專利名稱：一種測序控制系統的制作方法
技術領域：
本發明涉及自動化控制領域，更具體地說，涉及一種測序控制系統。
背景技術：
目前測序行業出現了百家爭鳴的景象，不同的公司有不同的測序原理，比如:大規模平行簽名測序(Massively Parallel Signature Sequencing, MPSS)、聚合酶克隆(Polony Sequencing)、454 焦憐酸測序(4δ4 pyrosequencing)、Illumina (Solexa)sequencing、ABI SOLiD sequencing、離子半導體測序(1n semiconductor sequencing)、DNA納米球測序(DNA nanoball sequencing)等。雖然測序原理不同,但測序的過程基本相同，首先，將樣品固定于固相載體上；然后，將固相載體安裝在測序系統中的測序反應平臺上，形成測序反應小室或者測序芯片，并將測序試劑導入到測序反應小室或測序芯片上，與固相載體上的樣品發生測序反應；而后，利用激發光源照射固相載體表面，并利用探測器檢測、收集固相載體表面的信號；最后，對收集到的信號進行處理，得到樣品的序列信息。現有技術中，測序系統包括試劑傳輸組件、測序反應組件、采圖組件和信息處理組件。其中，測序反應組件包括溫控裝置和測序反應小室(或者測序芯片)。該測序系統的控制方法包括:步驟1，進行測序反應，包括試劑傳輸組件將試劑傳輸到測序反應小室，溫控裝置對測度反應小室溫度進行控制；步驟2，采圖組件對發生測序反應的測序反應小室上的信號進行檢測和收集；循環步驟I和步驟2，直到完成測序反應；步驟3，信息處理組件對收集的信號進行處理，得樣品的序列信息。本技術方案中，當進行步驟I時，采圖組件閑置，當進行步驟2時，試劑傳輸組件和測序反應組件閑置，一方面測序效率低，另一方面，造成測序系統的利用率低。因此需要一種新的測序控制系統能夠實現快速測序，并且提高測序系統的利用率。

發明內容
本發明的目的在于提供一種測序控制系統，旨在解決現有技術測序系統的測序效率低且系統的利用率低的問題。為了實現發明目的，一種測序控制系統包括:第一測序反應單元、第一采圖單元、第二測序反應單元、第二采圖單元和控制單元。其中，所述第一測序反應單元，用于控制第一測序反應小室的測序反應；所述第一采圖單元，用于控制采圖組件對第一測序反應小室進行信號檢測與收集，得信號數據；所述第二測序反應單元，用于控制第二測序反應小室的測序反應；所述第二采圖單元，用于控制采圖組件對第二測序反應小室進行信號檢測與收集，得信號數據；所述控制單元用于控制第一測序反應單元與第一采圖單元進行多次循環工作，并用于控制第二測序反應單元與第二采圖單元進行多次循環工作；所述第一采圖單元與第二測序反應單元在同一時間段內進行工作，且具有最長的共同工作時間。
其中，所述第一測序反應單元用于控制試劑傳輸組件將試劑傳輸到第一測序反應小室，并用于控制溫控裝置對第一測序反應小室進行加熱或制冷；所述第二測序反應單元用于控制試劑傳輸組件將試劑傳輸到第二測序反應小室，并用于控制溫控裝置對第二測序反應小室進行加熱或制冷。其中，所述第一采圖單元用于控制第一測序反應小室的調平，并用于控制采圖組件對第一測序反應小室的聚焦；所述第二采圖單元用于控制第二測序反應小室的調平，并用于控制采圖組件第二測序反應小室的聚焦。上述任一技術方案中，所述系統還包括信息處理單元，用于對信號數據進行信息處理，得序列片段。