多位翻轉檢測方法和系統的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及電子技術領域，特別是涉及一種多位翻轉檢測方法和系統。
【背景技術】
[0002]對于低集成度存儲器，目前有多種方法對其進行多位翻轉檢測和判別。通過定量分析工藝靜態隨機讀取存儲器(Static Random Access Memory, SRAM)的多位翻轉貢獻的檢測方法，可檢測到錯誤信息:錯誤發生的邏輯地址、寫入存儲器的數據、從存儲器讀出的數據和錯誤發生的時間。根據檢測到的錯誤信息，將邏輯地址轉換成物理地址后，可以獲得單粒子翻轉和多維翻轉的可視化圖像。將物理地址相鄰、同一時間段的幾個錯誤判定為多位翻轉。根據報錯率、器件容量和讀寫速度計算得到兩個粒子在同一時間段內引起的兩個錯誤的概率約為2X 10_6，即誤判率。
[0003]以上所述檢測方法未考慮具體的器件架構，導致所述檢測方法應用于高集成度存儲器時，誤判率增高且判據不充分。
【發明內容】
[0004]基于此，有必要針對上述檢測方法應用于高集成度存儲器時，誤判率增高且判據不充分的問題，提供一種多位翻轉檢測方法和系統。
[0005]一種多位翻轉檢測方法，包括以下步驟:
[0006]獲取待測器件的發生信息翻轉的存儲地址的物理地址、所述存儲地址的翻轉信息和所述翻轉信息的讀取時間，生成各所述存儲地址對應的物理地址、翻轉信息和讀取時間；
[0007]判斷所述待測器件的存儲架構是否為交錯架構；
[0008]若是，判斷各所述存儲地址對應的物理地址、翻轉信息和讀取時間中是否存在讀取時間間隔小于預設時間、物理地址間隔小于或等于預設地址間隔且翻轉信息相同的至少兩個所述存儲地址，若存在，則所述檢測器件中存在多位翻轉，其中，所述預設時間為檢測所述待測器件的存儲地址是否發生信息翻轉時輻照所述待測器件的粒子束流的持續時間。
[0009]一種多位翻轉檢測系統，包括:
[0010]信息獲取模塊，用于獲取待測器件的發生信息翻轉的存儲地址的物理地址、所述存儲地址的翻轉信息和所述翻轉信息的讀取時間，生成各所述存儲地址對應的物理地址、翻轉信息和讀取時間；
[0011]架構判斷模塊，用于判斷所述待測器件的存儲架構是否為交錯架構；
[0012]第一檢測模塊，用于在所述待測器件的存儲架構為交錯架構時，判斷各所述存儲地址對應的物理地址、翻轉信息和讀取時間中是否存在讀取時間間隔小于預設時間、物理地址間隔小于或等于預設地址間隔且翻轉信息相同的至少兩個所述存儲地址，若存在，則所述檢測器件中存在多位翻轉，其中，所述預設時間為檢測所述待測器件的存儲地址是否發生信息翻轉時輻照所述待測器件的粒子束流的持續時間。
[0013]上述多位翻轉檢測方法和系統，獲得待測器件的發生信息翻轉的存儲地址對應的物理地址、翻轉信息和讀取時間后，判斷所述待測器件的存儲架構是否為交錯架構，在所述待測器件的存儲架構為交錯架構時，判斷各所述存儲地址對應的物理地址、翻轉信息和讀取時間中是否存在讀取時間間隔小于預設時間、物理地址間隔小于或等于預設地址間隔且翻轉信息相同的至少兩個所述存儲地址，若存在，則所述檢測器件中存在多位翻轉。充分考慮了器件內部存儲架構對多位翻轉檢測的影響，使判據更充分，可應用于高集成度存儲器時，有效降低誤判率，提高多位翻轉檢測效率。
【附圖說明】
[0014]圖1是本發明多位翻轉檢測方法第一實施方式的流程示意圖；
[0015]圖2是本發明多位翻轉檢測方法第二實施方式的流程示意圖；
[0016]圖3是本發明多位翻轉檢測系統第一實施方式的結構示意圖；
[0017]圖4是本發明多位翻轉檢測系統第二實施方式的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0018]本發明中的步驟雖然用標號進行了排列，但并不用于限定步驟的先后次序，除非明確說明了步驟的次序或者某步驟的執行需要其他步驟作為基礎，否則步驟的相對次序是可以調整的。
[0019]請參閱圖1，圖1是本發明多位翻轉檢測方法第一實施方式的流程示意圖。
[0020]本實施方式所述的多位翻轉檢測方法，可包括以下步驟:
