專利名稱：拾光裝置的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種拾光裝置。特別涉及一種對光盤等光信息記錄媒體進行信息的記錄、再生、消去等處理的光學式信息處理裝置中，具有檢測用于為主要部件的光學式頭的再生信號及各種伺服信號之功能的光學裝置。
背景技術：
現在，光盤中市場最大的CD(Compact Disc)，其記錄·再生使用波長帶780nm～820nm的近紅外半導體激光器。另一方面，急速普及、密度更高的光信息記錄媒體即DVD(Digital Versatile Disc)的記錄·再生，則是為了使光斑更小，而使用短波長帶635nm～680nm的紅色半導體激光器。要求能夠用一臺裝置進行這兩種規格不同的光盤的記錄·再生，圖12所示的現有光學裝置(參考例如日本國公開專利公報特開平11-149652號公報)就能滿足這樣的要求。以下示出了這一現有拾光裝置的工作原理。
再生DVD時，使用波長650nm的半導體激光器1。來自半導體器件1的射出光束，入射到微棱鏡3中并在其反射面上反射，經由準直儀透鏡(未示)、物鏡(未示)聚集到盤(未示)面上。來自該盤(未示)面的反射光束再次經由物鏡、準直儀透鏡入射到全息照相元件4中。在全息照相元件4分支的光束，在微棱鏡3中反射，入射到多個受光器件5、6、7、8中。再生DVD時，根據在該受光器件5、6、7、8中檢測到的信號檢測聚焦/跟蹤誤差信號及再生信號。
再生CD時，使用波長780nm的半導體激光器2。來自半導體激光器2的射出光束，同樣入射到微棱鏡3中并在其反射面上反射，經由準直儀透鏡(未示)、物鏡(未示)聚集到盤(未示)面上。來自該盤(未示)面的反射光束再次經由物鏡、準直儀透鏡入射到全息照相元件4中。在全息照相元件4分支的光束，在微棱鏡3中反射后，入射到多個受光器件5、6、7、8中。再生CD時，根據在該多個受光器件5、6、7、8中檢測到的信號檢測聚焦/跟蹤誤差信號及再生信號。在該結構下，因為搭載有波長780nm的半導體激光器2，所以該結構對追記型CD(CD-R)的再生也適用。
與此不同，在日本國公開專利公報特開號公報中還公開了一種檢測使用了不同波長的激光器的拾光裝置中的聚焦/跟蹤誤差信號的檢測方法。
但是，在圖12所示的現有光學裝置中，因為半導體激光器1和半導體激光器2的發光波長不同，所以來自盤的反射光束在全息照相元件4分支的時候，半導體激光器1的光束和半導體激光器2的光束各自的衍射角不同，在受光元件面上半導體激光器1的光束的光斑位置和半導體激光器2的光束的光斑位置也就不同。若在全息照相元件的分割上下工夫，則即使其波長不同，也僅有衍射光中的例如+1級光能夠聚集在共同的光斑位置上，但-1級光等其它衍射光成份卻不能聚集到共同的光斑位置。
因此，在現有結構下，需要為半導體激光器1的光束和半導體激光器2的光束獨立地布置受光元件。
但是，獨立布置的受光元件布置成相互靠得很近，便很難在該受光元件之間再布置上其它受光元件，受光元件的布置受到限制，受光元件的布置設計自由度就下降，而無法實現穩定的聚焦/跟蹤誤差信號的檢測。這是一個問題。
在日本國公開專利公報特開號公報中，還公開有為解決這一問題的聚焦/跟蹤誤差信號的檢測方法。但是，該方法是用于對各個波長檢測在±1級衍射光的僅僅一個方向上的聚焦誤差信號或者跟蹤誤差信號。從光的利用效率來考慮，還算不上是穩定的聚焦/跟蹤誤差信號檢測。這也是一個問題。

發明內容
本發明正是為了解決上述問題而開發出來的。其主要目的，在于提供一種能夠檢測聚焦/跟蹤誤差信號以實現更穩定的記錄·再生的拾光裝置。本發明的另一目的，在于提供一種適合于所使用的半導體激光器的光波長互異的各種信息記錄媒體，同時受光元件的布置設計具有自由度、能夠檢測聚焦/跟蹤誤差信號以實現更穩定的記錄·再生的拾光裝置。
本發明的拾光裝置，其包括射出第一波長的光束的第一半導體激光器，射出與所述第一波長不同的第二波長的光束的第二半導體激光器，讓所述第一波長的光束或者所述第二波長的光束由光信息記錄媒體反射了的光再衍射的全息照相元件，以及接收由所述全息照相元件衍射的衍射光的多個受光元件。所述全息照相元件，擁有兩個或者更多個不同的衍射區域；所述多個受光元件，與所述第一半導體激光器和所述第二半導體激光器有間隔，以所述第一半導體激光器及所述第二半導體激光器所在的區域為基準布置在兩側，所述多個受光元件，沿著將所述第一半導體激光器的光射出位置和所述第二半導體激光器的光射出位置連接起來的連線的延長線排列；所述第一波長的光束由所述全息照相元件衍射的衍射光及所述第二波長的光束由所述全息照相元件衍射的衍射光，聚集在位于所述兩側中之一側的區域內大致同一個位置上，而且，在該位置上布置有所述多個受光元件的一部分；利用來自布置在所述兩側中之所述一側和與其相反的另一側的受光元件的信號，獲得聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號。
在一個合適的實施例中，布置在所述另一側的受光元件的個數比布置在所述一側的受光元件的個數多。
在一個合適的實施例中，與布置在所述一側的受光元件相比，布置在所述另一側的受光元件中至少有一個在所述延長線方向上的長度長。
本發明的另一種拾光裝置，其包括射出第一波長的光束的第一半導體激光器，射出與所述第一波長不同的第二波長的光束的第二半導體激光器，將從所述第一半導體激光器射出的光束或者從所述第二半導體激光器射出的光束分別分割為0級主光束、±1副光束的衍射光柵，讓所述0級主光束、所述±1副光束由光信息記錄媒體反射了的光再衍射的全息照相元件，以及接收由所述全息照相元件衍射的衍射光的多個受光元件。所述全息照相元件，擁有兩個或者更多個不同的衍射區域；接收所述0級主光束的由所述全息照相元件衍射的衍射光的受光元件，與所述第一半導體激光器和所述第二半導體激光器有間隔，布置在所述第一半導體激光器及所述第二半導體激光器的兩側，且沿著將所述第一半導體激光器的光射出位置和所述第二半導體激光器的光射出位置連接起來的連線的延長線排列；所述第一波長的0級主光束的由所述全息照相元件衍射的衍射光及所述第二波長的0級主光束的由所述全息照相元件衍射的衍射光，聚集在位于所述兩側中的一側的區域內大致同一個位置上，而且，在該位置上布置有所述受光元件；利用來自布置在所述兩側中的所述一側及與其相反的另一側的受光元件的信號，獲得聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號。
