一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及薄膜力學性能測試裝置技術領域，具體涉及一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置。
【背景技術】
[0002]納米薄膜是指由尺寸為納米數量級(I?10nm)的組元鑲嵌于基體所形成的薄膜材料，它兼具傳統復合材料和現代納米材料二者的優越性，納米薄膜可以改善一些機械零部件的表面性能，以減少振動，降低噪聲，減小摩擦，延長壽命。這些薄膜在刀具、微機械、微電子領域作為耐磨、耐腐蝕涂層及其它功能涂層獲得重要應用，鑒于納米薄膜的優點和應用前景，然而，如何測試抗菌的納米薄膜的力學性質顯得很重要，如中國申請號為CN101788427 A公開了一種多功能薄膜力學性能測試裝置，提供了一種可以方便、快捷而且準確地對薄膜與涂層的力學性能進行測量，但是，這種技術的薄膜力學性能測試裝置操作起來比較麻煩，可控程度不高，裝置成本較高。
【實用新型內容】
[0003]本實用新型的目的在于提供一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置，以解決現有技術中導致的上述多項缺陷。
[0004]一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置，包括薄膜放置工作臺、探測針尖、壓力傳感器、信號轉化器和數據顯示器，所述薄膜放置工作臺為立方長方體，剖面為矩形，薄膜放置工作臺上方設有彈性凸起，所述凸起剖面圓弧，所述薄膜放置工作臺正上方設有探測針尖，所述探測針尖與壓力傳感器連接，所述壓力傳感器與信號轉化器相連，所述信號轉化器與數據顯示器相連。
[0005]優選的，所述薄膜放置工作臺固定設置在陸地上或者操作臺上。
[0006]優選的，所述探測針尖由并列的多個針尖連接在一起組成，針尖個數為100-200個。
[0007]優選的，所述壓力傳感器由有機感光材料和無定形娃感光材料制成，剖面為橢圓臺。
[0008]優選的，所述信號轉化器是在光纖端面或中間加裝其它敏感元件感受被測量的變化，所述敏感元件為光敏電阻。
[0009]本實用新型的優點在于:通過探測針尖對抗菌薄膜進行測定，探測針尖由并列的多個針尖連接在一起組成，針尖個數為100-200個，數量較多的針尖能對尺寸較小的納米材料進行更加精準的測量，探測針尖內部加裝有其它敏感元件感受被測量的變化，所述敏感元件為光敏電阻，帶有光敏電阻的信號轉化器數據傳輸速度快，信號可靠度高，由于，薄膜放置工作臺上方設有彈性凸起，避免了針尖會因為與薄膜接觸過于緊密而刺破抗菌薄膜，然后，通過壓力傳感器將收集起來的力學性能信號傳輸給信號轉化器，信號轉化器再轉化成圖像數據形式，然后，通過數據顯示器呈現出來，方便快捷，準確可靠。
【附圖說明】
[0010]圖1為本實用新型所述一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置的結構示意圖。
[0011]圖2為本實用新型所述一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置的探測針尖的結構示意圖。
[0012]其中:1-薄膜放置工作臺，11-凸起，2-探測針尖，21-光敏電阻，3-壓力傳感器，4-信號轉化器，5-數據顯示器。
【具體實施方式】
[0013]為使本實用新型實現的技術手段、創作特征、達成目的與功效易于明白了解，下面結合【具體實施方式】，進一步闡述本實用新型。
[0014]如圖1和圖2所示，一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置，包括薄膜放置工作，1、探測針尖2、壓力傳感器3、信號轉化器4和數據顯示器5，所述薄膜放置工作臺I為立方長方體，剖面為矩形，薄膜放置工作臺I上方設有彈性凸起11，所述凸起11剖面圓弧，所述薄膜放置工作臺I正上方設有探測針尖2，所述探測針尖2與壓力傳感器3連接，所述壓力傳感器3與信號轉化器4相連，所述信號轉化器4與數據顯示器5相連，通過探測針尖2對抗菌薄膜進行測定，探測針尖2由并列的多個針尖連接在一起組成，針尖個數為100-200個，數量較多的針尖能對尺寸較小的納米材料進行更加精準的測量，探測針尖2內部加裝有其它敏感元件21感受被測量的變化，所述敏感元21件為光敏電阻，帶有光敏電阻的信號轉化器數據傳輸速度快，信號可靠度高，由于，薄膜放置工作臺I上方設有彈性凸起11，避免了探測針尖2會因為與薄膜接觸過于緊密而刺破抗菌薄膜，然后，通過壓力傳感器3將收集起來的力學性能信號傳輸給信號轉化器4，信號轉化器4再轉化成圖像數據形式，然后，通過數據顯示器5呈現出來，方便快捷，準確可靠。