其中，所述第一采圖單元包括第一信號采集模塊和第一數據傳輸模塊；所述第一信號采集模塊，用于控制采圖組件對第一測序反應小室進行信號檢測與收集，得信號數據；所述第一數據傳輸模塊，用于實時傳輸信號數據給信息處理單元。其中，所述第二采圖單元包括第二信號采集模塊和第二數據傳輸模塊；所述第二信號采集模塊，用于控制采圖組件對第二測序反應小室進行信號檢測與收集，得信號數據；所述第二數據傳輸模塊，用于實時傳輸信號數據給信息處理單元。為了更好地實現發明目的，本發明還包括一種測序控制方法，該方法包括以下步驟:步驟A.第一測序反應單元控制第一測序反應小室的測序反應；步驟B.第一采圖單元控制采圖組件對第一測序反應小室進行信號檢測與收集，得信號數據；步驟C.第二測序反應單元控制第二測序反應小室的測序反應；步驟D.第二采圖單元控制采圖組件對第二測序反應小室進行信號檢測與收集，得信號數據；步驟E.重復步驟A—次；步驟F.重復步驟B到E，直到第一測序反應小室完成所有的測序反應；步驟G.重復步驟B和步驟C 一次；步驟H.重復步驟D —次；所述步驟B和步驟C在同一時間段內執行，且具有最長的共同執行時間；所述步驟D和步驟E在同一時間段內執行，具有最長的共同執行時間。由上可知，本發明的測序系統能夠實現對多個測序反應小室進行平行的互不干擾的測序控制，實現了測序系統的快速測序，在提聞測序效率的同時提聞了測序系統的利用率。


圖1是本發明一個實施例中測序系統的結構示意圖。圖2是本發明一個實施例中測序控制系統結構示意圖。圖3是本發明一個實施例中測序過程的流程圖。圖4是本發明一個實施例中測序反應小室工作流程圖。圖5是本發明一個實施例中信息處理單元處理結果圖。
具體實施例方式為了使本發明的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發明進行進一步詳細說明。為了使后續的實施例更容易理解，本發明首先給出測序方法。現有測序技術中，一種測序方法為:利用連接測序法來確定每條序列中的堿基序列。利用四色熒光或者二色熒光標記的引物與測序錨引物連接，該熒光標記的顏色與引物上特定位置的堿基類型相關，測序錨引物與含有待測序列的測序文庫上的已知序列互補配對；每次連接反應后，利用激發光照射，帶熒光標記的點會被激發，而發出激發光，然后獲取每個發光處的信號，經過分析即可知道與該光信號對應的與引物上特定位置互補的待測序列的堿基。上述測序方法是公知常識，在此不詳細描述，具體可參見中國發明專利申請=201110222894.5。針對測序系統，本發明提出第一實施例。如圖1所示，測序系統可包括:測序反應小室01，試劑傳輸組件02，控制組件03和采圖組件04。(I)測序反應小室01用于測序反應。(2)試劑傳輸組件02，用于根據控制組件04的指令將試劑傳輸到測序反應小室01。(3)控制組件03，用于控制試劑傳輸組件02和采圖組件04進行工作。(4)采圖組件04，用于根據控制組件03的指令對測序反應小室01和進行采圖。上述測序反應小室01為任意可用于固定樣品的裝置或載體，比如:測序反應腔、基因芯片等，所述測序系統包括至少一個測序反應小室01。優選的，測序系統包括兩個測序反應小室01，分別稱為第一測序反應小室和第二測序反應小室。所述試劑傳輸組件02可以包括:多孔板、泵和閥，所述泵與閥通過導管連接，閥位于多孔板上方任意位置，泵和閥配合使用，用于將多孔板中的試劑抽取到測序反應小室中。所述試劑傳輸組件02也可以包括:多孔板、泵和機械手，所述機械手通過導管與泵連接，用于抽取多孔板內盛放的試劑，泵也可通過導管與多孔板連接，抽取多孔板內盛放的試劑。所述控制組件03可以包括:上位機和下位控制器。