一種快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣的裝置及其方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及檢驗技術領域，具體是指一種快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣的裝置及其方法。
【背景技術】
[0002]石英玻璃與鉬片夾封的燈管在生產制造中不可避免的會遇到燈管慢漏的問題，SP燈管慢性漏氣，經過一段時間燈管內氣體會漏至燈管無法起跳和燃點，甚至氣體漏完。因此，較多生產廠家對燈管漏氣這一問題進行研究，并采取了相關措施。通常采取的是，為了更好的檢驗燈管漏氣，生產廠家提前做好燈管，然后對燈管進行存放，一般存放的周期為15天甚至更長時間，然后再對燈管檢漏，檢驗出漏氣的燈管，采用這種檢驗方法，周期長，且檢驗方法不可靠，在一定程度上，也給燈管生產廠家帶來較多的困擾。
[0003]基于此，研究并開發設計了一種快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣的裝置及方法。

【發明內容】

[0004]本發明的目的在于:提供一種快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣的裝置，實現增大燈管內部與外部的氣壓，加快燈管慢漏現象的出現，可以有效且快速的檢驗出漏氣燈管
[0005]本發明通過下述技術方案實現:一種快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣的裝置，所述快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣裝置為高壓艙體，所述高壓艙艙體位于艙體支架臺上，所述高壓艙體上設有高壓艙門、艙內增壓閥門、穩壓泄壓閥門。
[0006]進一步地，為了更好的實現本發明，還具有這樣的特征，所述高壓艙體為球形高壓艙。
[0007]進一步地，為了更好的實現本發明，還具有這樣的特征，所述艙體支架臺的上端形狀與高壓艙體的形狀相適配。
[0008]進一步地，為了更好的實現本發明，還具有這樣的特征，所述艙體支架臺的上端為圓弧端。
[0009]進一步地，為了更好的實現本發明，還具有這樣的特征，所述艙內增壓閥門、穩壓泄壓閥門設置的高壓艙體的同一側，且艙內增壓閥門位于穩壓泄壓閥門的上端。
[0010]進一步地，為了更好的實現本發明，還具有這樣的特征，所述高壓艙門所在側為艙內增壓閥門、穩壓泄壓閥門所在側的相對側。
[0011]進一步地，為了更好的實現本發明，還具有這樣的特征，所述高壓艙體(5)為方形艙體。
[0012]本發明還提供了快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣的方法，利用燈管內部與外部的氣壓差實現對燈管漏氣的快速檢驗，縮短檢驗周期。
[0013]本發明通過下述技術方案實現:一種快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣的方法，包括以下步驟:
[0014]I)將待測燈管抽真空，內部封裝惰性氣體；
[0015]2)將經步驟I)處理后的燈管置于高壓艙體內，高壓艙體與增壓栗連接，打開艙內增壓閥門對高壓艙體進行增壓；
[0016]3)待測燈管內部與外部氣壓相差300-600倍時，打開穩壓泄壓閥門，取出待測燈管；
[0017]4)采用高頻火花檢漏儀對待測燈管進行檢測。
[0018]進一步地，為了更好的實現本發明，還包括以下技術特征，所述步驟2)中將待測燈管放置在高壓艙體內5-8小時。
[0019]本發明與現有技術相比，具有以下優點及有益效果:
[0020](I)本發明通過設置高壓艙體，放置待測燈管，加大燈管內部與外部的氣壓差，利于快速檢出燈管是否漏氣。
[0021](2)本發明所采用的快速檢驗燈管漏氣的方法，通過對待測燈管抽真空，內部封裝惰性氣體，并置于高壓艙體內，通過增壓栗增加燈管外部的氣壓，進而氣管的內部與外部形成氣壓差，達到規定的氣壓差后，通過高頻火花檢漏儀可快速檢出漏氣的燈管。
[0022](3)本發明操作方法簡單，且可極大的縮短制作周期，提高產品的質量可靠性，解決制燈行業燈管漏氣的困擾。
【附圖說明】
[0023]圖1是本發明的結構示意圖；
[0024]其中:1-艙內增壓閥門、2-穩壓泄壓閥門、3-高壓艙門、4-艙體支架臺、5-高壓艙體。
【具體實施方式】
[0025]下面結合實施例對本發明作進一步地詳細說明，但本發明的實施方式不限于此。
[0026]實施例1:
[0027]本實施例的結構，如圖1、一種快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣的裝置，所述快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣裝置為高壓艙體5，所述高壓艙艙體5位于艙體支架臺4上，所述高壓艙體5上設有高壓艙門3、艙內增壓閥門1、穩壓泄壓閥門2。本發明高壓艙體3的設置，主要作用是便于放置待測燈管，且實現增強燈管內部與外部的氣壓差，進而便于進行快速檢驗是否漏氣；本發明中艙體支架臺4的設置，主要便于支撐高壓艙體5 ;其中艙內增壓閥門I的作用，實現增壓栗與高壓艙體5內部的連通；穩壓泄壓閥門2的作用是，當置于高壓艙體5內的待測燈管內部與外部的氣壓差達到規定值時，打開穩壓泄壓閥門2，實現高壓艙體5內部與外界的連通，且便于取出待測燈管。本發明中涉及到的其他結構或原理為所屬領域的公知常識，不再贅述。
[0028]實施例2:
[0029]本實施例在實施例1的基礎上，進一步限定，所述高壓艙體5為球形高壓艙，這里是對高壓艙體5的形狀進行限定，優選球形高壓艙，且所述艙體支架臺4的上端形狀與高壓艙體5的形狀相適配。所述艙體支架臺4的上端為圓弧端，本實施例中的其他部分與實施例I相同，不再贅述。
[0030]實施例3:
