專利名稱：用于調節光盤系統中的磁道平衡的裝置和方法
技術領域：
本發明涉及用于在光盤上記錄數據和/或從光盤中讀取數據的光盤系統，更具體的，涉及用于檢測插入到光盤系統中的光盤類型和/或調整磁道平衡的裝置和方法。
背景技術：
已知光盤系統從諸如致密盤(CD)或數字視頻盤(DVD)的光盤中讀取數據，或在可重寫致密盤(CD-RW)上記錄數據。光盤系統利用激光束照射到光盤和用光學拾波器檢測從光盤反射的激光束的強度的變化。所檢測到的變化了的強度被轉換為從光盤讀取的數字數據。光盤系統在從插入到光盤系統的光盤中讀取數據之前調整磁道平衡。光盤系統從跟蹤誤差信號來計算磁道平衡數值，以調整磁道平衡。
圖1示出了在普通光盤系統中使用的傳統跟蹤誤差信號發生器的電路圖。參照圖1，跟蹤誤差信號發生器20包括光電二極管21和22、電流電壓(I/V)轉換器23和24、差分放大器25以及電阻Rf和Rv。
光電二極管21和22分別響應于F和E光束而產生電流IF和IE，所述F和E光束是由光學拾波器檢測到的放射光。
I/V轉換器23和24分別將電流IF和IE轉換為電壓VF和VE。I/V轉換器23和24可以是具有增益的放大器，該增益分別由電阻Rf和Rv的值調節。
差分放大器25放大電壓VF和VE之間的差，以輸出差值作為跟蹤誤差信號TE。
F和E光束是副光束，其在移動用于再現數據信號的主(M)光束的方向之前和之后被排列，以檢測跟蹤誤差信號TE。M光束沿凹陷行移動。
圖2A和2B示出了由跟蹤誤差信號發生器20產生的跟蹤誤差信號TE的波形。跟蹤誤差信號TE根據參考電壓VREF被分為正跟蹤誤差信號和負跟蹤誤差信號。最好正跟蹤誤差信號的峰值電壓+VTEPK與負跟蹤誤差信號的峰值電壓-VTEPK對于參考電壓VREF是對稱的，如圖2A所示。如果正跟蹤誤差信號的峰值電壓+VTEPK與負跟蹤誤差信號的峰值電壓-VTEPK對于參考電壓VREF是不對稱的，則跟蹤誤差信號TE的正和負跟蹤誤差信號TE之一的余量被減少。在圖2B中，正跟蹤誤差信號的余量比負跟蹤誤差信號的余量要窄。
當跟蹤誤差信號TE的余量被減少時，控制磁道的范圍被減小，并且無法控制超出范圍的磁道。
如圖2B所示，由于F和E光束數量之間的差值和由I/V轉換器23和24獲得的增益之間的差值，跟蹤誤差信號TE的中心電壓VTEC對于參考信號VREF被偏移。
因此，為了使跟蹤誤差信號TE對于參考電壓VREF對稱，需要磁道平衡調整，以允許跟蹤誤差信號TE的中心電壓與參考電壓VREF一致。
圖3示出了調節光盤系統中磁道平衡的傳統方法的流程圖100。圖4示出了由圖3的方法產生的跟蹤誤差信號的波形。
參考圖3和4，在步驟101中，光盤系統檢測跟蹤誤差信號TE。在步驟102中，確定跟蹤誤差信號TE是否滿足預定的條件。當跟蹤誤差信號TE不滿足預定頻率范圍和預定振幅范圍TLength的預定的條件時，在步驟103中濾波跟蹤誤差信號TE。
在步驟103中，確定跟蹤誤差信號TE和參考電壓VREF之間的交集是否是由圖4所示的A、B、C和D指示的跟蹤誤差信號TE的上升沿。
如果在步驟104中確定跟蹤誤差信號TE和參考電壓VREF之間的交集是上升沿，則檢測到正跟蹤誤差信號的峰值+VTEPK。從前一接收到的跟蹤誤差信號T與隨后接收到的跟蹤誤差信號TE的比較中得到的較大值被更新為峰值+VTEPK。不斷比較逐次接收到的跟蹤誤差信號TE，以檢測出最大值作為峰值+VTEPK。
在步驟105，檢測到負跟蹤誤差信號的峰值-VTEPK。同樣可以通過不斷比較逐次接收到的跟蹤誤差信號TE來更新峰值-VTEPK。
在步驟106，利用公式AVTE1＝(+VTEPK與-VTEPK)/2計算出峰值+VTEPK和-VTEPK的平均值。
在步驟107，確定跟蹤誤差信號TE的峰值是否被測量到了預定的次數(N)，其中N是自然數。如果在步驟107，確定跟蹤誤差信號TE的峰值沒被測量到了N次，則光盤系統返回步驟101以重復步驟101至107。
如果在步驟107，確定跟蹤誤差信號TE的峰值達到了N次，則在步驟108中，將在N次測量中計算出來的平均值AVTE1到AVTEN的平均值確定為不平衡值UBAL。