[0021]步驟S101，獲取待測器件的發生信息翻轉的存儲地址的物理地址、所述存儲地址的翻轉信息和所述翻轉信息的讀取時間，生成各所述存儲地址對應的物理地址、翻轉信息和讀取時間。
[0022]步驟S102，判斷所述待測器件的存儲架構是否為交錯架構。
[0023]步驟S103，若是，判斷各所述存儲地址對應的物理地址、翻轉信息和讀取時間中是否存在讀取時間間隔小于預設時間、物理地址間隔小于或等于預設地址間隔且翻轉信息相同的至少兩個所述存儲地址，若存在，則所述檢測器件中存在多位翻轉，其中，所述預設時間為檢測所述待測器件的存儲地址是否發生信息翻轉時輻照所述待測器件的粒子束流的持續時間。
[0024]本實施方式，獲得待測器件的發生信息翻轉的存儲地址對應的物理地址、翻轉信息和讀取時間后，判斷所述待測器件的存儲架構是否為交錯架構，在所述待測器件的存儲架構為交錯架構時，判斷各所述存儲地址對應的物理地址、翻轉信息和讀取時間中是否存在讀取時間間隔小于預設時間、物理地址間隔小于或等于預設地址間隔且翻轉信息相同的至少兩個所述存儲地址，若存在，則所述檢測器件中存在多位翻轉。充分考慮了器件內部存儲架構對多位翻轉檢測的影響，使判據更充分，可應用于高集成度存儲器時，有效降低誤判率，提高多位翻轉檢測效率。
[0025]對于步驟S101，優選地，所述待測器件可為高集成度存儲器，發生信息翻轉的存儲地址為電路的邏輯狀態發生變化的存儲地址，即邏輯“ I ”變成邏輯“0”，或邏輯“O”變成邏輯“ I ”。所述翻轉信息可為所述存儲地址當前的邏輯“ I ”或邏輯“0”，所述翻轉信息的讀取時間可為讀取所述存儲地址當前的邏輯“ I ”或邏輯“O”的時間。
[0026]在一個實施例中，獲取待測器件的發生信息翻轉的存儲地址的物理地址、所述儲地址的翻轉信息和所述翻轉信息的讀取時間的步驟包括以下步驟:
[0027]步驟S1011，讀取粒子束流輻照下的所述待測器件的各存儲地址的信息，生成各存儲地址的讀信息，并將各存儲地址的讀信息分別與預設數據進行比較，生成各存儲地址的比信息，所述待測器件被粒子束流輻照前已上電和寫入所述預設數據。
[0028]步驟S1012，若根據任一存儲地址的比信息判定所述待測器件的所述任一存儲地址發生信息翻轉，則獲取所述任一存儲地址的邏輯地址、所述任一存儲地址翻轉信息和讀取所述任一存儲地址的信息的讀取時間。
[0029]步驟S1013，根據所述待測器件的邏輯地址與物理地址的對應關系，將所述任一存儲地址的邏輯地址轉換為所述任一存儲地址的物理地址。
[0030]本實施例，可快速準確地對待測器件進行在線動態測試，獲得精確地物理地址、所述儲地址的翻轉信息和所述翻轉信息的讀取時間。
[0031]對于步驟S1011，所述粒子束流優選地為重離子束，還可為本領域技術人員慣用的其他粒子束。所述比信息用于標識所述讀信息與預設數據間的比較結果。
[0032]優選地，讀取粒子束流輻照下的所述待測器件的各存儲地址的信息的讀取速度可與所述待測器件的最高工作速度一致，可使得讀取和比較能并行進行。
[0033]優選地，在粒子束流輻照所述待測器件前，可對所述待測器件進行上電和寫入預設數據。所述預設數據可為全“ I ”、全“O ”、“ I ”和“O ”相間隔等。
[0034]在其他實施方式中，可預先檢測到發生信息翻轉的存儲地址的物理地址、所述儲地址的翻轉信息和所述翻轉信息的讀取時間，并預存檢測到物理地址、翻轉信息和讀取時間，在需要時，實時調取。還可通過本領域技術人員慣用的其他技術手段獲取所述待測器件的發生信息翻轉的存儲地址的物理地址、所述儲地址的翻轉信息和所述翻轉信息的讀取時間，并預存檢測到物理地址、翻轉信息和讀取時間。
[0035]在另一個實施例中，讀取粒子束流輻照下的所述待測器件的各存儲地址的信息，生成各存儲地址的讀信息，并將各存儲地址的讀信息分別與預設數據進行比較，生成各存儲地址的比信息的步驟包括以下步驟:
[0036]按地址順序讀取粒子束流輻照下的所述待測器件的各存儲地址的信息。
[0037]每生成一個存儲地址的讀信息，并行比較所生成的讀信息與所述預設數據，生成一個存儲地址的比信息。
[0038]每生成一個