主動元件陣列基板及其檢測方法
【技術領域】
[0001]本申請涉及一種元件陣列基板及其檢測方法，特別是一種適用于顯示面板的主動元件陣列基板及其檢測方法。
【背景技術】
[0002]液晶顯示面板主要是由主動元件陣列基板、彩色濾光陣列基板以及液晶層所構成，其中主動元件陣列基板包括多條信號線以及多個陣列排列的像素，像素分別與對應的信號線連接。一般來說，為了避免制造成本增加，業界趨向于在完成薄膜晶體管陣列后先檢測出共通線與信號線發生短路的確切位置，再進行修補。另外，在面板設計時，直接將柵極驅動電路制作在主動元件陣列基板上，以代替外接的驅動芯片的技術，被稱為柵極驅動電路基板技術(Gate on Array，GOA)。然而，在檢測GOA形式的主動元件陣列基板的短路位置時，常常有檢出率不高且影像不明顯的問題。特別是，以紅外線加熱定位檢測方式為例，實務上常常發生影像不明顯甚至是無影像的問題。此外，由于測試信號需流經顯示區周圍的驅動電路才能進入顯示區內，若加大信號強度，又可能使驅動電路承受過大的電壓或電流而損毀。

【發明內容】

[0003]本發明所要解決的技術問題是提供一種不需使測試信號流經驅動電路而可檢測出顯示區內的缺陷位置的主動元件陣列基板及其檢測方法，前述驅動電路例如可為柵極驅動電路或漏極驅動電路。
[0004]為了實現上述目的，本發明提供了一種檢測方法，適于檢測主動元件陣列基板上的缺陷，其中主動元件陣列基板包括多個像素結構、驅動電路、多條信號線以及控制線。所述多個像素結構配置于顯示區內，驅動電路配置于顯示區之外。所述多條信號線分別電性連接驅動電路與相應的像素結構。控制線與信號線相互交錯。此檢測方法先從所述多條信號線中選定待測信號線，再導通控制線與待測信號線。接著，由控制線輸入測試信號至待測信號線，以判定缺陷的位置。最后，再絕緣控制線與待測信號線。
[0005]在一實施例中，從所述多條信號線中選定待測信號線的方法為:通過電壓映像測定法來判斷缺陷所對應的待測信號線。
[0006]在一實施例中，輸入測試信號至待測信號線，以判定缺陷位置的方法為:對主動元件陣列基板進行紅外線熱影像檢測，以通過獲得的紅外線熱影像數據來判斷缺陷的位置。
[0007]在一實施例中，導通控制線與待測信號線的方法為:通過激光來熔接控制線與待測信號線的交錯處，以形成連接控制線與待測信號線的熔接點。在判定缺陷的位置之后，絕緣控制線與待測信號線的方法為:移除連接于熔接點的相對兩側的待測信號線的一部分，以形成第一信號線段、第二信號線段以及第三信號線段，其中第一信號線段電性連接驅動電路，第二信號線段電性連接像素結構，第三信號線段具有熔接點，且與第一信號線段與第二信號線段相互絕緣。之后，再形成電性連接第一信號線段與第二信號線段的連接線，且連接線與第三信號線段相互絕緣。
[0008]在一實施例中，信號線的一側具有突出的第一延伸部，控制線的一側具有突出的第二延伸部，且第一延伸部與第二延伸部相互交錯，以形成前述所提及的激光熔接后的熔接點。在判定缺陷的位置之后，絕緣控制線與待測信號線的方法為:移除連接于熔接點的部分第一延伸部，以絕緣熔接點與信號線；移除連接于熔接點的部分第二延伸部，以絕緣熔接點與控制線。
[0009]為了更好地實現上述目的，本發明還提供了一種主動元件陣列基板，包括多個像素結構、驅動電路、控制線以及多條信號線。所述多個像素結構配置于顯示區內。驅動電路配置于顯示區之外。控制線位于驅動電路與顯示區之間。所述多條信號線電性連接驅動電路與相應的像素結構，并分別與控制線相互交錯。所述多條信號線包括目標信號線，且目標信號線包括第一信號線段、第二信號線段、第三信號線段以及連接線。第一信號線段電性連接驅動電路，第二信號線段電性連接相應的像素結構，第三信號線段具有熔接點并連接控制線，且第三信號線段分別與第一信號線段以及第二信號線段相互絕緣。連接線電性連接第一信號線段與第二信號線段，且連接線與第三信號線段相互絕緣。
[0010]在一實施例中，上述的連接線與控制線交錯，且連接線的兩端分別連接第一信號線段與第二信號線段。