在步驟109，確定不平衡值UBAL是否滿足允許的誤差。如果在步驟109，確定不平衡值UBAL不滿足允許誤差，則在步驟110，光盤系統輸出平衡控制信號BAL_CTL。在預定的時間段TBwt之后，平衡控制信號BAL_CTL被用來調整如圖1所示的跟蹤誤差信號發生器20的增益，并返回步驟101。如圖4所示，預定的時間段TBwt是指在調整了跟蹤誤差信號發生器20的增益后跟蹤誤差信號TE被穩定的時間。
如果在步驟109，確定不平衡值UBAL滿足允許誤差，則在步驟111，光盤系統停止控制跟蹤誤差信號TE的平衡。
在上述的磁道平衡調節方法中，僅利用跟蹤誤差信號TE的峰值+VTEPK和峰值-VTEPK來檢測到不平衡值UBAL。由于噪聲可能會在峰值+VTEPK和-VTEPK中產生誤差。同樣，頻率范圍、幅度范圍TLength、以及預定數N、峰值+VTEPK和-VTEPK必須被適當的設定。
光盤系統還進行焦點搜索，以在CD和CD-RW之間做出鑒別。聚焦誤差信號以S-Curve形式出現。可以從S-Curve的正和負峰值的絕對值的比較中獲得較大的絕對值，并隨后與檢測的CD-RW的級別進行比較，以便檢測出插入到光盤系統中的光盤的類型。
圖5A和5B示出了用于根據傳統技術檢測盤類型的圖。圖5A示出了聚焦伺服的輸出信號FOD輸出，以移動透鏡。圖5B示出了指示從光盤反射的光的數量的聚焦誤差(FE)信號，其中FE信號也被稱為S-Curves。從CD檢測到的FE信號的峰值與從CD-RW檢測到的FE信號的峰值不同。因此，為了檢測磁盤類型，將FE信號的正峰值與FE信號的負峰值進行比較，以選擇較大的絕對值，并隨后將這一較大的絕對值與預定的磁盤檢測級別DDT_J進行比較。當所選擇的絕對值小于磁盤檢測級別DDT_J時，磁盤類型被確定為CD-RW。當所選擇的絕對值大于磁盤檢測級別DDT_J時，磁盤類型被確定為CD。
當利用FE信號的峰值檢測磁盤類型時，FE信號會被偏移，其影響磁盤類型的檢測。例如，在從CD-RW檢測到的FE信號被偏移，并因此FE信號的正峰值大于磁盤檢測級別DDT_J的情形中，CD-RW被錯誤的檢測為CD。另外，由于噪聲會在FE信號中產生低頻瞬態干擾，并因此被曲解為峰值，其導致磁盤類型的錯誤的檢測。
另外，為了磁盤類型的準確檢測，FE信號的峰值可被測量多次。在這種情況中，可計算出峰值的平均值以檢測磁盤類型，利用該平均值來準確檢測磁盤類型。但是，這一過程增加了寫入(read-in)時間。
因此，當檢測出跟蹤誤差信號或聚焦誤差信號的峰值來調節光盤系統中的磁道平衡或檢測插入到光盤系統中的光盤的類型時，由于跟蹤誤差信號或聚焦誤差信號的偏移或噪聲分量可能會使磁道平衡被錯誤的調節。
因此，存在著這樣的需要，需要一種用于穩定的調節磁道平衡和以減少的寫入時間準確地檢測光盤的類型的系統和方法。
發明內容
根據本發明的一個方面，提供一種用于檢測插入到光盤系統中的光盤的類型的裝置。該裝置包括模擬數字轉換器，其將聚焦誤差信號轉換為n位電壓數據；和占空測量器，其將n位電壓數據與正噪聲電壓電平和負噪聲電壓電平進行比較，如果n位電壓數據高于正噪聲電壓電平或低于負噪聲電壓電平則向上計數預定的值，并輸出向上計數后的結果以作為聚焦誤差信號的占空。
根據本發明的另一個方面，提供一種用于檢測插入到光盤系統中的光盤的類型的裝置，該裝置包括模擬數字轉換器，其將聚焦誤差信號轉換為n位電壓數據；和反射光數量測量器，其將n位電壓數據的當前電壓數據與n位電壓數據的前一電壓數據進行比較，如果當前電壓數據與前一電壓數據的不同大于預定值，則向上計數預定的值，并輸出向上計數后的結果作為反射光的數量。
根據本發明的又一個方面，提供一種用于檢測插入到光盤系統中的光盤的類型的方法。從光盤中檢測聚焦誤差信號。通過檢測聚焦誤差信號的電壓來測量聚焦誤差信號的占空，并取決于測量出的占空來檢測光盤的類型。
根據本發明的又一個方面，提供一種用于檢測插入到光盤系統中的光盤的類型的方法。從光盤中檢測聚焦誤差信號。通過檢測聚焦誤差信號的電壓來測量聚焦誤差信號的反射光的數量，并取決于測量出的反射光的數量來檢測光盤的類型。
根據本發明的又一個方面，提供一種用于調節光盤系統中的磁道平衡的裝置。該裝置包括模擬數字轉換器，其將跟蹤誤差信號轉換成n位電壓數據；占空測量器，其將n位電壓數據與預定的參考電壓進行比較，根據比較的結果向上計數或向下計數預定的值，并對于預定的平衡調節時間輸出累計的計數后的結果，以作為跟蹤誤差信號的不平衡值；和控制器，其將所述不平衡值與預定的允許誤差進行比較，并且如果所述不平衡值超出了預定的允許誤差，則輸出平衡控制信號以調節跟蹤誤差信號的平衡。