在一合適的實施例中，布置在所述另一側的、接收所述0級主光束的衍射光的所述受光元件的個數，比設置在所述一側的、接收所述0級主光束的衍射光的所述受光元件的個數多。
在一合適的實施例中，與布置在所述一側的、接收所述0級主光束的衍射光的所述受光元件相比，布置在所述另一側的、接收所述0級主光束的衍射光的所述受光元件中至少有一個在所述延長線方向上的長度長。
在一合適的實施例中，所述第二半導體激光器中的所述光束的所述第二波長，比所述第一半導體激光器中的所述光束的所述第一波長長。
在一合適的實施例中，在至少從所述第二半導體激光器看去越過所述第一半導體激光器的那一側，所述第一波長的光束由信息記錄媒體反射又由所述全息照相元件衍射的衍射光、所述第二波長的光束由信息記錄媒體反射又由所述全息照相元件衍射的衍射光，在具有相同的衍射次數的時候入射到同一個所述受光元件上。
根據本發明，能夠有效地以聚集在不同位置的衍射光作聚焦/跟蹤誤差信號用，從而能夠不降低受光元件的布置自由度。在讓具有相等的衍射次數的衍射光入射到同一個所述受光元件上的情況下，能夠減少受光元件的個數，結果是能夠謀求裝置的小型化。
根據本發明的拾光裝置，因為第一波長的光束的由全息照相元件衍射的衍射光及第二波長的光束的由全息照相元件衍射的衍射光，聚集在位于所述兩側中之一側的區域內大致同一個位置上，而且，在該位置上布置有多個所述受光元件的一部分，故能夠檢測聚焦/跟蹤誤差信號以實現更穩定的記錄·再生。利用來自布置在兩側中之所述一側和與其相反的另一側的受光元件的信號獲得聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號，則與僅利用來自一側的受光元件的信號相比，能夠利用更多的光量，這樣也能檢測聚焦/跟蹤誤差信號以實現更穩定的記錄·再生。


圖1是顯示本發明的第一個實施例的光學裝置的構成的剖面示意圖。
圖2是顯示本發明的第一個實施例中的光學裝置的各個部分的構成的示意圖，(a)是顯示全息照相元件的構成的平面圖；(b)是顯示受光元件的構成的平面圖。
圖3是顯示本發明的第二個實施例的光學裝置的構成的剖面示意圖。
圖4是顯示本發明的第二個實施例的光學裝置的各個部分的構成的示意圖，(a)是顯示全息照相元件的構成的平面圖；(b)是顯示受光元件的構成的平面圖。
圖5是表示本發明的第三個實施例的受光元件的構成的平面圖。
圖6是顯示本發明的第三個實施例的受光元件的另一構成的平面圖。
圖7是顯示本發明的第四個實施例的受光元件的構成的平面圖。
圖8是顯示本發明的第五個實施例的受光元件的構成的平面圖。
圖9是顯示本發明的第五個實施例的受光元件的另一構成的平面圖。
圖10是顯示本發明的第六個實施例的設置了三光束生成用衍射光柵的光學裝置的構成的剖面示意圖。
圖11是顯示本發明的第六個實施例的光學裝置的各個部分的構成的示意圖，(a)是顯示全息照相元件的構成的平面圖；(b)是顯示受光元件的構成的平面圖。
圖12是顯示現有光學裝置的剖面示意圖。
具體實施例方式
下面，參考

本發明的實施例。補充說明一下，本發明并不限于以下實施例。
(第一個實施例)圖1示意地顯示本發明的第一個實施例的光學裝置的構成。圖2(a)及(b)分別是顯示本發明的第一個實施例的全息照相元件及受光元件的構成的平面圖。
圖1所示的光學裝置，在同一集成基板24上包括射出對應于第一光信息記錄媒體9的記錄·再生的第一波長的光束10的第一半導體激光器11、射出對應于第二光信息記錄媒體12的記錄·再生的第二波長的光束13的第二半導體激光器14、具有使所述第一波長、所述第二波長的光束9、13衍射的第一衍射區域15和第二衍射區域16的全息照相元件17、接收來自所述全息照相元件17的衍射光的第一受光元件18、第二受光元件19、第三受光元件20、第四受光元件21、第五受光元件22、第六受光元件23。在全息照相元件17和光信息記錄媒體9、12之間，設有準直儀透鏡25和物鏡26。
圖2(b)的平面圖中示出了第一半導體激光器11表面上看去的發光點L1、第二半導體激光器14表面上看去的發光點L2。
接下來，說明該實施例中的光學裝置的動作。
首先，由光信息記錄媒體判斷器(未示)判斷要使用的光信息記錄媒體是第一光信息記錄媒體9還是第二光信息記錄媒體12，當是第一光信息記錄媒體9時，便驅動第一波長的半導體激光器11；當是第二光信息記錄媒體12時，便驅動第二波長的半導體激光器14。從第一半導體激光器11射出的光束10(圖1中用虛線所示)及從第二半導體激光器14射出的光束13(圖1中用實線所示)，經由準直儀透鏡25、物鏡26聚集到光信息記錄媒體9、12上并反射，再次經由準直儀透鏡25、物鏡26，入射到是光束分支器的全息照相元件17中。
在光信息記錄媒體9反射的第一波長的光束10，借助所述全息照相元件17的第一衍射區域15在圖中X方向衍射，±1級衍射光到達第一受光元件18和第四受光元件21；在光信息記錄媒體9反射的第一波長的光束10，還借助第二衍射區域16在圖中X方向上衍射，±1級衍射光到達第二受光元件19和第三受光元件20。
在光信息記錄媒體12反射的第二波長的光束13，借助所述全息照相元件17的第一衍射區域15在圖中X方向衍射，±1級衍射光到達所述第一受光元件18和第六受光元件23；在光信息記錄媒體12反射的第二波長的光束13，還借助第二衍射區域16在圖中X方向上衍射，±1級衍射光到達所述第二受光元件19和第五受光元件22。
從到達所述第一到第六受光元件18～23的光束10、13中檢測出聚焦/跟蹤誤差信號，利用該檢測信號進行第一光信息記錄媒體9或者第二光信息記錄媒體12的記錄·再生。
其次，說明從所述第一波長及第二波長光束10、13檢測聚焦/跟蹤誤差信號的方法。
如圖2(b)所示，所述第一受光元件18到第六受光元件23在Y軸方向上分別被分割為四個受光區域。
