的計數值表示度盤式檢測裝置的旋轉方向及旋轉角度。電子裝置根據度盤式檢測裝置的旋轉方向及旋轉角度的信息進行規定的處理。
現用圖6說明安裝在度盤式檢測裝置中的現有例2的相位檢測裝置。現有例2的相位檢測裝置采用光學方式。在圖6中，20a及20b是發光二極管及光電晶體管隔著狹縫相向的光電遮斷器(也可以是光反射鏡等的其他光傳感器)，31是電源部。在用戶進行旋轉操作的度盤的底面上，在整個周長上安裝著沿半徑方向延伸的遮光部(典型的黑帶)及透明部交替設置的環狀的板(轉子)。被插入光電遮斷器20a及20b的狹縫中的環狀的板使發光二極管朝向光電晶體管發出的光透過或被遮擋。光電遮斷器20a及20b分別發生其相位相差π/2的兩個二值化的信號(A相輸出電壓及B相輸出電壓)。
現用圖7說明安裝在度盤式檢測裝置中的現有例3的相位檢測裝置。現有例3的相位檢測裝置采用機構方式。在圖7中，40a及40b是具有機械傳動機構及切換機構的開關，41a及41b是電阻器，31是電源部。在用戶進行旋轉操作的度盤的底面上，沿外周安裝著形成了凹凸的環狀的板(轉子)。開關40a及40b被配置成使接點隨著度盤的旋轉角的不同而短路，接點短路的時刻彼此相差π/2。電阻器41a與開關40a的連接點、以及電阻器41b與開關40b的連接點分別輸出其相位相差π/2的兩個二值化的信號(A相輸出電壓及B相輸出電壓)。
近年來在這樣的相位檢測裝置中，出于安裝在便攜式裝置等中的目的，省電化的市場需求急速高漲。作為使相位檢測裝置省電化的方法，除了低壓驅動相位檢測裝置以外，還有在用戶在規定時間內未操作度盤式檢測裝置的情況下，將對相位檢測裝置的相位檢測器(圖6中的20a及20b、圖7中的電阻器41a及開關40a、電阻器41b及開關40b)的供電從常時通電模式變更為間歇通電模式(稱為休眠模式)的方法(稱為休眠功能)。
圖9是有休眠功能的機構方式的現有例4的相位檢測裝置的結構框圖。圖10是表示圖9中的現有例的相位檢測裝置的各部的信號波形的時序圖。現有例4的相位檢測裝置被安裝在度盤式檢測裝置中。現有例的相位檢測裝置有檢測轉子在某恒定時間內未動的休眠檢測功能；以及在休眠模式中第一相位檢測器(電阻41a及開關40a)或第二相位檢測器(電阻41b及開關40b)檢測轉子動了的電源啟動條件檢測功能。
在圖9中，31是電源，30是電源啟閉器，91是控制部。電阻41a及開關40a構成第一相位檢測器，電阻41b及開關40b構成第二相位檢測器。控制部91有第一至第四存儲部(分別是D觸發器)10a～10d、譯碼器61、以及狀態控制部60。譯碼器61有“異”門12a、12b、以及“或”門63。
第一至第四存儲部10a～10d及譯碼器61在休眠模式中執行第一相位檢測器(電阻41a及開關40a)或第二相位檢測器(電阻41b及開關40b)檢測度盤等(轉子)動了的電源啟動條件檢測功能。狀態控制部60輸入A相輸出信號(從電阻41a和開關40a的連接點A點輸出的信號)及B相輸出信號(從電阻41b和開關40b的連接點B點輸出的信號)，執行檢測轉子在某恒定時間內未動的休眠檢測功能。狀態控制部60在休眠檢測功能起作用時，將相位檢測裝置從常時通電模式轉移到休眠模式。電源啟動條件檢測功能起作用時，將相位檢測裝置從休眠模式轉移到常時通電模式。電源啟閉器30在常時通電模式中使從電源31流向第一相位檢測器及第二相位檢測器的電流常時地導通，在休眠模式中間歇地導通，在除此以外的時間將電流阻斷。
在圖10中，A是A相輸出信號，B是B相輸出信號。10a～10d、12a、12b、63、60分別是符號相同的塊的輸出信號。ST及SC分別是后面所述的ST信號及SC信號。
在圖10中，最初，狀態控制部60呈常時通電模式。直到某一時刻，由于用戶將度盤(轉子)向某一方向旋轉，所以B相輸出信號相對于A相輸出信號總是以π/2延遲相位變化。從某一時刻到時刻ts(規定的時間)，基于A相輸出信號及B相輸出信號都不變的情況，休眠檢測功能起作用，狀態控制部60從常時通電模式轉移到休眠模式，輸出信號ST(在休眠模式中呈高電平，在常時通電模式中呈低電平。以下稱ST信號)呈高電平。
第一存儲部10a及第三存儲部10c根據ST信號的上升沿，閂鎖轉移到休眠模式之前的A相輸出信號及B相輸出信號(都是二值)。第一存儲部10a及第三存儲部10c接著在ST信號的上升沿到來之前存儲A相輸出信號及B相輸出信號，將這些信號分別輸入“異”門12a及12b。
此后，電源啟閉器30根據來自狀態控制部60的指令，將對兩個相位檢測器(電阻41a及開關40a、電阻41b及開關40b)的供電阻斷。因此，A相輸出信號及B相輸出信號呈低電平。此后從狀態控制部60每隔規定期間將指令送給電源啟閉器30，電源啟閉器30每隔規定期間向兩個相位檢測器供電。狀態控制部60只在休眠期間間歇地輸出掃描信號SC(以下稱SC信號)。第二存儲部10b及第四存儲部10d根據SC信號的上升沿，閂鎖A相輸出信號及B相輸出信號(都是二值)。第二存儲部10b及第四存儲部10d在下一個SC信號的上升沿到來之前存儲A相輸出信號及B相輸出信號，將這些信號分別輸入到“異”門12a及12b。
“異”門12a的輸出信號是轉移到休眠模式之前的A相輸出信號和各掃描時刻ts(1)～ts(n)的A相輸出信號的邏輯變化判斷結果。“異”門12b的輸出信號是轉移到休眠模式之前的B相輸出信號和各掃描時刻的B相輸出信號的邏輯變化判斷結果。“或”門63輸入“異”門12a及12b的輸出信號，輸出它們的邏輯和。如果A相輸出信號及B相輸出信號中的任意一方從變化成休眠模式之前的值發生變化，則“或”門63的輸出信號變成高電平。
