專利名稱：電容器高溫老化臺的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種電容器高溫老化臺，用于鉭、云母、薄膜、低介、金屬化、鋁電解電容器進行高溫負荷試驗，供用戶對電容器進行老化篩選和可靠性試驗分析。
目前使用的電容器試驗設備多采用被試驗電容器(下稱試品)通過保險絲或電阻連接老化電源，當試品被擊穿，試驗電流熔斷保險絲，隨后需通過人工將電表逐個連入每個試品電流支路，當測出電流為零時表明該試品為壞品。試驗結束后需逐個將熔斷的保險絲換下來。該設備有以下方面缺點一、自動化程度低，勞動生產率低、壞品位置需逐個人工識別，更換保險絲更顯費時費力，每次老化的試品數量受到限制；二、保險絲的熔斷電流誤差較大，嚴重影響試驗精度；三、老化電流切入時所有試品支路一起切入，總體充電電流大，對老化電源的功率要求高，造成設備體積大、成本高；四、對一些充電電流大，而實際上無質量問題的試品，保險絲也會熔斷，造成誤判；五、測量靈敏度低，檢測數據不準確，對試品的漏電電流的測量缺乏精度。
本實用新型的目的在于提供一種自動化程度高、能自動顯示壞品位置、總體充電電流小、測量靈敏度好的電容器高溫老化臺。
本實用新型包括殼體，殼體內裝有老化電源、高溫箱、老化板，其特征在于還包括由繼電器觸點構成的控制板和帶有微處理器的控制儀，老化電源通過所述控制板連接老化板，控制儀連接控制板，控制電源連接控制儀和控制板；殼體表面裝有與控制儀連接的顯示裝置。
所述控制板包括老化、充電切換繼電器J1、每工位切入或脫離老化回路兼作檢測選通陣列繼電器J2、老化、測試繼電器J3；控制儀包括采樣控制測試塊、采樣電阻R1、R2；老化電源的輸出端接繼電器J1與限流電阻R3，繼電器J1接老化板，繼電器選通陣列J2與試品匹配，繼電器選通陣列J2接繼電器J3，繼電器J3的觸點A接采樣電阻R1接地，觸點B接采樣電阻R2接地；采樣控制測試塊的輸入端接采樣電阻R1，輸入端接采樣電阻R2，輸出端1接老化、充電切換繼電器J1，輸出端2接每工位切入或脫離老化回路兼作檢測選通陣列繼電器J2，輸出端3接老化、測試繼電器J3。
本實用新型的優點是自動化程度高，能自動顯示壞品的位置，節省了人工，也無需更換保險絲；在充電時各個試品支路逐個切入，總體老化電流小，對老化電源的功率要求小，可減小設備整體體積，降低成本；由于采用微控制器，對試品的漏電電流、充電電流測試精度高，可提高試驗精度，防治誤判。
以下結合附圖進一步說明本實用新型

圖1是本實用新型的電路圖圖2是本實用新型的線路連接圖參照附圖本實用新型包括殼體，殼體內裝有老化電源1、高溫箱6、老化板2，還包括由繼電器觸點構成的控制板3和帶有微處理器的控制儀4，老化電源1通過所述控制板3連接老化板2，控制儀4連接控制板3，控制電源5連接控制儀4和控制板3；殼體表面裝有與控制儀4連接的顯示裝置。
所述控制板3包括老化、充電切換繼電器J1、每工位切入或脫離老化回路兼作檢測選通陣列繼電器J2、老化、測試繼電器J3；控制儀4包括采樣控制測試塊CI、采樣電阻R1、R2，采樣控制測試塊CI內帶有微處理器，電阻R1小于R2；老化電源1的輸出端接繼電器J1與限流電阻R3，繼電器J1接老化板，繼電器選通陣列J2與試品匹配，繼電器選通陣列J2接繼電器J3，繼電器J3的觸點A接采樣電阻R1接地，觸點B接采樣電阻R2接地；采樣控制測試塊的輸入端 接采樣電阻R1，輸入端 接采樣電阻R2，輸出端1接老化、充電切換繼電器J1，輸出端2接每工位切入或脫離老化回路兼作檢測選通陣列繼電器J2，輸出端3老化、測試繼電器J3。
