防止電子設備測試中過電流過電壓破壞的方法及系統的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及電子設備測試領域，尤其涉及一種防止電子設備測試中過電流過電壓破壞的方法及系統。
【背景技術】
[0002]在現有的電子設備(例如，手機、平板電腦等)的測試中，在測試治具與電源供應器之間沒有關于過電流過電壓保護的裝置，因此在實際測試中，極易由于發生意外情況(例如，誤操作、短路、電壓等)而導致過電流或過電壓，從而損壞測試治具連接的待測試設備。
[0003]圖1為根據現有技術的防止電子設備(例如，手機)測試中過電流破壞的系統100的結構示意圖。如圖1所示，在測試治具102的正極與電源供應器104的正極之間串聯一個過電流保護元件106。所述測試治具102與待測設備(圖中未示出)相連，以進行設備測試。在設備測試過程中，電源供應器104中的電流通過所述過電流保護元件106而流過測試治具102。當發生意外情況時(例如，不當的操作、突發性斷電或短路等)，通過所述過電流保護元件106的電流急速升高而大于或等于設定的電流閾值時，過電流保護元件106的溫度就會瞬間上升、阻抗提高，從而自動切斷電源供應器104至測試治具102的通路，導致通過所述過電流保護元件106的電流在極短時間(微秒)內降低。在通過所述過電流保護元件106的電流小于設定的電流閾值之后，所述過電流保護元件106就會立即恢復原狀而繼續導通。然而，圖1所示的防止電子設備測試中過電流破壞的系統100只針對過電流對待測電子設備內部零件的破壞，而不能解決過電壓的問題。實際上，半導體電路在有浪涌電壓的情況下容易損壞，元器件使用數量多，結構復雜，這樣降低了電源的效率，并且無效的功耗增加了芯片散熱的負擔，影響電路的穩定性，同時由于電路中由于元器件使用數量較多，出現故障的概率較高，降低了電路整體的可靠性。
[0004]因此，需要一種改進的防止電子設備測試中過電流過電壓破壞的方法及系統，以徹底解決生產線測試過程中由于過電流、過電壓而導致燒壞芯片的問題。
【發明內容】
[0005]本發明的主要目的在于提供一種改進的防止電子設備測試中過電流過電壓破壞的方法及系統，以徹底解決生產線測試過程中由于過電流、過電壓而導致燒壞芯片的問題。
[0006]為實現上述目的，本發明提供一種防止電子設備測試中過電流過電壓破壞的方法，包括:在測試治具與電源供應器之間串聯過電流過電壓保護電路；連接所述測試治具與所述待測的電子設備；當通過所述過電流過電壓保護電路的電流增大至設定的電流閾值時，自動切斷所述測試治具與所述電源供應器之間的通路；以及當輸入所述過電流過電壓保護電路的電壓增大至設定的電壓閾值時，鉗位并且輸出穩定的輸出電壓值。
[0007]進一步地，所述過電流過電壓保護電路中的過電流保護模塊包括自恢復保險絲。
[0008]進一步地，自動切斷所述測試治具與所述電源供應器之間的通路的所述步驟包括:當通過所述過電流過電壓保護電路的電流增大至所述電流閾值時，斷開所述自恢復保險絲；以及當通過所述過電流過電壓保護電路的電流低于所述電流閾值時，恢復所述自恢復保險絲。
[0009]進一步地，所述過電流過電壓保護電路中的過電壓保護模塊包括鉗位二極管和低壓差穩壓器。
[0010]進一步地，鉗位并且輸出穩定的輸出電壓值的所述步驟包括:當輸入所述過電流過電壓保護電路的電壓增大至設定的電壓閾值時，所述鉗位二極管和所述低壓差穩壓器一起工作來輸出穩定的輸出電壓值。
[0011]本發明還提供一種防止電子設備測試中過電流過電壓破壞的系統，包括測試治具、電源供應器、以及串聯在所述測試治具與所述電源供應器之間的過電流過電壓保護電路，其特征在于，所述過電流過電壓保護電路配置為:當通過所述過電流過電壓保護電路的電流增大至設定的電流閾值時，自動切斷所述測試治具與所述電源供應器之間的通路；以及當輸入所述過電流過電壓保護電路的電壓增大至設定的電壓閾值時，鉗位并且輸出穩定的輸出電壓值。