其中，上位機和下位控制器可通過串口進行通訊。所述上位機用于提供輸入指令接口，可以是計算機、嵌入式控制面板等。所述下位控制器用于根據上位機的指令控制試劑傳輸組件02和采圖組件04工作，可以是單片機或PLC。所述采圖組件04可包含用于對測序反應小室中點樣區域內的圖像進行放大的放大裝置和通過放大裝置對測序反應小室進行拍圖的拍圖裝置，其中，所述放大裝置可以是顯微鏡、透鏡等，所述拍圖裝置可以是CCD、CM0S等。本發明的測序系統并不受本實施例中的測序系統的限制，本實施例中的測序系統只是較佳的實施例。針對用于控制測序系統的測序控制系統，本發明提出第二實施例，如圖2所示。測序控制系統包括:第一測序反應單元2、第一采圖單元1、第二測序反應單元3、第二采圖單元4和控制單元5。其中:(1)第一測序反應單元2，用于控制第一測序反應小室的測序反應。(2)第一采圖單元1，用于控制采圖組件對第一測序反應小室進行信號檢測與收集，得信號數據。(3)第二測序反應單元3，用于控制第二測序反應小室的測序反應。(4)第二采圖單元4，用于控制采圖組件對第二測序反應小室進行信號檢測與收集，得信號數據。(5)控制單元5用于控制第一測序反應單元2與第一采圖單元I進行多次循環工作，并用于控制第二測序反應單元3與第二采圖單元4進行多次循環工作。優選的，所述第一采圖單元與第二測序反應單元在同一時間段內進行工作，且具有最長的共同工作時間。本技術方案實現了測序系統在測序控制系統的控制下，能夠實現快速測序，并且提高了測序系統的利用率。本實施例中，第一測序反應小室和第二測序反應小室可同時或不同時進行測序反應，發生測序反應后的測序反應小室被采圖組件分別進行信號檢測與收集(也即采圖)。如圖2中所示，控制單元5控制第一測序反應單元2、第二測序反應單元3、第一采圖單元I和第二采圖單元4進行工作。信號檢測與收集的時間與采圖組件對測序反應小室需要采集的圖像的張數有關，采集的圖像的張數越多，信號檢測與收集的時間越長；測序反應的時間與測序方法有關，不同的測序反應需要的測序反應時間不同。所以本實施例給出了不同的實施方案。優選方案一、信號檢測與收集的時間長于測序反應的時間，如圖3中的3-1。首先，控制單元5發送第一測序反應小室進行測序反應的指令，第一測序反應單元2根據該指令控制第一測序反應小室進行測序反應，同時控制單元5實時檢測當前第一測序反應單元2的狀態。當第一次測序反應完成后，控制單元5發送采圖指令給第一采圖單元1，第一采圖單元I根據采圖指令控制采圖組件對第一測序反應小室進行信號檢測與收集，同時，控制單元5發送第二測序反應小室進行測序反應的指令，第二測序反應單元3根據該指令控制第二測序反應小室進行測序反應，控制單元5實時檢測第一采圖單元I和第二測序反應單元3的狀態。控制單元5監測到第一采圖單元I和第二測序反應單元3均完成指令后(第二測序反應小室的測序反應完成的時間早于或同時與第一測序反應小室的信號檢測與收集完成)，控制單元5發送對第二測序反應小室進行采圖的指令，第二采圖單元4根據該指令控制采圖組件對第二測序反應小室進行信號檢測與收集，與此同時，控制單元5發送第一測序反應小室進行測序反應的指令，第一測序反應單元2根據該指令控制第一測序反應小室進行測序反應，控制單元5實時檢測第二采圖單元4和第一測序反應單元2的狀態(第一測序反應小室的測序反應完成的時間早于或同時與第二測序反應小室的信號檢測與收集完成)。如上述方法，第一測序反應小室和第二測序反應小室均循環進行測序反應和信號檢測，直到完成測序。優選方案二、信號檢測與收集的時間短于測序反應的時間，如圖3中的3-2。