測試夾具的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種測試夾具，能夠放置待測電子元件并通過檢測單元對所述待測電子元件進行檢測，所述測試夾具包括基座以及設置于所述基座上的至少一套測試模塊，所述測試模塊包括與所述基座分體式設置的芯部組件以及鉸接于所述基座的上蓋，所述基座上開設有凹陷部，所述芯部組件能夠放置于所述凹陷部內并且與所述檢測單元電性連接，所述芯部組件包括測試針板以及堆疊設置于所述測試針板上、用于放置所述待測電子元件的載板，位于所述測試針板上的測試針能夠穿過所述載板并與所述待測電子元件的測試點相接觸，所述上蓋能夠蓋合于所述載板上。這種測試夾具，更換時僅需更換芯部組件即可，重量低，成本低。
【專利說明】
測試夾具
技術領域
[0001]本實用新型涉及夾具領域，具體來說，本實用新型涉及一種用于對電子元件等進行檢測的測試夾具。【背景技術】
[0002]測試夾具，被廣泛應用于測試車間，用于對新生產的電子元件或返修電子元件等進行檢測，以判斷該電子元件的性能。
[0003]現有技術中，測試夾具通常包括基座與上蓋，上蓋與基座鉸接，上蓋通過移動能夠打開或蓋合于基座上。基座一體地設置有載板，該載板上開設測試槽，用于放置待測電子元件，載板的下方設置測試針板。當需要測試時，將待測電子元件放置于位于載板的測試槽內，將上蓋蓋合于基座上，此時，操作基座內的測試針板使其向上移動以使得測試針與載板上的測試點接觸，從而通過與測試針板電性連接的檢測單元對該待測電子元件進行檢測并產生測試結果。
[0004]現有的這種測試夾具，其為一體式，其重量較大，而待測電子元件具有多樣性，其測試點的位置構造亦不相同，故當需要測試不同的待測電子元件時，需要整體更換不同的測試夾具，人力搬運辛苦且成本高。此外，更換測試夾具時需將位于上蓋上的掃碼器等一起更換，這進一步提高了成本。【實用新型內容】
[0005]本實用新型所要解決的技術問題是提供一種測試夾具，其能夠減輕搬運的重量并且降低成本。
[0006]為了解決上述技術問題，本實用新型采用了如下技術方案:一種測試夾具，能夠放置待測電子元件并通過檢測單元對所述待測電子元件進行檢測，所述測試夾具包括基座以及設置于所述基座上的至少一套測試模塊，所述測試模塊包括與所述基座分體式設置的芯部組件以及鉸接于所述基座的上蓋，所述基座上開設有凹陷部，所述芯部組件能夠放置于所述凹陷部內并且與所述檢測單元電性連接，所述芯部組件包括測試針板以及堆疊設置于所述測試針板上、用于放置所述待測電子元件的載板，位于所述測試針板上的測試針能夠穿過所述載板并與所述待測電子元件的測試點相接觸，所述上蓋能夠蓋合于所述載板上。
[0007]優選地，所述凹陷部包括底壁以及圍于所述底壁周邊的側壁，所述底壁上設置有多根與所述檢測單元電性連接的第一連接針，所述載板上設置有多個分別與各所述第一連接針電接觸的第一接觸點；所述載板上還設置有多個第二接觸點，所述第二接觸點與所述第一接觸點電性連接，所述測試針板上設置有多根分別與各所述第二接觸點電接觸的第二連接針。
[0008]優選地，所述底壁上開設有容置孔，所述載板的周向尺寸大于所述容置孔的周向尺寸，當所述芯部組件放置于所述凹陷部內時，所述芯部組件通過所述載板進行限位。
[0009]優選地，所述測試針板遠離所述載板的一側形成有多個電接觸點以及多根連接導線，所述測試針板上設置有罩在所述多個電接觸點以及所述多根連接導線的罩殼，所述罩殼位于所述容置孔中。
