專利名稱：層壓偏振光膜的制造方法
技術領域：
本發明涉及一種在構成液晶顯示面板的液晶單元的光源側表面上粘接層壓的層壓偏振光膜的制造方法。
在圖2中，示出了層壓偏振光膜18的構成例。線偏振光膜20和線偏振光分離膜22通過粘接劑24粘接層壓。在線偏振光膜20的另一面上，設置用于將層壓偏振光膜粘接在液晶單元上的粘接劑層26和保護該粘接劑層26的剝離膜層28。另外，在線偏振光分離膜的對面上層壓保護膜30。保護膜30在最后工序中剝離除去。
具有所述構成的層壓偏振光膜，經過由粘接劑層壓線偏振光膜和線偏振光分離膜的工序而制造。(例如參照特開平11-271534號公報(段落 ～ )和特開號公報(段落 。)但是，一旦放置通過上述工序得到的層壓偏振光膜，作為在液晶單元上粘接側的線偏振光膜側(圖2中A面側)產生卷曲使成為凹狀(以下稱為“反向卷曲”)，該反向卷曲，發現當層壓偏振光膜的一邊在8cm以上、特別是在20cm以上時效果顯著。該大的反向卷曲，在剝離剝離膜28并粘接在液晶單元10上時，便成為在粘接面上容易殘留氣泡并且在液晶面板上產生不良的原因。
由此，人們期望層壓偏振光膜，不產生實質的反向卷曲，不卷曲或者即使卷曲也是線偏振光膜側成為凸狀的卷曲(以下稱為“正向卷曲”)。
本發明發明人等，為了達到所述目的，進行了用于得到不產生實質的反向卷曲的層壓偏振光膜的銳意研究，結果發現，將線偏振光分離膜的水分率調整在一定范圍后，通過和線偏振光膜層壓，從而得到不產生反向卷曲的層壓偏振光膜并完成本發明。
即，本發明是一種層壓線偏振光膜和線偏振光分離膜的層壓偏振光膜的制造方法，其特征在于，具有在層壓前將線偏振光膜的水分率調整在0.3～0.8重量％的水分率調整工序。
根據本發明的方法，可以得到沒有實質的反向卷曲的層壓偏振光膜。
這里所述的實質的反向卷曲，是指在液晶單元上粘接時使產生殘留氣泡等不良程度的反向卷曲，被容許若干的反向卷曲，其程度，在20英寸大小的層壓偏振光膜中，以下述的卷曲量計為約1～2mm。反向卷曲量一旦為約3mm以上下，就會成為產生不良的原因，不優選。
圖2是表示層壓偏振光膜的構成的剖視圖。
圖3是在線偏振光分離膜上連續噴水霧進行加濕的裝置的簡圖。
圖中10液晶單元，12粘接劑層，14線偏振光膜，18層壓偏振光膜，20線偏振光膜，22線偏振光分離膜，24粘接劑層，26粘接劑層，28剝離膜，30保護膜，32薄膜傳送輥筒，34薄膜卷繞輥筒，36噴霧裝置。
作為水分率的調整方法，優選使用邊移動線偏振光分離膜邊在薄膜上使水分以霧狀進行噴霧的方法。卷繞附著水分的薄膜靜置。薄膜優選以一定的速度連續進行移動。在改變水分量時，也可以改變薄膜的移動速度。
線偏振光分離膜，通常以保護膜粘接的狀態進行處理，此時優選在保護水分的薄膜上進行噴霧。
水分率，一般通過在樹脂或無機粉體的水分率測定中使用的測定方法進行測定。具體地說是對測定對象物進行加熱除去水分，由加熱前和加熱后的重量差得出水分率。
在上述發明中，所述線偏振光分離膜優選為聚酯薄膜。