[0011]為了更好地實現上述目的，本發明還提供了另一種主動元件陣列基板，包括多個像素結構、驅動電路、控制線以及多條信號線。所述多個像素結構配置于顯示區內。驅動電路配置于顯示區之外。控制線位于驅動電路與顯示區之間。所述多條信號線電性連接驅動電路與相應的像素結構，并分別與控制線相互交錯。各信號線的一側具有至少一第一延伸部，控制線的一側具有至少一第二延伸部，且各第一延伸部中的至少一個與相應的第二延伸部相互交錯。
[0012]在一實施例中，所述多條信號線中的至少一條為目標信號線，且目標信號線的第一延伸部與相應的第二延伸部相互交錯并構成熔接點。熔接點不與驅動電路電性連接。
[0013]在一實施例中，上述的目標信號線還具有第一主體部以及第一斷開部，控制線還具有第二主體部以及第二斷開部。熔接點通過第一斷開部以及第二斷開部而分別與第一主體部以及第二主體部電性絕緣。
[0014]本發明的技術效果在于:
[0015]本發明通過從控制線輸入測試信號至待測信號線，以達到不需使測試信號流經驅動電路便可檢測出顯示區內的缺陷位置的目的，進而使檢測時可明顯制造出紅外線影像且不會損壞基板上的驅動電路。同時，有助于提高GOA形式的主動元件陣列基板的缺陷位置檢出率。
[0016]還
[0017]以下結合附圖和具體實施例對本發明進行詳細描述，但不作為對本發明的限定。
【附圖說明】
[0018]圖1是本發明的主動元件陣列基板的示意圖；
[0019]圖2是本發明的檢測方法流程圖；
[0020]圖3是本發明所應用的電壓映像檢測機臺示意圖；
[0021]圖4是本發明一實施例的缺陷位置檢測方法流程圖；
[0022]圖5A至圖5C是進行本發明一實施例的一種主動元件陣列基板的檢測方法的相應結構的局部放大圖；
[0023]圖6是本發明另一實施例的缺陷位置檢測方法流程圖；
[0024]圖7A及圖7B是進行本發明另一實施例的一種主動元件陣列基板的檢測方法的相應結構的局部放大圖。
[0025]其中，附圖標記
[0026]30 電壓映像機臺
[0027]31感光元件
[0028]32 光源
[0029]33調變元件
[0030]34液晶結構
[0031]35反射元件
[0032]40影像處理器
[0033]50監控器
[0034]100主動元件陣列基板
[0035]110 顯示區
[0036]120像素結構
[0037]130驅動電路
[0038]140U40A 信號線
[0039]141A第一信號線段
[0040]142A第二信號線段
[0041]143A第三信號線段
[0042]144第一延伸部
[0043]144a第一主體部
[0044]144b第一斷開部
[0045]150控制線
[0046]151第二延伸部
[0047]151a第二主體部
[0048]151b第二斷開部
[0049]160連接線
[0050]d 間隙
[0051]S測試信號
[0052]S10、S20、S30、S31、S32、S33a、S33b、S34a 步驟
[0053]W熔接點
【具體實施方式】
[0054]下面結合附圖對本發明的結構原理和工作原理作具體的描述:
[0055]本發明通過從控制線輸入測試信號至待測信號線，以達到不需使測試信號流經驅動電路便可檢測出顯示區內的缺陷位置的目的，進而于檢測時可明顯制造出紅外線影像且不會損壞GOA形式的主動元件陣列基板上的驅動電路。事實上，本發明所采用的控制線例如是起始脈沖信號線，起始脈沖信號線原用于提供起始脈沖信號Vst，柵極信號根據起始脈沖信號Vst而產生。換言之，可以選擇利用基板上的既有線路來傳輸測試信號，使得測試信號不需經過GOA形式的主動元件陣列基板上的驅動電路，便能進入顯示面內的像素結構，而不需額外形成其他的線路作為控制線。當然，在其他實施例中，還可以選擇類似的線路作為控制線，例如:提供負電壓Vss給所有移位寄存器電源端的負電壓線，或是提供時鐘信號Vck給時鐘信號端Ck的時鐘信號線等。或者，在沒有適用的線路的情況下，也可以額外在GOA形式的主動元件陣列基板上的驅動電路與顯示區之間另外制作前述控制線。本發明并不以此為限。
[0056]圖1是本發明的主動元件陣列基板的示意圖