[0012]進一步地，所述過電流過電壓保護電路中的過電流保護模塊包括自恢復保險絲。
[0013]進一步地，所述過電流過電壓保護電路還配置為:當通過所述過電流過電壓保護電路的電流增大至所述電流閾值時，斷開所述自恢復保險絲；以及當通過所述過電流過電壓保護電路的電流低于所述電流閾值時，恢復所述自恢復保險絲。
[0014]進一步地，所述過電流過電壓保護電路中的過電壓保護模塊包括鉗位二極管和低壓差穩壓器。
[0015]進一步地，所述過電流過電壓保護電路還配置為:當輸入所述過電流過電壓保護電路的電壓增大至設定的電壓閾值時，所述鉗位二極管和所述低壓差穩壓器一起工作來輸出穩定的輸出電壓值。
[0016]本發明所提供的防止電子設備測試中過電流過電壓破壞的方法及系統能夠在通過電源供應器到測試治具的電流增大至設定的電流閾值時自動切斷電流通路，并且將電源供應器到測試治具的電壓限制為穩定的工作電壓，以解決產線測試中過電流、過電壓的問題并且防止對電子設備內部零件的破壞。
【附圖說明】
[0017]圖1為根據現有技術的防止電子設備測試中過電流破壞的系統的結構示意圖；
[0018]圖2為本發明實施例提供的一種防止電子設備測試中過電流過電壓破壞的系統的結構示意圖；
[0019]圖3為圖2中的過電流過電壓保護電路的結構示意圖；
[0020]圖4為圖3中的過電流過電壓保護電路的輸入電壓和輸出電壓的信號波形圖；以及
[0021]圖5為本發明實施例提供的一種防止電子設備測試中過電流過電壓破壞的方法的流程示意圖。
[0022]本發明的實現、功能特點及優點將結合實施例，參照附圖作進一步說明。
【具體實施方式】
[0023]以下結合說明書附圖對本發明的優選實施例進行說明，應當理解，此處所描述的優選實施例僅用于說明和解釋本發明，并不用于限定本發明，并且在不沖突的情況下，本發明中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。
[0024]圖2為本發明實施例提供的一種防止電子設備(例如，手機)測試中過電流過電壓破壞的系統200的結構示意圖。如圖2所示，在測試治具202的正極與電源供應器204的正極之間串聯一個過電流過電壓保護電路206。結合以下圖3來看，過電流過電壓保護電路206可包含保險絲302。優選地，保險絲302可選用自恢復保險絲，其使用壽命為2000次。不同于一般的保險絲一旦熔斷后就需要更換，自恢復保險絲在過電流情況時會斷開，當電流恢復正常時繼續導通。在本實施例中，過電流過電壓保護電路206中的保險絲302采用自恢復保險絲。然而，在其它實施例中，保險絲302還可采用其它限流元件。
[0025]所述測試治具202與待測設備(圖中未示出)相連，以進行設備測試。過電流過電壓保護電路206可用于防止過電流情況。在設備測試過程中，電源供應器204中的電流通過所述過電流過電壓保護電路206而流過測試治具202。當發生意外情況時(例如，不當的操作、突發性斷電或短路等)，通過所述過電流過電壓保護電路206的電流急速升高而大于或等于設定的電流閾值時，過電流過電壓保護電路206的溫度就會瞬間上升、阻抗提高，從而自動切斷電源供應器204至測試治具202的通路，導致通過所述過電流過電壓保護電路206的電流在極短時間(微秒)內降低，使其不超過電路可承受的最高電流。在通過所述過電流過電壓保護電路206的電流小于設定的電流閾值之后，所述過電流過電壓保護電路206中的保險絲302就會立即恢復原狀而繼續導通。
[0026]此外，過電流過電壓保護電路206還可用于防止過電壓情況，再次參考圖3來詳細描述其工作原理。圖3為圖2中的過電