線偏振光分離膜，優選將聚酯作為主成分的薄膜，從其性能上來看，特別優選將聚萘二甲酸乙二酯或將以聚萘二甲酸乙二酯單元為主成分的共聚物為原料的薄膜，例如可以示例以商品名“DBEF”(住友3M公司)市售的薄膜。由這類聚酯構成的線偏振光分離膜，制造后，為了作為直接原反卷繞供給，原反薄膜的水分率，實際測量為0.1～0.2重量％，比其薄膜的飽和水分率(約0.8重量％)低，在和水分率高的線偏振光膜層壓后，由于水分的移行，考慮更容易產生反向卷曲。
另外，線偏振光分離膜，如上述，是具有透過與透過軸方向平行的光，并且反射在與透過軸垂直的反射軸方向平行的光的功能的薄膜，反射型偏振光膜，稱為非吸收型偏振光膜，或者由于再利用反射后的光而提高亮度，所以也稱為亮度提高薄膜。
另一方面，與此相對，線偏振光膜，是具有透過在透過軸方向上平行的光并吸收在與透過軸垂直的吸收軸方向上平行的光的功能的薄膜，也稱為吸收型偏振光膜。
線偏振光膜，可以使用公知的線偏振光膜。線偏振光膜，通常以三乙酰基纖維素(TAC)為主材料構成，作為優選的構成，可以示例出TAC薄膜和聚乙烯醇類薄膜之間的層壓薄膜，具體地說具有TAC薄膜/聚乙烯醇類薄膜/TAC薄膜的至少三層構成的薄膜。構成這些線偏振光膜的樹脂材料，都是極性高并且飽和水分率高的材料。作為一般使用的上述多層結構的線偏振光膜，為抑制自身的卷曲，可以將水分率調整的比較高例如為2.5重量％左右。由此，可以考慮例如通過和干燥狀態的聚酯類線偏振光分離膜的層壓，水分由線偏振光膜向線偏振光分離膜側移行并產生卷曲。
通過設置調整線偏振光分離膜的水分率的水分率調整工序，得到的層壓偏振光膜不容易產生反向卷曲的理由不是很清楚，但是可以推定抑制由于水分由水分率高的線偏振光膜向水分率低的線偏振光分離膜移行而引起的各薄膜的尺寸變化，是其中一個很大的原因。
通常，在線偏振光分離膜的一面上層壓由聚萘二甲酸乙二酯等構成的保護膜。線偏振光膜，在與層壓該保護膜的面呈相反的面上層壓。保護膜在液晶單元上粘接后剝離除去。
實施例以下對具體表示本發明的構成和效果的實施例等進行說明。
另外，卷曲量，在將線偏振光膜側向下置于平板上時，可以作為層壓偏振光膜的四個頂點的從平板上的高度的平均值求得。正的表示正向卷曲，負的表示反向卷曲。
實施例1準備5片將厚度為132μm的聚萘二甲酸乙二酯制的線偏振光分離膜“DBEF”(住友3M公司制，一面層壓聚對苯二甲酸乙二酯的保護膜，水分率約為0.2重量％)切斷為308mm×235mm的薄膜，分別在相對濕度80％、溫度20℃的環境下放置24小時。放置后的水分率為0.62重量％(水分率，剝離保護膜后測定)。將該線偏振光分離膜立即裝入防濕袋中密封，兩小時后取出，在沒有層壓保護膜的面上層壓線偏振光膜，從而得到層壓偏振光膜。在層壓中使用粘接滾桶。
使用的線偏振光膜，水分率約為2.5重量％，具有TAC薄膜/聚乙烯醇類薄膜/TAC薄膜(80μm/25μm/80μm)的三層結構，并且具有25μm的丙烯類壓敏型粘接劑層。
將所得的層壓偏振光膜裝入防濕袋中密封，在20℃經過表1所示的時間后取出測定卷曲量。卷曲量的測定結果如表1所示。
實施例2將線偏振光分離膜“DBEF”在相對濕度64％、溫度22℃的環境下放置24小時。放置后的水分率為0.50重量％(水分率，剝離保護膜后測定)。除使用該直線分離膜以外，其余的與實施例1完全相同，制作層壓偏振光膜。