根據本發明的又一個方面，提供一種用于調節光盤系統中的磁道平衡的裝置。該裝置包括模擬數字轉換器，其將跟蹤誤差信號轉換成n位電壓數據；反射光數量測量器，其將n位電壓數據的當前電壓數據和n位電壓數據的前一電壓數據與參考電壓進行比較，根據比較結果向上計數或向下計數預定的值，并對于預定的平衡調節時間輸出累計的計數后的結果，以作為跟蹤誤差信號的不平衡值；和控制器，其將所述不平衡值與預定的允許誤差進行比較，并且如果所述不平衡值超出預定的允許誤差，則輸出平衡控制信號以調節跟蹤誤差信號的平衡。
根據本發明的又一個方面，提供一種用于調節光盤系統中的磁道平衡的方法。從插入到光盤系統的光盤中檢測跟蹤誤差信號。檢測跟蹤誤差信號的電壓，并對于預定的平衡調節時間測量相對于預定參考電壓的跟蹤誤差信號的占空，以作為不平衡值。將所述不平衡值與預定的允許誤差進行比較，并且如果所述不平衡值超出預定的允許誤差，則產生平衡控制信號以調節跟蹤誤差信號的平衡。
根據本發明的又一個方面，提供一種用于調節光盤系統中的磁道平衡的方法。從插入到光盤系統中的光盤中檢測跟蹤誤差信號。檢測跟蹤誤差信號的電壓，并對于預定的平衡調節時間測量相對于預定參考電壓的跟蹤誤差信號的反射光數量以作為不平衡值。將所述不平衡值與預定的允許誤差進行比較，并且如果所述不平衡值超出預定的允許誤差，則產生平衡控制信號以調節跟蹤誤差信號的平衡。
結合附圖，通過對本發明示例實施例的詳細描述，本發明將會變得更加清楚，其中圖1示出了在普通光盤系統中使用的傳統跟蹤誤差信號發生器的電路圖；圖2A和2B示出了由跟蹤誤差信號發生器20產生的跟蹤誤差信號TE的波形；圖3示出了調節光盤系統中磁道平衡的傳統方法的流程圖100；圖4示出了顯示由圖3的方法所產生的跟蹤誤差信號的波形的視圖；圖5A和5B示出了根據現有技術檢測盤類型的圖；圖6示出了根據本發明實施例的檢測盤類型的方框圖；圖7示出了根據本發明另一實施例的調節光盤系統中磁道平衡的方框圖；圖8A、8B和8C示出了跟蹤誤差信號的波形，以說明圖7所示裝置的操作；圖9是根據本發明另一實施例的通過檢測聚焦誤差信號的電壓來檢測盤類型的方框圖；圖10是根據本發明再一實施例的檢測盤類型的裝置的方框圖。
具體實施例方式
圖6示出了根據本發明實施例的通過檢測聚焦誤差信號的電壓來檢測盤類型的裝置的方框圖。參照圖6，將在下面進一步說明包括模擬數字轉換器(ADC)10和占空測量器(duty measurer)15的所述裝置。
如前面在圖5中所看到的，由于以相同搜索速度從CD和CD-RW中反射的光的數量之間的差，從CD中檢測到的S-Curves的占空與從CD-RW中檢測到的S-Curves的占空是不同的。盡管由于偏移或噪聲分量而在S-Curves中產生低頻瞬態干擾，但是S-Curves的占空變化不大。這樣，可利用占空特性檢測磁盤類型。換句話說，從插入到光盤系統的光盤中檢測S-Curves，并隨后測定S-Curves的占空，用以檢測光盤是否是CD或CD-RW。
ACD10將模擬FE信號的電壓電平轉換成數字數據。任務測量器15將從ACD10輸出的數字數據與正噪聲電壓電平NZ+和負噪聲電壓電平NZ-進行比較。如果數字數據高于正噪聲電壓電平NZ+或低于負噪聲電壓電平NZ-，則向上計數一預定值，并且輸出向上計數后的值以作為S-Curves的占空。S-Curves的占空取決于插入的光盤的類型而極大的變化，如圖5所示。由于從CD-RW檢測到的S-Curves的占空要比從CD檢測到的S-Curves的占空短，因此可通過利用從占空測量器15輸出的占空值確定插入的光盤是否是CD-RW或CD。
再次參照圖6，占空測量器15包括比較單元25和計數器50。正噪聲電壓電平NZ+和負噪聲電壓電平NZ-被用于確定光盤是否插入了光盤系統。當從ADC10輸出的值低于正噪聲電壓電平NZ+并高于負噪聲電壓電平NZ-時，確定光盤未被插入到光盤系統中。
