專利名稱：提高測試密度的測試方法
技術領域：
本發明是一種提高測試密度的測試方法，特別是指一種可大幅降低測試成本及提高測試密度的方法。
參閱

圖1所述，傳統的印刷電路板的測試治具，其包括有一針板10、多數個探測針12及夾板14。該針板I0上預設有對應待測物11(本實施例為印刷電路板)的待測點13位置的針孔16，多數個探針14是由探針套筒18、針筒20、彈簧22及針體24所組成。探針套筒18是插置于針板10的預設針孔16內，其一端設有導線19，用以將訊號傳遞至測試機(圖未顯示)；彈簧22是容置于針筒20內，針體24是插置于針筒20內，通過彈簧22的伸縮力，使針體24在針筒20內具有彈性伸縮的回復力，而該針筒20是固定于探針套筒18內，完成將整個探測針12固定于針板10上。夾板14上亦預設有與針板10的針孔16相對應的夾孔26，而針體24是穿過夾板14的夾孔26，凸出于夾板14，并穿過頂板15預設的穿孔17。將印刷電路板11設置于頂板15上方，通過測試機具將印刷電路板11的待測點13與探測針12的針體24接觸，而將電訊號依序傳遞至彈簧22、探針套筒18，由探針套筒18底部連接的導線19傳遞至測試機上，由測試機判定待測點是否導通，以完成印刷電路板11的測試作業。傳統的測試治具具有如下的缺點1、由于探測針12與待測物11的待測點13接觸時，必需具有彈性回復的伸縮力，以防止損壞待測點13的電性，因此，針體24必需設于具有彈簧22的針筒20內，使針體24被壓縮后，可自動彈伸回復，造成整個探測針12的體積無法制成相當細小，或將其制成相當細小時，其相對的成本非常高昂，以致造成測試成本的提高及無法提升測視密度。
2、由于探針套筒18需配合探測針12的尺寸設計，因此，其尺寸亦相對地受到限制，以致針板10的針孔16的整體密度無法提高，將造成無法測試高密度待測點13的電路板11。
3、印刷電路板11的待測點13的電訊號是通過針體24、彈性元件22、套筒20、探針套筒18等元件彼此組合的電接觸傳遞，在經過多道的接觸傳遞后，將造成訊號傳遞不良的現象，以致影響印刷電路板的測試品質，尤其在測試高密度的待測點時，其效果更佳不彰。
4、探測針12是固定于針板10上無法拆卸，因此，當整批料號的印刷電路板測試完畢之后，針板10及多數的探測針12將無法再行使用，造成測試成本的提高及資源的浪費。
5、探測針12是垂直式地與印刷電路板11接觸，因此，若印刷電路板11的多數個待測點13密度高時，必須將探測針制成相當細小，造成探測針12的制造成本相當高。
本發明的主要目的是提供一種提高測試密度的測試方法，通過提供一種可提高測試密度的治具，克服現有技術的弊端，達到制造便利、有效降低生產成本、提高測試的傳導性及可回收測試治具的再用的目的。
本發明的目的是這樣實現的一種提高測試密度的測試方法，其特征是它包括下列步驟(1)提供多數個針體，該至少一針體是以傾斜方式設置，使其電連接于該待測物的待測點；(2)提供多數個彈性元件，該每一彈性元件設有第一端點及第二端點，該第一端點是位于該針體下方，使該每一針體具有彈性回復力；(3)提供多數個導電元件，該每一導電元件設有上端點及下端點，該每一導電元件的上端點是分別電連接于相對應的彈性元件的第二端點，將測試訊號通過由該導電元件傳遞至測試機。
