短距離傳輸萬兆光模塊的綜合測試系統及應用方法
【技術領域】
[0001] 本發明設及一種在光模塊生產或測試情況下使用的調試系統。更具體地說，本發 明設及一種用在光模塊生產或測試情況下的短距離傳輸萬兆光模塊的綜合測試系統。
【背景技術】
[0002] 萬兆光模塊中的萬兆SR(短距離)光模塊，其指的是萬兆850nm波長全雙工光收發 模塊，是目前短距離(300mW內）傳輸的主流光模塊，其廣泛應用于企業級的W太網網絡中。
[0003] 對于目前的萬兆SR光模塊生產工藝來說，主要包括光模塊的組裝及后期參數的測 試，而測試又分為發端調試、發端測試、收端調試、收端測試四個步驟，每個步驟都要采用獨 立的儀器W對相應的指標進行測試和控制，其主要指標及所需儀器如下表所示：
[0005] 對于當前主流的光模塊制造商，仍采用上述傳統的生產工藝來進行光模塊的生 產，同時采用分四步的方法完成萬兆SR產品的調測試，其發端測試、調試時各器件工位搭建 的連接示意圖如圖1所示，而收端測試、調試時各器件工位搭建的連接示意圖如圖2所示。但 是傳統生產工藝雖被業界廣泛采用，工藝流程也較完善，但具有如下劣勢：
[0006] 1、工藝流程較多，生產效率不夠理想；
[0007] 2、使用了成本高昂的"光示波器"，生產線搭建成本較高；
[000引3、多工位獨立，所需儀器數量成倍增加，且各工位引入的儀器誤差會產生累積；
[0009] 4、光示波器采集波形需要等待較長時間，限制了生產的高效運行。

【發明內容】

[0010] 本發明的一個目的是解決至少上述問題和/或缺陷，并提供至少后面將說明的優 點。
[0011] 本發明還有一個目的是提供一種短距離傳輸萬兆光模塊的綜合測試系統，其將傳 統的4個調測試步驟整合為1個，W待測模塊與標準模塊之間的實際通訊效果作為判斷依 據，取代低效的眼圖質量測試，工藝流程顯著減少，生產效率得到大大提高，且避免了誤差 的累積;同時因其采用標準模塊配合調測試，保證生產模塊的產品性能參數良好。
[0012] 本發明還有一個目的是通過應用綜合測試系統的方法，提高測試的效率，同時因 其采用算法來實現光功率、消光比的調試，不必使用成本高昂的光示波器，具有成本可控， 穩定性好，效率提高的效果。
[0013] 為了實現根據本發明的運些目的和其它優點，提供了一種短距離傳輸萬兆光模塊 的綜合測試系統，包括：
[0014] 第一評估板，其上設置有待測萬兆光模塊，所述待測萬兆光模塊的接收端與一誤 碼儀連接，輸出端通過一光分路器分別連接至光功率計和第二評估板，且所述光分路器與 第二評估板之間還設置有一第一光衰減器，W構成待測光模塊發端的測試模塊；
[0015] 其中，所述第二評估板上設置有一標準萬兆光模塊，W通過一第二光衰減器連接 至第一評估板，進而通過所述第一評估板與誤碼儀連接，構成成待測光模塊收端的測試模 塊。
[0016] 優選的是，其中，所述第一評估板及第二評估板上分別設置有PC控制板。
[0017] 本發明的目的還可W進一步地由一種應用綜合測試系統的方法實現，包括：
[0018] 測試準備:將所述待測萬兆光模塊插入第一評估板中，所述第一評估板中的PC控 制板基于待測萬兆模塊的預定光功率進行相應計算，W將得到相應的技術參數寫入到待測 萬兆模塊中；
[0019] 發端測試:所述誤碼儀發送一電信號至待測萬兆光模塊，所述待測萬兆光模炔基 于其內的技術參數產生相應的第一光信號，W通過待測萬兆光模塊與標準萬兆光模塊之間 的通信效果W及光功率計上的讀數，進而判斷待測萬兆光模塊的發端性能；
[0020] 收端測試:所述標準萬兆光模塊發送一第二光信號至待測萬兆光模塊，W通過所 述待測萬兆光模塊進行光電轉換后輸出至誤碼儀，進而判斷測萬兆光模塊的收端性能。