在從時刻ts至ts(1)的期間，由于處于最初的掃描信號尚未到來的狀態，所以第二存儲部10b及第四存儲部10d閂鎖的值不正確，該期間的“或”門63的輸出結果不能直接使用。狀態控制部60不使用輸出最初的掃描信號之前的“或”門63的輸出信號。
以下，說明時刻ts(1)以后，選出休眠期間的時刻tw之前的電源啟動條件檢測的過程。
在時刻ts(1)的SC信號的上升沿，A相輸出信號及B相輸出信號被閂鎖在第二存儲部10b及第四存儲部10d中。第二存儲部10b的數據輸出從低電平反相到高電平，“異”門12a的輸出呈低電平，“異”門12b的輸出仍呈低電平，所以“或”門63的輸出呈低電平，休眠期間繼續。
在時刻ts(x)，向休眠模式轉移前的A相輸出信號及B相輸出信號和在掃描時刻的A相輸出信息及B相輸出信號中只是任意一方(圖10中為B相輸出信號)變化了的情況下，“異”門12b的輸出呈高電平，“或”門63的輸出變為高電平。狀態控制部60輸入“或”門63的輸出信號(呈高電平的激活的電源啟動條件檢測信號)。狀態控制部60從休眠模式變為常時通電模式。狀態控制部60使電源啟閉器30通電，電源啟閉器30使兩個相位檢測器(開關及上拉電阻器)常時地通電。
磁方式的相位檢測裝置由于不接觸，沒有機構方式那樣的接點磨損，所以可靠性高，也比光學方式的功耗低，而且成本低。
作為磁方式的相位檢測器，能使用霍爾元件、磁阻元件、或者用某恒定的閾值辨別霍爾元件的輸出電壓，將直至輸出二值化的輸出信號的功能集成化了的IC(以下稱霍爾IC)等。
這些霍爾元件及霍爾IC所消耗的工作電流為數mA，所以在常時供電狀態下使用時，對安裝了這些元件的便攜式裝置的電池容量來說，負擔很重。
可是，在磁方式中，如果間歇地向相位檢測器供電來使用，則會發生機構方式中所沒有的問題。
圖11是表示多半作為一般的相位檢測器使用的霍爾IC的結構的圖。在圖11中，80是檢測磁通密度(磁場)的霍爾元件，81是放大霍爾元件的磁通密度檢測電壓的放大器，82是有滯后的二值化器(施密特觸發方式緩沖器)。圖12是表示霍爾IC的輸入磁通密度(橫軸)與磁通檢測電壓(縱軸)的關系特性曲線圖之一例。
霍爾IC具有滯后特性，以便輸出相對于磁通密度穩定的邏輯輸出信號(二值輸出信號)。即，霍爾IC設有對輸入磁通密度的無感應帶，以便對微小的磁通密度的變化不容易感應輸出信號(稱為狀態保持功能)。
可是，霍爾IC沒有對應于電源端子的間歇驅動工作的狀態保持功能，而且沒有電源復位功能，所以在輸入磁通密度的滯后的上限及下限的閾值內的電平(以下稱滯后區)的磁通被輸入的狀態下，如果接通電源，則施密特觸發方式緩沖器的初始值呈不穩定狀態，磁通檢測電壓也呈不穩定狀態。該不穩定狀態在通電期間，在超過上下滯后閾值的電平的磁通輸入到來之前永遠保持該狀態。
圖13是表示相對于旋轉角或移動距離的大小，假定磁通密度的變化大致描繪成正弦曲線時的輸入磁通密度(縱軸為輸入磁通密度)和相位檢測器的輸出電壓波形(縱軸為電壓)的關系曲線圖(橫軸為時間)。
圖中的輸出電壓波形的斜線部分是對應于滯后區的輸出電壓不定區。使轉子或移動子停止在滯后區內以后，將相位檢測器的電源暫時阻斷，在電源再次導通的情況下，相位檢測器未必輸出與電源阻斷前相同的檢測輸出電壓。
圖14(a)、(b)是設想使磁方式的相位檢測器間歇通電的情況下的相位檢測器的A相輸出信號及B相輸出信號的波形圖(縱軸是各自的相位檢測器的輸出電壓，橫軸是時間)。
在圖14(a)中，在地點X和地點Z或地點X’和地點Z’，A相輸出信號、B相輸出信號都不存在不定區。在相位檢測裝置中，采取了轉子絕對不會停止在不定區內的機構性的措施，如果轉子總是停止在地點X、Z或X’、Z’，則能避免上述的相位檢測器由間歇供電引起的輸出不定的問題。可是，在實際的相位檢測裝置中，采取這樣的措施在機械上是困難的。另外，在實際使用條件中，在進行用戶未預期的工作的情況下，例如，往往發生這樣的不正常現象轉子在不定區內長時間放置后，從相位檢測器持續輸出錯誤的電源啟動條件檢測信號，安裝相位檢測裝置的設備的電池消耗了剩余容量等。
為了避免這樣的不正常現象的發生，轉子或移動子的停止點不管在哪里，都需要正確地判斷轉子或移動子是否動了。
在圖14(a)中，現在，旋轉角或移動距離在圖中地點W處靜止恒定的時間，假定在該地點進入休眠模式。在該磁方式的情況下，如果使其間歇工作，則即使在使轉子或移動子的位置坐標不動的狀態下，下級的B相輸出信號也會顯現間歇工作時的檢測輸出呈現高電平或低電平的何種輸出電壓而變得不定。在只是B相輸出信號變化了的情況下，實際上不能判斷這是由于轉子或移動子動了、還是由于由間歇工作引起的不定輸出所致。同樣，在圖14(a)中的地點W’處進入休眠模式的情況下也同樣，在只是A相輸出信號變化了的情況下，實際上不能判斷這是由于轉子或移動子動了、還是由于由間歇工作引起的不定輸出所致。
因此，不能將與現有的采用機械方式的相位檢測裝置的電源啟動條件檢測方法相同的方法應用于磁方式的相位檢測裝置中。
發明內容
本發明的目的在于提供一種在間歇通電模式中使有滯后的相位檢測器工作，間歇驅動時只有在轉子(或移動子)實際動了的情況下，才使工作從間歇通電模式變更為常時通電模式的、省電、不會產生誤動作的相位檢測裝置、度盤式檢測裝置及相位檢測方法。
