基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機的制作方法
【專利摘要】本發明涉及觸摸屏技術領域，公開了一種基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機，包括內部設有斷短路測試模塊和電容測試模塊的工作機箱、位于工作機箱上的測試板和測試平臺以及磁性開關，磁性開關包括作為公共端的第一連接端、作為常開端的第二連接端和作為常閉端的第三連接端，其中第一連接端與測試板電性連接，第二連接端與斷短路測試模塊電性連接，第三連接端與電容測試模塊電性連接，測試平臺用于放置待測產品，測試平臺與測試板對接設置，以使待測產品與測試板電性連接。該基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機采用磁性開關代替傳統的探針作為連接器，能夠減少測試機的維修頻率、降低維修成本。
【專利說明】
基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機
技術領域
[0001]本發明涉及觸摸屏技術領域，尤其涉及一種基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機。
【背景技術】
[0002]電容式觸摸屏是一種用于各種智能終端電子設備的重要部件，其能夠實現用戶與電子設備之間直接地、自然地交互。在觸摸屏的制造過程中，半成品觸摸屏是已經形成有用于感應觸控點位置的觸控電極、但觸控電極并沒有與IC連接的觸摸屏，此類半成品需要在加工為成品之前先測試其功能是否完好，以提高成品觸摸屏的良率。
[0003]在現有技術中，用于測試機的連接器主要是采用探針。通過連接器的探針與產品的電極引線相連接，以讀取ITO層中電極的數據，進而通過判斷相關數據是否在預定數值范圍內，來測定產品是否合格。但是，隨著此類測試機生產數量的大規模化及使用時間長期化，連接器容易出現探針變形、氣壓過大時易斷、使用時間長后針縫隙帶雜物使用探針堵塞等問題，由此導致維修頻率過高、間接提高了產品的生產成本。
[0004]此外，在現有技術中，由于半成品觸摸屏上并未連接有1C，因此對半成品觸摸屏進行測試時，需要先將其與IC連接，再進行半成品功能測試，以判斷半成品是否合格。但是，目前能夠支持觸摸屏產業的IC品牌非常多，且每種IC都有其獨立的測試方法，但這些測試方法無法保證短路材料能夠有效檢出，且方法之間并不通用。這一方面會導致檢測后的半成品觸摸屏仍存在性能上的缺陷問題;另一方面會導致采用不同IC的半成品觸摸屏需要使用不同的IC及其測試方法，相應地，用于不同半成品觸摸屏的測試板也需要及時開發更換。當觸摸屏生產企業的觸摸屏種類較多時，需要開發多種半成品觸摸屏的測試板，這既增加測試成本，又會耗費大量人力物力。

【發明內容】

[0005]本發明的目的在于提供一種基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機，以解決現有基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機難以有效檢出全部短路材料、且測試機難以通用于不同類型、不同尺寸觸摸屏的問題。
[0006]本發明的技術方案如下:
[0007]本發明提供一種基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機，包括內部設有斷短路測試模塊和電容測試模塊的工作機箱、位于所述工作機箱上的測試板和測試平臺以及磁性開關，所述磁性開關包括作為公共端的第一連接端、作為常開端的第二連接端和作為常閉端的第三連接端，其中所述第一連接端與所述測試板電性連接，所述第二連接端與所述斷短路測試模塊電性連接，所述第三連接端與所述電容測試模塊電性連接，所述測試平臺用于放置待測產品，所述測試平臺與所述測試板對接設置，以使所述待測產品與所述測試板電性連接。
[0008]可選地，所述磁性開關為干簧管或門磁開關中的一種。優選地，所述磁性開關為干簧管。
[0009]進一步地，所述斷短路測試模塊和/或所述電容測試模塊中設有1C，所述IC為Atmel公司的1C。優選地，所述IC為Atmel MXT 1664系列1C。
[0010]進一步地，所述基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機還包括橫跨設于所述工作機箱上方的第一支撐架和相對所述第一支撐架上下移動的第一升降裝置，所述第一升降裝置在所述工作機箱上的垂直投影位于所述測試平臺與所述測試板對接處，所述第一升降裝置下降至所述測試平臺與所述測試板的對接處時，使放置于所述測試平臺上的待測產品與所述測試板電性連接。