比較單元25把從ADC10輸出的數字數據與正噪聲電壓電平NZ+和負噪聲電壓電平NZ-進行比較，如果數字數據高于正噪聲電壓電平NZ+或低于負噪聲電壓電平NZ-，則確定數字數據以S-Curve形式出現，并產生向上計數信號UP。當數字數據低于正噪聲電壓電平NZ+或高于負噪聲電壓電平NZ-時，則比較單元25確定數字數據不以S-Curve形式出現，并產生保持信號HD。比較器25包括緩沖器寄存器20、絕對值計算器30和比較器40。
緩沖器寄存器20緩沖從ADC10輸出的數字數據N。絕對值計算器30計算由緩沖器寄存器20緩沖的數字數據N的絕對值|N|，并輸出絕對值|N|至比較器40。比較器40將絕對值|N|與正噪聲電壓電平NZ+進行比較，并且如果絕對值|N|大于正噪聲電壓電平NZ+就產生向上計數信號，或者如果絕對值|N|小于正噪聲電壓電平NZ+則產生保持信號HD。計數器50響應于向上計數信號UP而向上計數預定值，例如1，并且響應于保持信號HD而保持當前計數值。
如上所述，即使由于噪聲分量而在S-Curve中產生的偏移或低頻瞬態干擾，S-Curve的占空也不會極大的變化。因此，可通過測定S-Curve的占空來進一步準確地檢測出插入的光盤的類型。
圖7示出了根據本發明的實施例的通過檢測跟蹤誤差信號的電壓來調節光盤系統中的磁道平衡的裝置的方框圖。參照圖7，該裝置包括ADC 60、占空測量器65和控制器90。
圖8A、8B和8C示出了跟蹤誤差信號的波形，以便說明圖7的裝置的操作。圖8A示出了其中正跟蹤誤差信號+TE的占空要比負跟蹤誤差信號-TE的占空長的情況。圖8B示出了其中正跟蹤誤差信號+TE的占空與負跟蹤誤差信號-TE的占空相等的情況，即達到平衡的情況。圖8C示出了其中正跟蹤誤差信號+TE的占空要比負跟蹤誤差信號-TE的占空短的情況。
參照圖8A、8B和8C，可通過比較正跟蹤誤差信號+TE的占空與負跟蹤誤差信號-TE的占空，來檢測是否已達到了磁道平衡。盡管由于噪聲分量，跟蹤誤差信號TE被偏移或具有低頻瞬態干擾，但正跟蹤誤差信號+TE與負跟蹤誤差信號-TE的占空不會極大的變化。從而，可利用跟蹤誤差信號TE的占空特性來調節磁道平衡。
更具體的，參照圖7和8，ADC 60將模擬跟蹤誤差信號TE的電壓電平轉換成數字數據。占空測量器65將從ADC 60輸出的數字數據與參考電壓VREF進行比較，如果如同圖8A、8B和8C的部分“U”的數字數據高于參考電壓VREF，則向上計數預定值，并且如果如同圖8A、8B和8C的部分“D”的數字數據低于參考電壓VREF，則向下計數預定值。在例如圖8A、8B和8C的部分“H”的低頻區域，占空測量器65保持當前計數值而不測量跟蹤誤差信號TE的占空，并輸出當前計數值以作為跟蹤誤差信號TE的不平衡值。正跟蹤誤差信號+TE與負跟蹤誤差信號-TE的差取決于跟蹤誤差信號TE的不平衡程度。
占空測量器65包括緩沖器寄存器80、比較器85和計數器75。緩沖器寄存器80緩沖從ADC 60輸出的數字數據N。比較器85將由緩沖器寄存器80緩沖的數字數據N與參考電壓VREF進行比較，并且如果數字數據N大于參考電壓VREF就產生向上計數信號UP，如果數字數據N小于參考電壓VREF則產生向下計數信號DN。比較器85還在例如圖8A、8B和8C的部分“H”的低頻區域產生保持信號HD。
計數器75響應于從比較器85輸出的向上計數信號UP向上計數預定值，例如1；響應于向下計數信號DN向下計數預定值，例如1；和響應于保持信號HD保持當前計數值。計數器75根據比較器85的比較結果，對于預定的平衡調節時間執行向上計數和/或向下計數操作，并對于預定的平衡調節時間輸出累計的計數值以作為不平衡值。
控制器90把從占空測量器65輸出的不平衡值與預定的允許誤差進行比較，并且如果不平衡值超出了預定的允許誤差則輸出平衡控制信號BAL_CTL以調節跟蹤誤差信號TE的平衡。
圖9示出了根據本發明另一實施例的通過檢測聚焦誤差信號的電壓來檢測光盤類型的裝置的方框圖。參照圖9，該裝置包括ADC 100和反射光數量測量器115。
