一種評價膜層附著力變化的設備和方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及顯示面板制造技術領域，尤其涉及一種評價膜層附著力變化的設備和方法。
【背景技術】
[0002]目前，隨著科技的發展，液晶顯示器成為了人們生活工作中必不可少的工具。然而，人們使用顯示面板的環境差異性越來越大，常溫常濕常壓下，顯示面板通常不會出現品質問題；但是在某些惡劣環境下，顯示面板中的彩膜層容易產生分離，導致產品出現間隙異常，產生氣泡不良。嚴重情況下，甚至出現彩膜基板與陣列基板裂開問題。因此，正確評估膜層間的附著力顯得尤為重要。
[0003]但是，目前對膜層間附著力的評價方法并無統一的標準。常用的一種方法為百格刀測試法，該方法使用小刀手動分割樣品，因此不能保證恒力分割樣品，且不能保證樣品分割面積大小一致，對于不同的樣品，也不能確保分割數量一致。分割之后，再使用膠帶粘附樣品，然后再確認被剝離膜層的數據，由于不能保證使膜層分開的力恒定，因此也無法用精確數值來評價膜層附著力變化，更不能有效地評價在惡劣環境下，膜層附著力的可靠性程度。
[0004]此外，現有的評價方法均使用顯示模組成品進行評價，不僅造成了資材浪費，也增加了批次性產品不良的風險，屬于后知后覺型評價，不利于產品品質改善。

【發明內容】

[0005]本發明的目的在于提供一種評價膜層附著力變化的設備和方法，以準確評價膜層附著力隨時間或外力變化的規律，評估產品在信賴性測試中出現不良的風險。
[0006]為解決上述技術問題，作為本發明的第一個方面，提供一種評價膜層附著力變化的設備，所述膜層設置在第一基板上，所述第一基板上設置有所述膜層的一側與第二基板相貼附，所述膜層被分割為多個單元，所述設備包括評價機臺，所述評價機臺包括相對設置的上固定機構和下固定機構，所述第二基板可拆卸地固定在所述上固定機構上，所述第一基板上未設置所述膜層的一側可拆卸地固定在所述下固定機構上，所述評價機臺還包括施力裝置，所述施力裝置能夠向所述上固定機構和/或所述下固定機構施加預定值的外力，以使得所述上固定機構和所述下固定機構之間產生互相遠離的相對移動。
[0007]優選地，所述施力裝置包括下拉機構，所述下拉機構設置在所述下固定機構下方，以對所述下固定機構施加預定值的拉力。
[0008]優選地，所述下拉機構包括可拆卸地設置在所述下固定機構下方的至少一個砝碼。
[0009]優選地，所述上固定機構包括上真空吸附盤，所述下固定機構包括下真空吸附盤。
[0010]優選地，所述設備還包括分割機臺，所述分割機臺包括載臺、設置在所述載臺上方的刀頭、和用于控制所述刀頭的切割壓力的壓力控制器，所述載臺用于放置所述第一基板，且所述第一基板上設置有所述膜層的一側朝向所述刀頭，所述分割機臺用于將所述膜層分割為多個單元。
[0011]優選地，所述刀頭上朝向所述載臺的一側設置有間隔均勻的多個刀片，所述刀頭能夠相對于所述載臺移動，且所述刀頭能夠繞安裝所述刀頭的安裝軸轉動。
[0012]優選地，所述評價機臺上還設置有定時計時器，所述定時計時器用于設定所述施力裝置施加拉力的時間。
[0013]優選地，所述第一基板上設置有所述膜層的一側與所述第二基板通過透明的膠體相貼附。
[0014]優選地，所述膜層為彩色濾光層。
[0015]優選地，所述設備還包括計算模塊，所述計算模塊用于:
[0016]建立坐標系，所述坐標系的橫軸X為外力或時間，縱軸I為膜層分離單元數；
[0017]在所述坐標系中繪制出坐標值為(xN，yN)的多個點，N為正整數；
[0018]根據上述坐標值，擬合獲取X與y的方程式y = kx+C，其中，k為斜率，C為常數。
[0019]優選地，所述設備還包括判定模塊，所述判定模塊用于根據在常態條件下和在信賴性測試條件下分別獲得的k值的差異來判斷被測試的樣品是否存在信賴性風險。