該彈性元件是設置于一針板裝置的針孔內。該針板裝置布設有對應于該待測物的多數個待測點的針孔。該針板裝置密布有網格狀縱橫交錯排列的針孔，該彈性元件是設置于對應于該待測物的多數個待測點的針孔內。該導電元件為導線。該每一針體是以傾斜方式穿設于一夾板裝置的夾孔內。該夾板裝置設有軟性板，該針體刺穿該軟性板，而被該軟性板夾持固定住。該彈性元件的第一端點具有內徑縮小的拖抵部導正該探測針。通過將針體以傾斜方式接觸待測物的待測點，可測試高密度待測點的待測物。
下面結合較佳實施例和附圖進一步說明。
圖2為本發明的測試治具的分解示意圖。
圖3為本發明的測試治具的組合剖視示意圖。
圖4為圖3的使用動作示意圖。
圖5為本發明的實施例2的測試治具的分解示意圖。
多數條彈性元件34，其設有第一端點50及第二端點52，第一端點50具有一拖抵部54，第二端點52是電連接于一導電元件56的上端點58，本實施例中，導電元件56為導線，將連接有彈性元件34的導線56穿設對應于待測點29的中針板40及下針板42的中針孔46、下針孔44位置，使彈性元件34的第二端點52恰被下針孔44抵住，而使其位于中針孔46內，可在中針孔44內作彈性回復移動，上針板44是蓋合于中針板40上方，以限制住彈性元件34，防止其自中針孔46脫落。導電元件56的下端點60是直接連接于測試機的排線(圖未顯示)上，用以將待測點29的電訊號傳遞至測試機上。
夾板裝置36包括上夾板62、軟性板64及下夾板66，上夾板62及下夾板66相對于待測物28的多數個待測點29位置設有上夾孔70及下夾孔72，而軟性板64則設于上夾板62與下夾板66間，而上夾孔70及下夾孔72具適當的傾斜，使得上針孔48、下夾孔72及上夾孔70形成適當的斜率，并與位于夾板裝置36上方的待測物28的待測點29形成傾斜的直線。
多數個探測針32為銅金屬的針體，其表面鍍設有鎳金屬，使其傳導性更佳。多數個探測針32設有第一端點74及第二端點76，第一端點74是依待測物28的待測點29位置分別穿設固定于上夾板62及下夾板66的上夾孔70及下夾孔72內，并刺穿軟性板64，而被軟性板64夾持固定住，且穿設于上針孔48內，用以與彈性元件34的第二端點52電接觸，使探測針32形成傾斜。第二端點76是凸出上夾板62，用以與待測物28的待測點29接觸。
夾板裝置36上方適當距離處設有頂板37，頂板37上相對于待測物28的多數個待測點29位置預設有穿孔41，使探測針32的第一端點76凸出頂板37，用以與特測點29接觸。
支撐柱39是設置于下針板38未設有彈性元件34的底部，用以支撐及強化針板30，使針板30在待測物28下壓受力時，不致破損。
配合參閱圖3、4，探測針32是傾斜地插設于夾板裝置36的上夾孔70及下夾孔72內，并刺穿軟性板64，使探測針32的第一端點74壓抵彈性元件34的拖抵部54，第二端點76以傾斜方式凸出頂板37。而待測物28是置于頂板37上方，使其上的待測點29對準相對應的探測針32的第二端點76，而將探測針32與待測物28的待測物點29接觸，將訊號傳遞至彈性元件34，通過彈性元件34的第二端點52所連接的導電元件56，將訊號傳遞至測試機上判讀，以判定待測點29是否導通。
探測針32的第一端點74是接觸并壓抵彈性元件34的拖抵部54，使探測針32在動作過程中，可被彈性元件34自動地導正。
通過由針孔48、下夾孔72、上夾孔70以及穿孔41位置的設置，使得探測針32以傾斜的方式與待測物28的待測點29接觸，可在相同針板裝置30的面積上測試更高密度待測點29的待測物28。
實施例2參閱圖5所示，為本發明的另一實施例，針板裝置30亦由下針板38、中針板40及上針板42組合而成，但其下針孔44、中針孔46及上針孔48是依待測物28的待測點29位置鉆設，再將彈性元件34依前述的方式置入中針孔46內，是為本發明的另一實施例。