如前面參照圖5B所述的，由于以相同搜索速度來自CD和CD-RW反射的光的數量的差，在CD和CD-RW上產生了不同形狀的S-Curves。如果瞬間電壓差大于預定值，則瞬間電壓差可被認為是從S-Curves引起的。從而，所述裝置向上計數預定值，并獲得向上計數后的結果作為對于S-Curves的反射光的數量。如圖5B中所示，S-Curves是由于反射光的數量之間的差而產生的。從而，可利用S-Curves檢測出插入的光盤的類型。類似于S-Curves的占空，盡管由于噪聲分量S-Curves被偏移或S-Curves具有低頻瞬態干擾，但反射光的數量不會極大的變化。因此，可以進一步穩定的檢測出插入的光盤的類型。
參照圖9，ADC 100將模擬FE信號的電壓電平轉換成n位數字電壓數據。反射光數量測量器115將從ADC 100輸出的當前電壓數據N與前一電壓數據N-1進行比較，如果當前電壓數據N與前一電壓數據N-1的不同大于預定值，則向上計數預定的值，并輸出向上計數后的結果作為對于S-Curves的反射光的數量。如圖5B中所示，指示反射光數量的S-Curves取決于插入的光盤是否是CD或CD-RW進行變化。換句話說，相較于CD，從CD-RW反射相對小的數量的光。從而，可以從反射光數量測量器115輸出的反射光數量來確定插入的光盤是否是CD或CD-RW。
反射光數量測量器115包括比較單元125和計數器140。比較單元將從ADC100輸出的當前電壓N與前一電壓數據N-1進行比較，如果當前電壓數據N與前一電壓數據N-1的不同大于預定值，則產生向上計數信號，并且如果當前電壓數據N與前一電壓數據N-1相同，則產生保持信號HD。比較單元125包括第一和第二緩沖器寄存器110和120以及比較器130。
第一緩沖器寄存器110緩沖從ADC 100輸出的n位電壓數據，作為當前電壓數據N。第二緩沖器寄存器120緩沖從ADC 100輸出的n位電壓數據，作為前一電壓數據N-1。比較器130將由第一緩沖器寄存器110緩沖的n位電壓數據的較高m位(其中m＜n)與由第二緩沖器寄存器120緩沖的n位電壓數據的較高m位進行比較，如果較高m位相等，則產生保持信號HD，并且如果較高m位不同，則產生向上計數信號UP。例如，當ADC 100輸出8位數據并將2.56V的電壓輸入至ADC 100時，ADC 100具有10mV(＝2.56V/256)的分辨率。當比較器130將當前電壓數據N的較高7位與前一電壓數據N-1的較高7位進行比較時，比較器130取決于當前電壓數據N與前一電壓數據N-1的不同是否大于10mV來產生保持信號HD或向上計數信號UP。在比較器130將當前電壓數據N的較高6位與前一電壓數據N-1的較高6位進行比較時，比較器130取決于當前電壓數據N與前一電壓數據N-1的不同是否大于20mV(2.56V/128)來產生保持信號HD或向上計數信號UP。
計數器140響應于從比較單元125輸出的向上計數信號UP而向上計數一預定值，例如1，響應于保持信號HD而保持當前計數值，并經由輸出端口OUT輸出向上計數后的結果以作為反射光的數量。
下面的表1示出了當利用圖9所示的反射光數量測量器115測量反射光的數量時獲得的值。如果ADC 100輸出8位數字數據，計數器140響應于向上計數信號UP而向上計數1。比較器130取決于當前電壓數據N的較高7位與前一電壓數據N-1的較高7位是否相等來產生向上計數信號UP或保持信號HD。
表1
如在表1中看到的，比較器130將當前電壓數據N的較高7位與前一電壓數據N-1的較高7位進行比較，如果當前電壓數據N的較高7位與前一電壓數據N-1的較高7位不相等，則產生向上計數信號UP，并且如果當前電壓數據N的較高7位與前一電壓數據N-1的較高7位相等，則產生保持信號HD。計數器140響應于向上計數信號UP而向上計數1，計數器140響應于保持信號HD而保持當前計數值，并輸出從計數器140輸出的最終計數值以作為測量出的經由輸出端口OUT的反射光的數量。
如上所述，盡管由于噪聲分量，S-Curves被偏移或具有低頻瞬態干擾，但反射光的數量不會極大的變化。從而，可通過測量從S-Curves反射的光的數量進一步準確的檢測出插入的光盤的類型。
圖10是根據本發明另一實施例的通過檢測跟蹤誤差信號的電壓來調節光盤系統中盤類型的裝置的方框圖。參照圖10，該裝置包括ADC 200、反射光數量測量器215和控制器250。