[0020]作為本發明的第二個方面，還提供一種利用上述設備評價膜層附著力變化的方法，包括以下步驟:
[0021]取第一測試樣品，所述第一測試樣品包括第一基板和設置在所述第一基板上的膜層；
[0022]將所述膜層分割成多個單元；
[0023]將所述第一基板上設置有所述膜層的一側與第二基板相貼附；
[0024]將所述第二基板可拆卸地固定在所述上固定機構上，將所述第一基板上未設置所述膜層的一側可拆卸地固定在所述下固定機構上；
[0025]所述施力裝置向所述上固定機構和/或所述下固定機構施加預定值的外力，以使得所述上固定機構和所述下固定機構之間產生互相遠離的相對移動；
[0026]以外力和時間中的一者為變量，另一者為定量，然后統計在變量處于不同值的條件下的膜層分離單元數，得到膜層分離單元數與變量的關系。
[0027]優選地，所述施力裝置包括下拉機構，所述下拉機構設置在所述下固定機構下方，所述外力指所述下拉機構對所述下固定機構施加的拉力。
[0028]優選地，所述得到膜層分離單元數與變量的關系的步驟包括:
[0029]建立坐標系，坐標系的橫軸X為變量，縱軸I為膜層分離單元數，在坐標系中繪制出坐標值為(xN，yN)的多個點，N為正整數；
[0030]根據上述坐標值，擬合獲取膜層分離單元數與變量的方程式:y = kp+Ci，其中，Ii1為斜率，(^為常數。
[0031 ] 優選地，所述方法還包括:
[0032]取第二測試樣品，所述第二測試樣品也包括第一基板和設置在所述第一基板上的膜層；
[0033]將所述膜層分割成多個單元；
[0034]將膜層被切割后的第二測試樣品放置在信賴性測試條件中預定時間；
[0035]將所述第一基板上設置有所述膜層的一側與第二基板相貼附；
[0036]將所述第二基板可拆卸地固定在所述上固定機構上，將所述第一基板上未設置所述膜層的一側可拆卸地固定在所述下固定機構上；
[0037]所述施力裝置向所述上固定機構和/或所述下固定機構施加預定值的外力，以使得所述上固定機構和所述下固定機構之間產生互相遠離的相對移動；
[0038]以外力和時間中的一者為變量，另一者為定量，然后統計在變量處于不同值的條件下的膜層分離單元數，得到信賴性測試條件下膜層分離單元數與變量的方程式:y =k2x+C2，其中，k2為斜率，C2為常數；
[0039]根據公式Λ = [0^2-10/\]*100%，計算環境變化前后膜層附著力變化的快慢情況，當△小于等于預定百分比時，判定樣品沒有信賴性風險。
[0040]優選地，所述信賴性測試條件包括溫度大于120°C、濕度大于95%、以及氣壓大于0.1MPa中的任意一項或多項，所述預定時間大于12小時。
[0041]優選地，所述設備還包括分割機臺，所述分割機臺包括載臺、設置在所述載臺上方的刀頭、和用于控制所述刀頭的切割壓力的壓力控制器，所述載臺用于放置所述第一基板，且所述第一基板上設置有所述膜層的一側朝向所述刀頭，所述分割機臺用于將所述膜層分割為多個單元，
[0042]在將所述膜層分割成多個單元的步驟中，利用所述壓力控制器控制所述刀頭以恒定的壓力將所述膜層分割成多個單元。
[0043]優選地，以時間為定量，以拉力為變量，統計不同拉力條件下的膜層分離單元數，得到膜層分離單元數與拉力的關系。
[0044]優選地，以拉力為定量，以時間為變量，統計不同時間條件下的膜層分離單元數，得到膜層分離單元數與時間的關系。
[0045]與現有技術相比，本發明提供的用于評價膜層附著力變化的設備和方法具有以下有益效果:
[0046]采用樣品單品(如:彩膜基板)進行評價，減少了對資材的浪費，并且能夠更早預知廣品品質風險；
[0047]能夠對膜層進行恒力分割，且形成分割面積大小相等的多個單元進行評價