面板時間延遲檢測電路的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種觸控面板，且特別是一種應用于觸控面板基線校正的面板時間延遲檢測電路。
【背景技術】
[0002]請參照圖1，圖1是傳統的電容觸控面板的示意圖。觸控面板I包括觸控界面11、驅動電路12與檢測電路13。觸控界面11通常具有多個彼此交錯的電極，驅動電路12提供驅動信號TX至觸控界面11的其中一個軸向的電極。檢測電路13則用以檢測觸控界面11的另一個軸向的電極的電容值(或電容值變化)。例如:如圖1所示，檢測電路13檢測觸控界面11的另一個軸向的電極的電容基線檢測信號RX。因為觸控界面11的尺寸，不同位置的電極所受到驅動信號TX和產生電容基線檢測信號RX的信號傳遞路徑不僅不相同，路徑長度也不相同。依據信號傳遞的不同長度，雖然使用相同的驅動信號TX，不同路徑長度所造成的電阻-電容延遲(RC delay)(或稱為時間延遲)會不同，使得所產生的電容基線檢測信號RX會有明顯差異。
[0003]請同時參照圖1和圖2，圖2是傳統的電容觸控面板的電容基線檢測信號與校正信號的波形圖。如圖1所示，路徑Pl的長度明顯比路徑P2的長度還短，因此，在時間軸上，檢測電路13所量到對應于路徑Pl的檢測信號會早于對應于路徑P2的檢測信號。另外，具有較短路徑的檢測信號可能會較短促(rush)且具有較大的峰值。如圖2所示，路徑Pl的信號的峰值大于路徑P2的信號的峰值，且相對而言路徑P2的信號較平緩。另外，較短路徑所對應的檢測信號的信號變化范圍可能會較容易超出電路預設的動態范圍(dynamic range)。如圖2所示，在臨界值Th以下的信號變化范圍是預設的動態范圍，路徑Pl的信號的一部分大于臨界值Th,此部分是溢出信號(overflow或loss signal),傳統的檢測電路13會把溢出信號截掉，使得檢測信號造成失真。
[0004]為了達到基線校正的目的，傳統的作法是提供一個校正信號，對每一個不同路徑的檢測信號做校正，如圖2所示的校正信號的波形，校正信號的波形是在檢測信號的時間軸的位置提供一個抑制(或扣抵)的信號，例如圖2的校正信號由第一電平Va改變為第二電平Vb。不論是路徑Pl或路徑P2都可減去一個相同的校正信號，避免產生檢測信號超出動態范圍的情況。然而，不同路徑的檢測信號在時間軸上的位置并不相同，使得校正信號可能無法對應不同路徑所產生的位于不同時間軸上的檢測信號。因此，由于觸控面板的尺寸對檢測信號的路徑所造成的差異，傳統的校正方式不容易對觸控面板上所有路徑的檢測信號進行校正。

【發明內容】

[0005]本發明實施例提供一種應用于觸控面板基線校正的面板時間延遲檢測電路，以對觸控面板進行實時的基線校正。
[0006]本發明實施例提供一種應用于觸控面板基線校正的面板時間延遲檢測電路，包括檢測放大器、比較器以及校正單元。檢測放大器接收來自觸控面板的電極的電容基線檢測信號，檢測放大器將電容基線檢測信號轉換為檢測結果信號。比較器耦接檢測放大器，并將檢測結果信號與參考信號做比較，據此產生比較信號。校正單元耦接檢測放大器以及比較器，校正單元依據比較信號產生控制信號，并將控制信號傳送至檢測放大器，用以控制檢測放大器校正檢測結果信號。當檢測結果信號大于參考信號時，檢測放大器依據控制信號而將電容基線檢測信號減去校正信號，以使檢測放大器產生的檢測結果信號低于一臨界值。
[0007]綜上所述，本發明實施例提供一種應用于觸控面板基線校正的面板時間延遲檢測電路，其可對觸控面板進行實時的基線校正。所述面板時間延遲檢測電路可提供電阻-電容延遲的實時監測，且是自動的、適應性的校正。所述面板時間延遲檢測電路是獨立的檢測機制，方便地結合至現有的觸控面板的檢測電路的架構中。