通過如上的構造組合，本發明具有如下的優點1、將彈性元件34置入針板裝置30的針孔內，再以探測針32直接與彈性元件34接觸導通，探測針32結構單純，可制成相當細小，且其制造成本相當低廉，可有效降低測試成本。
2、彈性元件34直接與導線60連接，因此，待測點29的訊號傳遞，僅通過探測針32與彈性元件34的傳導，因而可得到較佳的訊號傳遞效果，而提升測試效果。
3、針板裝置30預設縱橫交錯排列的針孔，因此，可依據待測點29的位置將彈性元件34置于相對應的針孔內，再將探測針32置于設有彈性元件34的位置上而組測試治具，如是，針板30可配合不同料號的待測物重覆使用，以降低測試成本。
4、由于探測針32在技術上可制成相當的細小及成本相當低廉，因此，可提高測試點29的測試密度。
5、針板裝置30的縱橫交錯排列的針孔，其選擇性地置入彈性元件34及探測針32，因此，未設有彈性元件34的穿孔底部可設置支撐柱39，如此，可提高針孔的密度，以測試密度較高的待測點29。
6、探測針32以傾斜方式插設于夾板裝置36的上夾孔70及下夾孔72內，可用以測試高密度待測點29的待測物28。
綜觀以上說明，本發明可提高測試密度的治具確可達本發明的目的及功效，具有新穎性及創造性。
權利要求
1.一種提高測試密度的測試方法，其特征是它包括下列步驟(1)提供多數個針體，該至少一針體是以傾斜方式設置，使其電連接于該待測物的待測點；(2)提供多數個彈性元件，該每一彈性元件設有第一端點及第二端點，該第一端點是位于該針體下方，使該每一針體具有彈性回復力；(3)提供多數個導電元件，該每一導電元件設有上端點及下端點，該每一導電元件的上端點是分別電連接于相對應的彈性元件的第二端點，將測試訊號通過由該導電元件傳遞至測試機。
2.根據權利要求1所述的提高測試密度的測試方法，其特征是該彈性元件是設置于一針板裝置的針孔內。
3.根據權利要求1所述的提高測試密度的測試方法，其特征是該針板裝置布設有對應于該待測物的多數個待測點的針孔。
4.根據權利要求2所述的提高測試密度的測試方法，其特征是該針板裝置密布有網格狀縱橫交錯排列的針孔，該彈性元件是設置于對應于該待測物的多數個待測點的針孔內。
5.根據權利要求1所述的提高測試密度的測試方法，其特征是該導電元件為導線。
6.根據權利要求1所述的提高測試密度的測試方法，其特征是該每一針體是以傾斜方式穿設于一夾板裝置的夾孔內。
7.根據權利要求1所述的提高測試密度的測試方法，其特征是該夾板裝置設有軟性板，該針體刺穿該軟性板，而被該軟性板夾持固定住。
8.根據權利要求1所述的提高測試密度的測試方法，其特征是該彈性元件的第一端點具有內徑縮小的拖抵部導正該探測針。
全文摘要
一種提高測試密度的測試方法，用以測試具有多數個待測點的特測物，包括下列步驟提供多數個針體，至少一針體是以傾斜方式設置，電連接于特測物的待測點；提供多數個彈性元件，每一彈性元件設有第一端點及第二端點，第一端點是位于針體下方，每一針體具有彈性回復力；提供多數個導電元件，每一導電元件設有上端點及下端點，每一導電元件的上端點是分別電連接于相對應的彈性元件的第二端點，使測試訊號通過導電元件傳遞至測試機。具有測試高密度待測點的功效。
文檔編號G01R31/28GK1405573SQ01120698
公開日2003年3月26日 申請日期2001年8月13日 優先權日2001年8月13日
發明者吳志成, 楊昌國 申請人:吳志成, 楊昌國