[0011]進一步地，所述第一升降裝置包括固設于所述第一支撐架上的第一氣缸以及與所述第一氣缸動力連接的第一壓板，所述第一壓板位于所述第一支撐架下方且相對于所述第一支撐架上下移動，所述第一氣缸推動所述第一壓板下降至所述測試平臺與所述測試板的對接處時，使放置于所述測試平臺上的待測產品與所述測試板電性連接。
[0012]進一步地，所述第一升降裝置還包括第一導柱，所述第一導柱豎向穿過所述第一支撐架且所述第一導柱與所述第一壓板固定連接，以使所述第一壓板沿豎直方向上下移動。
[0013]進一步地，所述基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機還包括橫跨設于所述工作機箱上方的第二支撐架和相對所述第二支撐架上下移動的第二升降裝置，所述第二升降裝置在所述工作機箱上的垂直投影位于所述磁性開關處，所述第二升降裝置下降至所述磁性開關處時，使所述測試板與所述斷短路測試模塊電性連接，所述第二升降裝置上升至遠離所述磁性開關時，使所述測試板與所述電容測試模塊電性連接。
[0014]進一步地，所述第二升降裝置包括固設于所述第二支撐架上的第二氣缸以及與所述第二氣缸動力連接的第二壓板，所述第二壓板位于所述第二支撐架下方且相對于所述第二支撐架上下移動，所述第二壓板為磁性材料，所述第二氣缸推動所述第二壓板下降至所述磁性開關處時，所述磁性開關的所述第一連接端與所述第二連接端導通、且所述第一連接端與所述第三連接端斷開，使所述測試板與所述斷短路測試模塊電性連接，所述第二氣缸拉動所述第二壓板上升至遠離所述磁性開關時，所述磁性開關的所述第一連接端與所述第三連接端導通、且所述第一連接端與所述第二連接端斷開，使所述測試板與所述電容測試模塊電性連接。
[0015]進一步地，所述第二升降裝置還包括第二導柱，所述第二導柱豎向穿過所述第二支撐架且所述第二導柱與所述第二壓板固定連接，以使所述第二壓板沿豎直方向上下移動。
[0016]進一步地，所述第一支撐架上還設有CCD對位裝置，所述CCD對位裝置用于對所述待測產品與所述測試板的電性連接位置進行放大和對位。
[0017]進一步地，所述測試平臺上還設有調節旋鈕，所述調節旋鈕用于調節所述待測產品與與所述測試板的電性連接位置。
[0018]進一步地，所述半成品觸摸屏測試機還包括設于所述工作機箱上方的顯示屏，所述顯示屏與所述CCD對位裝置電性連接，所述顯示屏用于顯示經過所述CCD對位裝置放大后的待測產品與所述測試板的電性連接位置，以使所述調節旋鈕調節待測產品與所述測試板的電性連接位置重合。
[0019]可選地，所述基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機用于測試半成品觸摸屏的尺寸小于或者等于7寸。例如，所述基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機用于測試半成品觸摸屏的尺寸為7寸、6寸、5.5寸、5寸、4.5寸、4寸、3.8寸或3.5寸。
[0020]可選地，所述基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機用于測試GFF、GF1或GF2結構的半成品觸摸屏。
[0021]與現有技術相比，本發明具有以下有益效果:
[0022]在本發明中，在工作機箱內部分別設有斷短路測試模塊和電容測試模塊，放置于測試平臺中的半成品觸摸屏通過與測試板電性連接，最終實現與斷短路測試模塊或者電容測試模塊的連接，由此既能夠測試半成品觸摸屏中ITO層的斷短路值、又能測出ITO層的電容值，故能夠保證將半成品觸摸屏的短路材料有效檢出。另外，本發明中采用磁性開關代替傳統的探針作為連接器，能夠有效減少維修機率、降低維修成本。不僅如此，本發明的測試機具有較高的兼容性，由于Atme I公司的IC最多能夠支持半成品觸摸屏在X方向上電極多達32條、Y方向上電極多達52條，因此能夠兼容測試各類IC對應的半成品觸摸屏，并且也能夠測試不同結構的半成品觸摸屏。
【附圖說明】
[0023]為了更清楚地說明本發明實施例中的技術方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0024]圖1是本發明實施例二的基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機的結構示意圖；