為了解決上述的課題，本發明有以下結構。按照本發明的一種觀點的相位檢測裝置有有檢測對象物的相位的第一檢測部、以及對上述第一檢測部檢測的相位設定滯后而進行二值化的第一二值化部的第一相位檢測器；有在與上述第一相位檢測器不同的相位中檢測對象物的相位的第二檢測部、以及對上述第二檢測部檢測的相位設定滯后而進行二值化的第二二值化部的第二相位檢測器；有常時地將電力供給上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的常時通電模式、以及間歇地將電力供給上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的間歇通電模式的電力供給部；以及在上述常時通電模式中，在規定時間以上，上述第一相位檢測器及/或上述第二相位檢測器的檢測相位不變化時，使電力供給部轉移到上述間歇通電模式，在上述間歇通電模式中，存儲從上述常時通電模式轉移到上述間歇通電模式之前的上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位，上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位的全部皆從所存儲的上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位變化了時，使電力供給部從上述間歇通電模式變化到上述常時通電模式的控制部。
在采用本發明的另一觀點的上述的相位檢測裝置中，上述控制部有輸入所存儲的上述第一相位檢測器的檢測相位和上述第一相位檢測器輸出的相位的第一“異”門；輸入所存儲的上述第二相位檢測器的檢測相位和上述第二相位檢測器輸出的相位的第二“異”門；以及輸入上述第一“異”門的輸出信號和上述第二“異”門的輸出信號的“與”門，在上述間歇通電模式中，“與”門輸出了表示上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位的全部皆變化了的情況的信號時，使電力供給部從上述間歇通電模式變化為上述常時通電模式。
采用本發明的另一觀點的上述的相位檢測裝置有將表示是上述間歇通電模式的休眠信號作為觸發輸入信號，存儲上述第一相位檢測器輸出的相位的第一存儲部；在上述間歇通電模式中，將上述電力供給部間歇地供給電力時輸出的掃描信號作為觸發輸入信號，存儲上述第一相位檢測器輸出的相位的第二存儲部；將上述休眠信號作為觸發輸入信號，存儲上述第二相位檢測器輸出的相位的第三存儲部；以及將上述掃描信號作為觸發輸入信號，存儲上述第二相位檢測器輸出的相位的第四存儲部，上述第一“異”門輸入上述第一存儲部的輸出信號和上述第二存儲部的輸出信號，上述第二“異”門輸入上述第三存儲部的輸出信號和上述第四存儲部的輸出信號。
采用本發明的另一觀點的上述的相位檢測裝置的上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器檢測磁通、磁場或它們的變化。
采用本發明的另一觀點的度盤式檢測裝置有上述的某一種相位檢測裝置。
采用本發明的另一觀點的相位檢測裝置有有檢測對象物的相位的第一檢測部、輸入上述第一檢測部檢測的相位，通過使第五存儲部存儲的信號反饋，設定滯后而進行二值化的第一二值化部、以及存儲上述第一二值化部的輸出信號的上述第五存儲部的第一相位檢測器；有在與上述第一相位檢測器不同的相位中檢測對象物的相位的第二檢測部、輸入上述第二檢測部檢測的相位，通過使第六存儲部存儲的信號反饋，設定滯后而進行二值化的第二二值化部、以及存儲上述第二二值化部的輸出信號的上述第六存儲部的第二相位檢測器；有常時地將電力供給上述第一檢測部及上述第二檢測部的常時通電模式、以及間歇地將電力供給上述第一相位檢測部及上述第二相位檢測部的間歇通電模式的電力供給部；以及在上述常時通電模式中，在規定時間以上，上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位不變化時，使電力供給部轉移到上述間歇通電模式，在上述間歇通電模式中，存儲從上述常時通電模式轉移到上述間歇通電模式之前的上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位，上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位中的至少某一方從所存儲的上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位變化了時，使電力供給部從上述間歇通電模式變化到上述常時通電模式的控制部。
第五存儲部及第六存儲部即使在間歇通電模式中也常時地通電。也可以代之以用非易失性存儲器構成這些存儲部。
在常時通電模式中，第一二值化部及第二二值化部也可以經由第五存儲部及第六存儲部反饋其輸出，設定滯后，還可以不經由第五存儲部及第六存儲部，直接反饋其輸出，設定滯后。
采用本發明的另一觀點的相位檢測方法有有常時地將電力供給第一檢測器，檢測對象物的相位，對檢測的相位設定滯后，進行二值化的第一相位檢測步驟、以及常時地將電力供給第二檢測器，在與上述第一相位檢測步驟不同的相位中檢測對象物的相位，對檢測的相位設定滯后，進行二值化的第二相位檢測步驟的常時通電模式；以及間歇地將電力供給第一檢測部，檢測對象物的相位，對檢測的相位設定滯后，進行二值化的第一相位檢測步驟、以及間歇地將電力供給第二檢測部，在與上述第一相位檢測步驟不同的相位中檢測對象物的相位，對檢測的相位設定滯后，進行二值化的第二相位檢測步驟的間歇通電模式，在上述常時通電模式中，在規定時間以上，上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位不變化時，轉移到上述間歇通電模式，在上述間歇通電模式中，存儲從上述常時通電模式轉移到上述間歇通電模式之前的上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位，上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位的全部皆從所存儲的上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位變化了時，從上述間歇通電模式變化到上述常時通電模式。