受光元件上的由在全息照相元件17衍射后的光所形成的光斑分別以10a～10d、11a～11d、12a～12d、13a～13d表示。這些表示中，用虛線表示的是由于第一波長的光束10引起；用實線表示的是由第二波長的光束13引起。
首先，說明聚焦誤差信號的檢測。
當設來自所述受光區域18a、18d、19a、19d的輸出信號為F1，設來自所述受光區域18b、18c、19b、19c的輸出信號為F2，設來自所述受光區域20a、20d、21a、21d的輸出信號為F3，設來自所述受光區域20b、20c、21b、21c的輸出信號為F4，設來自所述受光區域22a、22d、23a、23d的輸出信號為F5，設來自所述受光區域22b、22c、23b、23c的輸出信號為F6時，便由公知的SSD(光斑大小檢測)法檢測聚焦誤差信號FE。通過以下(式1)的運算，便能由所述第一波長的光束10得到聚焦誤差信號FE1。
FE1＝(F1+F4)-(F2+F3) ……(式1)通過以下(式2)的運算，便能由所述第二波長的光束13得到聚焦誤差信號FE2。
FE2＝(F1+F6)-(F2+F5) ……(式2)通過以下(式3)的運算，即對應于所述第一波長的光束10和所述第二波長的光束13二者的運算，便能得到聚焦誤差信號FE3。
FE3＝(F1+F4+F6)-(F2+F3+F5)……(式3)接下來，說明跟蹤誤差信號的檢測。
當設來自所述受光區域18a、18b的輸出信號為T1，設來自所述受光區域18c、18d的輸出信號為T2，設來自所述受光區域19a、19b的輸出信號為T3，設來自所述受光區域19c、19d的輸出信號為T4，設來自所述受光區域20a、20b的輸出信號為T5，設來自所述受光區域20c、20d的輸出信號為T6，設來自所述受光區域21a、21b的輸出信號為T7，設來自所述受光區域21c、21d的輸出信號為T8，設來自所述受光區域22a、22b的輸出信號為T9，設來自所述受光區域22c、22d的輸出信號為T10，設來自所述受光區域23a、23b的輸出信號為T11，設來自所述受光區域23c、23d的輸出信號為T12時，便由公知的DPD(相位差檢測)法和PP(推挽)法檢測跟蹤誤差信號TE。
通過以下(式4)的運算，便能由所述第一波長的光束10得到DPD法下的跟蹤誤差信號TE(DPD)1。
TE(DPD)1＝(T1+T4+T5+T8)-(T2+T3+T6+T7) ……(式4)通過以下(式5)的運算，便能由所述第一波長的光束10得到PP法下的跟蹤誤差信號TE(PP)1。
TE(PP)1＝(T1+T2+T7+T8)-(T3+T4+T5+T6) ……(式5)通過以下(式6)的運算，便能由所述第二波長的光束13得到DPD法下的跟蹤誤差信號TE(DPD)2。
TE(DPD)2＝(T1+T4+T9+T12)-(T2+T3+T10+T11) ……(式6)通過以下(式7)的運算，便能由所述第二波長的光束13得到PP法下的跟蹤誤差信號TE(PP)2。
TE(PP)2＝(T1+T2+T11+T12)-(T3+T4+T9+T10) ……(式7)通過以下(式8)的運算，即對應于所述第一波長的光束10和所述第二波長的光束13二者的運算，便能得到DPD法下的跟蹤誤差信號TE(DPD)3。
TE(DPD)3＝(T1+T4+T5+T8+T9+T12)-(T2+T3+T6+T7+T10+T11) ……(式8)通過以下(式9)的運算，即對應于所述第一波長的光束10和所述第二波長的光束13二者的運算，便能得到PP法下的跟蹤誤差信號TE(PP)3。
TE(PP)3＝(T1+T2+T7+T8+T11+T12)-(T3+T4+T5+T6+T9+T10)……(式9)根據該實施例，將受光元件布置在將半導體激光器的光射出位置連接起來的連線的延長線上，以第一半導體激光器11為界來觀察，讓布置在靠近第二半導體激光器14一側(相當于所述另一側)的受光元件的個數比布置在其相反一側(相當于所述一側)的受光元件的個數多。
這樣一來，至少能夠在半導體激光器的一側將由第一波長的光束10引起的衍射光和由第二波長的光束13引起的衍射光在共同的光斑位置上聚光，因而能夠減少受光元件數。只要半導體激光器的發光點間隔有限，使受光元件數的關系相反的關系便不會成立。在受光元件數多的那一側由波長不同的光束引起的衍射光在不同的位置聚光。根據該實施例，能夠充分確保受光區域，故得以謀求衍射光的有效利用。
因此，能夠從第一波長的光束10、第二波長的光束13檢測聚焦/跟蹤誤差信號，以實現更穩定的記錄·再生。
如(式3)、(式8)、(式9)所示，能夠以相同的處理方法進行聚焦/跟蹤誤差信號的運算處理。能夠將由衍射元件17衍射的所述第一波長的光束10、第二波長的光束13的±1級衍射光用到聚焦/跟蹤誤差信號兩信號中，故能提高光的利用效率。
(第二個實施例)圖3示意地顯示本發明的第二個實施例所涉及的光學裝置的構成。圖4(a)及圖(b)分別是顯示本發明的第二個實施例的全息照相元件及受光元件的構成的平面圖。
圖3所示的光學裝置，在同一集成基板24上包括射出對應于第一光信息記錄媒體9的記錄·再生的第一波長的光束10的第一半導體激光器11；射出對應于第二光信息記錄媒體12的記錄·再生的第二波長的光束13的第二半導體激光器14；具有使所述第一波長、所述第二波長的光束9、13衍射的第一衍射區域27、第二衍射區域28、第三衍射區域29及第四衍射區域30的全息照相元件31；接收來自所述全息照相元件31的衍射光的第一受光元件18、第二受光元件19、第三受光元件20、第四受光元件21、第五受光元件22、第六受光元件23。在全息照相元件31和光信息記錄媒體9、12之間設有準直儀透鏡25和物鏡26。
圖4(b)的平面圖中示出了第一半導體激光器11表面上看去的發光點L1、第二半導體激光器14表面上看去的發光點L2。
接下來，說明該實施例中的光學裝置的動作。
首先，由光信息記錄媒體判斷器(未示)判斷要使用的光信息記錄媒體是第一光信息記錄媒體9還是第二光信息記錄媒體12，當是第一光信息記錄媒體9時，便驅動第一波長的半導體激光器11；當是第二光信息記錄媒體12時，便驅動第二波長的半導體激光器14。從第一半導體激光器11射出的光束10(圖3中用虛線所示)及從第二半導體激光器14射出的光束13(圖3中用實線所示)，經由準直儀透鏡25、物鏡26聚集到光信息記錄媒體9、12上并反射，再次經由準直儀透鏡25、物鏡26入射到是光束分支器的全息照相元件31中。
