一種高溫低壓老化試驗方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種試驗方法，特別是一種高溫低壓老化試驗方法。
【背景技術】
[0002]近年來，國內SF6氣體電流互感器事故頻發，這嚴重地影響了國內電網運行的可靠性和安全性，因此發現并解決電流互感器發生的故障至關重要。從大量調查的結果來看，引起電流互感器故障最多的原因在于電流互感器里分離一次與二次之間的絕緣支撐件發生損壞，而到目前為止，還未有學者或專家對SF6i流互感器的局部放電與分解氣體做完整的試驗與研宄。

【發明內容】

[0003]針對上述部分問題，本發明提供了一種高溫低壓老化試驗方法，用于為針對5匕氣體電流互感器內部的盆式絕緣子進行研宄，特別是研宄其加壓后的局部放電與SF6分解氣體之間的關系，進而為更好的監測電流互感器運行狀況而奠定基礎。
[0004]一種高溫低壓老化試驗方法，所述方法包括以下步驟:
[0005]SlOO:清洗用于試驗的所有部件，并在清洗完后放置Tl時間晾干；所述部件包括絕緣試樣、人工尖端、支撐底座和用于高溫低壓老化試驗裝置的腔體內壁；
[0006]S200:將貼合了人工尖端的絕緣試樣放入試驗裝置的試驗腔內，所述試驗裝置帶有閥門接口，所述閥門接口用于與外接氣體閥門相連；
[0007]S300:將所述試驗腔內抽真空并充入3?6氣體；
[0008]S400:進行密封檢測，并對所述試驗裝置進行升溫；
[0009]S500:對所述試驗腔進行加壓，通過局部放電儀器測量并記錄所述絕緣試樣的起始放電電壓；
[0010]S600:使用變壓器進行升壓，第一次等級選擇起始放電電壓；之后每隔T2時間進行密封檢測，然后進行一次一定電壓U的升壓過程，直到發生擊穿；所述T2和U依據試驗設計設置；
[0011]S700:在每次升壓之后，對所述試驗裝置進行一次局部放電、介質損耗因數測試；同時對所述試驗裝置內部進行取氣，進行氣相色譜與紅外光譜的測量；
[0012]S800:對實驗結果進行分析。
[0013]本發明提供的方法能夠有效地找出溫度、電壓、加壓時間對SF6絕緣試樣放電的影響，通過相關分析可以得到放電參數與SF6分解氣體的相關關系，進而為SF6電力設備的在線監測提供有力的科學數據。
【具體實施方式】
[0014]在一個實施例中，提供了一種高溫低壓老化試驗方法，所述方法包括以下步驟:
[0015]SlOO:清洗用于試驗的所有部件，并在清洗完后放置Tl時間晾干；所述部件包括絕緣試樣、人工尖端、支撐底座和用于高溫低壓老化試驗裝置的腔體內壁；
[0016]S200:將貼合了人工尖端的絕緣試樣放入試驗裝置的試驗腔內，所述試驗裝置帶有閥門接口，所述閥門接口用于與外接氣體閥門相連；
[0017]S300:將所述試驗腔內抽真空并充入3?6氣體；
[0018]S400:進行密封檢測，并對所述試驗裝置進行升溫；
[0019]S500:對所述試驗腔進行加壓，通過局部放電儀器測量并記錄所述絕緣試樣的起始放電電壓；
[0020]S600:使用變壓器進行升壓，第一次等級選擇起始放電電壓；之后每隔T2時間進行密封檢測，然后進行一次一定電壓U的升壓過程，直到發生擊穿；所述T2和U依據試驗設計設置；
[0021]S700:在每次升壓之后，對所述試驗裝置進行一次局部放電、介質損耗因數測試；同時對所述試驗裝置內部進行取氣，進行氣相色譜與紅外光譜的測量；
[0022]S800:對實驗結果進行分析。
[0023]在這個實施例中，通過對含有缺陷的絕緣試樣加壓產生放電，從而使得SF6氣體分解，最后測得加壓加溫后絕緣試樣的局部放電、介質損耗因數和SF6分解氣體情況。
[0024]由于所述方法用于為針對SF6氣體電流互感器內部的盆式絕緣子進行研宄提供支持，這里的試驗對象是一種特殊的絕緣試樣，所述絕緣試樣的原材料和工藝完全與I1kV電流互感器中的盆式絕緣子的相同。
