標準光源以及測量方法
【專利摘要】提供一種標準光源以及測量方法，是適合于具有與以往的標準光源不同的配光特性的光源的總光通量測量的、具有更簡單結構的新的標準光源以及使用了該標準光源的測量方法。標準光源(10)包含發光部(14)、與發光部電連接的供電部(18)以及限制部(16)，該限制部(16)設置于發光部與供電部之間，限制從發光部放射的光向供電部一側傳播。限制部的被來自發光部的光入射的表面構成為進行漫反射。
【專利說明】標準光源以及測量方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種用于測量光源的總光通量等光學特性的標準光源以及使用了該標準光源的測量方法。
【背景技術】
[0002]以往，作為光源、照明器具的光學特性之一，評價總光通量(流明:1m)。在通常的總光通量測量中，使用該總光通量的值已知的(即，預先校正過的)標準光源。更具體地說，在相同的測量系統(典型地，積分球)中，通過將在點亮標準光源的狀態下測量的總光通量(或者照度)與在點亮測量對象光源的狀態下測量的總光通量(或者照度)進行比較，來計算測量對象光源的總光通量的值。
[0003]近年來，LED(Light Emitting Diode:光電 二極管)、有機 EL (ElectroLuminescence:電致發光)等新的發光設備正在普及。這種發光設備具有與以往的突光燈、白熾燈泡等不同的配光特性。隨著這種配光特性的差異，提出了適合于測量LED、有機EL等的總光通量的新的標準光源(例如，入江優他、「2π配光全光束標準光源O検討」、平成23年度(第44回)照明學會全國大會予稿集11-6、2011年9月，神門賢二他、「高強度LED校正用標準LED O開発」、平成23年度(第44回)照明學會全國大會予稿集11_9、2011年9月)。
[0004]在上述文獻中提出的標準光源是以與LED的配光特性相應地專門設計為前提的。這種標準光源與以往的燈泡型的標準光源不同，其結構復雜化。另外，上述文獻所公開的標準光源包含光源部和積分球，因此作為標準光源，非發光的結構物相對變大。

【發明內容】

[0005]本發明是考慮這種狀況而完成的，其目的在于提供一種適合于測量具有與以往的標準光源不同的配光特性的光源的總光通量的、結構更簡單的新的標準光源以及使用了該標準光源的測量方法。
[0006]本發明的一個方面的標準光源具備:發光部；供電部，其與發光部電連接；以及限制部，其設置于發光部與供電部之間，限制從發光部放射的光向供電部一側傳播。限制部的被來自發光部的光入射的表面構成為進行漫反射。
[0007]優選的是，限制部的、與通過發光部以及供電部的光軸垂直的方向上的截面面積是根據發光部的配光分布來決定的。
[0008]優選的是，限制部具有被來自發光部的光入射的平坦的表面。
[0009]或者，優選的是，限制部具有被來自發光部的光入射的凹狀的表面。
[0010]優選的是，還具備罩，該罩覆蓋包含限制部的表面和發光部的空間。
[0011]本發明的另一方面的測量方法具備以下步驟:準備校正過的標準光源；將標準光源安裝到測量裝置，并且在點亮的狀態下測量標準光源的光學特性值；將測量對象的光源安裝到測量裝置，并且在點亮的狀態下測量測量對象的光源的光學特性值；以及根據標準光源的測量得到的光學特性值、測量對象的光源的測量得到的光學特性值以及對標準光源附加值所得到的光學特性值，來決定測量對象的光源的光學特性值。標準光源包括:發光部；供電部，其與發光部電連接；以及限制部，其設置于發光部與供電部之間，限制從發光部放射的光向供電部一側傳播。限制部的被來自發光部的光入射的表面構成為進行漫反射。
[0012]根據與附圖相關聯地理解的與本發明有關的以下詳細說明可清楚本發明的上述和其它目的、特征、方面以及優點。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0013]圖1A和IB是表示市場上銷售的LED燈泡的配光特性的測量例的圖。