首先，控制單元5發送第一測序反應小室進行測序反應的指令，第一測序反應單元2根據該指令控制第一測序反應小室進行測序反應，同時控制單元5實時檢測當前第一測序反應單元2的狀態。當第一次測序反應完成后，控制單元發送第二測序反應小室的測序反應指令，第二測序反應單元3根據該指令控制第二測序反應小室進行測序反應，同時，控制單元5發送采圖指令給第一采圖單元1，第一采圖單元I根據該指令控制采圖組件對第一測序反應小室進行信號檢測與收集，控制單元5實時檢測第一采圖單元I和第二測序反應單元3的狀態。控制單元5監測到第一采圖單元I和第二測序反應單元3均完成指令后(第二測序反應小室的測序反應完成的時間晚于或同時與第一測序反應小室的信號檢測與收集完成)，控制單元5發送對第一測序反應小室進行測序反應的指令，第一測序反應單元2根據該指令控制控制第一測序反應小室進行測序反應，與此同時，控制單元5發送第二測序反應小室進行采圖的指令，第二采圖單元4根據該指令控制采圖組件對第二測序反應小室進行信號檢測與收集(第一測序反應小室的測序反應完成的時間晚于或同時與第二測序反應小室的信號檢測與收集完成如上述方法)。第一測序反應小室和第二測序反應小室均循環進行測序反應和信號檢測，直到完成測序。優選方案三、同時進行測序反應，測序反應完成之后依次進行拍圖，具體過程圖3中的3-3。具體控制過程如下:首先，控制單元5發送測序反應小室進行測序反應的指令，第一測序反應單元2與第二測序反應單元3根據該指令同時進行工作，分別控制第一測序反應小室的測序反應和第二測序反應小室的測序反應。控制單元5實時監控第一測序反應單元2和第二測序反應單元3的工作狀態，當監測到第一測序反應單元2和第二測序反應單元3完成之后，控制單元5發送對第一測序反應小室的進行采圖的指令，第一采圖單元I根據該指令控制采圖組件對第一測序反應小室進行信號檢測與收集。控制單元5實時監測第一采圖單元I的工作狀態，當監測到第一測序采圖單元I完成之后，控制單元5發送對第二測序反應小室進行采圖的指令，第二采圖單元4根據該指令控制采圖組件對第二測序反應小室進行信號檢測與收集。上述圖3對應的優選方案可以實現快速測序，并且大大提高測序系統的利用率，也即測序系統的各個部件協同進行工作，實現第一測序反應小室和第二測序反應小室的平行測序。與現有技術方案中依次進行第一測序反應小室的測序反應-信號檢測與收集，然后進行第二測序反應小室的測序反應-信號檢測與收集相比，本發明的技術方案中的采圖組件對其中一個測序反應小室采圖時，試劑傳輸組件、溫控裝置與另一測序反應小室共同實現測序反應，實現了測序系統的硬件在測序時能夠不間斷工作，提高系統的利用率，并且提高了單位時間內的測序通量。本實施例中，每個測序反應小室的工作流程如圖4所示，首先進行測序反應，當測序反應完成后進行信號檢測與收集，循環進行測序，直到完成對樣品的檢測。控制單元5根據通過控制組件輸入的指令來控制測序系統的工作。上述實施例中，信號檢測與收集的時間可以根據需要來調節，當需要快速完成采圖時，通過控制組件輸入每次采圖組件拍圖的張數或時間命令，控制單元5解析輸入的命令，根據該命令控制采圖組件拍圖的張數或時間，從而實現快速完成采圖。本技術方案中，由于測序反應時間和采圖時間的一般不相同，當采圖時間遠遠測序反應時間時，可以通過設置每次采圖組件采圖的張數來改變采圖時間，縮小采圖時間和測序反應時間之間的差距，從而實現測序反應和采圖動作的不間斷進行，提高測序的效率。另外，控制單元5采用多線程來控制第一測序反應小室和第二測序反應小室的工作順序，使得第一測序反應小室和第二測序反應小室平行的互不干擾的工作，大大提聞了測序系統的工作效率。