一種金屬化薄膜電阻測試支架的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種金屬化薄膜電阻測試支架，屬于薄膜電容器生產制造技術領域。
【背景技術】
[0002]現有技術中已公知的，用于制造薄膜電容器的金屬化薄膜具有梯度變化或漸進變化的鍍層厚度，對于在以下這些方面具有進步意義:降低自愈能耗，減少引出線與電極的接觸電阻，提高承載電流的能力，提高耐壓能力；金屬化薄膜鍍層厚度的變化直接影響金屬化薄膜電阻性能的變化，為了排除材料品質、加工工藝等細微變化對產品性能的影響，以金屬化薄膜的電阻性能來限定或判定金屬化薄膜各定義位置處鍍層厚度更符合實際需要，也更具有實際操作性。此外，即便是常規的等鍍層厚度的金屬化薄膜，對于薄膜鍍層厚度均勻性的監控也很有必要。為了檢測金屬化薄膜在不同方向和不同位置處的鍍層電阻特性，通常需要對金屬化薄膜的多個位置進行檢測，通常的檢測方法需要不斷地改變金屬化薄膜的夾持方式，容易造成金屬化薄膜的破損，或者采用手持的方式檢測不同位置之間的電阻特性則存在測試誤差大、檢測結果的平行性差的不足。針對上述問題有必要提出可行的技術方案加以克服。
【實用新型內容】
[0003]本實用新型正是針對現有技術存在的不足，提供一種金屬化薄膜電阻測試支架，無需多次改變金屬化薄膜的夾持方式，即可完成金屬化薄膜多個位置之間的電阻特性的檢測，滿足實際使用要求。
[0004]為解決上述問題，本實用新型所采取的技術方案如下:
[0005]一種金屬化薄膜電阻測試支架，包括:
[0006]一用于平托金屬化薄膜樣品的支撐底座；
[0007]用于接觸金屬化薄膜樣品的檢測頭，所述檢測頭為兩個且分別連接電阻檢測設備的正負極檢測線；
[0008]一固定設置于所述支撐底座上用于夾持金屬化薄膜樣品的夾持片；
[0009]一固定設置于所述支撐底座上用于夾持金屬化薄膜樣品且用于固定所述檢測頭的固定夾持片；
[0010]一活動設置于所述支撐底座上用于固定所述檢測頭的固定片，所述固定片位于所述夾持片和所述固定夾持片之間；
[0011]所述夾持片、所述固定夾持片和所述固定片均為長方形且相互平行，所述固定夾持片和所述固定片在長度方向上都設置有鏤空的檢測滑槽，所述檢測頭位于所述檢測滑槽內。
[0012]作為上述技術方案的改進，所述夾持片、所述固定夾持片的兩端均通過安裝螺栓固定連接所述支撐底座；所述支撐底座上設置有垂直于所述固定片的凸起滑道，所述凸起滑道為兩個且分別位于所述固定片的兩端，所述固定片的兩端底部設置有配合所述凸起滑道的限位凹槽。
[0013]作為上述技術方案的改進，所述夾持片、所述固定夾持片和所述固定片均為金屬制成，且所述夾持片和所述固定夾持片的底面設置有第一橡膠墊，所述支撐底座的頂面設置有第二橡膠墊，且所述夾持片和所述固定夾持片的頂面均設置有配合所述安裝螺栓的安裝導套。
[0014]上述改進采用金屬作為主材料便于加工且剛性好，從而便于控制表面平整度，降低夾持金屬化薄膜時施力不均的程度，但是金屬表面過于堅硬容易刮傷金屬化薄膜且摩擦力較小，夾持穩固效果不佳，因此設置第一橡膠墊和第二橡膠墊，既能夠大大降低刮傷金屬化薄膜的幾率而且夾持很穩固，測試結果準確；此外，設置安裝導套不僅可以在保證螺紋不打滑的前提下減小夾持片和固定夾持片的厚度，而且可以提高夾持的穩固性，不會發生偏轉從而造成施力不均。