[0014]圖2A~2C是表示總光通量的測量系統的示意圖。
[0015]圖3A和3B是表示利用使用了積分球的測量系統和使用了積分半球的測量系統的總光通量的測量結果的一例的圖。
[0016]圖4A和4B是用于說明實施方式I的標準光源的示意圖。
[0017]圖5A和5B是用于說明實施方式2的標準光源的示意圖。 [0018]圖6是用于說明實施方式3的標準光源的示意圖。
[0019]圖7是表示使用本實施方式的標準光源的針對樣品光源的總光通量測量的處理過程的流程圖。
[0020]附圖標記說明
[0021]1、2、120 樣品光源;10、30、30A、110:標準光源;12、32:主體部;14、34:發光部；16,36:配光控制板；16a、36a:表面;18、38:電極部;20、22、40、42:配光特性；50:保護圓頂罩；100:積分球；102:光源支承部;104、204:擋板；106:擋板支承部;108、208:光譜測量器；200:積分半球；202:平面鏡；230虛像。
【具體實施方式】
[0022]參照附圖詳細說明本發明的實施方式。此外，對圖中相同或者相當部分附加相同的附圖標記而不重復其說明。
[0023]<A.【背景技術】〉
[0024]首先，說明與本實施方式相關聯的【背景技術】。
[0025]例如，市場上銷售的LED燈泡的配光特性主要根據其發光部的形狀等區分為4 π配光與2π配光。“4π配光”是指從光源放射的光束在以該光源為中心的4 π空間(從光源觀察處于4 31的立體角的范圍)內存在那樣的配光特性，“2 31配光”是指從光源放射的光束僅在以該光源為中心的2π空間(從光源觀察處于2π的立體角的范圍)內存在那樣的配光特性。也就是說，沿著光源的放射軸(光軸)僅向前側放射光束的光源的配光特性為2π配光，除了前側以外還向后側放射光束的光源的配光特性為4π配光。
[0026]圖1A和IB示出對市場上銷售的LED燈泡中的具有4 配光和2 配光的配光特性的兩個樣品光源I和2實際進行測量得到的配光特性。作為圖1A示出的樣品光源I (4 Ji配光)，采用松下制LED燈泡(〈全方向型 > 形狀相當于亮度燈泡40W(4851m)/編號0^706)，作為圖18示出的樣品光源2(2 31配光)，采用松下制LED燈泡(〈下方向型〉形狀相當于亮度燈泡60W(8251m)/編號LDA9DH)。
[0027]在圖1A和IB中同時示出用于總光通量測量的標準光源的配光特性的一例。通常，作為標準光源，使用總分光輻射通量已知的具有4 π配光的配光特性的標準燈泡。作為該標準光源，采用Gilway公司制187 (帶透鏡的超小型氪燈)。
[0028]如圖1A所示，4 π配光的LED燈泡具有與標準光源的配光特性類似的配光特性，但是如圖1B所示，2 π配光的LED燈泡具有與標準光源的配光特性大不相同的配光特性。
[0029]在進行光源、照明器具(以下總稱為“樣品光源”)的總光通量測量的情況下，通常使用組合了積分球與光譜測量器的球形光通量計。也就是說，使用這種球形光通量計和標準光源(典型地，圖1A示出的4 π配光)來測量樣品光源的總光通量。在使用這種測量系統對具有與標準光源的配光特性大不相同的配光特性的2 31配光的LED燈泡(例如圖1B示出的樣品光源2)的總光通量進行測量的情況下，受到積分球大小的影響、積分球內部的結構物的影響而可能產生測量誤差。
[0030]圖2Α?2C是表示總光通量的測量系統的示意圖。圖2Α和2Β示出使用積分球的結構例，圖2C示出使用積分半球的結構例。
[0031]在圖2Α和2Β示出的測量系統中，使用光源支承部102在積分球100的內部配置光源(標準光源和樣品光源)，并且在點亮光源的狀態下，從積分球100的內壁面的一部分取出光，由光譜測量器108測量該部分的照度。此時，在兩者之間配置擋板104，以避免從光源放射的光直接入射到光譜測量器108。擋板104被擋板支承部106定位在規定的位置。