[0008]為使能更進一步了解本發明的特征及技術內容，請參閱以下有關本發明的詳細說明與附圖，但是此等說明與所附圖式僅是用來說明本發明，而非對本發明的權利要求范圍作任何的限制。
【附圖說明】
[0009]圖1是傳統的電容觸控面板的示意圖。
[0010]圖2是傳統的電容觸控面板的電容基線檢測信號與校正信號的波形圖。
[0011]圖3是本發明實施例提供的應用于觸控面板基線校正的面板時間延遲檢測電路的電路圖。
[0012]圖4是本發明另一實施例提供的應用于觸控面板基線校正的面板時間延遲檢測電路的電路圖。
[0013]【符號說明】
[0014]1:觸控面板
[0015]11:觸控界面
[0016]12:驅動電路
[0017]13:檢測電路
[0018]P1、P2:路徑
[0019]TX、Vdrv:驅動信號
[0020]RX、SS:電容基線檢測信號
[0021]Th:臨界值
[0022]E:電極
[0023]C、Cm、Cint:電容
[0024]3、4:面板時間延遲檢測電路
[0025]31,41:檢測放大器
[0026]32、42:比較器
[0027]33,43:校正單元
[0028]34:模擬/數字轉換器
[0029]Vout:檢測結果信號
[0030]Vref:參考信號
[0031]Kflag:比較信號
[0032]CK:控制信號
[0033]Dout:數字信號
[0034]415:電流鏡單元
[0035]411:第一電流源
[0036]412:第二電流源
[0037]413:第一開關
[0038]414:第二開關
[0039]Il:第一電流
[0040]12:第二電流
[0041]A:第一端
[0042]B:第二端
[0043]VDD:供應電壓
[0044]N1、N2、N3:N 型晶體管
[0045]P1、P2、P3:P 型晶體管
[0046]biasa、biasb:偏壓
[0047]GND:接地
【具體實施方式】
[0048]〔應用于觸控面板基線校正的面板時間延遲檢測電路的實施例〕
[0049]請參照圖3，圖3是本發明實施例提供的應用于觸控面板基線校正的面板時間延遲檢測電路的電路圖。應用于觸控面板基線校正的面板時間延遲檢測電路3包括檢測放大器31、比較器32、校正單元33與模擬/數字轉換器34。
[0050]檢測放大器31連接觸控面板的電極，在此的觸控面板是電容式觸控面板。檢測放大器31檢測觸控面板的電極的電容，所述電容可以是自容或互容。如圖3所示，電容C的一端接收驅動信號Vdrv，電容C的另一端連接電極E，電極E以電路的節點表示，其代表觸控面板的其中一個電極。本發明并不限定所述電極的形狀，面板時間延遲檢測電路3是用于連接至電極E以檢測電容值。
[0051]比較器32耦接檢測放大器31，校正單元33耦接檢測放大器31以及比較器32。模擬/數字轉換器34耦接檢測放大器31。模擬/數字轉換器34將檢測放大器31產生的檢測結果信號Vout轉換為數字信號Dout。在本實施例中，模擬/數字轉換器34隨著觸控面板所使用的觸控檢測的算法而設計，本領域的普通技術人員可以根據實際需要而改變模擬/數字轉換器34，本發明并不因此限定。
[0052]檢測放大器31接收來自觸控面板的電極E的電容基線檢測信號SS，檢測放大器31將電容基線檢測信號SS轉換為檢測結果信號Vout。比較器32將檢測結果信號Vout與參考信號Vref做比較，據此產生比較信號Kf lag。校正單元33依據比較信號Kflag產生控制信號CK，并將控制信號CK傳送至檢測放大器31，用以控制檢測放大器31校正檢測結果信號Vout。
[0053]檢測放大器31可以是電流放大器。在本實施例中，檢測放大器31所接收的電容基線檢測信號SS為電流形式。然而，本發明并不限定檢測放大器31的類型，