用于光模塊的多通道并行測試系統的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型屬于光通信域，具體涉及一種用于光模塊的多通道并行測試系統。
【背景技術】
[0002]隨著光通信技術及物聯網的迅猛發展，光模塊作為網絡互聯互通的核心部件，在越來越多的領域得到了大規模應用。光模塊中使用的關鍵物料-光電芯片的性能參數受溫度的影響較大，為了檢驗光模塊的性能在高低溫環境下是否滿足要求，一般會對光模塊進行高低溫性能測試。在現有的生產及科研測試中，對光模塊進行溫度測試所采用的環境設備一般是如今大量使用的溫循箱。進行溫度測試時，在溫循箱中放置光模塊，光模塊的光電參數測試待溫度穩定一段時間后進行，測試完成后，打開箱門更新下一只光模塊，重新等待溫度穩定一段時間后進行光電性能測試。在待測試的光模塊數量較少時，該方法還可以適用。當光模塊數量較多時，該方法將難以完成測試任務。在進行模塊溫度測試時，對模塊進行性能測試所花費的時間較少，絕大部分時間都花費在溫循箱箱內溫度的穩定等待上。如果在不打開箱門的前提下單次進行多只模塊的性能測試，則相當于大大減少了每只模塊的溫度等待時間，可以大大加快測試速度，滿足生產和科研的要求。
【發明內容】
[0003]本實用新型的目的就是針對上述技術的不足，提供一種能有效提高測試效率的用于光模塊的多通道并行測試系統。
[0004]為實現上述目的，本實用新型所設計的用于光模塊的多通道并行測試系統，包括
[0005]待測光模塊評估板:包括復用器、與復用器接口相連的多路待測光模塊；
[0006]光源:通過光開關與待測光模塊連接，并為各個待測光模塊提供光信號，光源與光開關之間設置有光衰減器，光開關與各個待測光模塊之間通過選路開關導通；
[0007]誤碼儀:誤碼儀發出光源電信號驅動光源發出光信號，并且接收復用器發出的電信號。
[0008]進一步地，所述光衰減器與所述光開關之間設置有光分路器，所述光分路器的一個輸出端與光不波器的一個輸入端相連，所述誤碼儀的輸出端與所述光不波器的另一個輸入端相連。
[0009]進一步地，所述誤碼儀發出的偽隨機碼電信號通過扇出器分成多路獨立的電信號給各個待測光模塊。
[0010]進一步地，所述光開關為1:8或1:16雙向可逆光開關。
[0011]進一步地，所述光分路器為1:2雙向可逆光分路器。
[0012]與現有技術相比，本實用新型具有以下優點:多個待測光模塊在同一溫度環境和待測光模塊評估板上進行測試，測試結果一致性好，極大減少開關溫循箱的次數，加快了待測光模塊溫度測試速度;并且一次性完成多各待測光模塊的發射和接收測試工作，中途不需要換纖動作，大大提高了測試效率。
【附圖說明】
[0013]圖1為本實用新型用于光模塊的多通道并行測試系統的結構框圖。
[0014]其中:待測光模塊評估板11、光源1、光衰減器2、光分路器3、光示波器4、誤碼儀5、光開關6、選路開關7、復用器8、待測光模塊9、扇出器10、待測光模塊評估板11。
【具體實施方式】
[0015]下面結合附圖和具體實施例對本實用新型作進一步的詳細說明。
[0016]如圖1為用于光模塊的多通道并行測試系統，包括待測光模塊評估板11、光源1、光衰減器2、光示波器4、誤碼儀5、光分路器3、選路開關7及光開關6，其中:待測光模塊評估板11包括復用器8及與復用器8接口相連的多路待測光模塊9。