在光信息記錄媒體9反射的第一波長的光束10，借助所述全息照相元件31的第一衍射區域27和第二衍射區域28在圖中X方向衍射、在Y方向上進行比X方向小很多的衍射，±1級衍射光到達第一受光元件18和第四受光元件21；在光信息記錄媒體9反射的第一波長的光束10，還借助所述全息照相元件31的第三衍射區域29和第四衍射區域30在X方向衍射、在Y方向上進行比X方向小很多的衍射，±1級衍射光達到第二受光元件19和第三受光元件20。
在光信息記錄媒體12反射的第二波長的光束13，借助所述全息照相元件31的第一衍射區域27和第二衍射區域28在圖中X方向衍射、在Y方向上進行比X方向小很多的衍射，±1級衍射光到達所述第一受光元件18和第六受光元件23；在光信息記錄媒體12反射的第二波長的光束13，還借助所述全息照相元件31的第三衍射區域29和第四衍射區域30在圖中X方向衍射、在Y方向上進行比X方向小很多的衍射，±1級衍射光到達所述第二受光元件19和第五受光元件22。
從到達所述第一到第六受光元件18～23中的光束10、13中檢測到聚焦/跟蹤誤差信號，利用該檢測信號進行第一光信息記錄媒體9或者第二光信息記錄媒體12的記錄·再生。
其次，說明從所述第一波長及第二波長光束10、13檢測聚焦/跟蹤誤差信號的方法。
如圖4(b)所示，第一受光元件18到第六受光元件23在Y軸方向上分別被分割。
受光元件上的借助全息照相元件31衍射形成的光的光斑分別以10e～10j、11e～11j、12e～12j、13e～13j表示。在這些表示中，用虛線表示的是由于第一波的光束10引起；用實線表示的是由第二波長的光束13引起。
首先，說明聚焦誤差信號的檢測。
當設來自所述受光區域18a、18d、19a、19d的輸出信號為F1，設來自所述受光區域18b、18c、19b、19c的輸出信號為F2，設來自所述受光區域20a、20d、21a、21d的輸出信號為F3，設來自所述受光區域20b、20c、21b、21c的輸出信號為F4，設來自所述受光區域22a、22d、23a、23d的輸出信號為F5，設來自所述受光區域22b、22c、23b、23c的輸出信號為F6時，便由公知的SSD(光斑大小檢測)法檢測聚焦誤差信號FE。通過和第一個實施例一樣的(式1)的運算，便能由所述第一波長的光束10得到聚焦誤差信號FE1。
通過和第一個實施例一樣的(式2)的運算，便能由所述第二波長的光束13得到聚焦誤差信號FE2。
通過和第一個實施例一樣的(式3)的運算，即對應于所述第一波長的光束10和所述第二波長的光束13二者的運算，便能得到聚焦誤差信號FE3。
接下來，說明跟蹤誤差信號的檢測。
當設來自所述受光區域18a、18b的輸出信號為T1，設來自所述受光區域18c、18d的輸出信號為T2，設來自所述受光區域19a、19b的輸出信號為T3，設來自所述受光區域19c、19d的輸出信號為T4，設來自所述受光區域20a、20b的輸出信號為T5，設來自所述受光區域20c、20d的輸出信號為T6，設來自所述受光區域21a、21b的輸出信號為T7，設來自所述受光區域21c、21d的輸出信號為T8，設來自所述受光區域22a、22b的輸出信號為T9，設來自所述受光區域22c、22d的輸出信號為T10，設來自所述受光區域23a、23b的輸出信號為T11，設來自所述受光區域23c、23d的輸出信號為T12時，便由公知的DPD(相位差檢測)法和PP(推挽)法檢測出跟蹤誤差信號TE。和第一個實施例一樣進行(式4)的運算，便能由所述第一波長的光束10得到DPD法下的跟蹤誤差信號TE(DPD)1。
和第一個實施例一樣進行(式5)的運算，便能由所述第一波長的光束10得到PP法下的跟蹤誤差信號TE(PP)1。
和第一個實施例一樣進行(式6)的運算，便能由所述第二波長的光束13得到DPD法下的跟蹤誤差信號TE(DPD)2。
和第一個實施例一樣進行(式7)的運算，便能由所述第二波長的光束13得到PP法下的跟蹤誤差信號TE(PP)2。
和第一個實施例一樣進行(式8)的運算，即對應于所述第一波長的光束10和所述第二波長的光束13二者的運算，便能得到DPD法下的跟蹤誤差信號TE(DPD)3。
和第一個實施例一樣進行(式9)的運算，即對應于所述第一波長的光束10和所述第二波長的光束13二者的運算，便能得到PP法下的跟蹤誤差信號TE(PP)3。
根據該實施例，象在第一個實施例中所做的說明一樣，由于波長不同而聚集到不同位置的衍射光也能夠有效地利用，故能夠利用所述第一波長的光束10、第二波長的光束13檢測聚焦/跟蹤誤差信號，以實現穩定的記錄·再生。而且，還能利用(式3)、(式8)、(式9)以相同的處理方法進行聚焦/跟蹤誤差信號的運算處理。
所述第一波長的光束10和第二波長的光束13由全息照相元件31衍射的±1級衍射光被用在聚焦/跟蹤誤差信號二者中，故能夠提高光利用效率。
通過在圖中Y方向上將受光光斑分離開，便能確保Y方向上的組裝余量(物鏡26、準直儀透鏡25、全息照相元件31)，從而能夠獲得穩定的跟蹤誤差信號。
(第三個實施例)
圖5是顯示本發明的第三個實施例中的受光元件的構成的平面圖。
在圖5所示的構成下，將圖2(b)或者圖4(b)中的受光元件20及21合二為一，這一個受光元件就是受光元件32。
至于受光元件的分割，是受光元件32在Y軸方向上被分割為三。除此之外，和圖2(b)或者圖4(b)所示的構成一樣。
因為受光元件32僅用于檢測聚焦誤差信號，所以在Y方向上分割為三即可。
當設來自所述受光區域18a、18d、19a、19d的輸出信號為F1，設來自所述受光區域18b、18c、19b、19c的輸出信號為F2，設來自所述受光區域22a、22d、23a、23d的輸出信號為F5，設來自所述受光區域22b、22c、23b、23c的輸出信號為F6，設來自所述受光區域32a、32c的輸出信號為F7，設來自所述受光區域32b的輸出信號為F8時，便由公知的SSD(光斑大小檢測)法檢測聚焦誤差信號FE。
通過以下(式10)的運算，便能由所述第一波長的光束10得到聚焦誤差信號FE1。