[0015]作為上述技術方案的改進，所述檢測頭包括球形觸頭、導電柱、以及包封所述球形觸頭和所述導電柱的絕緣塊，所述導電柱下端連接所述球形觸頭，所述導電柱上端連接電阻檢測設備的正負極檢測線。
[0016]用于接觸金屬化薄膜的觸頭為球形觸頭，因此減少了尖端放電的幾率，即降低了設備擊穿拉火的幾率，同時采用絕緣塊包封導體，使得檢測頭之間以及檢測頭與測試夾持器具之間的電氣絕緣性能進一步提高。
[0017]本實用新型與現有技術相比較，本實用新型的實施效果如下:
[0018]本實用新型所述的一種金屬化薄膜電阻測試支架，可以選擇將兩個檢測頭均放置于所述固定夾持片的檢測滑槽中或所述固定片的檢測滑槽中，也可以在兩個檢測滑槽中各放置一個檢測頭，由于所述固定片可以自由滑動，而檢測頭可以在檢測滑槽中自由滑動，因此無需多次改變金屬化薄膜的夾持方式，即可完成金屬化薄膜多個位置之間的電阻特性的檢測，滿足實際使用要求。
【附圖說明】
[0019]圖1為本實用新型所述的一種金屬化薄膜電阻測試支架俯視結構示意圖；
[0020]圖2為本實用新型所述的一種金屬化薄膜電阻測試支架平視結構示意圖；
[0021]圖3為圖1中A— A處的剖面結構示意圖；
[0022]圖4為圖1中B— B處的剖面結構示意圖；
[0023]圖5為圖1中C一C處的剖面結構示意圖。
【具體實施方式】
[0024]下面將結合具體的實施例來說明本實用新型的內容。
[0025]如圖1至圖5所示，為本實用新型所述的一種金屬化薄膜電阻測試支架結構示意圖。本實用新型所述一種金屬化薄膜電阻測試支架，包括:一用于平托金屬化薄膜樣品的支撐底座I ;用于接觸金屬化薄膜樣品的檢測頭2，所述檢測頭2為兩個且分別連接電阻檢測設備的正負極檢測線；一固定設置于所述支撐底座I上用于夾持金屬化薄膜樣品的夾持片3 ;一固定設置于所述支撐底座I上用于夾持金屬化薄膜樣品且用于固定所述檢測頭2的固定夾持片4 ;一活動設置于所述支撐底座I上用于固定所述檢測頭2的固定片5，所述固定片5位于所述夾持片3和所述固定夾持片4之間；所述夾持片3、所述固定夾持片4和所述固定片5均為長方形且相互平行，所述固定夾持片4和所述固定片5在長度方向上都設置有鏤空的檢測滑槽6，所述檢測頭2位于所述檢測滑槽6內。
[0026]具體地，所述夾持片3、所述固定夾持片4的兩端均通過安裝螺栓7固定連接所述支撐底座I ;所述支撐底座I上設置有垂直于所述固定片5的凸起滑道8，所述凸起滑道8為兩個且分別位于所述固定片5的兩端，所述固定片5的兩端底部設置有配合所述凸起滑道8的限位凹槽51。進一步地，所述夾持片3、所述固定夾持片4和所述固定片5均為金屬制成，且所述夾持片3和所述固定夾持片4的底面設置有第一橡膠墊31，所述支撐底座I的頂面設置有第二橡膠墊11，且所述夾持片3和所述固定夾持片4的頂面均設置有配合所述安裝螺栓7的安裝導套32。優選地，所述檢測頭2包括球形觸頭21、導電柱22、以及包封所述球形觸頭21和所述導電柱22的絕緣塊23，所述導電柱22下端連接所述球形觸頭21，所述導電柱22上端連接電阻檢測設備的正負極檢測線。
[0027]工作時，首先將金屬化薄膜樣品的一端夾持在所述夾持片3下，對金屬化薄膜樣品施加均勻的拉力使之張緊后，再將金屬化薄膜樣品的另一端夾持在所述固定夾持片4下，然后根據實際需要，將兩個檢測頭2均放置于所述固定夾持片4的檢測滑槽6中或所述固定片5的檢測滑槽6中，也可以在兩個檢測滑槽6中各放置一個檢測頭2，移動所述固定片5再移動所述檢測頭2，當檢測頭2的球形觸頭21接觸到預定的金屬化薄膜樣品需要檢測的位置點時，即可進行表面電阻測定等試驗。