如果采用本發明，則可獲得能實現在間歇通電模式中使具有滯后的相位檢測器工作，間歇驅動時只有在轉子(或移動子)實際上動了的情況下，才使工作從間歇通電模式變更到常時通電模式的、省電、不會產生誤動作的相位檢測裝置、度盤式檢測裝置及相位檢測方法的有利效果。
發明的新的特征不外乎所附的權利要求范圍中特別記載的內容，但關于結構及內容兩方面，與其他目的和特征一起從與附圖共同理解的以下的詳細說明，想必能更好地理解、評價本發明。
圖1是表示本發明的實施例1的相位檢測裝置的控制部的主要部分的結構框圖。
圖2是表示本發明的實施例1的相位檢測裝置的相位檢測部和控制部的主要部分的結構框圖。
圖3是表示本發明的實施例1的相位檢測裝置的電源部、相位檢測部和控制部的主要部分的結構框圖。
圖4是表示本發明的實施例1的相位檢測裝置的結構的詳細框圖。
圖5是表示本發明的實施例1的相位檢測裝置的各部信號波形圖。
圖6是表示現有例1及現有例2的相位檢測裝置的結構圖。
圖7是表示現有例3的機構方式的相位檢測裝置的結構圖。
圖8是表示磁通檢測部輸出的A相輸出電壓及B相輸出電壓的時序圖。
圖9是表示有間歇通電模式的現有例4的機構方式的相位檢測裝置的結構圖。
圖10是表示現有例4的相位檢測裝置的各部信號波形圖。
圖11是表示霍爾IC的結構框圖。
圖12是表示霍爾IC的輸入磁通密度(橫軸)和磁通檢測電壓(縱軸)的關系的特性曲線圖之一例。
圖13是表示正弦曲線的輸入磁通密度和相位檢測器的輸出電壓波形的關系的曲線圖。
圖14是設想使磁方式的相位檢測器間歇通電的情況下的相位檢測器的A相輸出信號及B相輸出信號的波形圖。
圖15是表示本發明的實施例2的相位檢測方法的結構的流程圖。
圖16是表示本發明的實施例3的相位檢測裝置的結構框圖。
附圖的一部分或全部由于是以圖示為目的進行概要表示而描繪的，所以請考慮這未必忠實地描寫彼處所示要素的實際的相對大小和位置。
具體實施例方式
以下與附圖一起記載具體地表示實施本發明用的最佳形態的實施例。
《實施例1》用圖1至圖5，說明本發明的實施例1的相位檢測裝置。圖1是本發明的實施例1的相位檢測裝置的控制部的主要部分的結構框圖，圖2是本發明的實施例1的相位檢測裝置的相位檢測部和控制部的主要部分的結構框圖，圖3是本發明的實施例1的相位檢測裝置的電源部、相位檢測部和控制部的主要部分的結構框圖。圖4是本發明的實施例1的相位檢測裝置的詳細框圖。
在圖1至圖4中，128是作為電源的電池，127是作為電源啟閉器的場效應晶體管(FET)，20a及20b是作為相位檢測器的霍爾IC，40是控制部。霍爾IC20a及20b有圖11所示的結構。控制部40具有第一存儲部10a、第二存儲部10b、第三存儲部10c、第四存儲部10d、譯碼器11、狀態控制部125、“或”門124、D觸發器10e、反相器121及123、間歇工作脈沖發生部126、“與”門122、以及延遲部129。在實施例1中，第一至第四存儲部10a～10d是D觸發器。譯碼器11有“異”門12a及12b、以及“與”門13。控制部40常時地通電。霍爾IC20a及20b在常時通電模式中常時地通電，在休眠模式中間歇地通電。
實施例1的相位檢測裝置被組裝在度盤式檢測裝置中。度盤式檢測裝置中安裝的轉子的結構在現有例1中說明過。
例如在電子裝置中，通過將相位檢測裝置輸出的被二值化了的A相輸出信號及B相輸出信號(相位彼此相差π/2)中的一方輸入到D觸發器的時鐘輸入端，將另一方輸入到數據輸入端，D觸發器輸出旋轉方向檢測信號(例如為Q輸出信號，數值0或1表示旋轉方向)。另外通過將A相輸出信號(或B相輸出信號)輸入到可逆計數器的時鐘輸入端，將旋轉方向檢測信號輸入到UP/DOWN切換端子，可逆計數器的計數值表示度盤式檢測裝置的旋轉方向及旋轉角度。電子裝置根據度盤式檢測裝置的旋轉方向及旋轉角度的信息，進行規定的處理。
作為霍爾元件及霍爾IC的消耗電流削減方法，有每隔恒定周期間歇驅動霍爾元件部分的電源的方法。將間歇周期設定得較長，使休止期間(以下稱休眠期間)越長，就越能削減消耗電流，但對磁場或磁通變化的響應性變壞。如果響應速度趕不上轉子或移動子的移動速度，則根據轉數或移動距離而輸出的計數脈沖中就會發生錯誤，得到的是錯誤的計數值和錯誤的方向檢測結果。響應速度和消耗電流的關系由于呈折中關系，所以間歇周期和休眠期間的值有必要與進行轉數及旋轉方向(或移動量及移動方向)的檢測的對象的使用目的一致地設定適當的值。
只用該每恒定周期的電源的間歇驅動的方法，消耗電流的削減量有一定極限。為了一邊維持可操作性，一邊再進行消耗電流的削減，在恒定時間內相位檢測裝置沒有變化的情況下，設置休止期間(休眠期間)，阻斷向它們的相位檢測器的電力供給。在該休眠期間內，每隔恒定周期將電力供給相位檢測器，監視相位檢測器的檢測相位。如果相位檢測器的檢測相位符合電源啟動條件，則狀態控制部發生電源啟動條件檢測信號，將相位檢測器變更到常時通電模式。如果相位檢測器的檢測相位不符合電源啟動條件，則狀態控制部使休眠期間持續，進行間歇工作。