[0032]圖2Α示出將具有4π配光的配光特性(附圖標記112的虛線表示的配光分布)的標準光源110安裝于光源支承部102的例子。在該例中，從標準光源110放射的光中的向標準光源110的后方(紙面上方向)放射的光(或者該光在積分球100的內壁面反射而產生的一次反射光)的一部分入射到光源支承部102和/或者擋板支承部106。例如，從標準光源110放射的一部分光在積分球100的內壁面反射(附圖標記114)，在光源支承部102進一步反射(附圖標記116)。也就是說，在積分球100內點亮具有4 Ji配光的配光特性的標準光源Iio的情況下，容易受到積分球100內部的結構物的反射、吸收的影響。
[0033]圖2Β示出將具有2π配光的配光特性(附圖標記122的虛線表示的配光分布)的樣品光源120安裝于光源支承部102的例子。在樣品光源120的情況下,不存在向樣品光源120的后方(紙面上方向)放射的光，因此不容易產生圖2Α示出那樣的光源支承部102和/或擋板支承部106處的光的反射、吸收。因此，可以說在2 π配光的樣品光源120的總光通量測量中，與4 π配光的標準光源110的總光通量測量相比，積分球100內部的結構物的影響小。并且，從2JI配光的樣品光源120向水平方向(紙面左右方向)放射的光與4JI配光的標準光源110相比極小。因此，在樣品光源120的水平方向存在的擋板104的影響也變小。
[0034]如圖2Α和2Β所示，在測量4 配光的標準光源110時產生的積分球100內部產生的損失比例與在測量2 π配光的樣品光源120時產生的積分球100內部產生的損失比例不同。也就是說，由于配光特性大不相同，由此無法保持測量條件的相同性。
[0035]另一方面，在圖2C中，在使用了積分半球200的測量系統中，在平面鏡202的中心部配置光源。在點亮光源的狀態下，從積分半球200的內壁面的一部分取出光，由光譜測量器208來測量該部分的照度。此時，在兩者之間配置擋板204，以避免從光源放射的光直接入射到光譜測量器208。此外，使用了積分半球200的測量系統的詳細說明請參照日本特開平06-167388號公報、日本特開號公報等。
[0036]如圖2C所示，在光學上，通過平面鏡202生成被積分半球200包圍的積分空間(實像)的虛像230。通過積分半球200和虛像230，使用了積分半球200的測量系統實質上也實現與圖2A和2B示出的積分球100所提供的積分空間相同的積分空間。除此以外，在使用了積分半球200的測量系統中，不使用光源支承部102就能夠將光源配置在中心部。如果從光學方面來看，與圖2A和2B示出的積分球100不同，不存在從內壁面突出的光源支承部102，能夠降低光源支承部102的影響。
[0037]也就是說，即使在安裝2 配光的樣品光源120并點亮的情況下，由于虛像230，也與安裝并點亮4π配光的標準光源110的情況同樣地照明內壁面整體，因此認為雖然配光特性不同，但是給測量結果帶來的影響變得更小。
[0038]接著，示出利用各使用了積分球的測量系統和使用了積分半球的測量系統對樣品光源的總光通量進行測量得到的結果的一例。圖3Α和3Β是表示利用使用了積分球的測量系統和使用了積分半球的測量系統的總光通量的測量結果的一例的圖。圖3Α示出4 π配光的兩種LED燈泡(LED燈泡Al和A2)的測量結果，圖3B示出2 Ji配光的兩種LED燈泡(LED燈泡BI和B2)的測量結果。
