專利名稱：從條紋圖像提取圓形區域的方法
相關申請本申請要求2002年6月28日提出的日本專利申請No.的優先權，該專利申請在此引作參考。
背景技術：
發明領域本發明涉及一種從條紋圖像提取圓形區域的方法。該方法在具有被拍攝(capture)的載有相位信息(如在被觀察區域內具有待分析的圓形區域的樣品的表面形狀和內在折射率)的條紋圖像的坐標系統上，提取(extract)一代表被分析區域的圓形圖像區域。
相關技術描述近來，針對光通信中所用光纖的研究和開發非常活躍。這種光纖的一種已知例是一種例如，包括一外徑為大約10μm的芯，和一設置在其外圍的外徑為大約125μm的包層，還包括一設置在其連接端部分的用于連接該光纖與另一光纖的套管的光纖。
套管為一種構成光連接器的圓柱形元件，用于支撐并固定光纖的一端，以便將其與另一光纖相連。在用粘合劑等將光纖插入并固定到套管外徑的中心部分以后，將套管的前端拋光成鏡面，從而當兩個套管的前端面彼此緊靠時，可以將被各自套管支撐的兩個光纖彼此相連。
盡管已知套管的前端面已被拋光成垂直于光軸的平面，或者與光軸傾斜相交的平面，然而最近已將注意力放在其前端面受到PC(物理接觸)拋光，以便獲得凸球面形狀，使前端面由于套管前端面彼此緊靠的壓力而發生彈性形變的套管。
為了減小光纖彼此相連時產生的光損耗，JIS(日本工業標準)定義了套管的各種高精度規格。對于PC拋光套管，限定為6μm量級規格，如前端面曲率半徑的尺寸誤差，和套管球形前端面的頂點與光纖芯中心(光纖外形的中心)之間的位置偏差。
有時使用顯微干涉儀設備(也稱作“干涉顯微鏡”)檢查所制成的套管是否符合上述規格。該顯微干涉儀設備被成形為，觀察載有相位信息如小樣品表面形狀和折射率分布的物光，與由預定參考面反射的參考光之間干涉形成的干涉條紋，測量并分析干涉條紋的形狀和改變，從而獲得該樣品的相位信息。
當使用這種顯微干涉儀設備檢查所制造的套管時，必須在具有所拍攝的套管中被觀察區域的條紋圖像的坐標系統上，提取一代表光纖區域的圓形圖像區域。
傳統上已知的一種提取這種圓形圖像區域的方法，是在具有所拍攝的條紋圖像的坐標系統上逐漸移動一相當于該坐標系統上一參考尺寸的模板(在此坐標系統中該尺寸相當于光纖的芯區域)，將與該模板一致的圖像區域定義為圓形圖像區域。
不過，這種傳統圓形區域提取方法存在的問題在于，需要花費時間提取該圓形圖像區域，因為必須在該坐標系統上在具有所拍攝的條紋圖像的整個圖像區域上逐漸移動模板。
發明概述鑒于上述情形，本發明的目的在于提供一種從條紋圖像提取圓形區域的方法，它可快速地從拍攝到預定坐標系統上的樣品中被觀察區域的條紋圖像，提取一代表待分析的圓形區域的圓形圖像區域。
為了實現上述目的，本發明通過將在被觀察區域內具有待分析的圓形區域的樣品在該觀察區域中的條紋圖像拍攝到一預定坐標系統上，并且在該坐標系統上提取一代表該待分析區域的圓形圖像區域，提供一種從條紋圖像提取圓形區域的方法。
該方法包括以下步驟
(i)執行二進制編碼過程該二進制編碼過程是，通過一預定的條紋分析方法確定坐標系統上每個像素的條紋強度信息，根據所確定的條紋強度信息確定一用于被觀察區域中條紋圖像二進制編碼的閾值，并且通過根據所設定的閾值進行二進制編碼，區分一在條紋圖像中具有圓形圖像區域條紋強度大小的候選區域，和一具有該圓形圖像區域外部區域的條紋強度大小的非候選區域；(ii)在經過二進制編碼過程的該坐標系統上，設置多個彼此平行，且預定間隔P小于該圓形圖像區域直徑D的線性光柵；(iii)測量由該候選區域中所包含的一部分線性光柵構成的線段的長度；(iv)判斷該線段的長度是否處于直徑D的預定適宜長度范圍之內或者更短；以及(v)執行圓形圖像區域選擇過程。