實施例1的相位檢測裝置存儲從常時通電模式轉移到間歇通電模式(休眠模式)之前的第一相位檢測器20a及第二相位檢測器20b的檢測相位，間歇工作時，第一相位檢測器20a及第二相位檢測器20b的檢測相位的全部皆從存儲的第一相位檢測器20a及第二相位檢測器20b的檢測相位變化了時，使電力供給部(由電源128及FET127構成)從間歇通電模式變化到常時通電模式。除此以外，與圖9所示的現有例4的結構相同。與現有例4相同的塊標以同一符號。
第一至第四存儲部10a～10d、譯碼器11及D觸發器10e在休眠模式中執行第一相位檢測器20a及第二相位檢測器20b共同檢測度盤等(轉子)動了的電源啟動條件檢測功能。電源啟動條件檢測功能起作用時，狀態控制部125輸入該信息，使相位檢測裝置從休眠模式轉移到常時通電模式。在常時通電模式中，狀態控制部125通過反相器123、“或”門124，輸出呈低電平的ST信號(在休眠模式中呈高電平，在常時通電模式中呈低電平)，使FET127常時地通電。從電源128常時地將電力供給第一及第二相位檢測器20a及20b。
狀態控制部125輸入A相輸出信號(第一相位檢測器20a的輸出信號)及B相輸出信號(第二相位檢測器20b的輸出信號)，執行檢測轉子在某恒定時間不動的休眠檢測功能。典型地說，狀態控制部125有輸入恒定的時鐘脈沖，計數完畢，用A相輸出信號及/或B相輸出信號的電平變化的邊沿進行復位的計數器；以及判斷計數器的輸出值是否在恒定值以上的幅值比較器。在幅值比較器斷定了計數器的輸出值在恒定值以上的情況下(A相及B相輸出信號在恒定時間以上都未變化的情況，休眠檢測功能起作用時)，狀態控制部125使相位檢測裝置從常時通電模式轉移到休眠模式(間歇通電模式)。
狀態控制部125輸出呈高電平的ST信號(休眠模式)。間歇工作脈沖發生部126在休眠模式中每隔恒定時間輸出間歇驅動用的間歇工作脈沖。狀態控制部125在休眠模式中通過“與”門122，允許間歇工作脈沖發生部126輸出間歇工作脈沖。間歇工作脈沖通過“或”門124，使FET127間歇地導通。從電源128間歇地將電力供給第一及第二相位檢測器20a及20b。第二存儲部10b及第四存儲部10d將由延遲部129(使從電力被供給第一及第二相位檢測器20a及20b開始至正常工作的時間延遲)延遲了的間歇工作脈沖(SC信號)輸入給時鐘輸入端子，將間歇工作開始時的第一及第二相位檢測器20a及20b的輸出信號(A相及B相輸出信號)閂鎖起來。
“異”門12a判斷向休眠模式轉移前的A相輸出信號和各間歇工作時(圖10中的掃描時刻ts(1)～ts(n))的A相輸出信號是否相同，輸出判斷結果(如果兩者不同，則呈高電平)。“異”門12b判斷向休眠模式轉移前的B相輸出信號和各間歇工作時的B相輸出信號是否相同，輸出判斷結果(如果兩者不同，則呈高電平)。“與”門13輸入“異”門12a及“異”門12b的輸出信號，兩者都呈高電平時(A相輸出信號及B相輸出信號都變化了時)，輸出高電平。D觸發器10e在SC信號的反相信號的上升沿處(間歇工作結束時)取入“與”門13的輸出信號，進行輸出。D觸發器10e有在變成休眠模式后，排除最初的SC信號被輸出前的“與”門13的輸出信號(有出錯的可能性)的作用。狀態控制部125輸入D觸發器10e的輸出信號(電源啟動條件檢測功能起作用時呈高電平)。
本實施例的相位檢測裝置利用了第一及第二相位檢測裝置20a及20b都不存在于滯后區域中的事實(這樣配置兩個相位檢測裝置)。間歇工作時，第一及第二相位檢測裝置20a及20b中的某一方的輸出信號有可能輸出假信息，但至少一個輸出信號是正確的。如果A相輸出信號及B相輸出信號雙方發生變化，則至少一方的變化是正確的，因此控制部40準確地作出了轉子旋轉了的判斷。
在圖14(a)中，例如轉子位于A相或B相輸出信號為不定區域的地點W(或W’)時，在相位檢測裝置進入休眠模式的情況下，本實施例的相位檢測裝置在轉子從地點W(或W’)向A相或B相輸出信號都變化的地點Y、Z或V(或Y’、Z’或V’)動了時，能可靠地判斷轉子及移動子動了。
另外，在圖14(b)中，轉子位于成為A相及B相輸出信號兩者都穩定的地點W(或W’)時，在相位檢測裝置進入休眠模式的情況下，本實施例的相位檢測裝置在轉子從地點W(或W’)向A相或B相輸出信號都變化的地點Z或V(或Z’或V’)動了時，能可靠地判斷轉子及移動子動了。利用該方法，轉子或移動子的停止點不管在哪里，相位檢測裝置都能檢測轉子或移動子動了。
另外，圖5表示實施例1的相位檢測裝置的各部信號波形。在圖5中，A是第一相位檢測器輸出的A相輸出信號，B是第二相位檢測器輸出的B相輸出信號。10a～10d、10e、12a、12b、13分別是符號相同的塊的輸出信號。ST及SC分別是ST信號及SC信號。用圖5說明實施例1的相位檢測裝置的工作。
在圖5中，最初，狀態控制部125為常時通電模式。直到某一時刻，由于用戶將度盤(轉子)向某一方向旋轉，所以B相輸出信號相對于A相輸出信號總是以π/2延遲相位變化。從某一時刻到時刻ts(規定的時間)，基于A相輸出信號及B相輸出信號都不變，休眠檢測功能起作用，狀態控制部125從常時通電模式轉移到休眠模式，輸出信號ST(在休眠模式中呈高電平，在常時通電模式中呈低電平。以下稱ST信號)呈高電平。
第一存儲部10a及第三存儲部10c根據ST信號的上升沿，閂鎖轉移到休眠模式之前的A相輸出信號及B相輸出信號(都是二值)。第一存儲部10a及第三存儲部10c接著在ST信號的上升沿到來之前存儲A相輸出信號及B相輸出信號，將這些信號分別輸入到“異”門12a及12b。