[0039]在圖3A和3B中，為了評價測量系統的差異對測量精度的影響，以能夠對比的方式示出相同的標準光源(4π配光)的條件下使用了圖2C示出的積分半球200的測量系統(一種)以及使用了圖2Α和2Β示出的積分球100的測量系統(四種)這共計五個測量系統各自的測量結果。作為使用了積分球100的測量系統，使用其直徑為2.0mU.6m、1.0m這三種不同的積分球，并且通過使用2mm直徑的供電線懸掛來將樣品光源配置在積分球的中心。其中，關于直徑為2.0m的積分球，對使用直徑40mm的光源支承部102將樣品光源配置于積分球的中心的情況也進行了測量。
[0040]圖3A和3B示出對樣品光源與測量系統的各組合進行多次測量、對由此得到的測量結果進行統計處理所得到的結果。圖3A和3B的縱軸示出通過測量得到的總光通量除以對應的規格(總光通量)得到的比例(相對總光通量)。意味著該比例越小則測量系統中的損失越大。
[0041]在圖3A和3B中，作為誤差條，示出擴展不確定度(包含系數k=2)的范圍。
[0042]首先，如圖3A所示，關于具有與標準燈泡相同的4 配光的配光特性的LED燈泡Al和A2，可知在任意測量系統中均以誤差在±1%以內一致。也就是說，如果標準燈泡和樣品光源的配光特性均為4 π配光，則可以說不受積分球大小、結構影響而能夠適當地測量總光通量。
[0043]與此相對，關于具有與標準燈泡不同的2 31配光的配光特性的LED燈泡BI和Β2，如圖3Β所示，可知依賴于積分球大小、結構而總光通量的測量值受到影響。也就是說，如參照圖2Α和2Β說明那樣，作為原因可舉出光源支承部的反射、吸收以及由積分空間的小型化引起的損失比例相對增加等。即，LED燈泡BI和Β2的總光通量的測量值產生依賴于積分球大小的傾向的理由在于，標準燈泡與樣品光源之間的配光特性的差異。
[0044]這樣，存在以下問題:在使用組合積分球與光譜測量器的球形光通量計對配光特性與標準燈泡不同的LED燈泡、照明器具等樣品光源的總光通量進行測量的情況下，產生相對大的測量誤差。
[0045]〈B.概要 >
[0046]根據本實施方式，提供一種適合于測量配光特性與以往的標準光源不同的LED燈泡等光源的總光通量的標準光源。如在后文中所述，通過更簡單的結構來實現本實施方式的標準光源。
[0047]更具體地說，本實施方式的標準光源包括:發光部；供電部，其與發光部電連接；以及限制部，其設置于發光部與供電部之間，限制從發光部放射的光向供電部一側傳播。該限制部的被來自發光部的光入射的表面構成為進行漫反射。
[0048]通過這種結構，即使在采用具有4 π配光的配光特性的發光部的情況下，也由于通過限制部限制光向后方傳播，因此基本上能夠實現接近2 π配光的配光特性。即，能夠實現維持與以往的由白熾燈泡、鹵素燈泡等構成的標準光源類似的結構并且適合于測量LED燈泡等的總光通量的標準光源。
[0049]以下，作為具體實現例而說明實施方式I?3。此外，還有時將實施方式I?3總稱為“本實施方式”。
[0050]〈C.實施方式1>
[0051]圖4Α和4Β是用于說明實施方式I的標準光源10的示意圖。圖4Α示出標準光源10的截面示意圖，圖4Β示出標準光源10的配光特性。
[0052]參照圖4Α，標準光源10包括主體部12、發光部14、配光控制板16以及電極部18。
[0053]主體部12與配光控制板16和電極部18 —體地構成并且具有能夠安裝發光部14的結構。主體部12與電極部18和發光部14電連接。
[0054]發光部14是放射光的部位，基本上具有4 配光的配光特性。作為發光部14，能夠采用白熾燈泡或者鹵素燈泡那樣的使用了燈絲的光源。或者，也可以使用氙氣(Xe)燈、放電燈等。并且，根據用途，還能夠采用產生紅外線的加熱器。
[0055]將電極部18安裝到未圖示的插座，將從該插座提供的電力提供給發光部14。也就是說，電極部18相當于與發光部14電連接的供電部。典型地，作為電極部18，采用具有規定標準(例如E型)的形狀的燈口。
[0056]配光控制板16設置于發光部14與電極部18(供電部)之間，作為限制從發光部14放射的光向電極部18側傳播的限制部而發揮功能。配光控制板16接近電極部18地設置于主體部12。配光控制板16控制發光部14的后方側(紙面下側)的配光分布。