該圓形圖像區域選擇過程是，在該坐標系統上設置經判斷處于該范圍內的該線段的中垂線，測量由該候選區域內包含的一部分中垂線構成的直徑候選線段的長度，判斷該直徑候選線段的長度是否基本上等于直徑D，并將包括所確定的直徑候選線段的圖像區域視作該圓形圖像區域的選擇候選區域，或者在改變該線性光柵傾斜度的同時，執行圓形圖像區域選擇過程多次；從而確定并提取該圓形圖像區域。
此處，“執行圓形圖像區域選擇過程…或者在改變該線性光柵傾斜度的同時執行圓形圖像區域選擇過程多次”意味著，如果執行一次圓形圖像區域選擇過程能確定該圓形圖像區域，則可結束提取過程，而如果不能通過一次圖像區域選擇過程確定該圓形圖像區域，則可在改變線性光柵傾斜度的同時重復執行圓形圖像區域選擇過程，每次線性光柵的傾斜度不同，直至確定該圓形圖像區域。
該方法還可以包括一第一中心位置確定過程，用于在由圓形圖像區域選擇過程提取圓形圖像區域之后，確定該圓形圖像區域中所包含的直徑候選線段的中心位置，并將所確定的中心位置視作該圓形圖像區域的中心位置。
該方法還可以包括一第二中心位置確定過程，用于在由圓形圖像區域選擇過程提取圓形圖像區域之后，根據該圓形圖像區域的面積確定該圓形圖像區域的重心位置，并將所確定的重心位置視作該圓形圖像區域的中心位置。
可以將該預定間隔P設定在下式范圍之內3D/2≥P≥D/10]]>其中D為圓形圖像區域的直徑。
可使用相移條紋分析方法或傅里葉變換條紋分析方法作為該預定條紋分析方法。
可以使用調制(等效于對比度或幅值)作為條紋強度信息。
附圖簡要說明圖1為流程圖，表示根據本發明第一實施例的方法的示意過程；圖2為用于解釋一例圓形圖像區域選擇過程的示意圖；圖3為流程圖，表示根據本發明第二實施例的方法的示意過程；以及圖4為用于實現本發明方法的顯微干涉儀設備的透視圖。
最佳實施例說明下面，將參照


本發明的實施例。
第一實施例首先，將參照圖1說明根據本發明第一實施例從條紋圖像提取圓形區域的方法的概要。圖1為流程圖，表示根據本發明第一實施例的方法的示意過程。
根據本發明第一實施例的方法使用一相移條紋分析方法。該相移條紋分析方法也稱條紋掃描條紋分析方法，其通過改變干涉儀設備中參考面與樣品之間的間隙，改變物光與參考光之間的光程長度差，并且根據該時刻干涉條紋的改變(干涉條紋移動)確定樣品的相位分布。
首先，將用于在被觀察區域內具有待分析的圓形區域的樣品(例如套管)的相移條紋分析方法用的多個條紋圖像，即其條紋圖案相對一個被觀察區域分幾階段移動的條紋圖像，拍攝到一預定坐標系統上(S1)。所拍攝的條紋圖像具有彼此偏移的相應干涉條紋強度分布，這是因為其偏移的條紋圖案。根據這多個條紋圖像，可獲得與該坐標系統上各個象素相應的各種條紋強度信息，如光強、對比度、銳度(也稱作“清晰度”)的改變，或圖像的調制。在第一實施例的方法中，該相移條紋分析方法的算法被用來確定該坐標系統上每個像素的調制m(x，y)(S2)。下面將解釋用于確定調制的過程。
隨后，設定調制閾值，并且執行二進制編碼過程，用于在該坐標系統上將被觀察區域的條紋圖像分成一調制不低于該閾值的圖像區域，和一調制低于該閾值的圖像區域(S3)。然后，使用后面將要解釋的圓形圖像區域選擇過程，在經過二進制編碼的坐標系統上提取出代表待分析的圓形區域的圓形圖像區域(S4)。
判斷圓形圖像區域的提取是否成功(S5)。如果否，則將閾值改變成另一值，再次執行將被觀察區域的條紋圖像分成兩個圖像區域的二進制編碼過程(S6)，然后流程返回上述步驟S4。如果圓形圖像區域提取成功，則終止提取圓形圖像區域的操作。
由于光纖與套管中套管主體之間的反射率不同，所以，如果確定了調制，則可區別光纖區域與其外部區域。
圓形圖像區域選擇過程現在將參照圖2說明圓形圖像區域選擇過程。圖2為用于說明一例圓形圖像區域選擇過程的示意圖。