ADC 200將模擬跟蹤誤差信號TE的電壓電平轉換為n位數字電壓數據。反射光數量測量器215將從ADC 200輸出的當前電壓數據N與前一電壓數據N-1進行比較，并隨后將當前電壓數據N和前一電壓數據N-1與參考電壓VREF進行比較。反射光數量測量器215根據比較結果對于預定的平衡調節時間進行向上計數或向下計數操作，并輸出向上計數后或向下計數后的結果以作為不平衡值。更具體的，如果在當前電壓數據N和前一電壓數據N-1之間產生預定的電壓差，則反射光數量測量器215將當前電壓數據N和前一電壓數據N-1與參考電壓VREF進行比較。如果當前電壓數據N和前一電壓數據N-1高于參考電壓VREF，則反射光數量測量器215進行向上計數操作；并且如果當前電壓數據N和前一電壓數據N-1低于參考電壓VREF，則進行向下計數操作。如果當前電壓數據N和前一電壓數據N-1中的一個高于參考電壓VREF，而當前電壓數據N和前一電壓數據N-1中的另一個低于參考電壓VREF，則反射光數量測量器215保持當前計數值。盡管在當前電壓數據N和前一電壓數據N-1之間產生預定的電壓差，反射光數量測量器215將當前計數值保持在諸如圖8A、8B和8C的部分“H”的低頻區域中。
反射光數量測量器215包括比較單元225和計數器240。比較器單元225對于預定的平衡調節時間將從ADC 200輸出的當前電壓數據N與前一電壓數據N-1比較。當在當前電壓數據N和前一電壓數據N-1之間產生預定的電壓差時，比較單元225將當前電壓數據N和前一電壓數據N-1與參考電壓VREF進行比較，并根據比較結果輸出向上計數信號UP或向下計數信號DN或輸出保持信號HD。比較單元225還在諸如圖8A、8B和8C的部分“H”的低頻區域中輸出保持信號HD。比較單元225包括第一和第二緩沖器寄存器210和220以及比較器230。
第一緩沖器寄存器210緩沖從ADC 200輸出的n位電壓數據，作為當前電壓數據N。第二緩沖器寄存器220緩沖從第一緩沖器寄存器210輸出的n位電壓數據，作為前一電壓數據N-1。比較器230將由第一緩沖器寄存器210緩沖的n位電壓數據的較高m(其中m＜n)位與由第二緩沖器寄存器220緩沖的n位電壓數據的較高m位進行比較，如果n位電壓數據的所述m位相等，則在諸如圖8A、8B和8C的部分“H”的低頻區域中產生保持信號HD，如果n位電壓數據的所述m位不相等，則產生向上計數信號UP或向下計數信號DN。例如，當ADC 200輸出8位，并且3V電壓被輸入至ADC 200時，則ADC 200具有12mV(＝3V/256)的分辨率。當比較器230將當前電壓數據N的較高7位與前一電壓數據N-1的較高7位進行比較時，比較器230取決于當前電壓數據N與前一電壓數據N-1的不同是否大于12mV來產生保持信號HD或向上計數信號UP或向下計數信號DN。在比較器230將當前電壓數據N的較高6位與前一電壓數據N-1的較高6位進行比較的情形中，比較器230取決于當前電壓數據N與前一電壓數據N-1的不同是否大于24mV來產生保持信號HD或向上計數信號UP或向下計數信號DN。
計數器240響應于從比較單元225輸出的向上計數信號UP向上計數預定值，例如1，響應于向下計數信號DN向下計數預定值，例如1，響應于保持信號HD而保持當前計數值，并對于預定的平衡調節時間輸出累計的計數值以作為不平衡值。
控制器250確定從反射光數量測量器215輸出的不平衡值是否超出了允許的誤差，并且如果不平衡值超出了允許的誤差，則輸出平衡控制信號BAL_CTL來調節跟蹤誤差信號TE的平衡。
下面的表2示出了當利用如圖10所示的裝置產生不平衡值時所獲得的值。當ADC 200輸出8位數字數據時，計數器240響應于向上計數信號UP或向下計數信號DN來向上計數1或向下計數1，并且比較器230取決于當前電壓N的較高7位與前一電壓N-1的較高7位是否相等來產生向上計數信號UP或向下計數信號DN。
表2
如表2中所示，從計數器240輸出的最終不平衡值是0，指示正跟蹤誤差信號+TE與負跟蹤誤差信號-TE對于參考電壓VREF是對稱的。如果正跟蹤誤差信號+TE和負跟蹤誤差信號-TE對于參考電壓VREF是不對稱的，并因此不平衡值是超出允許誤差的±M(其中M是自然數)，則控制器250調節跟蹤誤差信號TE的平衡，從而不平衡值不超出允許的值。