[0057]配光控制板16的被來自發光部14的光入射的平坦的表面16a構成為進行漫反射。也就是說，在表面16a形成有漫反射層，由此，能夠降低在表面16a反射的來自發光部14的光再次入射到發光部14的現象(回歸反射)的發生比例。通過這種結構，能夠降低發光部14(光源)自吸收的比例。作為該漫反射層，優選使用漫反射率高且耐熱性良好的樹脂散射材料(典型地，Spectralon?等)。這是考慮到由于發光部14點亮而配光控制板16的表面也會變為較高溫(作為一例，300°C左右)。作為代替的結構，也可以使用以硫酸鋇為主體的涂布劑來形成漫反射層。此外，當考慮作為標準光源的配光特性時，作為配光控制板16的表面16a，使用鏡面反射層并不理想。
[0058]配光控制板16用于限制從發光部14放射的光向后方傳播,因此根據發光部14的配光特性來決定其表面16a的大小。也就是說，配光控制板16 (限制部)的、與通過發光部14和電極部18 (供電部)的軸Xl垂直的方向(軸X2)上的截面面積(表面面積)是根據發光部14的配光分布來決定的。更具體地說，配光控制板16的半徑是根據表面16a的面內方向上的與發光部14的配光特性的交叉點來決定的。當然，如果配光控制板16的表面面積充分大，則能夠完全妨礙從發光部14放射的光向后方傳播,但是,另一方面，標準光源10所包含的非發光的結構物的比例變大，在測量精度、處理等方面可能產生不利影響。因此，優選根據發光部14的配光特性來將配光控制板16的截面面積(表面面積)設為合理的大小。
[0059]通過采用圖4A示出的結構，如圖4B示出那樣能夠改善作為標準光源10的配光特性。即，圖4B示出在不設置配光控制板16的情況下產生的配光特性22(虛線)以及在設置配光控制板16的情況下產生的配光特性20 (實線)。當將配光特性20與配光特性22進行比較時，可知通過設置配光控制板16，標準光源10向后方(紙面下方向)放射的光的比例降低，整體上更多的光向標準光源10的前方(紙面上方向)放射。也就是說，通過配光控制板16對從發光部14放射的光的分布進行控制，能夠實現更接近2 31配光的配光特性。
[0060]圖4A示出的標準光源10的總光通量或者總分光輻射通量被按照公知的配光測量法附加值(校正)。而且，作為具有對各標準光源10附加值而得到的總光通量、總分光輻射通量的值的標準燈泡，使用于總光通量測量。
[0061]通過使用這種具有更接近2 π配光的配光特性的標準光源10來進行總光通量測量，能夠以更高精度測量具有2 π配光的樣品光源的總光通量。
[0062]<D.實施方式2>
[0063]接著，例示使更多的光向前方放射而能夠實現完全的2 31配光的結構。圖5A和5B是用于說明實施方式2的標準光源30的示意圖。圖5A示出標準光源30的截面示意圖，圖5B示出標準光源30的配光特性。
[0064]參照圖5A，標準光源30包括主體部32、發光部34、配光控制板36以及電極部38。
[0065]主體部32、發光部34、電極部38與上述實施方式I的標準光源10的主體部12、發光部14、電極部18相同，因此不反復進行詳細說明。
[0066]配光控制板36具有被來自發光部34的光入射的凹狀的表面36a。表面36a構成為進行漫反射。更具體地說，在表面36a形成有漫反射層。
[0067]配光控制板36具有相對于發光部34彎曲的結構，將該彎曲的曲率設定為實現目標配光特性所需的值。也就是說，配光控制板36限制從發光部34放射的光向后方傳播并且使入射到其表面36a的光向前方反射，由此實現更完全的2 π配光的配光特性。在圖5Α示出的例子中，構成為配光控制板36的周邊部(端部)所定義的平面(包含軸Χ2的平面)與發光部34的中心部交叉。通過采用這種凹狀結構，能夠使從與軸Xl正交的方向(軸Χ2方向)起發光部34向后方放射的光在表面36a反射而向前方再次放射。