如圖2所示，在由二進制編碼過程分成兩個區域的圖像的坐標系統上，最初將多個線性光柵50設置成彼此平行，且間隔P為圓形圖像區域直徑D的1/2。在圖2中，假設通過二進制編碼過程將兩個圖像區域，即一相應于圓形圖像區域的圖像區域60和一不相應于圓形圖像區域的圖像區域70，與它們的外部區分開，視作圓形圖像區域的候選區域。
隨后，測量圖像區域60和70中線段61，62，71的相應長度L，并判斷它們是否處于下式(1)所表達的適當長度范圍之內3D/2≤L≤D......(1)]]>其中D為圓形圖像區域的直徑。
當將線性光柵50的間隔P設定為圓形圖像區域直徑D的1/2時，由一部分線性光柵50構成的至少1個并且不大于2個線段位于與該圓形圖像區域相應的圖像區域60之內，而其較長一段的長度總處于上述公式(1)所表達的適當長度范圍之內。從而，總能識別與圓形圖像區域相應的圖像區域，而可將必須測量長度的線段的數量保持為較小。
不限于圓形圖像區域直徑D的1/2，可以將線性光柵50的間隔P設定為不大于直徑D的任何長度。不過，當間隔P大于直徑D的1/2時，必須使適宜長度范圍更寬，以便總能識別出與圓形圖象區域相應的圖像區域，這還增加了必須測量長度的線段數量。當間隔P小于直徑D的1/2時，可使適宜長度范圍較窄，而線性光柵數量變得較大，從而同樣增加了必須測量長度的線段數量。鑒于這些情況，最好將間隔P設定為滿足下面的公式(2)，這是由于能壓縮必須測量長度的線段數量3D/2≥P≥D/10......(2)]]>其中D為圓形圖像區域的直徑。
如果存在其長度處于上述適宜長度范圍之內的線段，則在坐標上形成這些線段61，71的相應中垂線63，72，并且測量由作為候選區域的圖像區域60，70中所包含的部分中垂線63，72構成的直徑候選線段64，73的相應長度。然后，判斷每個直徑候選線段64，73的相應長度是否基本上等于上述直徑D(例如，處于直徑D增加或減少幾個像素長度的長度范圍內)。
如果根據該判斷結果，存在基本上等于直徑D的直徑候選線段64，則將包括直徑候選線段64的圖像區域60視作圓形圖像區域的候選區域。由于圖2中僅存在一個與候選區域相應的圖像區域60，故將該圖像區域60定義并提取為圓形圖像區域。如果不能通過一次圓形圖像區域選擇過程確定圓形圖像區域，則在改變線性光柵傾斜度的同時重復執行與上述相似的圓形區域選擇過程，每次線性光柵的傾斜度不同，直至可以確定圓形圖像區域，從而提取該圓形圖像區域。
確定圓形圖像區域中中心位置的過程現在將解釋兩種方法，作為確定由圓形圖像區域選擇過程提取的圓形圖像區域的中心位置的過程。
第一種中心位置確定過程，其確定在圓形圖像區域選擇過程中被認為基本上等于圓形圖像區域直徑D的直徑候選線段64(參見圖2)的中心位置，并將該中心位置視作該圓形圖像區域的中心位置。此處，可以執行圓形圖像區域選擇過程多次，從而確定直徑候選線段的相應中心位置，然后可對所獲得的中心位置求平均。
第二種中心位置確定過程，其根據圓形圖像區域選擇過程中所確定的圓形圖像區域的二進制編碼圖像的面積，確定圓形圖像區域的重心位置，并將該重心視作圓形圖像區域的中心位置。可以使用圖像處理領域中傳統上已知的多種方法，作為確定重心的方法。
第二實施例現在將參照圖3說明根據本發明第二實施例的從條紋圖像提取圓形區域的方法的概要。圖3為流程圖，表示根據本發明第二實施例的方法的示意過程。
根據本發明第二實施例的方法使用傅里葉變換條紋分析方法。此傅里葉變換條紋分析方法是一種使樣品或參考面傾斜，以便獲取疊加有一空間頻率的條紋圖像，并使所獲得的條紋圖像數據經歷一系列傅里葉變換操作，從而根據操作結果確定該樣品的相位分布的方法。