[0025]優選的，所述步驟SlOO中用無水乙醇進行清洗。在每次試驗前用無水乙醇仔細清洗絕緣試樣、人工尖端、支撐底座和缸體內壁，用于去除裝置內大體積的雜質和灰塵，避免它們在試驗中附著在絕緣子表面從而影響試驗結果。
[0026]進一步的，清洗完后放置Tl時間進行晾干，優選的，所述Tl為半小時。
[0027]在一個實施例中提供了所述步驟S200的一種具體實現方法，其具體實現包括以下子步驟:
[0028]S201:打開試驗裝置，將所述絕緣試樣放入所述試驗裝置的試驗腔內，用螺絲固定在所支撐底座上；
[0029]S202:用導線連接所述絕緣試樣的高、低壓端，然后密封所述試驗裝置。
[0030]通過步驟S200，將人工金屬尖端貼合在絕緣試樣上，確保在1kV下有電暈放電。打開高溫低壓試驗裝置，將帶有金屬尖端的絕緣試樣放入試驗裝置內，用螺絲固定支撐底座上，用導線連接試樣的低、高壓端，最后將試驗裝置合上，用螺絲固定。
[0031]通過步驟S300可以實現SF6氣體來清洗試驗裝置內部，進而確保出去裝置內的空氣雜質。
[0032]在一個實施例中提供了所述步驟S300的一種具體實現方法，其具體實現包括以下子步驟:
[0033]S301:將真空泵、SF6氣瓶、采氣袋分別與外接氣體閥門的三個接頭相連，所述外接氣體閥門還包括閥體，所述閥體的管路為四通結構，所述外接氣體閥門的另一個接口與所述試驗裝置相連；
[0034]S302:打開所述氣瓶所對應的閥門向內注入SF6氣體，直到內部接近0.1Mpa ；
[0035]S303:靜置30分鐘后，將氣體排出并重新抽真空；
[0036]S304:執行步驟S302?S303反復2?3次，打開所述氣瓶所對應的閥門向內部注氣，直到內部氣體壓強為0.3-0.4Mpa。
[0037]通過步驟S400，將試驗裝置的溫度上升到試驗所需的溫度，在所述試驗裝置內部最高溫度可能達到80°C，因此要求所述試驗裝置在具有良好的密閉性的同時，能夠耐高溫。
[0038]在一個實施例中提供了所述步驟S400的一種具體實現方法，其具體實現包括以下子步驟:
[0039]S401:在進行所述密封檢測后，把裝有絕緣試樣的試驗裝置放入烘箱內，用導線把高壓設備的高壓端和地與試驗裝置相對應的高壓端和地連接；
[0040]S402:關上烘箱門，對所述試驗裝置進行升溫，直到試驗所需要的溫度并保持30分鐘。
[0041]通過步驟S500來實現持續加壓，在每組試驗的起始放電電壓測量完成后，使用變壓器進行升壓，第一次電壓等級選擇起始放電電壓，之后電壓每隔一定時間進行一次一定電壓的升壓過程，直到發生擊穿。這同時要求所述試驗裝置在選擇時具有耐高壓的特點。
[0042]在一個實施例中，每隔48h進行一次IkV升壓過程；并在每48h升壓前，對所述試驗裝置進行一次局部放電、介質損耗因數測試，同時試驗裝置進行一次局部放電、介質損耗因數測試。
[0043]通過上述方法進行試驗后，對測量的結果進行分析，進而找出溫度、電壓、加壓時間對SF6絕緣試樣放電的影響，并要進行相關分析，尋找放電量、放電能量及放電指紋等放電參數與SF6*解氣體的相關關系，以便為SF6電力設備的在線監測提供有力的科學數據。
[0044]本說明書中每個實施例采用采用遞進的方式描述，重點說明的都是與其他實施例的不同之處，各個實施例之間相同相似的部分互相參見即可。
[0045]以上對本發明所提供的一種高溫低壓老化試驗方法進行了詳細介紹，本文中應用了具體個例對本發明的原理及實施方式進行了闡述，以上實施例的說明只是用于幫助理解本發明的方法及其核心思想；同時，對于本領域技術人員，依據本發明的思想，在【具體實施方式】及應用范圍上均會有改變之處，綜上所述，本說明書內容不應理解為對本發明的限制。
【主權項】
