原子熒光光度計的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及光學系統領域，具體涉及一種原子熒光光度計。
【背景技術】
[0002]原子熒光光譜分析是利用原子熒光譜線的波長和強度進行物質的定性與定量分析的方法，它具有設備簡單，靈敏度高，光譜干擾少，工作曲線線性范圍寬，可以進行多元素測定等優點，在地質，冶金，石油，生物醫學，地球化學，材料和環境科學等各個領域內獲得了廣泛的應用。常見的激發光源校正是光電檢測器接收激發光源經透鏡匯聚在原子化器上的能量，并不能做到直接檢測激發光源的能量，所以其激發光源漂移校正功能不全面。

【發明內容】

[0003]本發明的目的在于，提供一種原子熒光光度計，能夠解決現有技術存在的激發光源漂移校正功能不全面的問題。
[0004]為此目的，本發明提出一種原子熒光光度計，包括:
[0005]激發光源、第一光學透鏡、原子化器、光接收器、第一光電檢測器和第二光電檢測器;其中，
[0006]所述激發光源、第一光學透鏡和原子化器置于同一光軸上，所述第一光學透鏡位于所述激發光源和原子化器之間，所述激發光源發射的特征光譜經所述第一光學透鏡聚焦到所述原子化器，所述原子化器產生的原子熒光由所述第二光電檢測器接收，所述光接收器用于接收所述激發光源發射的特征光譜，并傳輸給所述第一光電檢測器。
[0007]本發明實施例所述的原子熒光光度計，利用第一光電檢測器直接檢測激發光源能量變化，對激發光源進行實時監測，從而實現對激發光源漂移校正功能。
【附圖說明】
[0008]圖1為本發明原子熒光光度計一實施例的結構示意圖；
[0009]其中，I為激發光源，2為第一光學透鏡，3為原子化器，4為第二光學透鏡，5為第二光電檢測器，6為第一光電檢測器，7為光接收器，8為第一光學透鏡底座。
【具體實施方式】
[0010]為使本發明實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚地描述，顯然，所描述的實施例是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。
[0011 ]如圖1所示，本實施例公開一種原子熒光光度計，包括:
[0012]激發光源1、第一光學透鏡2、原子化器3、光接收器7、第一光電檢測器6和第二光電檢測器5;其中，
[0013]所述激發光源1、第一光學透鏡2和原子化器3置于同一光軸上，所述第一光學透鏡2位于所述激發光源I和原子化器3之間，所述激發光源I發射的特征光譜經所述第一光學透鏡2聚焦到所述原子化器3，所述原子化器3產生的原子熒光由所述第二光電檢測器5接收，所述光接收器7用于接收所述激發光源I發射的特征光譜，并傳輸給所述第一光電檢測器6。
[0014]本發明所述的光接收器以及第一光電檢測器組成的漂移校正裝置適用于單道，也可做雙道和多道裝置。
[0015]本發明實施例所述的原子熒光光度計，利用第一光電檢測器直接檢測激發光源能量變化，對激發光源進行實時監測，從而實現對激發光源漂移校正功能。
[0016]可選地，在本發明原子熒光光度計的另一實施例中，還包括:
[0017]第一光學透鏡底座;其中，
[0018]所述第一光學透鏡底座，用于固定所述第一光學透鏡。
[0019]可選地，在本發明原子熒光光度計的另一實施例中，所述第一光學透鏡底座，還用于固定所述光接收器，所述光接收器位于所述第一光學透鏡下方。
[0020]本發明實施例中，通過將光接收器置于第一光學透鏡下方，能夠確保光接收器不會對透過第一光學透鏡的光束產生影響。
[0021 ]可選地，在本發明原子熒光光度計的另一實施例中，所述光接收器通過光纖將其接收到的特征光譜傳輸給所述第一光電檢測器。
[0022 ]可選地，在本發明原子熒光光度計的另一實施例中，還包括:
[0023]第二光學透鏡;其中，
[0024]所述第一光學透鏡置于所述原子化器和第二光電檢測器之間，用于將所述原子化器產生的原子熒光聚焦到所述第二光電檢測器。
[0025]本發明具有如下優點:1、光接收器的引入實現了激發光源實時漂移校正，避免了檢測信號的損失;2、光接收器置于透鏡下方，不會對透過透鏡的有效光產生影響;3、簡化光學系統結構，漂移校正具有更大的靈活性;4、通過激發光源漂移校正從而間接提高原子熒光光度計穩定性。
[0026]雖然結合附圖描述了本發明的實施方式，但是本領域技術人員可以在不脫離本發明的精神和范圍的情況下做出各種修改和變型，這樣的修改和變型均落入由所附權利要求所限定的范圍之內。
【主權項】
1.一種原子焚光光度計，包括: 激發光源、第一光學透鏡、原子化器、光接收器、第一光電檢測器和第二光電檢測器;其中， 所述激發光源、第一光學透鏡和原子化器置于同一光軸上，所述第一光學透鏡位于所述激發光源和原子化器之間，所述激發光源發射的特征光譜經所述第一光學透鏡聚焦到所述原子化器，所述原子化器產生的原子熒光由所述第二光電檢測器接收，所述光接收器用于接收所述激發光源發射的特征光譜，并傳輸給所述第一光電檢測器。2.根據權利要求1所述的原子熒光光度計，其特征在于，還包括: 第一光學透鏡底座;其中， 所述第一光學透鏡底座，用于固定所述第一光學透鏡。3.根據權利要求2所述的原子熒光光度計，其特征在于，所述第一光學透鏡底座，還用于固定所述光接收器，所述光接收器位于所述第一光學透鏡下方。4.根據權利要求1至3任一項所述的原子熒光光度計，其特征在于，所述光接收器通過光纖將其接收到的特征光譜傳輸給所述第一光電檢測器。5.根據權利要求1所述的原子熒光光度計，其特征在于，還包括: 第二光學透鏡;其中， 所述第一光學透鏡置于所述原子化器和第二光電檢測器之間，用于將所述原子化器產生的原子熒光聚焦到所述第二光電檢測器。
【專利摘要】本發明公開一種原子熒光光度計，能夠解決現有技術存在的激發光源漂移校正功能不全面的問題。原子熒光光度計包括激發光源、第一光學透鏡、原子化器、光接收器、第一光電檢測器和第二光電檢測器；其中，所述激發光源、第一光學透鏡和原子化器置于同一光軸上，所述第一光學透鏡位于所述激發光源和原子化器之間，所述激發光源發射的特征光譜經所述第一光學透鏡聚焦到所述原子化器，所述原子化器產生的原子熒光由所述第二光電檢測器接收，所述光接收器用于接收所述激發光源發射的特征光譜，并傳輸給所述第一光電檢測器。
【IPC分類】G01N21/64
【公開號】CN105628662
【申請號】CN201511032624
【發明人】周志恒
【申請人】北京博暉創新光電技術股份有限公司
【公開日】2016年6月1日
【申請日】2015年12月31日