[0010]優選地，所述載板的頂部設置有握持部件。[〇〇11]優選地，所述載板和/或所述測試針板的底部設置有多根導向桿，所述凹陷部設置有多個分別用于各所述導向桿穿入的導向孔。
[0012]優選地，所述上蓋靠近所述基座一側的表面上設置有多根用于壓住所述待測電子元件的壓棒。
[0013]優選地，所述基座內設置有與所述基座的頂部相連的操作氣缸，當所述上蓋蓋合于所述載板時，所述操作氣缸拉動所述基座的頂部以使得所述測試針穿過所述載板。
[0014]優選地，所述上蓋包括框體以及可拆卸地設置于所述框體上的蓋體，所述框體鉸接于所述基座上，所述壓棒設置于所述蓋體上。
[0015]優選地，所述蓋體為透明材質，所述測試夾具還包括掃碼器，所述掃碼器可拆卸地連接于所述蓋體遠離所述基座一側的表面上。
[0016]與現有技術相比，本實用新型的有益效果在于:
[0017]1、在適用于不同的待測電子元件時，無需更換整套測試夾具，僅需更換芯部組件即可，因此，重量低，成本低；
[0018]2、通過操作氣缸拉動基座以使得壓棒對載板施加下壓力，從而使測試針穿過載板能夠與待測電子元件的測試點接觸，這方便了待測電子元件在載板上的初始放置；
[0019]3、上蓋采用框體與蓋體組成的可拆卸結構，可以根據不同的待測電子元件更換不同的蓋體，使得蓋體上的壓棒可以更好地壓在待測電子元件上；
[0020]4、掃碼器與蓋體可拆卸連接，使得在更換蓋體時，可將掃碼器與其拆卸，之后，將該掃碼器安裝于新的蓋體即可，而無需給每個蓋體預先配置掃碼器。【附圖說明】[0021 ]圖1為本實用新型的測試夾具的一種實施例的示意圖；
[0022]圖2是圖1中，省去左側蓋體、掃碼器以及芯部組件的示意圖；
[0023]圖3是蓋體、掃碼器以及芯部組件的示意圖；
[0024]圖4是圖1中芯部組件的立體示意圖；
[0025]圖5是圖4的主視圖；
[0026]圖6是圖4的右視圖；
[0027]圖7是圖1中，省去基座前半部分外殼的結構示意圖。[〇〇28] 附圖標記說明
[0029]1-基座；110-凹陷部；1101-底壁；1102-側壁；12-芯部組件；121-第一接觸點；122-載板；123-測試針板；124-握持部件；125-罩殼；126-第二連接針；127-導向桿；128-第二接觸點；2-上蓋;21-框體;22-蓋體;23-螺栓;24-拉手;25-鉤部;3-壓棒;4-第一連接針;5-容置孔;6-掃碼器;7-支架;8-操作氣缸;9-鎖止氣缸。【具體實施方式】
[0030]下面結合附圖和具體實施例對本實用新型作進一步詳細描述，但不作為對本實用新型的限定。
[0031]本實用新型所涉及的為測試夾具，其用于對電子元件的性能進行檢測，本實用新型之改進點在于，通過芯部組件的可拆裝結構，使得其便于依不同的待測電子元件更換不同的芯部組件。
[0032]常規地，測試夾具，能夠放置待測電子元件，并且通過檢測單元對該待測電子元件進行檢測。當待測電子元件放置于測試夾具時，檢測單元則可以與待測電子元件電性連接， 該檢測單元可以為編程器等。
[0033]圖1至圖3分別示出了該測試夾具一個實施例的整體結構以及局部結構。本實用新型的測試夾具包括基座1以及設置于基座1上的測試模塊(圖中未標示)，其中，圖1及2中以兩套結構相同的測試模塊共同采用同一個基座1進行示例。當然，也可以一套測試模塊采用一個基座1，或者是，多于兩套測試模塊采用一個基座。容易理解的是，當兩套以上測試模塊共用一個基座時，更節省成本，并且能夠提高工作效率。
