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薄膜干涉測量裝置的制造方法技術資料下載

技術編號:9126042

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薄膜干涉是一種常見的光干涉現象,其是由薄膜上、下表面反射或折射光束相遇而產生的干涉,薄膜通常由厚度很小的透明介質形成,如肥皂泡膜、油膜、介質膜等。薄膜干涉實驗是物理課程中的必修實驗,使用傳統的實驗方法,干涉效果不明顯,測量數據不夠準確,而專用的薄膜干涉測量儀價格昂貴,普及度不高。實用新型內容鑒于上述原因,本實用新型的目的在于提供一種薄膜干涉測量裝置,該裝置結構簡單、實驗效果良好,測量數據較為準確。為實現上述目的,本實用新型采用以下技術方案—種薄膜干涉測量裝...
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