第二實施例中的第一測序反應單元用于控制第一測序反應小室的測序反應。第一測序反應單元接收到控制單元的試劑傳輸指令后，控制試劑傳輸組件將試劑傳輸到第一測序反應小室；第一測序反應單元接收到控制單元的溫度指令后，控制溫控裝置對第一測序反應小室進行加熱或制冷。在溫控裝置的溫度控制下，第一測序反應小室內的試劑進行測序反應。所述第二測序反應單元接收到控制單元的試劑傳輸指令后，控制試劑傳輸組件將試劑傳輸到第二測序反應小室；第二測序反應單元接收到控制單元的溫度指令后，控制溫控裝置對第二測序反應小室進行加熱或制冷。在溫控裝置的溫度控制下，第二測序反應小室內的試劑進行測序反應。測序時不同測序方法對應的不同測序反應條件，所述的測序反應條件包括:測序反應小室內的試劑的種類與劑量、測序反應的溫度以及每個溫度下反應的時間。值得注意的是，本發明中試劑傳輸指令和溫度指令的無先后順序，也即可實現試劑傳輸組件先傳輸試劑，然后溫控裝置控制溫度；或者試劑傳輸組件傳輸試劑的同時溫控裝置控制溫度；或者溫控裝置先對測序反應小室進行溫度控制，試劑傳輸組件在進行試劑傳輸。優選的，試劑傳輸組件傳輸試劑的同時溫控裝置控制溫度，這樣可以大大提高測序反應的效率，無需單獨等待試劑傳輸或溫度控制。當第一測序反應小室完成測序反應后，首先，第一采圖單元控制第一測序反應小室的調平，也即使得第一測序反應小室固定樣品的區域所在的平面與采圖組件垂直；然后，第一采圖組件控制采圖組件對第一測序反應小室進行聚焦，同時控制采圖組件的曝光，也即實現信號檢測；接著，采圖組件對第一測序反應小室進行采圖，也即實現信號收集。第二采圖單元的控制方式與第一采圖單元的控制方式相同，在此不再贅述。其中，測序反應小室的調平，可以在每次測序反應完成之后均進行一次，也可以是每次測序過程中只在每個測序反應小室第一次完成測序反應后，進行一次調平，也即每個測序反應小室在整個測序過程中只進行一次調平。本技術方案中測序系統在第一、第二采圖單元的控制下，通過自動調平、聚焦、曝光等操作，使得采圖組件能夠收集到測序反應小室內的準確的數據，從而保證了測序結果的準確性，同時也保證了測序的通量。第二實施例中的測序控制系統還可包括信息處理單元，用于對信號數據進行信息處理，得序列片段。信息處理單元首先對信號數據進行識別，比如:根據信號強度的大小來識別。圖5中的5-1是本發明中通過采圖組件的信號檢測與收集得到的信號數據，每個亮點代表一種顏色的堿基信號。當測序采用四色熒光探針標記堿基時，采圖組件可對同一位置進行四次信號檢測與收集，得同一位置上同一個堿基對應的四個信號數據；當測序采用二色熒光探針標記堿基時，同一位置上同一個堿基檢測時，需要進行兩次測序反應，每次測序反應之后，采圖組件對同一位置進行兩次信號檢測與收集，得同一位置上同一個堿基對應的四個信號數據。以下僅以四色熒光探針標記堿基的分析結果為例。信息處理單元首先對同一個堿基上的信號數據進行初步識別，也即對拍攝的四張圖上的信號強度進行統計。圖5中5-2是統計后的信號數據，信息處理單元再根據5-2中的信號數據，識別堿基的類型。從圖5中5-2可知，basel對應的堿基是A，base2對應的堿基是T，base3對應的堿基是G，base4對應的堿基是A，base5對應的堿基是C，根據該方法可以得到所有信號數據對應的堿基。第二實施例中，所述第一采圖單元包括第一信號采集模塊和第一數據傳輸模塊。其中，所述第一信號采集模塊，用于控制采圖組件對第一測序反應小室進行信號檢測與收集，得信號數據；所述第一數據傳輸模塊，用于傳輸信號數據給信息處理單元。