[0028]以上內容是結合具體的實施例對本實用新型所作的詳細說明，不能認定本實用新型具體實施僅限于這些說明。對于本實用新型所屬技術領域的技術人員來說，在不脫離本實用新型構思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應當視為屬于本實用新型保護的范圍。
【主權項】
1.一種金屬化薄膜電阻測試支架，其特征是，包括: 一用于平托金屬化薄膜樣品的支撐底座(I); 用于接觸金屬化薄膜樣品的檢測頭(2)，所述檢測頭(2)為兩個且分別連接電阻檢測設備的正負極檢測線； 一固定設置于所述支撐底座(I)上用于夾持金屬化薄膜樣品的夾持片(3); 一固定設置于所述支撐底座(I)上用于夾持金屬化薄膜樣品且用于固定所述檢測頭(2)的固定夾持片(4)； 一活動設置于所述支撐底座(I)上用于固定所述檢測頭(2)的固定片(5)，所述固定片(5)位于所述夾持片(3)和所述固定夾持片(4)之間； 所述夾持片(3)、所述固定夾持片(4)和所述固定片(5)均為長方形且相互平行，所述固定夾持片(4)和所述固定片(5)在長度方向上都設置有鏤空的檢測滑槽(6)，所述檢測頭(2)位于所述檢測滑槽(6)內。
2.如權利要求1所述的一種金屬化薄膜電阻測試支架，其特征是，所述夾持片(3)、所述固定夾持片(4)的兩端均通過安裝螺栓(7)固定連接所述支撐底座(I);所述支撐底座(I)上設置有垂直于所述固定片(5)的凸起滑道(8)，所述凸起滑道(8)為兩個且分別位于所述固定片(5)的兩端，所述固定片(5)的兩端底部設置有配合所述凸起滑道(8)的限位凹槽(51)。
3.如權利要求2所述的一種金屬化薄膜電阻測試支架，其特征是，所述夾持片(3)、所述固定夾持片(4)和所述固定片(5)均為金屬制成，且所述夾持片(3)和所述固定夾持片(4)的底面設置有第一橡膠墊(31)，所述支撐底座(I)的頂面設置有第二橡膠墊(11)，且所述夾持片(3)和所述固定夾持片(4)的頂面均設置有配合所述安裝螺栓(7)的安裝導套(32)。
4.如權利要求3所述的一種金屬化薄膜電阻測試支架，其特征是，所述檢測頭(2)包括球形觸頭(21)、導電柱(22)、以及包封所述球形觸頭(21)和所述導電柱(22)的絕緣塊(23)，所述導電柱(22)下端連接所述球形觸頭(21)，所述導電柱(22)上端連接電阻檢測設備的正負極檢測線。
【專利摘要】本實用新型公開了一種金屬化薄膜電阻測試支架，包括一支撐底座；兩個分別連接電阻檢測設備的正負極檢測線并用于接觸金屬化薄膜樣品的檢測頭；一固定設置于所述支撐底座上用于夾持金屬化薄膜樣品的夾持片；一固定設置于所述支撐底座上用于夾持金屬化薄膜樣品且用于固定所述檢測頭的固定夾持片；一活動設置于所述支撐底座上用于固定所述檢測頭的固定片；所述夾持片、所述固定夾持片和所述固定片均為長方形且相互平行，所述固定夾持片和所述固定片在長度方向上都設置有鏤空的檢測滑槽，所述檢測頭位于所述檢測滑槽內。本實用新型無需多次改變金屬化薄膜的夾持方式，即可完成金屬化薄膜多個位置之間的電阻特性的檢測。
【IPC分類】G01R27-02
【公開號】CN204422655
【申請號】CN201520121586
【發明人】張世鐸
【申請人】黃山申格電子科技有限公司
【公開日】2015年6月24日
【申請日】2015年3月2日