[0068]通過采用圖5A示出的結構，如圖5B所示那樣能夠改善作為標準光源30的配光特性。即，圖5B示出在不設置配光控制板36的情況下產生的配光特性42(虛線)以及在設置配光控制板36的情況下產生的配光特性40 (實線)。當將配光特性40與配光特性42進行比較時，可知通過設置配光控制板36，能夠將標準光源10向后方(紙面下方向)放射的光全部變換為向前方(紙面上方向)放射的成分。也就是說，通過配光控制板36控制從發光部34放射的光的分布，能夠實現2 31配光的配光特性。[0069]圖5A示出的標準光源30的總光通量或者總分光輻射通量被按照公知的配光測量法附加值(校正)。而且，作為具有對各標準光源30附加值得到的總光通量、總分光輻射通量的值的標準燈泡，使用于總光通量測量。
[0070]通過使用這種具有2 π配光的配光特性的標準光源30來進行總光通量測量，能夠以更高精度測量具有2π配光的樣品光源的總光通量。
[0071]<Ε.實施方式3>
[0072]在上述實施方式I和2中，當形成于配光控制板表面的漫反射層污損時，需要再次進行校正。因此，作為實施方式3，說明用于防止這種配光控制板的表面污損的結構。
[0073]圖6是用于說明實施方式3的標準光源30Α的示意圖。圖6示出標準光源30Α的截面示意圖。參照圖6，關于標準光源30Α，與圖5Α示出的標準光源30相比，相當于還追加了保護圓頂罩50的結構。
[0074]保護圓頂罩50由使從發光部34放射的光透過的透光性的材質構成。其中，由于之后對總光通量或者總分光輻射通量附加值(校正)，因此并不需要必須提高構成保護圓頂罩50的材質的透光度。這樣,保護圓頂罩50保護發光部34和配光控制板36。也就是說，保護圓頂罩50相當于覆蓋包含配光控制板36的表面36a和發光部34的空間的罩。
[0075]通過設置這種保護圓頂罩50，能夠防止配光控制板36的表面36a和發光部34的污損，能夠防止由于污損而精度下降。
[0076]此外，圖6示出與實施方式2的標準光源30類似的結構，但是實施方式3的技術思想還能夠應用于圖4A示出的實施方式I的標準光源10。
[0077]〈F.其它實施方式>
[0078]本實施方式的標準光源能夠通過配光控制板的有無來切換4 31配光與2 31配光，因此標準光源的廠商等也可以統一地制造主體部、發光部、電極部共通的標準燈泡，并且根據所要求的配光特性來追加還附加配光控制板的工序。通過采用這種制造方法，能夠降低標準光源的制造成本。
[0079]此外，在預先認定的試驗處、校正單位對這樣制造出的光源的總光通量或者總分光輻射通量附加值(校正)，之后作為標準光源而出廠。
[0080]<G.測量過程〉
[0081]接著，說明使用了本實施方式的標準光源的針對樣品光源的總光通量測量的處理過程的一例。
[0082]圖7是表示使用了本實施方式的標準光源的針對樣品光源的總光通量測量的處理過程的流程圖。本處理過程包含對標準光源的校正以及使用校正過的標準光源的針對樣品光源的測量這兩個階段的過程。
[0083]更具體地說，參照圖7，首先，將更上級的標準器(標準光源)安裝于校正用測量裝置，在點亮狀態下測量光學特性值(總光通量或者總分光輻射通量)(步驟S2)。接著，將本實施方式的標準光源安裝于相同的校正用測量裝置，在點亮狀態下測量光學特性值(總光通量或者總分光輻射通量)(步驟S4)。然后，根據在步驟S2中測量得到的光學特性值和在步驟S4中測量得到的光學特性值的相對關系以及對更上級的標準器(標準光源)附加值所得到的光學特性值，來決定標準光源的光學特性值(總光通量或者總分光輻射通量)(步驟S6)。此外，也可以多次反復進行步驟S4的處理。另外，步驟S2與步驟S4的執行順序也沒有特別限定。由此，完成對標準光源的校正處理。這些步驟S2?S6相當于準備校正過的標準光源的工序。然后，使用該校正后的標準光源來進行樣品光源的測量。