[0025]圖2是本發明實施例二的基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機的結構示意圖(省略第一支撐架、第一升降裝置和CCD對位裝置)；
[0026]圖3是本發明實施例二中第一支撐架、第一升降裝置和CCD對位裝置的結構示意圖。
[0027]圖4是本實施例實施例二中磁性開關的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0028]下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。
[0029]實施例一
[0030]本實施例提供一種基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機，包括內部設有斷短路測試模塊和電容測試模塊的工作機箱、位于所述工作機箱上的測試板和測試平臺、以及磁性開關，所述磁性開關包括作為公共端的第一連接端、作為常開端的第二連接端和作為常閉端的第三連接端，其中所述第一連接端與所述測試板電性連接，所述第二連接端與所述斷短路測試模塊電性連接，所述第三連接端與所述電容測試模塊電性連接，所述測試平臺用于放置待測產品，所述測試平臺與所述測試板對接設置，以使所述待測產品與所述測試板電性連接。
[0031]實施例二
[0032]結合圖1至圖3所示，本實施例提供一種基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機，包括工作機箱I以及分別設于工作機箱I上不同位置處的測試板2、測試平臺3、第一支撐架41、第一升降裝置51、第二支撐架42、第二升降裝置52以及磁性開關6。
[0033]其中，工作機箱I的內部設有斷短路測試模塊和電容測試模塊，且斷短路測試模塊和/或電容測試模塊中設有Atmel公司的1C，例如為MXT1664系列1C，該IC用于驅動斷短路測試模塊對半成品觸摸屏進行斷短路測試、驅動電容測試模塊對半成品觸摸屏進行電容測試。采用Atmel公司中具有較高兼容性的1C，能夠支持半成品觸摸屏在X方向上電極多達32條、Y方向上電極多達52條，因此能夠兼容測試各類IC對應的半成品觸摸屏，并且也能夠測試不同結構的半成品觸摸屏。
[0034]其中，測試板2為PCB電路板，測試平臺3用于放置待測產品(即待測試的半成品觸摸屏)，測試平臺3與測試板2對接設置，以使放置于測試平臺3中的待測產品(圖未示)與測試板2電性連接，具體是待測產品的電極引線與測試板2中的金手指電性連接。本實施例中的磁性開關6具體為干簧管，磁性開關6包括作為公共端的第一連接端61、作為常開端的第二連接端62和作為常閉端的第三連接端63，且第一連接端61與測試板2電性連接，第二連接端62與斷短路測試模塊電性連接，第三連接端與電容測試模塊電性連接。
[0035]其中，第一支撐架41橫跨設于工作機箱I的上方，第一升降裝置51與第一支撐架41活動連接且相對于第一支撐架41上下移動。具體地，第一升降裝置51包括第一氣缸511、第一壓板512和第一導柱513。第一氣缸511固設于第一支撐架41上，用于為第一壓板512提供上下移動的動力。第一壓板512與第一氣缸511動力連接，且第一壓板512設于第一支撐架41的下方，并相對于第一支撐架41上下移動，該第一壓板512在工作機箱I上的垂直投影位于測試平臺3與測試板2對接處。第一導柱513豎向穿過第一支撐架41且與第一壓板512固定連接，該第一導柱513用于從豎直方向上對第一壓板的上下移動起定位和導向的作用。第一氣缸511推動第一壓板512下降至測試平臺3與測試板2的對接處時，使放置于測試平臺3上的待測產品與測試板2電性連接。
[0036]其中，第二支撐架42位于第一支撐架41的后方且第二支撐架42橫跨設于工作機箱I的上方，第二升降裝置52與第二支撐架42活動連接且相對于第二支撐架42上下移動。具體地，第二升降裝置52包括第二氣缸521、以磁性材料制成的第二壓板522以及第二導柱523。第二氣缸521固設于第二支撐架42上，用于為第二壓板522提供上下移動的動力。第二壓板522與第二氣缸521動力連接，且第二壓板522設于第二支撐架42的下方，并相對于第二支撐架42上下移動，該第二壓板522在工作機箱I上的垂直投影位于磁性開關6附近，具體是位于磁性開關6的第二連接端62和第三連接63處。第二導柱523豎向穿過第二支撐架42且與第二壓板522固定連接，該第二導柱523用于從豎直方向上對第二壓板522的上下移動起定位和導向的作用。第二氣缸521推動第二壓板522下降至靠近磁性開關6時，，由于第二壓板為磁性材料，會影響磁性開關6的磁場，使磁性開關6的第一連接端61與第二連接端62導通、第一連接端61與第三連接端63斷開，進而使測試板2與斷短路測試模塊電性連接;第二氣缸521拉動第二壓板522上升至遠離磁性開關6時，由于第二壓板對于磁性開關6的影響消失，使磁性開關6的第一連接端61與第三連接端63導通、第一連接端61與第二連接端62斷開，進而測試板2使磁性開關6與電容測試模塊電性連接。