在用于根據本發明的通過檢測聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號的電壓來檢測光盤類型和/或調節光盤系統中的平衡的裝置和方法中，可通過檢測聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號的電壓來調節跟蹤誤差信號的不平衡。從而，可以進一步穩定地調節磁道平衡。另外，可以進一步準確的檢測出磁盤的類型，而不受到聚焦誤差信號的偏移和噪聲分量的影響。
本領域的普通技術人員可以通過此處的示教容易地確定本發明的這些和其他特征和優點。應當明白本發明的示教可以以各種形式的硬件、軟件或他們的結合來實現。
例如，如圖6所示的光盤類型檢測裝置可被修改，并實現為用于通過檢測跟蹤誤差信號的電壓來調節磁道平衡的裝置。圖9所示的光盤類型檢測裝置可被修改，并實現為用于通過檢測跟蹤誤差信號的電壓來調節磁道平衡的裝置。此外，根據本發明優選實施例的過程可被編寫為計算機可讀記錄介質的計算機可讀代碼。計算機可讀介質包括各種在其上存儲有計算機可讀數據的記錄裝置。計算機可讀記錄介質包括ROMs、RAMs、CD-ROMs、磁帶、軟盤、光學數據存儲裝置和載波(例如，在因特網上的傳輸)。計算機可讀記錄介質可以將計算機可讀代碼存儲在以分布的方式通過網絡連接的計算機系統上，并執行所述計算機可讀代碼。
盡管已參考附圖描述了說明性的實施例，但是應當明白本發明不只限于這些精確的實施例，并且本領域的技術人員可以在不背離本發明的范圍和精神的前提下使各種變化和修改產生作用。所有這樣的變化和修改都被試圖包括在如附加權利要求中所闡明的本發明的范圍之內。
權利要求
1.一種用于調節光盤系統中的磁道平衡的裝置，該裝置包括模擬數字轉換器，其將跟蹤誤差信號轉換成n位電壓數據；占空測量器，其將n位電壓數據與預定的參考電壓進行比較，根據比較的結果向上計數或向下計數預定的值，并對于預定的平衡調節時間輸出累計的計數后的結果以作為跟蹤誤差信號的不平衡值；和控制器，其將所述不平衡值與預定的允許誤差進行比較，并且如果所述不平衡值超出了預定的允許誤差，則輸出平衡控制信號以調節跟蹤誤差信號的平衡。
2.如權利要求1所述的裝置，其中所述占空測量器包括緩沖器寄存器，其緩沖從模擬數字轉換器輸出的n位電壓數據；比較器，其將由緩沖器寄存器緩沖的n位電壓數據與預定的參考電壓進行比較，并且如果n位電壓數據大于預定的參考電壓，就產生向上計數信號，如果n位電壓數據小于預定的參考電壓，就產生向下計數信號；和計數器，其響應于向上計數信號而向上計數預定的值，響應于向下計數信號而向下計數預定的值，并輸出累計了平衡調節時間的計數后的結果以作為不平衡值。
3.如權利要求2所述的裝置，其中如果跟蹤誤差信號的頻率屬于預定的低頻區域，則所述比較器產生保持信號，并且計數器響應于保持信號而保持當前計數值。
4.一種通過檢測跟蹤誤差信號的電壓來調節光盤系統中的磁道平衡的裝置，該裝置包括模擬數字轉換器，其將跟蹤誤差信號轉換成n位電壓數據；和反射光數量測量器，其將n位電壓數據的當前電壓數據和n位電壓數據的前一電壓數據與參考電壓進行比較，根據比較結果向上計數或向下計數預定的值，并對于預定的平衡調節時間輸出累計的計數后的結果，以作為跟蹤誤差信號的不平衡值；和控制器，其將所述不平衡值與預定的允許誤差進行比較，并且如果所述不平衡值超出預定的允許誤差，則輸出平衡控制信號以調節跟蹤誤差信號的平衡。
5.如權利要求4所述的裝置，其中所述反射光數量測量器包括比較單元，其將當前電壓數據與前一電壓數據進行比較，如果在當前電壓數據和前一電壓數據之間產生預定的電壓差，則將當前電壓數據和前一電壓數據與參考電壓進行比較，并根據比較結果產生向上計數信號、向下計數信號或保持信號；和計數器，其響應于向上計數信號而向上計數預定的值，響應于向下計數信號而向下計數預定的值，或響應于保持信號而保持當前計數值，并對于預定的平衡調節時間輸出累計的計數后的結果，以作為不平衡值。
6.如權利要求5所述的裝置，其中如果跟蹤誤差信號屬于預定的低頻區域，則所述比較單元產生保持信號。