FE1＝(F1+F8)-(F2+F7)……(式10)通過以下(式11)的運算，便能由所述第二波長的光束13得到聚焦誤差信號FE2。
FE2＝(F1+F6)-(F2+F5)……(式11)通過以下(式12)的運算，即對應于所述第一波長的光束10和所述第二波長的光束13二者的運算，便能得到聚焦誤差信號FE3。
FE3＝(F1+F6+F8)-(F2+F5+F7) ……(式12)接下來，說明跟蹤誤差信號的檢測。
當設來自所述受光區域18a、18b的輸出信號為T1，設來自所述受光區域18c、18d的輸出信號為T2，設來自所述受光區域19a、19b的輸出信號為T3，設來自所述受光區域19c、19d的輸出信號為T4，設來自所述受光區域22a、22b的輸出信號為T9，設來自所述受光區域22c、22d的輸出信號為T10，設來自所述受光區域23a、23b的輸出信號為T11，設來自所述受光區域23c、23d的輸出信號為T12時，便由公知的DPD(相位差檢測)法和PP(推挽)法檢測跟蹤誤差信號TE。
通過以下(式13)的運算，便能由所述第一波長的光束10得到DPD法下的跟蹤誤差信號TE(DPD)1。
TE(DPD)1＝(T1+T4)-(T2+T3) ……(式13)通過以下(式14)的運算，便能由所述第一波長的光束10得到PP法下的跟蹤誤差信號TE(PP)1。
TE(PP)1＝(T1+T2)-(T3+T4) ……(式14)通過以下(式15)的運算，便能由所述第二波長的光束13得到DPD法下的跟蹤誤差信號TE(DPD)2。
TE(DPD)2＝(T1+T4+T9+T12)-(T2+T3+T10+T11)……(式15)通過以下(式16)的運算，便能由所述第二波長的光束13得到PP法下的跟蹤誤差信號TE(PP)2。
TE(PP)2＝(T1+T2+T11+T12)-(T3+T4+T9+T10) ……(式16)通過以下(式17)的運算，即對應于所述第一波長的光束10和所述第二波長的光束13二者的運算，便能得到DPD法下的跟蹤誤差信號TE(DPD)3。
TE(DPD)3＝(T1+T4+T9+T12)-(T2+T3+T10+T11)……(式17)通過以下(式18)的運算，即對應于所述第一波長的光束10和所述第二波長的光束13二者的運算，便能得到PP法下的跟蹤誤差信號TE(PP)3。
TE(PP)3＝(T1+T2+T11+T12)-(T3+T4+T9+T10) ……(式18)根據該實施例，象在第一、第二個實施例中所做的說明一樣，由于波長不同而聚集到不同位置的衍射光也能夠有效地利用，故能夠利用所述第一波長的光束10、第二波長的光束13檢測聚焦/跟蹤誤差信號，以實現穩定的記錄·再生。
還能利用(式12)、(式17)、(式18)以相同的處理方法進行聚焦/跟蹤誤差信號的運算處理。
因為能夠將由衍射元件17衍射的所述第一波長的光束10、第二波長的光束13的±1級衍射光用到聚焦誤差信號中，故能提高光利用效率。
因為減少了受光元件的個數，故能夠減少受光元件間的干涉噪聲，以謀求減小面積。
在圖4所示的構成下，若進一步縮小受光部，則在受光元件21接收的第一波長的光束10和在受光元件22上接收的第二波長的光束13在集成基板上就有一部分重疊起來。結果是，對應于光束10的受光元件21、對應于光束13的受光元件22不能完全地(充分地)接收它們，而有得不到穩定的聚焦/跟蹤誤差信號的時候。在這樣的情況下，若象該實施例那樣，使接收第一波長的光束10的受光元件21和接收第二波長的光束13的受光元件22為一個受光元件，光束便無任何損失，獲得穩定的信號。
圖6是圖5所示的受光元件的又一個構成例。在這種情況下，也能夠利用類似于該實施例的方法檢測聚焦/跟蹤誤差信號。
(第四個實施例)圖7是顯示本發明的第四個實施例中的受光元件的構成的平面圖。
在圖7所示的構成下，將圖2(b)或者圖4(b)中的受光元件21及22合二為一，這個受光元件就是受光元件34。
受光元件34在Y軸方向上被分割為四。
其次，說明從所述第一波長及第二波長光束10、13檢測聚焦/跟蹤誤差信號的方法。
當設來自所述受光區域18a、18d、19a、19d的輸出信號為F1，設來自所述受光區域18b、18c、19b、19c的輸出信號為F2，設來自所述受光區域20a、20d的輸出信號為F3’，設來自所述受光區域20b、20c的輸出信號為F4’，設來自所述受光區域23a、23d的輸出信號為F5’，設來自所述受光區域23b、23c的輸出信號為F6’，設來自所述受光區域34a、34d的輸出信號為F9，設來自所述受光區域34b、34c的輸出信號為F10時，便由公知的SSD(光斑大小檢測)法檢測聚焦誤差信號FE。通過以下(式19)的運算，便能由所述第一波長的光束10得到聚焦誤差信號FE1。
FE1＝(F1+F4’+F10)-(F2+F3’+F9) ……(式19)通過以下(式20)的運算，便能由所述第二波長的光束13得到聚焦誤差信號FE2。
FE2＝(F1+F6’+F10)-(F2+F5’+F9) ……(式20)通過以下(式21)的運算，即對應于所述第一波長的光束10和所述第二波長的光束13二者的運算，便能得到聚焦誤差信號FE3。
FE3＝(F1+F4’+F6’+F10)-(F2+F3’+F5’+F9) ……(式21)當設來自所述受光區域18a、18b的輸出信號為T1，設來自所述受光區域18c、18d的輸出信號為T2，設來自所述受光區域19a、19b的輸出信號為T3，設來自所述受光區域19c、19d的輸出信號為T4，設來自所述受光區域20a、20b的輸出信號為T5，設來自所述受光區域20c、20d的輸出信號為T6，設來自所述受光區域23a、23b的輸出信號為T11，設來自所述受光區域23c、23d的輸出信號為T12，設來自所述受光區域34a、34b的輸出信號為T13，設來自所述受光區域34c、34d的輸出信號為T14時，便由公知的DPD(相位差檢測)法和PP(推挽)法檢測跟蹤誤差信號TE。通過以下(式22)的運算，便能由所述第一波長的光束10得到DPD法下的跟蹤誤差信號TE(DPD)1。
TE(DPD)1＝(T1+T4+T5+T14)-(T2+T3+T6+T13) ……(式22)通過以下(式23)的運算，便能由所述第一波長的光束10得到PP法下的跟蹤誤差信號TE(PP)1。