[0031]本實施例在上述實施例的基礎上，進一步限定，所述艙內增壓閥門1、穩壓泄壓閥門2設置的高壓艙體5的同一側，且艙內增壓閥門I位于穩壓泄壓閥門2的上端。這里對艙內增壓閥門1、穩壓泄壓閥門2的位置關系進行限定，主要便于操作，且便于待測燈管的取出與放入。本實施例中的其他部分與上述實施例相同，不再贅述。
[0032]實施例4:
[0033]本實施例在上述實施例的基礎上，進一步限定，所述高壓艙門3所在側為艙內增壓閥門1、穩壓泄壓閥門2所在側的相對側，這里對艙內增壓閥門1、穩壓泄壓閥門2的位置關系進行限定，主要便于操作，且便于待測燈管的取出與放入。本實施例中的其他部分與上述實施例相同，不再贅述。
[0034]實施例5:
[0035]本實施例在上述實施例的基礎上進一步限定，所述高壓艙體5為方形艙體。高壓艙體5的形狀可以有多種，可以根據需要進行選擇，可以為高壓方形艙體。且本實施例中的其他部分與上述實施例相同，不再贅述。
[0036]實施例6:
[0037]本實施例提供了一種快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣的方法，包括以下步驟:
[0038]I)將待測燈管抽真空，內部封裝惰性氣體；
[0039]2)將經步驟I)處理后的燈管置于高壓艙體5內，高壓艙體5與增壓栗連接，打開艙內增壓閥門I對高壓艙體5進行增壓，待測燈管放置在高壓艙體5內5-8小時；
[0040]3)待測燈管內部與外部氣壓相差300-600倍時，打開穩壓泄壓閥門2，取出待測燈管；
[0041]4)采用高頻火花檢漏儀對待測燈管進行檢測。
[0042]采用快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣的方法可有效減少慢漏燈管進入市場，且縮短了燈管的制作周期，能有效提高燈管產量的質量的可靠性，進一步有效解決制燈行業燈管漏氣產生的一系列困擾。
[0043]以上所述，僅是本發明的較佳實施例，并非對本發明做任何形式上的限制，凡是依據本發明的技術實質對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化，均落入本發明的保護范圍之內。
【主權項】
1.一種快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣的裝置，其特征在于:所述快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣裝置為高壓艙體(5)，所述高壓艙艙體(5)位于艙體支架臺(4)上，所述高壓艙體(5)上設有高壓艙門(3)、艙內增壓閥門(I)、穩壓泄壓閥門(2)。2.根據權利要求1所述的一種快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣的裝置，其特征在于:所述高壓艙體(5)為球形高壓艙。3.根據權利要求2所述的一種快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣的裝置，其特征在于:所述艙體支架臺(4)的上端形狀與高壓艙體(5)的形狀相適配。4.根據權利要求3所述的一種快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣的裝置，其特征在于:所述艙體支架臺(4)的上端為圓弧端。5.根據權利要求4所述的一種快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣的裝置，其特征在于:所述艙內增壓閥門(I)、穩壓泄壓閥門(2)設置的高壓艙體(5)的同一側，且艙內增壓閥門(I)位于穩壓泄壓閥門(2)的上端。6.根據權利要求5所述的一種快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣的裝置，其特征在于:所述高壓艙門(3)所在側為艙內增壓閥門(I)、穩壓泄壓閥門(2)所在側的相對側。7.根據權利要求1所述的一種快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣的裝置，其特征在于:所述高壓艙體(5)為方形艙體。8.一種快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣的方法，其特征在于，包括以下步驟: 1)將待測燈管抽真空，內部封裝惰性氣體； 2)將經步驟I)處理后的燈管置于高壓艙體(5)內，高壓艙體(5)與增壓栗連接，打開艙內增壓閥門(I)對高壓艙體(5)進行增壓； 3)待測燈管內部與外部氣壓相差300-600倍時，打開穩壓泄壓閥門(2)，取出待測燈管； 4)采用高頻火花檢漏儀對待測燈管進行檢測。9.根據權利要求8所述的一種快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣的方法，其特征在于:所述步驟2)中將待測燈管放置在高壓艙體(5)內5-8小時。
【專利摘要】本發明公開了一種快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣的裝置及方法，所述快速檢驗紫外線殺菌燈漏氣裝置為高壓艙體，所述高壓艙艙體位于艙體支架臺上，所述高壓艙體上設有高壓艙門、艙內增壓閥門、穩壓泄壓閥門，具體檢驗方法，包括以下步驟：1)將待測燈管抽真空，內部封裝惰性氣體；2)將經步驟1)處理后的燈管置于高壓艙體內，高壓艙體與增壓泵連接，打開艙內增壓閥門對高壓艙體進行增壓；3)待測燈管內部與外部氣壓相差300-600倍時，打開穩壓泄壓閥門，取出待測燈管；4)采用高頻火花檢漏儀對待測燈管進行檢測。本發明裝置的操作方法簡單，且可極大的縮短制作周期，提高產品的質量可靠性，解決制燈行業燈管漏氣的困擾。
【IPC分類】G01M3/40
【公開號】CN105067205
【申請號】CN201510439545
【發明人】劉忠強, 吳瓊
【申請人】寧波大榭開發區佑威光電有限公司
【公開日】2015年11月18日
【申請日】2015年7月17日