此后，FET127根據來自狀態控制部125的指令，將對兩個相位檢測器20a、20b的供電阻斷。因此，A相輸出信號及B相輸出信號呈低電平。此后從間歇工作脈沖發生部126每隔規定期間將間歇工作指令送給FET127，FET127每隔規定期間將電力供給兩個相位檢測器。間歇工作脈沖發生部126只在休眠期間通過“與”門122間歇地輸出SC信號。第二存儲部10b及第四存儲部10d根據SC信號的上升沿，閂鎖A相輸出信號及B相輸出信號(都是二值)。第二存儲部10b及第四存儲部10d在下一個SC信號的上升沿到來之前存儲A相輸出信號及B相輸出信號，將這些信號分別輸入“異”門12a及12b。
“異”門12a的輸出信號是轉移到休眠模式之前的A相輸出信號和各掃描時刻ts(1)～ts(n)的A相輸出信號的邏輯變化判斷結果。“異”門12b的輸出信號是轉移到休眠模式之前的B相輸出信號和各掃描時刻的B相輸出信號的邏輯變化判斷結果。“與”門13輸入“異”門12a及12b的輸出信號，輸出它們的邏輯積。如果A相輸出信號及B相輸出信號都從變化成休眠模式之前的值變化了，則“與”門13的輸出信號變成高電平。
在從時刻ts至ts(1)的期間，由于呈最初的掃描信號尚未到來的狀態，所以第二存儲部10b及第四存儲部10d閂鎖的值不正確，該期間的“與”門13的輸出結果不能直接使用。D觸發器10e阻止輸出最初的掃描信號之前的“與”門13的輸出信號被輸入到狀態控制部125。
以下，結合圖5說明時刻ts(1)以后，選出休眠期間的時刻tw之前的電源啟動條件檢測的過程。
在時刻ts(1)的SC信號的上升沿處A相輸出信號及B相輸出信號被閂鎖在第二存儲部10b及第四存儲部10d中。第二存儲部10b的數據輸出從低電平反相到高電平，“異”門12a的輸出呈低電平，“異”門12b的輸出仍呈低電平，所以“與”門13的輸出呈低電平，休眠期間繼續。D觸發器10e在時刻ts(1)后在最初發生的SC信號的后沿取入“與”門13的正確的輸出信號，所以信號WU仍呈低電平，休眠期間繼續。
在時刻ts(n)，呈相當于輸入磁通密度的滯后的上限及下限的閾值內的電平的磁通被輸入到第二相位檢測器20b的狀態。由于間歇工作，所以在第二相位檢測器20b輸出了作為不定輸出的高電平的情況下，第四存儲部10d的輸出信號(Q輸出信號)在SC信號的前沿反相，變成高電平狀態，“異”門12b的輸出雖然反相為高電平，但“異”門12a的輸出維持低電平，所以“與”門13的輸出信號不變，仍為低電平。信號WU仍為低電平。休眠期間繼續。
在時刻ts(x)，在向休眠模式轉移前的A相輸出信號及B相輸出信號、以及掃描時刻的A相輸出信號及B相輸出信號雙方變化了的情況下，“異”門12a及12b的輸出都呈高電平，“與”門13的輸出變為高電平。狀態控制部125輸入“與”門13的輸出信號，即D觸發器10e的輸出信號WU(呈高電平的激活的電源啟動條件檢測信號)。狀態控制部125從休眠模式變為常時通電模式。狀態控制部125使FET127導通，FET127將電力常時地供給兩個相位檢測器。
《實施例2》現用圖15說明本發明的實施例2的相位檢測裝置。在本發明的實施例2的相位檢測裝置中，在圖4中用微型計算機構成控制部40。除此以外，實施例2的相位控制裝置與實施例1(圖1)相同。圖15是表示本發明的實施例2的相位檢測方法的結構的流程圖(由作為控制部40的微型計算機執行)。說明實施例2的相位檢測方法。
最初，檢查是否是間歇通電模式(休眠模式)(步驟1501)。如果是間歇通電模式，則進入步驟1502，如果不是(如果是常時通電模式)則進入步驟1510。
在步驟1502中，如果剛剛從常時通電模式變更為間歇通電模式，則輸入并存儲該時刻的A相輸出信號及B相輸出信號(步驟1503)，此后將向第一及第二相位檢測器20a及20b的電力供給阻斷。
其次，檢查是否正在進行間歇工作(正在向第一及第二相位檢測器20a及20b通電)。如果不是正在進行間歇工作，則返回步驟1501。如果正在進行間歇工作，則進入步驟1505。
在步驟1505中，輸入A相輸出信號。其次，檢查A相輸出信號是否從在步驟1503中存儲的值變化了(步驟1506)。如果未變化，則返回步驟1501。如果變化了，則進入步驟1507。
在步驟1507中，輸入B相輸出信號。其次，檢查B相輸出信號是否從在步驟1503中存儲的值變化了(步驟1508)。如果未變化，則返回步驟1501。如果變化了，則進入步驟1509。
如果A相及B相輸出信號都變化了，則從間歇通電模式變更為常時通電模式(步驟1509)。返回步驟1501。
在步驟1510中(常時通電模式)，如果剛剛從間歇通電模式變更為常時通電模式，則使定時器值T復位為0(步驟1511)，否則，使定時器值增加1(步驟1512)。
在步驟1513中，輸入并存儲A相輸出信號。其次，檢查A相輸出信號是否從此前在步驟1513中存儲的值變化了(步驟1514)。如果變化了，則使定時器值T復位。
在步驟1516中，輸入并存儲B相輸出信號。其次，檢查B相輸出信號是否從此前在步驟1516中存儲的值變化了(步驟1517)。如果變化了，則使定時器值T復位。
其次檢查定時器值T是否在規定的閾值T0以上，如果在規定的閾值以上(在規定時間內，如果A相及B相輸出信號都未變化)，則從常時通電模式變更為間歇通電模式(步驟1520)。返回步驟1501。
在實施例2中，檢查A相輸出信號及B相輸出信號雙方的變化，測量了轉子停止的時間。也可以代之以檢查A相輸出信號及B相輸出信號中的任意一方的變化。