[0034]也即，本實用新型的測試夾具包括基座1以及設于基座1上的至少一套測試模塊， 每套測試模塊均包括與基座1配合設置的上蓋2和芯部組件12,接下來以一套測試模塊與基座1的配合進行描述說明。[〇〇35]參見圖1至圖3,本實用新型的測試模塊，包括與基座1分體式設置的芯部組件12以及鉸接于基座1的上蓋2。基座1上開設有凹陷部110,芯部組件12能夠放置于該基座1的凹陷部110內并且與檢測單元(圖中未示出)電性連接。如圖3所示，芯部組件12包括測試針板123 以及堆疊設置于測試針板123上、用于放置待測電子元件的載板122,載板122與測試針板 123可以通過螺栓等部件實現機械連接。位于測試針板123上的測試針能夠穿過載板122并與待測電子元件(圖中未示出)的測試點相接觸。請結合圖1及圖3所示，上蓋2能夠蓋合于載板122上，以保證測試過程不受干擾。[〇〇36] 如圖1及圖3所示，上蓋2上設置有拉手24,當需要檢測電子元件時，拉動拉手24打開上蓋2,將待測電子元件放置于載板122上，可以在該載板122上設置與待測電子元件形狀匹配的測試槽(圖中未示出)，以便將待測電子元件放入，此時，待測電子元件大致與載板 122的上表面處于同一平面。上蓋2靠近基座1 一側的表面上設置有多根用于壓住待測電子元件的壓棒3。在放入待測電子元件之后，蓋合上蓋2使得壓棒3壓在待測電子元件上，此時， 即可對該待測電子元件進行檢測。當需要對檢測點位置不同的其他待測電子元件進行檢測時，僅需更換芯部組件12以適應檢測點位置和其他要求即可，而無需更換整個夾具，因而減輕了操作人員的搬運重量，此外，也節省了成本。[〇〇37] 如圖2所示，凹陷部110包括底壁1101以及圍于底壁1101周邊的側壁1102,底壁 1101上設置有多根與檢測單元電性連接的第一連接針4,載板122上設置有多個分別與各第一連接針4電接觸的第一接觸點121;載板122上還設置有多個第二接觸點128，該第二接觸點128與第一接觸點121電性連接。如圖3所示，測試針板123上設置有多根分別與各第二接觸點128電接觸的第二連接針126。這種結構，檢測單元并沒有直接與測試針板123電連接， 而是通過載板122與測試針板123間接地實現電連接，并且由于采用連接針與接觸點的方式，故能夠方便更換芯部組件12。除此之外，還可以通過諸如連接器等方式實現檢測單元與芯部組件12的電性連接，例如，在測試針板123上設置連接器的公頭，而在檢測單元上設置連接器的母頭，二者插入即可實現檢測單元與測試針板123的電連接。
[0038]為便于芯部組件12獲得良好的散熱性，如圖2所示，底壁1101上開設有容置孔5,載板122的周向尺寸大于容置孔5的周向尺寸，當芯部組件12放置于凹陷部110內時，芯部組件 12通過載板122進行限位，防止芯部組件12整體穿入容置孔5內。
[0039]另外，結合圖3所示，測試針板123遠離載板122的一側形成有多個電接觸點(圖中未示出)以及多根連接導線(圖中未示出)，該電接觸點為構成測試針板123的電路組成部分的接觸點，而連接導線用于實現測試針板123不同的電接觸點的電連接，測試針板123上設置有罩在多個電接觸點以及多根連接導線的罩殼125,罩殼125位于凹陷部110底壁1101的容置孔5內。這樣，能夠避免在更換芯部組件12時，對電接觸點以及連接導線產生刮擦損壞。