1.一種高溫低壓老化試驗方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟: SlOO:清洗用于試驗的所有部件，并在清洗完后放置Tl時間晾干；所述部件包括絕緣試樣、人工尖端、支撐底座和用于高溫低壓老化試驗裝置的腔體內壁； 5200:將貼合了人工尖端的絕緣試樣放入試驗裝置的試驗腔內，所述試驗裝置帶有閥門接口，所述閥門接口用于與外接氣體閥門相連； 5300:將所述試驗腔內抽真空并充入3?6氣體； 5400:進行密封檢測，并對所述試驗裝置進行升溫； S500:對所述試驗腔進行加壓，通過局部放電儀器測量并記錄所述絕緣試樣的起始放電電壓； S600:使用變壓器進行升壓，第一次等級選擇起始放電電壓；之后每隔T2時間進行密封檢測，然后進行一次一定電壓U的升壓過程，直到發生擊穿；所述T2和U依據試驗設計設置； S700:在每次升壓之后，對所述試驗裝置進行一次局部放電、介質損耗因數測試；同時對所述試驗裝置內部進行取氣，進行氣相色譜與紅外光譜的測量； S800:對實驗結果進行分析。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，優選的，所述步驟SlOO中用無水乙醇進行清洗。
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述Tl為半小時。
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟S200具體實現為: 5201:打開試驗裝置，將所述絕緣試樣放入所述試驗裝置的試驗腔內，用螺絲固定在所支撐底座上； S202:用導線連接所述絕緣試樣的高、低壓端，然后密封所述試驗裝置。
5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟S300具體實現為: 5301:將真空泵、SF6氣瓶、采氣袋分別與外接氣體閥門的三個接頭相連，所述外接氣體閥門還包括閥體，所述閥體的管路為四通結構，所述外接氣體閥門的另一個接口與所述試驗裝置相連； 5302:打開所述氣瓶所對應的閥門向內注入SF6氣體，直到內部接近0.1Mpa ； 5303:靜置30分鐘后，將氣體排出并重新抽真空； 5304:執行步驟S302?S303反復2?3次，打開所述氣瓶所對應的閥門向內部注氣，直到內部氣體壓強為0.3-0.4Mpa。
6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟S400中的升溫過程包括以下步驟: 5401:在進行所述密封檢測后，把裝有絕緣試樣的試驗裝置放入烘箱內，用導線把高壓設備的高壓端和地與試驗裝置相對應的高壓端和地連接； 5402:關上烘箱門，對所述試驗裝置進行升溫，直到試驗所需要的溫度并保持30分鐘。
7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述絕緣試樣的原材料和工藝與IlOkV電流互感器中盆式絕緣子的相同。
【專利摘要】本發明涉及一種高溫低壓老化試驗方法，所述方法采用與110kV電流互感器中盆式絕緣子的相同的絕緣試樣在試驗裝置中進行高溫低壓試驗，通過對含有缺陷的絕緣試樣加壓產生放電，從而使得SF6氣體分解，最后測得加壓加溫后絕緣試樣的局部放電、介質損耗因數和SF6分解氣體情況。本發明提供的方法能夠有效地找出溫度、電壓、加壓時間對SF6絕緣試樣放電的影響，通過相關分析可以得到放電參數與SF6分解氣體的相關關系，進而為SF6電力設備的在線監測提供有力的科學數據。
【IPC分類】G01R27-26, G01R31-12, G01R31-00
【公開號】CN104655968
【申請號】CN201510117874
【發明人】于欽學, 曹淳楓, 任挺, 鐘力生
【申請人】西安交通大學
【公開日】2015年5月27日
【申請日】2015年3月17日