7.如權利要求5所述的裝置，其中所述比較單元包括第一緩沖器寄存器，其緩沖從模擬數字轉換器輸出的n位電壓數據作為當前電壓數據；第二緩沖器寄存器，其緩沖從第一緩沖器寄存器輸出的n位電壓數據作為前一電壓數據；和比較器，其將當前電壓數據與前一電壓數據進行比較，如果在當前電壓數據和前一電壓數據之間產生預定的電壓差，則將當前電壓數據和前一電壓數據與參考電壓進行比較，如果當前電壓數據和前一電壓數據高于參考電壓，則產生向上計數信號，如果當前電壓數據和前一電壓數據低于參考電壓，則產生向下計數信號，并且如果當前電壓數據和前一電壓數據中僅有一個高于或低于參考電壓，則產生保持信號。
8.如權利要求7所述的裝置，其中如果所述跟蹤誤差信號屬于預定的低頻區域，則所述比較器產生保持信號。
9.一種用于調節光盤系統中的磁道平衡的方法，該方法包括從插入到光盤系統的光盤中檢測跟蹤誤差信號；檢測跟蹤誤差信號的電壓，并對于預定的平衡調節時間測量相對于預定參考電壓的跟蹤誤差信號的占空，以作為不平衡值；和將所述不平衡值與預定的允許誤差進行比較，并且如果所述不平衡值超出預定的允許誤差，則產生平衡控制信號以調節跟蹤誤差信號的平衡。
10.如權利要求9所述的方法，其中所述不平衡值的測量包括將跟蹤誤差信號轉換成n位電壓數據；和將n位電壓數據與參考電壓進行比較，根據比較結果對于預定的平衡調節時間向上計數或向下計數預定的值，并輸出累計了預定的平衡調節時間的計數后的結果，以作為不平衡值。
11.如權利要求10所述的方法，其中所述不平衡值的輸出包括將n位電壓數據與參考電壓進行比較，如果n位電壓數據大于參考電壓，則產生向上計數信號，并且如果n位電壓數據小于參考電壓，則產生向下計數信號；和響應于向上計數信號而在平衡調節時間內向上計數預定的值，響應于向下計數信號而向下計數預定的值，并輸出累計了平衡調節時間的計數后的結果以作為不平衡值。
12.如權利要求11所述的方法，還包括如果跟蹤誤差信號的頻率屬于預定的低頻區域，則產生保持信號；和響應于所述保持信號而保持當前計數值。
13.一種調節光盤系統中的磁道平衡的方法，該方法包括從插入到光盤系統中的光盤中檢測跟蹤誤差信號；和檢測跟蹤誤差信號的電壓，并對于預定的平衡調節時間測量相對于預定參考電壓的跟蹤誤差信號的反射光數量，以作為不平衡值；和將所述不平衡值與預定的允許誤差進行比較，并且如果所述不平衡值超出預定的允許誤差，則產生平衡控制信號以調節跟蹤誤差信號的平衡。
14.如權利要求13所述的方法，其中不平衡值的輸出包括將跟蹤誤差信號轉換成n位電壓數據；和將n位電壓數據的當前電壓數據和n位電壓數據的前一電壓數據與參考電壓進行比較，對于預定的平衡調節時間向上計數或向下計數預定的值，并輸出累計了平衡調節時間的計數后的結果以作為不平衡值。
15.如權利要求14所述的方法，其中不平衡值的輸出包括如果在當前電壓數據和前一電壓數據之間產生預定的電壓差，則將當前電壓數據和前一電壓數據與參考電壓進行比較；如果當前電壓數據和前一電壓數據高于參考電壓，則產生向上計數信號；如果當前電壓數據和前一電壓數據低于參考電壓，則產生向下計數信號；如果當前電壓數據和前一電壓數據中僅有一個高于或低于參考電壓，則產生保持信號；響應于向上計數信號而在平衡調節時間內向上計數預定的值，響應于向下計數信號而向下計數預定的值，并響應于保持信號而保持當前計數值；和輸出累計了平衡調節時間的計數后的結果以作為不平衡值。
16.如權利要求15所述的方法，還包括如果跟蹤誤差信號的頻率屬于預定的低頻區域，則產生保持信號。
全文摘要
本發明提供一種裝置和方法，用于通過檢測聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號的電壓來檢測插入到光盤系統中的光盤的類型和/或調節光盤系統中的磁道平衡。為了檢測插入到光盤系統中的光盤的類型，該裝置包括模擬數字轉換器，其將聚焦誤差信號轉換為n位電壓數據；和占空測量器，其將n位電壓數據與正噪聲電壓電平和負噪聲電壓電平進行比較，如果n位電壓數據高于正噪聲電壓電平或低于負噪聲電壓電平則向上計數預定的值，并輸出向上計數后的結果以作為聚焦誤差信號的占空。
文檔編號G11B19/12GK101046994SQ20071008434
公開日2007年10月3日 申請日期2003年11月7日 優先權日2002年11月12日
發明者金濟國, 張榮旭, 李錫政 申請人:三星電子株式會社