[0040]上蓋2可以通過多種方式實現與基座1的相對移動，例如，在上蓋2與基座1之間連接開啟氣缸(圖中未示出)，當開啟氣缸的活塞桿伸出時，上蓋2打開；當開啟氣缸的活塞桿收回時，上蓋2蓋合。如圖1所示，當放入待測電子元件至載板122并且上蓋2蓋合時，設于上蓋2的壓棒3可以壓在待測電子元件上，以便對待測電子元件進行位置限定。作為一種優選， 壓棒3為橡膠材質，這樣，可以避免對待測電子元件產生損傷。當然，壓棒3可以省略，只要待測電子元件與測試針板123的測試針實現電接觸即可。
[0041]繼續如圖1至3所示，上蓋2具有與基座1相鉸接的連接端(圖中未標示)以及與連接端相對的自由端(圖中未標示)，自由端的底部設置有鉤部25,基座1上設置有鎖止氣缸9,當上蓋2蓋合于凹陷部110時，鎖止氣缸9的活塞桿能夠伸入鉤部25以將上蓋2鎖止。這樣，可以進一步保證上蓋2始終處于蓋合狀態。
[0042]上蓋2包括框體21以及可拆卸地設置于框體21上的蓋體22,框體21與蓋體22均為長方形，框體21可以選擇為鋁合金材質，其鉸接于基座1上，前述拉手24設于框體21的外表面，壓棒3朝向基座1設置于蓋體22上。這種結構，可以根據不同的待測電子元件選擇不同的蓋體22,以便壓棒3能夠更好地匹配待測電子元件，壓在待測電子元件的空閑區域，使得待測電子元件在測試過程中位置確定。關于蓋體22與框體21的可拆卸連接，結合圖1所示，框體21與蓋體22通過螺栓23連接，在蓋體22以及框體21的周邊對應設置螺紋孔，螺栓23穿過蓋體22旋入框體21即可實現蓋體22與框體21的連接。當然，也不限于該種結構，還可以為卡接等，能夠便于實現框體21與蓋體22的可拆卸即可。
[0043]此外，蓋體22優選為透明材質，測試夾具還包括掃碼器6，掃碼器6可拆卸地連接于蓋體22遠離基座1一側的表面上。作為一種方式，如圖1所示，在蓋體22上設置支架7，掃碼器 6通過螺紋連接件等連接于該支架7上。這種結構，掃碼器6可以方便地與蓋體22安裝或拆卸，當根據待測電子元件不同而更換蓋板時，則可以將該掃描器拆卸，之后安裝于重新匹配的蓋板上。
[0044]圖4至圖6以不同視角示出了芯部組件12的結構示意圖，圖7則示出了測試夾具，但位于基座1前端的殼體部分被省去，以更好地顯示出基座1的內部結構。[〇〇45]參見圖4至圖6,載板122的頂部設置有用于操作人員將芯部組件12放入或取出基座1的凹陷部110的握持部件124,該握持部件124為兩個，呈球形體，這樣，可以方便操作人員握住該握持部件124以對芯部組件12操作。為便于芯部組件12在凹陷部110放置位置的精度，本實施例中，測試針板123的底部設置有多根導向桿127,導向桿127的末端可以進一步設置為圓臺形，凹陷部110設置有多個分別用于各導向桿127穿入的導向孔(圖中未標示)。 這樣，當導向桿127穿入導向孔時，則可以實現芯部組件12與凹陷部110的對正。此外，也可以在載板122的底部設置多根導向桿127,其所起到的作用一致。
[0046]如前所述，位于測試針板123上的測試針能夠穿過載板122并與待測電子元件(圖中未示出)的測試點相接觸，進一步結合圖7所示，基座1內設置有與基座1的頂部相連的操作氣缸8,當上蓋2蓋合于載板122時，操作氣缸8拉動基座1的頂部以使得測試針板123的測試針穿過載板122。這種結構，在放入待測電子元件時，測試針板123的測試針不與待測電子元件接觸，因此便于保證待測電子元件安放平整，而蓋合上蓋2時，壓棒3壓在待測電子元件上，操作氣缸8動作，能夠帶動壓棒3下壓載板122使得測試針板123上的測試針頂在待測電子元件上，故能夠保證測試針板123的測試針可靠地與待測電子元件的測試點接觸。并且， 由于在放置待測電子元件時，無需使得測試針頂出至載板122,故能夠便于待測電子元件的放置。可以理解，每一套測試模塊均對應設置有操作氣缸8。