采圖組件對第一測序反應小室進行信號檢測與收集的過程為:首先，第一信號采集模塊控制采圖組件對第一測序反應小室進行聚焦和曝光，其中，聚焦的方法包括但不限于:“Z軸漂移校對系統”或“依據于圖像的小波變換并且被定義為一個高通河低通帶的函數”，所述曝光方法無特殊限制；然后，第一信號采集模塊控制采圖組件對第一測序反應小室進行信號收集，也即采圖，得到信號數據；而后，第一數據傳輸模塊將采圖組件中的信號數據傳輸給信息處理單元；最后，信息處理單元對信號數據進行處理，得到堿基序列。其中，所述的第一數據傳輸模塊可以實時傳輸信號數據，也可以等待采圖組件完成第一測序反應小室的信號收集后將信號數據一起傳輸給信息處理單元。所述第二采圖單元包括第二信號采集模塊和第二數據傳輸模塊。所述第二信號采集模塊，用于控制采圖組件對第二測序反應小室進行信號檢測與收集，得信號數據；所述第二數據傳輸模塊，用于傳輸信號數據給信息處理單元。第二采圖單元的工作方式與第一采圖單元相同，可以參考第一采圖單元，在此不再贅述。本發明提出第三實施例，基于上述測序控制系統的測序控制方法。所述測序控制方法包括以下步驟。步驟A.第一測序反應單元控制第一測序反應小室的測序反應。步驟B.第一采圖單元控制采圖組件對第一測序反應小室進行信號檢測與收集，得信號數據。步驟C.第二測序反應單元控制第二測序反應小室的測序反應。步驟D.第二采圖單元控制采圖組件對第二測序反應小室進行信號檢測與收集，得信號數據。步驟E.重復步驟A—次。步驟F.重復步驟B到E，直到第一測序反應小室完成所有的測序反應。步驟G.重復步驟B和步驟C一次。步驟H.重復步驟D—次。 本實施例中，所述步驟A到步驟H可以不依次執行或依次執行。優選的，所述步驟B和步驟C在同一時間段內執行，且具有最長的共同執行時間；所述步驟D和步驟E在同一時間段內執行，具有最長的共同執行時間。優選方案的具體流程如圖3所示，在此不再一一贅述。本實施例中，所述步驟A包括:A1.第一測序反應單元試劑傳輸組件將試劑傳輸到第一測序反應小室；A2.第一測序反應單元控制溫控裝置對第一測序反應小室進行加熱或制冷。優選的，所述步驟Al和步驟A2無先后順序。所述步驟C包括:C1.第二測序反應單元試劑傳輸組件將試劑傳輸到第二測序反應小室；C2.第二測序反應單元控制溫控裝置對第二測序反應小室進行加熱或制冷；所述步驟Cl和步驟C2無先后順序。優選的，所述步驟Al和步驟A2依次執行；所述步驟Cl和步驟C2依次執行。優選的，所述步驟B和步驟C同時開始執行或者同時結束執行；所述步驟D或步驟E同時開始執行或者同時結束執行。其中，所述步驟B包括:B1.第一測序反應小室由第一采圖單元控制其調平；B2.第一采圖單元控制采圖組件對第一測序反應小室進行聚焦；B3.采圖組件對第一測序反應小室進行信號檢測與收集，得信號數據。其中，所述步驟D包括:Dl.第二測序反應小室由第二采圖單元控制其調平；D2.第二采圖單元控制采圖組件對第二測序反應小室進行聚焦；D3.采圖組件對第二測序反應小室進行信號檢測與收集，得信號數據。所述測序控制系統還包括信息處理單元，用于執行1.對信號數據進行信息處理，得序列片段；所述步驟I同時位于步驟B和步驟D之后，或僅位于步驟H之后；所述步驟B和步驟D中還包括對信號數據進行實時傳輸。現有的第二代高通量測序方法均可采用本發明的技術方案進行測序，包括但不限于連接測序法、合成測序法。應當說明的是，本發明典型的應用但不限于自動化控制領域，在其他類似領域中也可以應用本發明所闡述的控制系統。另外，上述控制系統不僅僅針對本發明實施例中的測序系統，現有技術中具有兩個測序反應小室的測序系統均可使用本發明的控制系統。以上所述僅為本發明的較佳實施例而已，并不用以限制本發明，凡在本發明的精神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等，均應包含在本發明的保護范圍之內。