首先，對于在被觀察區域內具有待分析的圓形區域的樣品(例如套管)，將一用于上述傅里葉變換分析方法的條紋圖像，即疊加有空間載頻的條紋圖像，拍攝到一預定坐標系統上(T1)。所拍攝的條紋圖像經過一預定的傅里葉變換操作，并根據操作結果確定與該坐標系統上每個像素相應的調制m(x，y)(T2)。后面將解釋確定調制的過程。
隨后，在設定調制閾值的同時，執行二進制編碼過程，以便在坐標系統上將該條紋圖像分成一其調制不低于該閾值的圖像區域，和一其調制低于該閾值的圖像區域(T3)。然后，利用上述圓形圖像區域選擇過程，在所二進制編碼的坐標系統上提取與待分析的圓形區域相應的圓形圖像區域(T4)。
判斷該圓形圖像區域的提取是否成功(T5)。如果否，則將閾值改變成另一值，然后再次執行將被觀察區域的條紋圖像分成兩個圖像區域的二進制編碼過程(T6)，然后流程返回上述步驟T4。如果圓形圖像區域的提取是成功的，則終止提取圓形圖像區域的操作。此處，圓形圖像區域選擇過程與第一實施例中所解釋的相同。
調制計算過程下面，將利用公式說明上述相移條紋分析方法和傅里葉變換條紋分析方法中的調制計算過程的實例。
1)相移條紋分析方法中調制的計算將通過例子，參照當前常用的5斗(bucket)式相移方法進行說明。首先，使用諸如壓電裝置(下面，簡單地稱為“PZT”)的高精確激勵器將干涉儀設備的參考面移動五次，在各個移動階段確定光強i0到i4。通過使用所確定的光強i0到i4，用下面的公式(3)表示所拍攝的條紋圖像的相位
可由下面的公式(4)或(5)確定5斗式相移方法中的調制m(x，v)m(x,y)=(i1-i3)2+(i0-i2)22......(4)]]>m(x,y)=(i1-i3)2+(i0+i4-2i2)22......(5)]]>2)傅里葉變換條紋分析方法中調制的計算令fx和fy分別為空間載頻的x-和y-方向分量，用下面的公式(6)表示從疊加有空間載頻的條紋圖像中獲得的干涉條紋圖像數據i(x，y)＝a(x，y)+b(x，y)cos(2πfxx+2πfyy+(x，y))(6)其中a(x，y)為干涉條紋的背景；b(x，y)為條紋的清晰度；(x，y)為被測量物體的相位；以及fx，fy為載頻。
將上述公式(6)變形成下面的公式(7)i(x,y)=a(x,y)+c(x,y)ei(2πfx+2πfy)+c*(x,y)ei(2πfx+2πfy)......(7)]]>其中c*(x，y)為c(x，y)的復共軛。
此處，由下面的公式(8)表示c(x，y) 上述公式(6)傅里葉變換成下面的公式(9)I(η，ζ)＝A(η，ζ)+C(η-fx，ζ-fy)+C*(η+fx，ζ+fy)(9)其中A(η，ζ)為(x，y)的傅里葉變換，而C(η-fx，ζ-fy)和C*(η+fx，ζ+fy)為c(x，y)和c*(x，y)的相應傅里葉變換。
通過過濾，單獨取出上述公式(9)的二次項成分，并且根據頻率坐標系統上位于坐標(fx，fy)處的光譜峰，提取空間載頻(fx，fy)。
另一方面，在頻率坐標系統上展開所獲得的C(η-fx，ζ-fy)，并且將位于坐標(fx，fy)處的光譜峰移動到頻率坐標系統上的原點，以便消除空間載頻。之后，進行逆傅里葉變換，以確定c(x，y)，從而產生下面公式(10)的虛部 從而獲得包圍相位(wrapped phase)。
然后，可由下面的公式(11)確定傅里葉變換分析方法中的調制m(x，y)m(x,y)=12{Re[c(x,y)]}2+{Im[c(x,y)]}2......(11)]]>干涉儀設備現在將參照圖4說明用于實現每個上述實施例方法的干涉儀設備。圖4為部分剖開的透視圖，表示用于實現本發明方法的顯微干涉儀設備。
圖4所示的顯微干涉儀設備1包括一由底板2、前板3(以部分割開的方式表示)、后板4、隔板5和箱蓋6(以部分剖開的方式表示)構成的主外殼，而電源7、控制盒8和主系統10設置在該主外殼內部。