TE(PP)1＝(T1+T2+T13+T14)-(T3+T4+T5+T6)……(式23)通過以下(式24)的運算，便能由所述第二波長的光束13得到DPD法下的跟蹤誤差信號TE(DPD)2。
TE(DPD)2＝(T1+T4+T12+T13)-(T2+T3+T11+T14) ……(式24)通過以下(式25)的運算，便能由所述第二波長的光束13得到PP法下的跟蹤誤差信號TE(PP)2。
TE(PP)2＝(T1+T2+T11+T12)-(T3+T4+T13+T14) ……(式25)
根據該實施例，象在第三個實施例中所做的說明一樣，由于波長不同而聚集到不同位置的衍射光也能夠有效地利用，故能夠利用所述第一波長的光束10、第二波長的光束13檢測聚焦/跟蹤誤差信號，以實現穩定的記錄·再生。
還能利用(式21)以相同的處理方法進行聚焦/跟蹤誤差信號的運算處理。能夠將由衍射元件17衍射的所述第一波長的光束10、第二波長的光束13的±1級衍射光用到聚焦/跟蹤誤差信號這兩種信號中，故能提高光利用效率。
因為減少了受光元件的個數，故能夠減少受光元件間的干涉噪聲，以謀求面積的減小。在很難同時使用接收第一波長的光束10的受光元件21和接收第二波長的光束13的受光元件22的情況下，將成為有效的受光元件布置。
(第五個實施例)圖8是顯示本發明的第五個實施例中的受光元件的構成的平面圖。
在圖8所示的構成下，將圖2(b)或者圖4(b)中的受光元件21、22及23合三為一，這個受光元件就是受光元件35。
受光元件的分割情況與圖2(b)或者圖4(b)所示的構成一樣。
其次，說明從所述第一波長及第二波長光束10、13檢測聚焦誤差信號的方法。
當設來自所述受光區域18a、18d、19a、19d的輸出信號為F1，設來自所述受光區域18b、18c、19b、19c的輸出信號為F2，設來自所述受光區域20a、20d的輸出信號為F3’，設來自所述受光區域20b、20c的輸出信號為F4’，設來自所述受光區域35a、35d的輸出信號為F13，設來自所述受光區域35b、35c的輸出信號為F14時，便由公知的SSD(光斑大小檢測)法檢測聚焦誤差信號FE。通過以下(式26)的運算，便能由所述第一波長的光束10得到聚焦誤差信號FE1。
FE1＝(F1+F4’+F16)-(F2+F3’+F15) ……(式26)通過以下(式27)的運算，便能由所述第二波長的光束13得到聚焦誤差信號FE2。
FE2＝(F1+F14)-(F2+F13) ……(式27)
通過以下(式28)的運算，即對應于所述第一波長的光束10和所述第二波長的光束13二者的運算，便能得到聚焦誤差信號FE3。
FE3＝(F1+F4’+F14)-(F2+F3’+F13) ……(式28)接下來，說明是如何檢測跟蹤誤差信號的。
當設來自所述受光區域18a、18b的輸出信號為T1，設來自所述受光區域18c、18d的輸出信號為T2，設來自所述受光區域19a、19b的輸出信號為T3，設來自所述受光區域19c、19d的輸出信號為T4，設來自所述受光區域20a、20b的輸出信號為T5，設來自所述受光區域20c、20d的輸出信號為T6，設來自所述受光區域35a、35b的輸出信號為T15，設來自所述受光區域35c、35d的輸出信號為T16時，便由公知的DPD(相位差檢測)法和PP(推挽)法檢測跟蹤誤差信號TE。通過以下(式29)的運算，便能由所述第一波長的光束10得到DPD法下的跟蹤誤差信號TE(DPD)1。
TE(DPD)1＝(T1+T4+T5+T16)-(T2+T3+T6+T15) ……(式29)通過以下(式30)的運算，便能由所述第一波長的光束10得到PP法下的跟蹤誤差信號TE(PP)1。
TE(PP)1＝(T1+T2+T15+T16)-(T3+T4+T5+T6) ……(式30)通過以下(式31)的運算，便能由所述第二波長的光束13得到DPD法下的跟蹤誤差信號TE(DPD)2。
TE(DPD)2＝(T1+T4)-(T2+T3) ……(式31)通過以下(式32)的運算，便能由所述第二波長的光束13得到PP法下的跟蹤誤差信號TE(PP)2。
TE(PP)2＝(T1+T2)-(T3+T4)……(式32)在該實施例中，將受光元件布置在將半導體激光器的光射出位置連接起來的連線的延長線上，讓從第一半導體激光器11看去，布置在靠近第二半導體激光器14的受光元件中至少有一個，在所述延長線上方向上的長度比布置在同一側的其它所述受光元件的長。
如在第一個實施例中所說明的那樣，從所述第一半導體激光器11來看，在第二半導體激光器14的相反一側，由波長不同的光束引起的衍射光在不同的位置聚光。根據該實施例所示的構成，在這一側也能夠充分確保受光區域，故得以謀求衍射光的有效利用。
因此，能夠利用所述第一波長的光束10、第二波長的光束13檢測聚焦/跟蹤誤差信號，以實現穩定的記錄·再生；能利用(式37)以相同的處理方法進行聚焦誤差信號的運算處理；能夠將由衍射元件17衍射的所述第一波長的光束10、第二波長的光束13的±1級衍射光用到聚焦誤差信號中，故能提高光利用效率。
因為使受光元件的個數減少，故能夠減少受光元件間的干涉噪聲，以謀求面積的減小。在很難同時使用接收第一波長的光束10的受光元件21和接收第二波長的光束13的受光元件22的情況下，將成為有效的受光元件布置。
圖9是圖8所示的受光元件的構成的另一個例子。在這種情況下，也能夠利用該實施例所示的方法檢測聚焦/跟蹤誤差信號。
(第六個實施例)在該實施例中，說明本發明的第一個實施例的光學裝置包括三光束生成用衍射光柵的情況。
圖10示意地示出了本發明的第六個實施例的光學裝置的構成。圖11(a)及(b)是分別顯示本發明的第六個實施例的全息照相元件及受光元件的構成的平面圖。
在該實施例中，三光束生成用衍射光柵37位于第一半導體激光器11、第二半導體激光器14與全息照相元件17之間。
接著，說明該實施例的光學裝置中的副光束的光路。首先，由光信息記錄媒體判斷器(未示)判斷要使用的光信息記錄媒體是第一光信息記錄媒體9還是第二光信息記錄媒體12，當是第一光信息記錄媒體9時，便驅動第一波長的半導體激光器11；當是第二光信息記錄媒體12時，便驅動第二波長的半導體激光器14。