將所得的層壓偏振光膜裝入防濕袋中密封，在20℃經過表1所示的時間后取出測定卷曲量。卷曲量的測定結果如表1所示。
比較例1準備5片將厚度為132μm的聚萘二甲酸乙二酯制的線偏振光分離膜“DBEF”(水分率為0.17重量％)切斷為308mm×235mm的薄膜，分別在相對濕度24％、溫度22℃的環境下放置24小時，結果，水分率依然為0.17重量％(水分率，剝離保護膜后測定)。
除作為線偏振光分離膜使用所述水分率為0.17重量％的薄膜外，其余的與實施例1完全相同，制作層壓偏振光膜。
將所得的層壓偏振光膜裝入防濕袋中密封，在20℃經過表1所示的時間后取出測定卷曲量。卷曲量的測定結果如表1所示。
表1

表1的結果表明，在將線偏振光分離膜加濕病進行水分率調整后和線偏振光膜層壓后的本發明的層壓偏振光膜，均產生正的卷曲，為在和液晶單元粘合時不引入氣泡的良品，但是，沒有設置水分率調整工序的比較例的層壓偏振光膜產生反向卷曲。
實施例3利用圖3所示加濕裝置對線偏振光分離膜的水分進行調整。以附有保護膜的狀態以一定的速度邊對線偏振光分離膜進行連續移動，邊使水分在保護膜上噴霧并使附著，直接卷繞在其它的芯上。改變薄膜的移動速度，從而改變水分的附著量。將卷繞的薄膜輥筒靜置兩日，得到調整水分率后的線偏振光分離膜。剝去線偏振光分離膜的保護膜并測定水分率。
將所得的調整水分率后的層壓偏振光膜立即裝入防濕袋中密封，兩小時后取出并在沒有層壓保護膜的面上進行與實施例1相同的操作，層壓線偏振光膜得到20英寸大小(420mm×318mm)的層壓偏振光膜。
將所得的層壓偏振光膜裝入防濕袋中密封，在20℃經過65小時后取出測定卷曲量。卷曲量的測定結果如表2所示。
表2

水分率在0.30重量％時，卷曲量為-1.4mm，進行若干的反向卷曲但在容許范圍內所得的層壓偏振光膜沒有問題，也可以使用。
根據本發明的方法，可以獲得由在液晶單元上粘接時不產生作為在粘接面上殘留氣泡、在液晶面板上產生不良的原因的實質的反向卷曲的線偏振光膜與線偏振光分離膜構成的層壓偏振光膜。
權利要求
1.一種層壓偏振光膜的制造方法，是將線偏振光膜和線偏振光分離膜層壓而得到層壓偏振光膜的方法，特特征在于，在線偏振光膜和線偏振光分離膜層壓工序前具有將線偏振光膜的水分率調整在0.3～0.8重量％的水分調整工序。
2.根據權利要求1所述的層壓偏振光膜的制造方法，其特征在于，所述的線偏振光分離膜為聚酯薄膜，所述線偏振光膜為聚乙烯醇類薄膜和三乙酰基纖維素薄膜的層壓薄膜。
3.根據權利要求1所述的層壓偏振光膜的制造方法，其特征在于，邊使線偏振光分離膜移動邊使水分在薄膜上以霧狀噴霧從而對水分率進行調整。
全文摘要
本發明提供一種不產生實質的反向卷曲的層壓偏振光膜的制造方法，具有在層壓前將線偏振光分離膜的水分率調整在0.3～0.8重量％的水分率調整工序，將線偏振光膜和線偏振光分離膜層壓而得到層壓偏振光膜。
文檔編號G02B5/30GK1461955SQ0313101
公開日2003年12月17日 申請日期2003年5月14日 優先權日2002年5月31日
發明者富永俊彥, 松本大輔 申請人:住友化學工業株式會社