主系統10包括一物鏡單元11，一壓電裝置12，一半反射鏡/光源裝置13，一成像透鏡單元14，一反射鏡盒15和一CCD攝像機裝置16。其中，該成像透鏡單元14，反射鏡盒15和CCD攝像機裝置16與固定到隔板5上的固定臺17相連，而該物鏡單元11，壓電裝置12和半反射鏡/光源裝置13與調焦臺18(以部分剖開的方式表示)相連。
該調焦臺18由沿前后方向(在附圖中用箭頭B和F表示)平行延伸的上導軸19A和下導軸19B(以部分剖開的方式表示)支撐，從而前后滑動。螺旋彈簧9設置在固定臺17與調焦臺18之間，從而由螺旋彈簧9的彈力向前推動調焦臺18(在附圖中沿箭頭F的方向)。
前板3上提供一用于移動調焦臺18的調焦螺釘20，從而實現主系統10的調焦。該調焦螺釘20包括一擰入前板3中形成的未示出螺孔中的螺桿軸21，從而在圍繞其軸旋轉時可前后移動；以及一用于旋轉該螺桿軸21的旋扭22。螺桿軸21的前端面緊靠位于調焦臺18前部的半球形突起18a。當螺桿軸21從前板3伸出的長度由于旋轉旋鈕22而改變時，調焦螺釘20可沿導軸19A，19B前后移動調焦臺18，從而能進行調焦。
具有上述結構的干涉儀主系統10，用與參考光分離的未示出的光源發出的部分激光照射固定在物鏡單元11前面預定位置處的小樣品(例如套管)。使該樣品反射的物光與參考光干涉。由此產生的干涉光通過成像透鏡單元14內的成像透鏡系統(未示出)，然后在未示出的CCD上形成干涉條紋的像。在測量并分析所獲得干涉條紋的形態和變化時，可實現樣品表面形態的三維測量，以及其物理性質測量。通過驅動壓電裝置12內的PZT，可執行相移條紋分析方法和傅里葉變換條紋分析方法。可采用的干涉儀主系統10有多種類型，如Mireau，Michelson和Linnik的干涉儀主系統。
前板3上提供一傾斜度調節裝置100。該傾斜度調節裝置100包括一固定在該前板3上的L-形第一基礎件110，和一具有類似于第一基礎件110的L-形狀、并與該第一基礎件110相對的第二基礎件120。使用一起支點作用的支撐部件130對該第二基礎件120進行支撐，使之可相對第一基礎件110傾斜，并且分別通過第一和第二調節部件140、150，圍繞從支撐部件130基本上沿水平方向延伸的軸旋轉，和圍繞從支撐部件130基本上沿垂直方向的軸旋轉，從而相對第一基礎件110調節傾斜度。
一夾緊裝置的支架200被固定于傾斜度調節裝置100的第二基礎件120上。該支架200包括一前部件210，一后部件220和一將它們連接在一起的連接部件230，而通過三個止動螺釘240將前部件210固定到第二基礎件120上。該夾緊裝置的支架200的后部件220設置在物鏡單元11的前表面一側，而其中心部分具有一用于將夾緊裝置300固定在其中的支架凹陷221。前板3還具有一電源開關30，用于打開/關閉顯微干涉儀設備1的電源。
雖然前面解釋了本發明的實施例，不過可以多種方式修改本發明，而不限于上述實施例。
例如，雖然上述實施例以用于光通信的套管作為在被觀察區域內具有待分析圓形區域的樣品，不過可以采用本發明的方法從具有這種圓形區域的多種樣品的條紋圖像中提取被分析的圓形區域。
并且，用于實現本發明方法的干涉儀設備不限于上述顯微干涉儀設備，從而可使用多種類型的干涉儀設備。
另外，用于區別圓形圖像區域與其外部圖像區域的與坐標系統上每個像素相應的條紋強度信息，不限于上述調制。也可以使用光強、對比度或圖像銳度作為條紋強度信息。