[0084]更具體地說，將校正后的標準光源安裝于測量裝置，在點亮狀態下測量光學特性值(總光通量或者總分光輻射通量)(步驟S12)。即，執行以下工序:將標準光源安裝于測量裝置，并且在點亮的狀態下測量該標準光源的光學特性值。接著，將測量對象的樣品光源安裝于相同的測量裝置，在點亮狀態下測量光學特性值(總光通量或者總分光輻射通量)(步驟S14)。即，執行以下工序:將測量對象的樣品光源安裝于測量裝置，并且在點亮的狀態下測量該樣品光源的光學特性值。
[0085]然后，根據在步驟S12中測量得到的光學特性值和在步驟S14中測量得到的光學特性值的相對關系以及進一步對標準光源附加值所得到的值，來決定樣品光源的光學特性值(總光通量或者總分光輻射通量)(步驟S16)。即，執行以下工序:根據標準光源的測量得到的光學特性值、樣品光源的測量得到的光學特性值以及對標準光源附加值所得到的光學特性值，來決定樣品光源的光學特性值。此外，也可以多次反復進行步驟S14的處理。另夕卜，步驟S12和步驟S14的執行順序也沒有特別限定。由此，完成對樣品光源的測量處理。
[0086]通常，在預先認定的試驗處、校正單位執行圖7示出的步驟S2?S6，由測量樣品光源的各用戶執行步驟S12?S16。典型地，應用于光源、照明裝置的制造生產線上的產品或者半成品的抽樣調查等。
[0087]〈H.作用效果〉
[0088]根據本實施方式的標準光源，能夠維持較簡單的結構并且實現適合于LED燈泡等具有2π配光的配光特性的樣品光源的配光特性。由此，能夠以更高精度進行LED燈泡等的總光通量測量。
[0089]根據上述說明，本實施方式的標準光源以及使用了該標準光源的測量方法所涉及的除此以外的優點變得更清楚。
[0090]詳細說明示出了本發明的實施方式，但是這僅是用于例示，并非用于限定，應清楚地理解為發明的范圍根據附加的權利要求來解釋。
【權利要求】
1.一種標準光源,具備: 發光部； 供電部，其與上述發光部電連接；以及 限制部，其設置于上述發光部與上述供電部之間，限制從上述發光部放射的光向上述供電部一側傳播， 其中，上述限制部的被來自上述發光部的光入射的表面構成為進行漫反射。
2.根據權利要求1所述的標準光源，其特征在于， 上述限制部的、與通過上述發光部以及上述供電部的光軸垂直的方向上的截面面積是根據上述發光部的配光分布來決定的。
3.根據權利要求1所述的標準光源，其特征在于， 上述限制部具有被來自上述發光部的光入射的平坦的表面。
4.根據權利要求1所述的標準光源，其特征在于， 上述限制部具有被來自上述發光部的光入射的凹狀的表面。
5.根據權利要求1?4中的任一項所述的標準光源，其特征在于， 還具備罩，該罩覆蓋包含上述限制部的表面和上述發光部的空間。
6.一種測量方法，具備以下步驟: 準備校正過的標準光源； 將上述標準光源安裝到測量裝置，并且在點亮的狀態下測量上述標準光源的光學特性值； 將測量對象的光源安裝到上述測量裝置，并且在點亮的狀態下測量上述測量對象的光源的光學特性值；以及 根據上述標準光源的測量得到的光學特性值、上述測量對象的光源的測量得到的光學特性值以及對上述標準光源附加值所得到的光學特性值，來決定上述測量對象的光源的光學特性值， 其中，上述標準光源包括: 發光部； 供電部，其與上述發光部電連接；以及 限制部，其設置于上述發光部與上述供電部之間，限制從上述發光部放射的光向上述供電部一側傳播， 其中，上述限制部的被來自上述發光部的光入射的表面構成為進行漫反射。
【文檔編號】G01M11/02GK103994874SQ201410052143
【公開日】2014年8月20日 申請日期:2014年2月14日 優先權日:2013年2月14日
【發明者】大久保和明 申請人:大塚電子株式會社