[0017]誤碼儀5的三個輸出端分別與光源1、光不波器4的輸入端及扇出器10的輸入端相連，光源I依次通過光衰減器2、光分路器4、光開關6與待測光模塊9相連，光開關6與各個待測光模塊9之間通過選路開關7導通，光分路器3的另一個輸出端與光示波器4的另一個輸入端相連，扇出器10的輸出端分別與各個待測光模塊9相連，復用器8的輸出端與誤碼儀5的輸入端相連。本實施例中光開關6為1:8或1:16雙向可逆光開關6，根據一次需要測試的待測光模塊9數量選擇合適的光開關6，進行測試系統組合時，使光開關6和復用器8的路數保持一致即可;光分路器3為1:2雙向可逆光分路器3。
[0018]誤碼儀5發出光源電信號驅動光源I發出光信號，通過選路開關7導通光開元6與所需測試的待測光模塊9，所需測試的待測光模塊9與復用器8對應的通路導通，其它光路處于斷開狀態，光信號通過光衰減器2、光分路器3、光開關6輸送給待測光模塊9，待測光模塊9將接收到的光信號轉化為電信號，通過復用器8輸送給誤碼儀5進行誤碼校驗，完成該通道的誤碼測試，多個測試通道共用一臺誤碼儀即可完成多個待測光模塊的測試，使多個待測光模塊在同一環境條件下一次性完成測試任務，提高光模塊測試產能。同時，誤碼儀5發出的偽隨機碼電信號通過扇出器10分成多路獨立的電信號給各個待測光模塊9，可以保證輸入到每個待測光模塊9的電信號質量。
[0019]再次如圖1中的誤碼儀5發出觸發信號給光示波器4，光示波器4不僅可以測試待測光模塊9的電眼圖，還可以測試待測光模塊9發射端的發射光功率。
[0020]在進行測試前，對所有光路進行統一校準，使光衰減器的衰減量和實際光功率值對應起來，根據光衰減器的衰減量就可以對應出待測光模塊的接收靈敏度值。
【主權項】
1.一種用于光模塊的多通道并行測試系統，其特征在于:包括 待測光模塊評估板(11):包括復用器(8)、與復用器(8)接口相連的多路待測光模塊(9)； 光源(I):通過光開關(6)與待測光模塊(9)連接，并為各個待測光模塊(9)提供光信號，光源(I)與光開關(6)之間設置有光衰減器(2)，光開關(6)與各個待測光模塊(9)之間通過選路開關(7)導通； 誤碼儀(5):誤碼儀(5)發出光源電信號驅動光源(I)發出光信號，并且接收復用器(8)發出的電信號。2.根據權利要求1所述的用于光模塊的多通道并行測試系統，其特征在于:所述光衰減器(2)與所述光開關(6)之間設置有光分路器(3)，所述光分路器(3)的一個輸出端與光示波器(4)的一個輸入端相連，所述誤碼儀(5)的輸出端與所述光示波器(4)的另一個輸入端相連。3.根據權利要求1或2所述的用于光模塊的多通道并行測試系統，其特征在于:所述誤碼儀(5)發出的偽隨機碼電信號通過扇出器(10)分成多路獨立的電信號給各個待測光模塊(9)04.根據權利要求1或2所述的用于光模塊的多通道并行測試系統，其特征在于:所述光開關(6)為1:8或1:16雙向可逆光開關(6)。5.根據權利要求1或2所述的用于光模塊的多通道并行測試系統，其特征在于:所述光分路器(3)為1:2雙向可逆光分路器(3)。
【專利摘要】本實用新型公開了一種用于光模塊的多通道并行測試系統，待測光模塊評估板包括復用器、與復用器接口相連的多路待測光模塊；光源通過光開關與待測光模塊連接，并為各個待測光模塊提供光信號，光源與光開關之間設置有光衰減器，光開關與各個待測光模塊之間通過選路開關導通；誤碼儀發出光源電信號驅動光源發出光信號，并且接收復用器發出的待測光模塊接收電信號。多個待測光模塊在同一溫度環境和待測光模塊評估板上進行測試，測試結果一致性好，極大減少開關溫循箱的次數，加快了待測光模塊溫度測試速度；并且一次性完成多各待測光模塊的發射和接收測試工作，中途不需要換纖動作，大大提高了測試效率。
【IPC分類】H04B10/073
【公開號】CN205356347
【申請號】CN201620113760
【發明人】徐國旺, 呂輝, 黃楚云, 楊濤
【申請人】湖北工業大學
【公開日】2016年6月29日
【申請日】2016年2月4日