如前面詳細解釋的那樣，根據本發明從條紋圖像提取圓形區域的方法，將在被觀察區域內具有待分析圓形區域的樣品的條紋圖像拍攝到一預定坐標系統上，通過預定的條紋分析方法在該坐標系統上對被觀察區域的條紋圖像進行二進制編碼，將彼此平行具有預定間隔的多個線性光柵放置在該二進制編碼的坐標系統上，并使用該線性光柵，執行圓形圖像區域選擇過程，在該坐標系統上提取代表被分析區域的圓形圖像區域，從而產生下列效果即，通過使用線性光柵實現的圓形圖像區域選擇過程，僅需要一測量候選區域內所包括線性光柵的線段長度，并且判斷該線段長度是否處于預先確定的適合長度范圍之內的運算操作，以及一在坐標系統上形成所確定線段中垂線，測量該候選區域內所包含中垂線的線段長度，并判斷該線段長度是否基本上等于圓形圖像區域的直徑的運算操作。因此，可以將用于提取圓形圖像區域的運算操作量保持較小，從而可以高速度地提取圓形圖像區域。
權利要求
1.一種從條紋圖像提取圓形區域的方法，通過將在被觀察區域內具有待分析的圓形區域的樣品在該觀察區域中的條紋圖像，拍攝到一預定坐標系統上，并在所述坐標系統上提取一代表所述待分析區域的圓形圖像區域；所述方法包括以下步驟(i)執行二進制編碼過程，所述二進制編碼過程是，通過一預定的條紋分析方法確定所述坐標系統上每個像素的條紋強度信息，根據所確定的條紋強度信息確定一用于所述被觀察區域內所述條紋圖像二進制編碼的閾值，并且通過根據所設定的閾值進行所述二進制編碼，區分一在所述條紋圖像中具有所述圓形圖像區域條紋強度大小的候選區域，和一具有所述圓形圖像區域外部區域的條紋強度大小的非候選區域；(ii)在經過所述二進制編碼過程的所述坐標系統上，設置多個彼此平行，且預定間隔P小于所述圓形圖像區域所述直徑D的線性光柵；(iii)測量由所述候選區域內所包含的所述一部分線性光柵構成的線段的長度；(iv)判斷所述線段的長度是否處于所述直徑D的預定適宜長度范圍之內或者更短；以及(v)執行圓形圖像區域選擇過程，所述圓形圖像區域選擇過程是，在所述坐標系統上設置經判斷處于所述范圍內的所述線段的中垂線，測量由所述候選區域內包含的一部分所述中垂線構成的直徑候選線段的長度，判斷所述直徑候選線段的長度是否基本上等于所述直徑D，并將包括所確定的直徑候選線段的圖像區域視作所述圓形圖像區域的選擇候選區域，或者在改變所述線性光柵傾斜度的同時，執行所述圓形圖像區域選擇過程多次；從而確定并提取所述圓形圖像區域。
2.根據權利要求1所述的方法，還包括一第一中心位置確定過程，其在由所述圓形圖像區域選擇過程提取所述圓形圖像區域之后，確定所述圓形圖像區域內所包含的所述直徑候選線段的中心位置，并將所確定的中心位置視作所述圓形圖像區域的中心位置。
3.根據權利要求1所述的方法，還包括一第二中心位置確定過程，其在由所述圓形圖像區域選擇過程提取所述圓形圖像區域之后，根據所述圓形圖像區域的面積確定所述圓形圖像區域的重心位置，并將所確定的重心位置視作所述圓形圖像區域的中心位置。
4.根據權利要求1所述的方法，其中所述預定間隔P被設定在下式范圍之內3D/2≥P≥D/10]]>其中D為圓形圖像區域的直徑。
5.根據權利要求1所述的方法，其中所述預定條紋分析方法為相移條紋分析方法。
6.根據權利要求1所述的方法，其中所述預定條紋分析方法為傅里葉變換條紋分析方法。
7.根據權利要求1所述的方法，其中所述條紋強度信息為調制。
全文摘要
一種圓形區域提取方法，將在被觀察區域內具有待分析的圓形區域的樣品的條紋圖像拍攝到一坐標系統上，通過條紋分析方法在該坐標系統上對該區域的條紋圖像進行二進制編碼，將彼此平行、具有預定間隔的多個線性光柵設置在經過二進制編碼的坐標系統上，并使用該線性光柵，以便在該坐標系統上提取一代表被分析區域的圓形圖像區域。
文檔編號G06T5/00GK1469101SQ0314934
公開日2004年1月21日 申請日期2003年6月27日 優先權日2002年6月28日
發明者葛宗濤 申請人:富士寫真光機株式會社