[0047]以上實施例僅為本實用新型的示例性實施例，不用于限制本實用新型，本實用新型的保護范圍由權利要求書限定。本領域技術人員可以在本實用新型的實質和保護范圍內，對本實用新型做出各種修改或等同替換，這種修改或等同替換也應視為落在本實用新型的保護范圍內。
【主權項】
1.一種測試夾具，能夠放置待測電子元件并通過檢測單元對所述待測電子元件進行檢 測，其特征在于，所述測試夾具包括基座以及設置于所述基座上的至少一套測試模塊，所述 測試模塊包括與所述基座分體式設置的芯部組件以及鉸接于所述基座的上蓋，所述基座上 開設有凹陷部，所述芯部組件能夠放置于所述凹陷部內并且與所述檢測單元電性連接，所 述芯部組件包括測試針板以及堆疊設置于所述測試針板上、用于放置所述待測電子元件的 載板，位于所述測試針板上的測試針能夠穿過所述載板并與所述待測電子元件的測試點相 接觸，所述上蓋能夠蓋合于所述載板上。2.根據權利要求1所述的測試夾具，其特征在于，所述凹陷部包括底壁以及圍于所述底 壁周邊的側壁，所述底壁上設置有多根與所述檢測單元電性連接的第一連接針，所述載板 上設置有多個分別與各所述第一連接針電接觸的第一接觸點;所述載板上還設置有多個第 二接觸點，所述第二接觸點與所述第一接觸點電性連接，所述測試針板上設置有多根分別 與各所述第二接觸點電接觸的第二連接針。3.根據權利要求2所述的測試夾具，其特征在于，所述底壁上開設有容置孔，所述載板 的周向尺寸大于所述容置孔的周向尺寸，當所述芯部組件放置于所述凹陷部內時，所述芯 部組件通過所述載板進行限位。4.根據權利要求3所述的測試夾具，其特征在于，所述測試針板遠離所述載板的一側形 成有多個電接觸點以及多根連接導線，所述測試針板上設置有罩在所述多個電接觸點以及 所述多根連接導線的罩殼，所述罩殼位于所述容置孔中。5.根據權利要求1所述的測試夾具，其特征在于，所述載板的頂部設置有握持部件。6.根據權利要求1所述的測試夾具，其特征在于，所述載板和/或所述測試針板的底部 設置有多根導向桿，所述凹陷部設置有多個分別用于各所述導向桿穿入的導向孔。7.根據權利要求1所述的測試夾具，其特征在于，所述上蓋靠近所述基座一側的表面上 設置有多根用于壓住所述待測電子元件的壓棒。8.根據權利要求7所述的測試夾具，其特征在于，所述基座內設置有與所述基座的頂部 相連的操作氣缸，當所述上蓋蓋合于所述載板時，所述操作氣缸拉動所述基座的頂部以使 得所述測試針穿過所述載板。9.根據權利要求7所述的測試夾具，其特征在于，所述上蓋包括框體以及可拆卸地設置 于所述框體上的蓋體，所述框體鉸接于所述基座上，所述壓棒設置于所述蓋體上。10.根據權利要求9所述的測試夾具，其特征在于，所述蓋體為透明材質，所述測試夾具 還包括掃碼器，所述掃碼器可拆卸地連接于所述蓋體遠離所述基座一側的表面上。
【文檔編號】G01R1/04GK205665271SQ201620536660
【公開日】2016年10月26日
【申請日】2016年6月3日
【發明人】龐政, 顧軍
【申請人】大陸汽車電子(長春)有限公司