一種測定浮法蓋板玻璃片錫面厚度及錫面中錫含量的方法
【技術領域】
[0001 ]本發明涉及玻璃加工領域，具體地，涉及一種測定浮法蓋板玻璃片錫面厚度及錫 面中錫含量的方法。
【背景技術】
[0002] 浮法蓋板玻璃工藝是目前較為廣泛的平板玻璃生產方法。在浮法生產過程中玻璃 分為錫面與非錫面，在對蓋板玻璃化學鋼化過程中兩面中的鈉離子與鉀離子反應速率及交 換量不一致，導致玻璃上下表面應力存在差異，易產生翹曲。在解決辦法中一般米用對玻璃 表面進行拋光處理，即消除錫面，從而達到玻璃鋼化效果上下一致。然而，需精確掌握錫面 厚度及錫面中錫含量，才能精確的進行拋光處理，但是，由于錫面厚度較薄且錫面中的錫含 量為痕量，導致錫面厚度和錫面中錫含量均難以測定，迄今為止，尚無對浮法蓋板玻璃片錫 面厚度及錫面中錫含量進行測定的方法的報道。

【發明內容】

[0003] 本發明的目的是為了克服現有技術中的上述缺陷，提供一種測定浮法蓋板玻璃片 錫面厚度及錫面中錫含量的方法。
[0004] 為了實現上述目的，本發明提供了一種測定浮法蓋板玻璃片錫面厚度及錫面中錫 含量的方法，該方法包括：
[0005] (1)將多個相同的待測浮法蓋板玻璃片稱重，然后將各待測浮法蓋板玻璃片的非 錫面和四周進行密封處理，并測量密封后各待測浮法蓋板玻璃片的錫面的長和寬，得到侵 蝕面積；
[0006] (2)將步驟（1)得到的各待測浮法蓋板玻璃片分別置于各自獨立的相同侵蝕性介 質中進行侵蝕處理，每間隔一段時間取出一個待測浮法蓋板玻璃片，得到侵蝕液，然后將該 待測浮法蓋板玻璃片進行清洗、烘干，得到清洗液，并將烘干后的玻璃片進行稱重，將侵蝕 液和清洗液混合、定容后測定定容液的錫含量；
[0007] (3)連續地取出待測浮法蓋板玻璃片和測定，直至相鄰兩次得到的定容液的錫含 量測定差值與該相鄰兩次中的前一次得到的定容液的錫含量測定值的比值不大于3%。，以 該相鄰兩次中的后一次取出的待測浮法蓋板玻璃片作為測定基準，根據該待測浮法蓋板玻 璃片侵蝕前后的質量差和侵蝕面積確定錫面厚度，根據該待測浮法蓋板玻璃片侵蝕前后的 質量差和測定的定容液的錫含量確定錫面中的錫含量。
[0008] 本發明的方法，操作簡單，分析快速準確。根據本發明方法測定的浮法蓋板玻璃片 錫面厚度及錫面中錫含量，能夠對后續拋光處理和化學強化處理以及上游玻璃生產時組分 配方設計和具體生產工藝起有效的指導作用。
[0009] 根據本發明的一種優選的實施方式，（1)利用氫氟酸作為侵蝕性介質進行侵蝕處 理，能夠快速溶解玻璃表面的全部成分，使得檢測結果真實可靠，（2)采用電感耦合等離子 體發射光譜儀（ICP-0ES)對定溶液中錫含量進行檢測分析，沒有基體干擾，待測樣只需一 個，節省前處理時間，檢測結果可信度極高，（3)利用不同間隔的侵蝕時間能夠準確計算出 錫面厚度及錫面中錫含量。
[0010] 本發明的其它特征和優點將在隨后的【具體實施方式】部分予以詳細說明。
【具體實施方式】
[0011] 以下對本發明的【具體實施方式】進行詳細說明。應當理解的是，此處所描述的具體 實施方式僅用于說明和解釋本發明，并不用于限制本發明。
[0012] 本發明提供了一種測定浮法蓋板玻璃片錫面厚度及錫面中錫含量的方法，該方法 包括：
[0013] (1)將多個相同的待測浮法蓋板玻璃片稱重，然后將各待測浮法蓋板玻璃片的非 錫面和四周進行密封處理，并測量密封后各待測浮法蓋板玻璃片的錫面的長和寬，得到侵 蝕面積；
[0014] (2)將步驟（1)得到的各待測浮法蓋板玻璃片分別置于各自獨立的相同侵蝕性介 質中進行侵蝕處理，每間隔一段時間取出一個待測浮法蓋板玻璃片，得到侵蝕液，然后將該 待測浮法蓋板玻璃片進行清洗、烘干，得到清洗液，并將烘干后的玻璃片進行稱重，將侵蝕 液和清洗液混合、定容后測定定容液的錫含量；
[0015] (3)連續地取出待測浮法蓋板玻璃片和測定，直至相鄰兩次得到的定容液的錫含 量測定差值與該相鄰兩次中的前一次得到的定容液的錫含量測定值的比值不大于3%。（即 (C后-C前)/C前不大于3% Q，C前、C后分別為前后兩次得到的定容液的錫含量測定值），以該相鄰兩 次中的后一次取出的待測浮法蓋板玻璃片作為測定基準，根據該待測浮法蓋板玻璃片侵蝕 前后的質量差和侵蝕面積確定錫面厚度，根據該待測浮法蓋板玻璃片侵蝕前后的質量差和 測定的定容液的錫含量確定錫面中的錫含量。