[0015]值得注意的是，所述探測針尖2由并列的多個針尖連接在一起組成，針尖個數為100-200個，數量較多的針尖能對尺寸較小的納米材料進行更加精準的測量。
[0016]此外，所述探測針尖2內部加裝有其它敏感元件21感受被測量的變化，所述敏感元21件為光敏電阻，帶有光敏電阻的信號轉化器數據傳輸速度快，信號可靠度高。
[0017]基于上述，通過探測針尖2對抗菌薄膜進行測定，探測針尖2由并列的多個針尖連接在一起組成，針尖個數為100-200個，數量較多的針尖能對尺寸較小的納米材料進行更加精準的測量，探測針尖2內部加裝有其它敏感元件21感受被測量的變化，所述敏感元21件為光敏電阻，帶有光敏電阻的信號轉化器數據傳輸速度快，信號可靠度高，由于，薄膜放置工作臺I上方設有彈性凸起11，避免了探測針尖2會因為與薄膜接觸過于緊密而刺破抗菌薄膜，然后，通過壓力傳感器3將收集起來的力學性能信號傳輸給信號轉化器4，信號轉化器4再轉化成圖像數據形式，然后，通過數據顯示器5呈現出來，方便快捷，準確可靠。
[0018]由技術常識可知，本實用新型可以通過其它的不脫離其精神實質或必要特征的實施方案來實現。因此，上述公開的實施方案，就各方面而言，都只是舉例說明，并不是僅有的。所有在本實用新型范圍內或在等同于本實用新型的范圍內的改變均被本實用新型包含O
【主權項】
1.一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置，包括薄膜放置工作臺、探測針尖、壓力傳感器、信號轉化器和數據顯示器，其特征在于，所述薄膜放置工作臺為立方長方體，剖面為矩形，薄膜放置工作臺上方設有彈性凸起，所述凸起剖面圓弧，所述薄膜放置工作臺正上方設有探測針尖，所述探測針尖與壓力傳感器連接，所述壓力傳感器與信號轉化器相連，所述信號轉化器與數據顯示器相連。
2.根據權利要求1所述的一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置，其特征在于:所述薄膜放置工作臺固定設置在陸地上或者操作臺上。
3.根據權利要求1所述的一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置，其特征在于:所述探測針尖由并列的多個針尖連接在一起組成，針尖個數為100-200個。
4.根據權利要求1所述的一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置，其特征在于:所述探測針尖內部加裝有其它敏感元件感受被測量的變化，所述敏感元件為光敏電阻。
5.根據權利要求1所述的一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置，其特征在于:所述壓力傳感器由有機感光材料和無定形娃感光材料制成，剖面為橢圓臺。
【專利摘要】本實用新型公開了一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置,涉及薄膜力學性能測試裝置技術領域，包括薄膜放置工作臺、探測針尖、壓力傳感器、信號轉化器和數據顯示器，所述薄膜放置工作臺為立方長方體，剖面為矩形，薄膜放置工作臺上方設有彈性凸起，所述凸起剖面圓弧，所述薄膜放置工作臺正上方設有探測針尖，所述探測針尖與壓力傳感器連接，所述壓力傳感器與信號轉化器相連，所述信號轉化器與數據顯示器相連，本實用新型的有益效果是：通過探測針尖對抗菌薄膜進行測定，由于，薄膜放置工作臺上方設有彈性凸起，避免了針尖會因為與薄膜接觸過于緊密而刺破抗菌薄膜，通過壓力傳感器將信號出輸給信號轉化器，再轉化成圖像數據形式，準確可靠。
【IPC分類】G01N3-06, G01N3-00
【公開號】CN204439453
【申請號】CN201520120317
【發明人】焦國平, 齊繼業, 方興旺
【申請人】安徽松泰包裝材料有限公司
【公開日】2015年7月1日
【申請日】2015年2月28日