從第一半導體激光器11射出的光束10(圖10中用虛線所示)及從第二半導體激光器14射出的光束13(圖10中用實線所示)，由三光束生成用衍射光柵37分割為0級主光束和±1級副光束(未示)，經由準直儀透鏡25、物鏡26聚集到光信息記錄媒體9、12上并反射，再次經由準直儀透鏡25、物鏡26入射到是光束分支器的全息照相元件17中。
在光信息記錄媒體9反射的第一波長的光束10的0級主光束，借助全息照相元件17的第一衍射區域15在圖中X方向衍射，±1級衍射光到達受光元件18、21；在光信息記錄媒體9反射的第一波長的光束10的0級主光束，還借助第二衍射區域16在圖中X方向上衍射，±1級衍射光到達受光元件19、20。
在光信息記錄媒體12反射的第二波長的光束13的0級主光束，借助全息照相元件17的第一衍射區域15在圖中X方向衍射，±1級衍射光到達受光元件18、23；在光信息記錄媒體12反射的第二波長的光束13的0級主光束，還借助第二衍射區域16在圖中X方向上衍射，±1級衍射光到達受光元件19、22。
在光信息記錄媒體9反射的第一波長的光束10的±1級副光束，借助所述全息照相元件17的第一衍射區域15在圖中X方向衍射，±1級衍射光到達副受光元件38、39、44、45；在光信息記錄媒體9反射的第一波長的光束10的±1級副光束，還借助第二衍射區域16在圖中X方向上衍射，±1級衍射光到達所述副受光元件40、41、42、43。
在光信息記錄媒體12反射的第二波長的光束13的±1級副光束，借助全息照相元件17的第一衍射區域15在圖中X方向衍射，±1級衍射光到達所述副受光元件38、39、48、49；在光信息記錄媒體12反射的第二波長的光束13的±1級副光束，還借助第二衍射區域16在圖中X方向上衍射，±1級衍射光到達所述副受光元件40、41、46、47。
從到達所述副受光元件38～49的光束10、13中檢測出跟蹤誤差信號，利用該檢測信號進行第一光信息記錄媒體9或者第二光信息記錄媒體12的記錄·再生。
副受光元件上的由在全息照相元件17衍射后的光所形成的光斑分別以10m～10t、11m～11t、12m～12t、13m～13t表示。這些表示中，用虛線表示的是由于第一波長的光束10引起；用實線表示的是由第二波長的光束13引起。
接下來，說明利用來自所述第一波長及第二波長的光束10、13的所述副光束檢測跟蹤誤差信號的方法。
當設來自所述副受光元件38的輸出信號為ST1，設來自所述副受光元件39的輸出信號為ST2，設來自所述副受光元件40的輸出信號為ST3，設來自所述副受光元件41的輸出信號為ST4，設來自所述副受光元件42的輸出信號為ST5，設來自所述副受光元件43的輸出信號為ST6，設來自所述副受光元件44的輸出信號為ST7，設來自所述副受光元件45的輸出信號為ST8，設來自所述副受光元件46的輸出信號為ST9，設來自所述副受光元件47的輸出信號為ST10，設來自所述副受光元件48的輸出信號為ST11，設來自所述副受光元件49的輸出信號為ST12時，便能由公知的三光束法得到跟蹤誤差信號。通過以下(式33)的運算，便能由所述第一波長的光束10得到三光束法下的跟蹤誤差信號TE(3B)1。
TE(3B)1＝(ST1+ST3+ST5+ST7)-(ST2+ST4+ST6+ST8)……(式33)通過以下(式34)的運算，便能由所述第二波長的光束13得到三光束法下的跟蹤誤差信號TE(3B)2。
TE(3B)2＝(ST1+ST3+ST9+ST11)-(ST2+ST4+ST10+ST12) ……(式34)通過以下(式35)的運算，即對應于所述第一波長的光束10和所述第二波長的光束13二者的運算，便能得到跟蹤誤差信號TE(3B)3。
TE(3B)3＝(ST1+ST3+ST5+ST7+ST9+ST11)-(ST2+ST4+ST6+ST8+ST10+ST12)……(式35)接下來，說明副推挽法下的跟蹤誤差信號TE(SPP)的運算。
通過以下(式36)的運算，便能由所述第一波長的光束10得到副推挽法下的跟蹤誤差信號TE(SPP)1。
TE(SPP)1＝(ST1+ST2+ST7+ST8)-(ST3+ST4+ST5+ST6) ……(式36)通過以下(式37)的運算，便能由所述第二波長的光束13得到副推挽法下的跟蹤誤差信號TE(SPP)2。
TE(SPP)2＝(ST1+ST2+ST11+ST12)-(ST3+ST4+ST9+ST10) ……(式37)通過以下(式38)的運算，即對應于所述第一波長的光束10和所述第二波長的光束13二者的運算，便能得到跟蹤誤差信號TE(SPP)3。
TE(SPP)3＝(ST1+ST2+ST7+ST8+ST11+ST12)-(ST3+ST4+ST5+ST6+ST9+ST10)……(式38)通過組合該副推挽法和第一個實施例中所說明的PP法中的跟蹤誤差信號檢測方式，便能在比PP法還穩定的三光束推挽法下檢測跟蹤誤差信號。
接下來，說明三光束推挽法下的運算。
通過以下(式39)的運算，便能由所述第一波長的光束10得到三光束推挽法下的跟蹤誤差信號TE(3BPP)1。
TE(3BPP)1＝TE(PP)1-k×TE(SPP)1……(式39)通過以下(式40)的運算，便能由所述第二波長的光束13得到三光束推挽法下的跟蹤誤差信號TE(3BPP)2。
TE(3BPP)2＝TE(PP)2-k×TE(SPP)2……(式40)通過以下(式41)的運算，即對應于所述第一波長的光束10和所述第二波長的光束13二者的運算，便能得到跟蹤誤差信號TE(3BPP)3。
TE(3BPP)3＝TE(PP)3-k×TE(SPP)3……(式41)這里，式39、式40、式41中的k是任意值。
借助使用三光束生成用衍射光柵，便能利用三光束法、三光束推挽法檢測跟蹤誤差信號；借助增加第一個實施例的跟蹤誤差信號的檢測方式種類，便能適用到更多的光信息記錄媒體中。
在本發明的第二個實施例到第五個實施例中所示的光學裝置中裝上三光束生成用衍射光柵以后，就能通過和第六個實施例一樣增加跟蹤誤差信號的檢測方式的種類，適用到更多的光信息記錄媒體中。
補充說明一下，在該實施例中，設了副受光元件42～48。不設它們時，雖然誤差檢測精度會降低一些，但仍能夠進行跟蹤誤差檢測。