[0021] 優選的是，其中，在準備階段，還包括對測試系統中各器件進行的測試、點檢并記 錄相關的參數。
[0022] 優選的是，其中，所述測試包括對各鏈接光路的插損參數測試，所述點檢包括對各 儀器與標準儀器測試時得到的差異參數，所述參數包括插損參數、差異參數、及標準萬兆光 模塊的性能參數。
[0023] 優選的是，其中，所述技術參數包括:激光器工作時的偏置電流Ibias;
[0024] 光模塊在傳輸T'信號和"0"信號時所產生的交流電流Imod;
[0025] 光模塊的信號丟失闊值Los。
[0026] 優選的是，其中，所述偏置電流Ibias基于W下公式獲得：
[0027] AOP =沈 *Ibias
[00%]其中，SE為激光器發光效率所對應的一常量，Ibias為偏置電流，AOP為預定光功 率。
[0029] 優選的是，其中，所述交流電流Imod基于W下公式獲得：
[0030] 邸=10*log((扣 ias+1/巧 Imod)/( Ibias- l/2*Imod))
[0031] 其中，ER為光模塊的消光比，Ibias為基于預定光功率計算得出的偏置電流。
[0032] 優選的是，其中，在所述發端測試中，所述光分路器基于從待測光模塊處接收到的 光信號，一路通過光纖傳遞給光功率計，W讀取一最終光功率值W確定待測萬兆光模塊發 光功率是否正常；
[0033] 另一路通過第一光衰減器連接至第二評估板上的標準萬兆光模塊，并通過調整第 一光衰減器的衰減大小，W使輸出至標準萬兆模塊的光功率值接近標準萬兆光模塊的靈敏 度值，W通過標準萬兆光模塊能否收到光信號進而判斷待測萬兆光模塊的消光比是否在預 定范圍內。
[0034] 優選的是，其中，在所述收端測試中，所述標準萬兆光模塊在PC控制板的控制下發 出第二光信號至待測萬兆光模塊，并通過調整第二光衰減器的衰減大小，通過誤碼儀測試 待測萬兆光模塊的過載，靈敏度，信號丟失闊值。
[0035] 本發明至少包括W下有益效果：其一，本發明的綜合測試系統，其將傳統的4個調 測試步驟整合為1個綜合測試系統，工藝流程顯著減少，大幅度提高生產效率，且同時避免 了多個工位的相互獨立，帶來的測試誤差。
[0036] 其二，本發明的綜合測試系統，其引進了標準模塊進行配合調測試，保證生產模塊 的產品性能參數良好，并W待測模塊與標準模塊之間的實際通訊效果作為判斷依據，取代 低效的眼圖質量測試，大大提高了效率。
[0037] 其=，本發明應用綜合測試系統的方法中，其采用算法優化的生產工藝，采用算法 來實現光功率、消光比的調試，而不必使用成本高昂的光示波器，具有成本可控，穩定性好， 效率提高的效果。
[0038] 本發明的其它優點、目標和特征將部分通過下面的說明體現，部分還將通過對本 發明的研究和實踐而為本領域的技術人員所理解。
【附圖說明】
[0039] 圖1為傳統的萬兆光模塊發端調試、測試時工位搭建的連接示意圖；
[0040] 圖2為傳統的萬兆光模塊收端調試、測試時工位搭建的連接示意圖；
[0041] 圖3為本發明的一個實施例中短距離傳輸萬兆光模塊的綜合測試系統中各器件的 連接示意圖。
【具體實施方式】
[0042] 下面結合附圖對本發明做進一步的詳細說明，W令本領域技術人員參照說明書文 字能夠據W實施。
[0043] 應當理解，本文所使用的諸如"具有"、"包含"W及"包括"術語并不配出一個或多 個其它元件或其組合的存在或添加。
[0044] 圖3示出了根據本發明的一種短距離傳輸萬兆光模塊的綜合測試系統實現形式， 包括：
[0045] 第一評估板I，其上設置有待測萬兆光模塊2,所述待測萬兆光模塊的接收端與一 誤碼儀3連接，輸出端