[0037]本實施例的基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機還包括設置在第一支撐架41上的CCD對位裝置7，該CCD對位裝置7用于對待測產品與測試板2的電性連接位置進行放大和對位，以確保二者的電性連接位置準確。
[0038]本實施例的基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機還包括設置在測試平臺3上的調節旋鈕31，該調節旋鈕用于微調待測產品與與測試板2的電性連接位置。
[0039]另外，本實施例的基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機還包括設于工作機箱I上方的顯示屏(圖未示)，該顯示屏與CCD對位裝置7電性連接，用于顯示經過CCD對位裝置放大后的待測產品與測試板的電性連接位置(具體是待測產品的待測產品的電極引線與測試板2中的金手指的連接位置)，以使調節旋鈕能夠根據顯示屏上的圖像方便地調節待測產品的電極引線與測試板2中金手指的連接位置，使電極引線與金手指可靠重合。
[0040]在本實施例中，基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機用于測試半成品觸摸屏的尺寸小于或者等于7寸。例如，基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機用于測試半成品觸摸屏的尺寸為7寸、6寸、5.5寸、5寸、4.5寸、4寸、3.8寸或3.5寸。分此外，本實施例的基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機用于測試GFF、GF1或GF2結構的半成品觸摸屏。
[0041]本實施例的基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機在工作時，首先將待測產品放置于測試平臺3上，并將待測產品的電極引線與測試板2的金手指對接;然后通過第一升降裝置51將第一壓板512下降至待測產品與測試板2的對接處進行壓合，以使待測產品與測試板2電性連接，此時磁性開關6的一端與測試板2電性連接;接著通過第二升降裝置52將第二壓板522下降至靠近磁性開關6的位置處，由于第二壓板522為磁性材料，會對磁性開關6造成影響，因此使得磁性開關6的另一端與斷短路測試模塊電性連接，由此使待測產品與斷短路測試模塊之間電性連接，以實現對待測產品的斷短路測試;最后通過第二升降裝置52將第二壓板522上升、使第二壓板522遠離磁性開關6，由于第二壓板522對磁性開關6的影響消失，使得磁性開關6的另一端與電容測試模塊電性連接，由此使待測產品與電容測試模塊之間電性連接，以實現對待測產品的電容測試。
[0042]此外，本實施例的半成品觸摸屏測試機還設有用于反應測試結果的指示燈以及用于恢復半成品觸摸屏測試機測試狀態的復位按鈕。當待測產品的測試結果為合格時，位于工作機箱上的第一指示燈(例如綠色LED燈)亮起;當待測產品的測試結果為不合格時，位于工作機箱上的第二指示燈(例如紅色LED燈)亮起，此時第一壓板512不會自動抬起，需要操作復位按鈕將第一壓板抬起，以繼續進行測試工作。
[0043]本實施例的半成品觸摸屏測試機與電腦電性連接，以使所述半成品觸摸屏測試機的測試數據能夠傳輸、保存至電腦中，并通過電腦的顯示器顯示測試結果及數據。
[0044]以上實施例的說明只是用于幫助理解本發明的方法及其核心思想；同時，對于本領域的一般技術人員，依據本發明的思想，在【具體實施方式】及應用范圍上均會有改變之處，綜上所述，本說明書內容不應理解為對本發明的限制。
【主權項】