利用上述的結構，實施例2的相位檢測裝置能獲得與實施例1同樣的效果。
《實施例3》現用圖16說明本發明的實施例3的相位檢測裝置。本發明的實施例3的相位檢測裝置這樣構成，即在圖9(現有例4)中，將第一相位檢測器(電阻器41a及開關40a)及第二相位檢測器(電阻器41b及開關40b)換成霍爾IC160a、160b及保持部166。除此以外，實施例3的相位控制裝置與現有例4(圖9)相同。圖16是表示本發明的實施例3中的相位檢測裝置的結構框圖。控制部91的結構示于圖9中。現說明實施例3中的相位檢測裝置。
實施例3的相位檢測裝置有存儲具有滯后特性的放大器(放大霍爾元件的檢測信號，進行二值化)的供給電源阻斷前的輸出狀態的存儲部167a及167b。間歇工作時也能再現具有滯后特性的放大器的供給電源阻斷前的輸出狀態。因此，霍爾元件的輸入磁通即使呈滯后區域內的電平，也能獲得具有連續性的(輸出信號并非不定的)相位信號，即使在間歇工作中也能正確地檢測轉子是否轉動了。
在圖16中，霍爾IC160a有霍爾元件161a、電阻器162a、163a及164a、比較器165a(第一二值化部)。霍爾IC160b有霍爾元件161b、電阻器162b、163b及164b、比較器165b(第二二值化部)。保持部166有第五存儲部(D觸發器)167a、開關168a、第六存儲部(D觸發器)167b、開關168b。
在休眠模式中，霍爾IC160a及160b間歇地通電，保持部166及控制部91常時地通電。
霍爾元件161a及161b具有π/2的相位差，檢測磁場(磁通)，輸出對應于磁通的模擬信號。比較器165a有將其輸出信號或D觸發器167a的輸出信號通過電阻器164a正反饋給非反相輸入端子的結構。比較器165a將霍爾元件161a的輸出信號輸入給反相輸入端子，進行二值化。比較器165a有用電阻器162a、163a及164a規定的滯后。比較器165b有將其輸出信號或D觸發器167b的輸出信號通過電阻器164b正反饋給非反相輸入端子的結構。比較器165b將霍爾元件161b的輸出信號輸入給反相輸入端子，進行二值化。比較器165b有用電阻器162b、163b及164b規定的滯后。
控制部91(狀態控制部60)將ST信號(在休眠模式中呈高電平，在常時通電模式中呈低電平)輸入給D觸發器167a及167b的時鐘輸入端子。D觸發器167a及167b在ST信號的上升沿處(呈休眠模式時)，將比較器165a及165b的輸出信號閂鎖起來。開關168a及168b由ST信號進行控制，在休眠模式中連接在實線一側，在常時通電模式中連接在虛線一側。在常時通電模式中，比較器165a的輸出信號通過電阻器164a正反饋給非反相輸入端子，比較器165b的輸出信號通過電阻器164b正反饋給非反相輸入端子。該情況的結構及工作與以往的霍爾IC相同。
在休眠模式中，D觸發器167a的輸出信號通過電阻器164a正反饋給比較器165a的非反相輸入端子，D觸發器167b的輸出信號通過電阻器164b正反饋給比較器165b的非反相輸入端子。即使在休眠模式中，保持部166(包括D觸發器167a及167b)也常時地通電，所以間歇工作時比較器165a及165b在休眠模式開始時的狀態下工作。即，霍爾元件160a及160b輸入的磁場(磁通)即使在它們的滯后區域內，即使在休眠模式開始后，也保持連續性，比較器165a及165b輸出A相及B相輸出信號(并非不定)。
利用上述結構，本發明的相位檢測裝置能準確地檢測轉子旋轉了的情況，從休眠模式變更為常時通電模式。
在上述的實施例中，相位檢測裝置被組裝在度盤式檢測裝置中。也可以代之以將本發明的相位檢測裝置安裝在另一操作輸入裝置(例如操作桿)中。
在上述的實施例中，使用了霍爾IC。也可以代之以使用有滯后的任意的磁方式、光學方式等的相位檢測部。
本發明的相位檢測裝置及相位檢測方法例如作為度盤式檢測裝置的相位檢測裝置及相位檢測方法是有用的。本發明的度盤式檢測裝置例如作為便攜式電子裝置的操作輸入部是有用的。
雖然以優選形態在某種程度上詳細地說明了發明，但該優選形態公開的內容在結構的細部中仍允許有變化，在不脫離權利要求的范圍及宗旨的情況下，能實現各要素的組合或順序的變化。
權利要求
1.一種相位檢測裝置，其特征在于，具有有檢測對象物的相位的第一檢測部、以及對上述第一檢測部檢測的相位設定滯后而進行二值化的第一二值化部的第一相位檢測器；有在與上述第一相位檢測器不同的相位中檢測對象物的相位的第二檢測部、以及對上述第二檢測部檢測的相位設定滯后而進行二值化的第二二值化部的第二相位檢測器；有常時地將電力供給上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的常時通電模式、以及間歇地將電力供給上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的間歇通電模式的電力供給部；以及在上述常時通電模式中，在規定時間以上，上述第一相位檢測器及/或上述第二相位檢測器的檢測相位不變化時，使電力供給部轉移到上述間歇通電模式，在上述間歇通電模式中，存儲從上述常時通電模式轉移到上述間歇通電模式之前的上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位，上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位的全部皆從所存儲的上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位變化了時，使電力供給部從上述間歇通電模式變化到上述常時通電模式的控制部。
