技術編號：10598147
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。 X射線晶體學為用于提供晶體中的分子的外觀的三維表示的已建立、充分研究的 技術。此技術仍為用于分子結構的原子分辨測定的最強大工具中的一個。結構中的結晶原 子導致X射線束衍射到許多特定方向。通過測量這些衍射束的角度和強度，檢晶器可產生晶 體內的電子密度的三維圖像。由此電子密度，可測定晶體中的原子的平均位置，以及其化學 鍵、其無序性和各種其它信息。 由于許多材料可形成晶體-如鹽、金屬、礦物質、半導體以及各種無機、有機和生物 分子-科學家已采用X射線晶體學來測定...
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