1.一種基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機，其特征在于，包括內部設有斷短路測試模塊和電容測試模塊的工作機箱、位于所述工作機箱上的測試板和測試平臺以及磁性開關，所述磁性開關包括作為公共端的第一連接端、作為常開端的第二連接端和作為常閉端的第三連接端，其中所述第一連接端與所述測試板電性連接，所述第二連接端與所述斷短路測試模塊電性連接，所述第三連接端與所述電容測試模塊電性連接，所述測試平臺用于放置待測產品，所述測試平臺與所述測試板對接設置，以使所述待測產品與所述測試板電性連接。2.根據權利要求1所述的基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機，其特征在于，所述磁性開關為干簧管或門磁開關中的一種。3.根據權利要求1所述的基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機，其特征在于，所述斷短路測試模塊和/或所述電容測試模塊中設有1C，所述IC為Atmel公司的1C。4.根據權利要求1至3任一項所述的基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機，其特征在于，所述基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機還包括橫跨設于所述工作機箱上方的第一支撐架和相對所述第一支撐架上下移動的第一升降裝置，所述第一升降裝置在所述工作機箱上的垂直投影位于所述測試平臺與所述測試板對接處，所述第一升降裝置下降至所述測試平臺與所述測試板的對接處時，使放置于所述測試平臺上的待測產品與所述測試板電性連接。5.根據權利要求4所述的基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機，其特征在于，所述第一升降裝置包括固設于所述第一支撐架上的第一氣缸以及與所述第一氣缸動力連接的第一壓板，所述第一壓板位于所述第一支撐架下方且相對于所述第一支撐架上下移動，所述第一氣缸推動所述第一壓板下降至所述測試平臺與所述測試板的對接處時，使放置于所述測試平臺上的待測產品與所述測試板電性連接。6.根據權利要求5所述的基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機，其特征在于，所述第一升降裝置還包括第一導柱，所述第一導柱豎向穿過所述第一支撐架且所述第一導柱與所述第一壓板固定連接，以使所述第一壓板沿豎直方向上下移動。7.根據權利要求4所述的基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機，其特征在于，所述基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機還包括橫跨設于所述工作機箱上方的第二支撐架和相對所述第二支撐架上下移動的第二升降裝置，所述第二升降裝置在所述工作機箱上的垂直投影位于所述磁性開關處，所述第二升降裝置下降至所述磁性開關處時，使所述測試板與所述斷短路測試模塊電性連接，所述第二升降裝置上升至遠離所述磁性開關時，使所述測試板與所述電容測試模塊電性連接。8.根據權利要求7所述的基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機，其特征在于，所述第二升降裝置包括固設于所述第二支撐架上的第二氣缸以及與所述第二氣缸動力連接的第二壓板，所述第二壓板位于所述第二支撐架下方且相對于所述第二支撐架上下移動，所述第二壓板為磁性材料，所述第二氣缸推動所述第二壓板下降至所述磁性開關處時，所述磁性開關的所述第一連接端與所述第二連接端導通、且所述第一連接端與所述第三連接端斷開，使所述測試板與所述斷短路測試模塊電性連接，所述第二氣缸拉動所述第二壓板上升至遠離所述磁性開關時，所述磁性開關的所述第一連接端與所述第三連接端導通、且所述第一連接端與所述第二連接端斷開，使所述測試板與所述電容測試模塊電性連接。9.根據權利要求1所述的基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機，其特征在于，所述基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機用于測試半成品觸摸屏的尺寸小于或者等于7寸。10.根據權利要求1所述的基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機，其特征在于，所述基于磁性開關的半成品觸摸屏測試機用于測試GFF、GF1或GF2結構的半成品觸摸屏。
【文檔編號】G01R31/28GK106019127SQ201610644422
【公開日】2016年10月12日
【申請日】2016年8月8日
【發明人】肖敏毅
【申請人】意力(廣州)電子科技有限公司