2.如權利要求1所述的相位檢測裝置，其特征在于上述控制部具有輸入所存儲的上述第一相位檢測器的檢測相位和上述第一相位檢測器輸出的相位的第一“異”門；輸入所存儲的上述第二相位檢測器的檢測相位和上述第二相位檢測器輸出的相位的第二“異”門；以及輸入上述第一“異”門的輸出信號和上述第二“異”門的輸出信號的“與”門，在上述間歇通電模式中，“與”門輸出了表示上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位的全部皆變化了的情況的信號時，使電力供給部從上述間歇通電模式變化為上述常時通電模式。
3.如權利要求2所述的相位檢測裝置，其特征在于具有將表示是上述間歇通電模式的休眠信號作為觸發輸入信號，存儲上述第一相位檢測器輸出的相位的第一存儲部；在上述間歇通電模式中，將上述電力供給部間歇地供給電力時輸出的掃描信號作為觸發輸入信號，存儲上述第一相位檢測器輸出的相位的第二存儲部；將上述休眠信號作為觸發輸入信號，存儲上述第二相位檢測器輸出的相位的第三存儲部；以及將上述掃描信號作為觸發輸入信號，存儲上述第二相位檢測器輸出的相位的第四存儲部，上述第一“異”門輸入上述第一存儲部的輸出信號和上述第二存儲部的輸出信號，上述第二“異”門輸入上述第三存儲部的輸出信號和上述第四存儲部的輸出信號。
4.如權利要求1所述的相位檢測裝置，其特征在于上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器檢測磁通、磁場或它們的變化。
5.一種度盤式檢測裝置，其特征在于具有權利要求1至權利要求4中的任意一項所述的相位檢測裝置。
6.一種相位檢測裝置，其特征在于，具有有檢測對象物的相位的第一檢測部、輸入上述第一檢測部檢測的相位，通過使第五存儲部存儲的信號反饋，設定滯后而進行二值化的第一二值化部、以及存儲上述第一二值化部的輸出信號的上述第五存儲部的第一相位檢測器；有在與上述第一相位檢測器不同的相位中檢測對象物的相位的第二檢測部、輸入上述第二檢測部檢測的相位，通過使第六存儲部存儲的信號反饋，設定滯后而進行二值化的第二二值化部、以及存儲上述第二二值化部的輸出信號的上述第六存儲部的第二相位檢測器；有常時地將電力供給上述第一檢測部及上述第二檢測部的常時通電模式、以及間歇地將電力供給上述第一相位檢測部及上述第二相位檢測部的間歇通電模式的電力供給部；以及在上述常時通電模式中，在規定時間以上，上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位不變化時，使電力供給部轉移到上述間歇通電模式，在上述間歇通電模式中，存儲從上述常時通電模式轉移到上述間歇通電模式之前的上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位，上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位中的至少某一方從所存儲的上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位變化了時，使電力供給部從上述間歇通電模式變化到上述常時通電模式的控制部。
7.一種相位檢測方法，其特征在于具有有常時地將電力供給第一檢測器，檢測對象物的相位，對檢測的相位設定滯后，進行二值化的第一相位檢測步驟、以及常時地將電力供給第二檢測器，在與上述第一相位檢測步驟不同的相位中檢測對象物的相位，對檢測的相位設定滯后，進行二值化的第二相位檢測步驟的常時通電模式；以及間歇地將電力供給第一檢測部，檢測對象物的相位，對檢測的相位設定滯后，進行二值化的第一相位檢測步驟、以及間歇地將電力供給第二檢測部，在與上述第一相位檢測步驟不同的相位中檢測對象物的相位，對檢測的相位設定滯后，進行二值化的第二相位檢測步驟的間歇通電模式，在上述常時通電模式中，在規定時間以上，上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位不變化時，轉移到上述間歇通電模式，在上述間歇通電模式中，存儲從上述常時通電模式轉移到上述間歇通電模式之前的上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位，上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位的全部皆從所存儲的上述第一相位檢測器及上述第二相位檢測器的檢測相位變化了時，從上述間歇通電模式變化到上述常時通電模式。
全文摘要
本發明的課題是，提供一種正確地檢測相位檢測對象物動了的情況，從間歇通電模式恢復到常時通電模式的省電的相位檢測裝置。本發明的相位檢測裝置有檢測對象物的相位的第一相位檢測器；第二相位檢測器；有常時地將電力供給第一及第二相位檢測器的常時通電模式、以及間歇地將電力供給第一及第二相位檢測器的間歇通電模式的電力供給部；以及在間歇通電模式中，存儲從常時通電模式轉移到間歇通電模式之前的第一相位檢測器及第二相位檢測器的檢測相位，第一相位檢測器及第二相位檢測器的檢測相位的全部皆從所存儲的第一相位檢測器及第二相位檢測器的檢測相位變化了時，使電力供給部從間歇通電模式變化到常時通電模式的控制部。
文檔編號H03D13/00GK1495589SQ03158660
公開日2004年5月12日 申請日期2003年9月19日 優先權日2002年9月20日
發明者五百井俊明 申請人:松下電器產業株式會社