本實用新型的工作過程如下一、開機待命狀態采樣控制測試塊CI控制的各繼電器處于初始狀態。此時J1斷開，回路中串入限流電阻，J2處于閉合狀態，各老化工位處于老化回路中，J3觸點在A位，接通老化回路。
二、老化狀態J1閉合。此時當某一工位擊穿時，擊穿電流大于額定值，控制板3上的采用電阻R1輸出短路信號至采樣控制測試塊CI的第輸入端。對于瞬間擊穿，采樣控制測試塊CI不予處理。當短路時間持續1秒鐘以上時，根據所得到的監視信號查知故障所在的板號，并經信號輸出端3輸出控制信號至該板的老化、測試繼電器J3，使該板進入短路查尋狀態，判別出短路電容。其后，采樣控制測試塊CI經信號輸出端2輸出控制信號至該工位所串聯的繼電器J2，切斷該工位在老化系統中的回路。最后系統自動回復到老化監視狀態，下一個電容擊穿時重復以上過程。系統也能剔除未擊穿但漏電電流急劇增大的電容。被切斷的工位本次老化中將不再閉合，老化監視的同時，可通過顯示屏觀察到每塊老化板上短路擊穿電容的分布情況。
三、漏電流測試狀態J3繼電器的觸點到B，即接通測試回路，可通過鍵盤設置所需檢測的通道、漏電流指標的上限、檢測速度等項目，數據顯示屏所測電流值并存入打印緩沖區。在此種狀態下，J2繼電器陣列受控輪流導通，此時該板J1繼電器處于閉合狀態，測試處于低阻值回路。老化電流恒流點自動轉到0.4A，以避免測試過程中器件短路造成測量回路過載。巡檢時，每8位先預穩再測試，并顯示相應工位。
用本實用新型試驗裝置可對試品施加溫度應力、電應力、時間應力，使試品迅速暴露潛在缺陷，提早進入早期失效期，可廣泛應用于電容器生產、使用廠家，和研究所。
權利要求1.一種電容器高溫老化臺，包括殼體，殼體內裝有老化電源、高溫箱、老化板，其特征在于還包括由繼電器觸點構成的控制板和帶有微處理器的控制儀，老化電源通過所述控制板連接老化板，控制儀連接控制板，控制電源連接控制儀和控制板。
2.如權利要求1所述的一種電容器高溫老化臺，其特征在于所述控制板包括老化、充電切換繼電器J1，每工位切入或脫離老化回路兼作檢測選通陣列繼電器J2、老化、測試繼電器J3；控制儀包括采樣控制測試塊、采樣電阻R1、R2；老化電源的輸出端接繼電器J1與限流電阻R3，繼電器J1接老化板，繼電器選通陣列J2與試品匹配，繼電器選通陣列J2接繼電器J3，繼電器J3的觸點A接采樣電阻R1接地，觸點B接采樣電阻R2接地；采樣控制測試塊的輸入端接采樣電阻R1，輸入端接采樣電阻R2，輸出端1接老化、充電切換繼電器J1，輸出端2接每工位切入或脫離老化回路兼作檢測選通陣列繼電器J2，輸出端3老化、測試繼電器J3。
專利摘要本實用新型涉及一種用于電容器老化試驗的高溫老化臺,包括殼體,殼體內裝有老化電源、高溫箱、老化板,其特征在于還包括由繼電器觸點構成的控制板和帶有微處理器的控制儀,老化電源通過所述控制板連接老化板,控制儀連接控制板,控制電源連接控制儀和控制板。可廣泛應用于電容器生產、使用廠家和研究所。
文檔編號H01G13/00GK2370547SQ97246388
公開日2000年3月22日 申請日期1997年12月9日 優先權日1997年12月9日
發明者曹驥 申請人:曹驥