[0016] 本發明方法中，本領域技術人員應該理解的是，步驟（1)中，相同的待測浮法蓋板 玻璃片是指根據同一生產工藝同批次生產的組分及其含量相同、切割的尺寸大小相同的浮 法蓋板玻璃片，且各待測浮法蓋板玻璃片無任何缺陷。而且，在對各待測浮法蓋板玻璃片稱 重前，已將各待測浮法蓋板玻璃片進行了清洗處理和烘干處理。
[0017] 本發明方法中，為了提高精確度，優選情況下，步驟⑴中，多個相同的待測浮法蓋 板玻璃片的個數為η，n 2 6。
[0018] 本發明方法中，為了提高精確度，優選情況下，步驟(1)中，使用絕對精度分度值為 O.lmg的電子天平進行稱重。
[0019] 本發明方法中，步驟（1)中，對于密封處理的方法沒有特別的限定，可以為本領域 常見的各種密封處理方法，優選情況下，采用膠帶和石蠟進行密封處理。具體的密封處理操 作為本領域技術人員所公知，在此不再贅述。
[0020] 本發明方法中，為了提高精確度，優選情況下，步驟(1)中，使用螺旋測微儀測量密 封后各待測浮法蓋板玻璃片的錫面的長和寬。本領域技術人員應該理解的是，密封后各待 測浮法蓋板玻璃片的錫面的長和寬是指未被密封的錫面的長和寬，侵蝕面積則為長和寬的 乘積。
[0021] 本發明方法中，本領域技術人員應該理解的是，步驟(2)中，相同侵蝕性介質是指 將各待測浮法蓋板玻璃片進行侵蝕時采用的侵蝕性介質的體積和濃度相同。優選情況下， 侵蝕性介質為硝酸溶液、鹽酸溶液、硫酸溶液、氫氧化鉀溶液、氫氧化鈉溶液或氫氟酸，進一 步優選為氫氟酸，更進一步優選地，氫氟酸為優級純氫氟酸，濃度為10-40wt % (即為用優級 純氫氟酸和去離子水配制成濃度為10_40wt%的氫氟酸）。
[0022] 本發明方法中，為了提高精確度，優選情況下，步驟(2)中，間隔一段時間為間隔 0.5-2min，進一步優選為50-70秒。
[0023] 本發明方法中，步驟(2)中，優選情況下，清洗的方式為用去離子水進行超聲波清 洗，超聲波清洗的條件包括:頻率為50_80kHz，時間為15-30min。本領域技術人員應該理解 的是，清洗時已將膠帶拆除、將石蠟清洗干凈，且清洗液并未灑落，即將全部清洗液與侵蝕 液進行混合。
[0024]本發明方法中，步驟(2)中，優選情況下，烘干的條件包括:溫度為70_100°C，時間 為40_60min。
[0025] 本發明方法中，為了提高精確度，優選情況下，步驟(1)中，使用絕對精度分度值為 O.lmg的電子天平進行稱重。
[0026] 本發明方法中，為了提高精確度，優選情況下，步驟(2)中，使用電感耦合等離子體 發射光譜儀測定定容液的錫含量。對于使用電感耦合等離子體發射光譜儀測定定容液中的 錫含量的方法沒有特別的限定，可以為本領域常用的各種方法，例如可以為:首先選擇200-800nm的波長范圍對定容液進行定性掃描，得到錫元素的定性半定量檢測結果，然后根據定 性半定量檢測結果設計標準曲線對應的錫元素的取值區間并配制標準溶液，再采用標準曲 線法測定錫含量。具體的操作過程為本領域技術人員所熟知，在此不再贅述。
[0027]本發明方法中，優選情況下，步驟(3)中，錫面厚度通過下式I計算得到，以100ml的 定容液計，錫面中錫的含量通過下式II計算得到：
[0028] d=[(m0_m)/p/S] X10000,式I
[0029] w=[C/10000/m0_m] X100,式II [0030] 其中，d為錫面厚度，單位為μπι，
[0031] mo為侵蝕前的玻璃片的質量，單位為g，
[0032] m為侵蝕后的玻璃片的質量，單位為g，
[0033] P為玻璃片密度，單位為g/cm3，
[0034] S為侵蝕面積，單位為cm2，
[0035] w為錫面中的錫含量，單位為％，
[0036] C為測定的定容液的錫含量，單位為mg/L。
[0037] 實施例
[0038] 以下將通過實施例對本發明進行詳細描述，但并不因此限制本發明。以下實施例 中，如無特別說明，各材料和試劑均可通過商購獲得，各方法均為本領域常規方法。
[0039] 實施例1
[0040]本實施例用于說明本發明的測定浮法蓋板玻璃片錫面厚度及錫面中錫含量的方 法。