三光束法的輸出信號和副推挽法的輸出信號，能夠通過組合來自副受光元件的輸出信號以2輸出信號之差進行運算，所述2輸出信號能夠由開關等切換到對應于三光束法、副推挽法的輸出信號。
在第一到第六個實施例中，例如第一光信息記錄媒體是DVD(DVD、DVD-ROM、DVD-RAM、DVD-R、DVD-RW等)；第二光信息記錄媒體是CD(CD、CD-ROM、CD-R、CD-RW等)。第一波長約為650nm，第二波長約為780nm。
例如，可使用200nm到450nm的半導體激光器來產生第一波長，可使用約650nm或者780nm的半導體激光器產生第二波長。
如上所述，根據本發明的拾光裝置(光學裝置)，通過規定受光元件數量、形狀，便能有效地利用由于波長不同而在不同的光斑位置聚光的衍射光，從而應用到各種不同的信息記錄媒體中，同時受光元件的布置設計具有自由度，能夠進行聚焦/跟蹤誤差信號的檢測以實現更穩定的記錄·再生。
-實用性-本發明使以下拾光裝置實用化，從這一點上來看實用性很高。該拾光裝置，能有效地利用由于波長不同而在不同的光斑位置聚光的衍射光，從而應用到各種不同的信息記錄媒體中，同時受光元件的布置設計具有自由度，能夠進行聚焦/跟蹤誤差信號的檢測以更實現穩定的記錄·再生。
權利要求
1.一種拾光裝置，其包括射出第一波長的光束的第一半導體激光器，射出與所述第一波長不同的第二波長的光束的第二半導體激光器，讓所述第一波長的光束或者所述第二波長的光束由光信息記錄媒體反射了的光再衍射的全息照相元件，以及接收由所述全息照相元件衍射的衍射光的多個受光元件，其特征在于所述全息照相元件，擁有兩個或者更多個不同的衍射區域；所述多個受光元件，與所述第一半導體激光器和所述第二半導體激光器之間保持一定的間隔，以所述第一半導體激光器及所述第二半導體激光器所在的區域為基準布置在其兩側，所述多個受光元件，沿著將所述第一半導體激光器的光射出位置和所述第二半導體激光器的光射出位置連接起來的連線的延長線排列；所述第一波長的光束由所述全息照相元件衍射的衍射光及所述第二波長的光束由所述全息照相元件衍射的衍射光，聚集在位于所述兩側中之一側的區域內大致同一個位置上，而且，在該位置上布置有所述多個受光元件的一部分；利用來自布置在所述兩側中之所述一側和與其相反的另一側的受光元件的信號，獲得聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號。
2.根據權利要求1所述的拾光裝置，其特征在于布置在所述另一側的受光元件的個數比布置在所述一側的受光元件的個數多。
3.根據權利要求1或者2所述的拾光裝置，其特征在于與布置在所述一側的受光元件相比，布置在所述另一側的受光元件中至少有一個在所述延長線方向上的長度長。
4.一種拾光裝置，其包括射出第一波長的光束的第一半導體激光器，射出與所述第一波長不同的第二波長的光束的第二半導體激光器，將從所述第一半導體激光器射出的光束或者從所述第二半導體激光器射出的光束分別分割為0級主光束、±1副光束的衍射光柵，讓所述0級主光束、所述±1副光束由光信息記錄媒體反射了的光再衍射的全息照相元件，以及接收由所述全息照相元件衍射的衍射光的多個受光元件，其特征在于所述全息照相元件，擁有兩個或者更多個不同的衍射區域；接收所述0級主光束的由所述全息照相元件衍射的衍射光的受光元件，與所述第一半導體激光器和所述第二半導體激光器有間隔，布置在所述第一半導體激光器及所述第二半導體激光器的兩側，且沿著將所述第一半導體激光器的光射出位置和所述第二半導體激光器的光射出位置連接起來的連線的延長線排列；所述第一波長的0級主光束的由所述全息照相元件衍射的衍射光及所述第二波長的0級主光束的由所述全息照相元件衍射的衍射光，聚集在位于所述兩側中的一側的區域內大致同一個位置上，而且，在該位置上布置有所述受光元件；利用來自布置在所述兩側中的所述一側及與其相反的另一側的受光元件的信號，獲得聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號。
5.根據權利要求4所述的拾光裝置，其特征在于布置在所述另一側的、接收所述0級主光束的衍射光的所述受光元件的個數，比設置在所述一側的、接收所述0級主光束的衍射光的所述受光元件的個數多。
6.根據權利要求4或者5所述的拾光裝置，其特征在于和布置在所述一側的、接收所述0級主光束的衍射光的所述受光元件相比，布置在所述另一側的、接收所述0級主光束的衍射光的所述受光元件中至少有一個在所述延長線方向上的長度長。
7.根據權利要求1到6中的任一項權利要求所述的拾光裝置，其特征在于所述第二半導體激光器中的所述光束的所述第二波長，比所述第一半導體激光器中的所述光束的所述第一波長長。
8.根據權利要求1到7中的任一項權利要求所述的拾光裝置，其特征在于在至少從所述第二半導體激光器看去越過所述第一半導體激光器的那一側，所述第一波長的光束由信息記錄媒體反射又由所述全息照相元件衍射的衍射光、所述第二波長的光束由信息記錄媒體反射又由所述全息照相元件衍射的衍射光，在具有相同的衍射次數的時候入射到同一個所述受光元件上。
全文摘要
本發明公開了一種拾光裝置。其包括第一、第二半導體激光器(11、14)、讓由光信息記錄媒體(9或者12)反射的光衍射的全息照相元件(17)以及多個受光元件(18～23)。全息照相元件(17)具有兩個或者更多個衍射區域，受光元件(18～23)與第一、第二半導體激光器(11、14)有間隔，在其兩側沿著將第一、第二半導體激光器(11、14)的光射出位置連接起來的連線的延長線排列。第一波長的光束(10)的由全息照相元件(17)衍射的衍射光及第二波長的光束13的由全息照相元件(17)衍射的衍射光聚集在一側大致相同的位置上，而且在該位置上布置有多個受光元件(18～23)的一部分(18、19)。利用來自一側及另一側的受光元件(18～23)的信號獲得聚焦/跟蹤誤差信號。
文檔編號G11B7/09GK1682291SQ0382148
公開日2005年10月12日 申請日期2003年9月8日 優先權日2002年9月10日
發明者西本雅彥, 濱口真一, 中森達哉, 河內泰之 申請人:松下電器產業株式會社