權利要求
1.一種測序控制系統，其特征在于，所述系統包括第一測序反應單元、第一采圖單元、第二測序反應單元、第二采圖單元和控制單元； 所述第一測序反應單元，用于控制第一測序反應小室的測序反應； 所述第一采圖單元，用于控制采圖組件對第一測序反應小室進行信號檢測與收集，得信號數據； 所述第二測序反應單元，用于控制第二測序反應小室的測序反應； 所述第二采圖單元，用于控制采圖組件對第二測序反應小室進行信號檢測與收集，得信號數據； 所述控制單元用于控制第一測序反應單元與第一采圖單元進行多次循環工作，并用于控制第二測序反應單元與第二采圖單元進行多次循環工作； 所述第一采圖單元與第二測序反應單元在同一時間段內進行工作，且具有最長的共同工作時間。
2.根據權利要求1所述的測序控制系統，其特征在于，所述第一測序反應單元用于控制試劑傳輸組件將試劑傳輸到第一測序反應小室，并用于控制溫控裝置對第一測序反應小室進行加熱或制冷； 所述第二測序反應單元用于控制試劑傳輸組件將試劑傳輸到第二測序反應小室，并用于控制溫控裝置對第二測序反應小室進行加熱或制冷。
3.根據權利要求1所述的測序控制系統，其特征在于，所述第一采圖單元用于控制第一測序反應小室的調平，并用于控制采圖組件對第一測序反應小室的聚焦； 所述第二采圖單元用于控制第二測序反應小室的調平，并用于控制采圖組件第二測序反應小室的聚焦。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的測序控制系統，其特征在于，所述系統還包括信息處理單元，用于對信號數據進行信息處理，得序列片段。
5.根據權利要求4所述的測序控制系統，其特征在于，所述第一采圖單元包括第一信號采集模塊和第一數據傳輸模塊； 所述第一信號采集模塊，用于控制采圖組件對第一測序反應小室進行信號檢測與收集，得信號數據； 所述第一數據傳輸模塊，用于實時傳輸信號數據給信息處理單元。
6.根據權利要求4所述的測序控制系統，其特征在于，所述第二采圖單元包括第二信號采集模塊和第二數據傳輸模塊； 所述第二信號采集模塊，用于控制采圖組件對第二測序反應小室進行信號檢測與收集，得信號數據； 所述第二數據傳輸模塊，用于實時傳輸信號數據給信息處理單元。
全文摘要
本發明涉及自動化控制領域，提供了一種測序控制系統。該系統包括第一測序反應單元、第一采圖單元、第二測序反應單元、第二采圖單元和控制單元。其中，第一測序反應單元，用于控制第一測序反應小室的測序反應；第一采圖單元，用于控制采圖組件對第一測序反應小室進行信號檢測與收集，得信號數據；第二測序反應單元，用于控制第二測序反應小室的測序反應；第二采圖單元，用于控制采圖組件對第二測序反應小室進行信號檢測與收集，得信號數據；控制單元用于控制第一測序反應單元與第一采圖單元進行多次循環工作，并用于控制第二測序反應單元與第二采圖單元進行多次循環工作。本發明的測序控制系統能夠實現快速測序，并且能夠提高測序系統的利用率。
文檔編號G05B19/04GK103092090SQ20121033907
公開日2013年5月8日 申請日期2012年9月14日 優先權日2012年9月14日
發明者盛司潼 申請人:盛司潼