一種測試工裝的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及電路板測試技術領域，尤其是涉及一種測試工裝。
【背景技術】
[0002]目前，印刷電路板(PCBA)在制備過程中都會預留測試點，傳統用于測試PCBA的測試工裝中，每一個測試工裝都具有與其測量的PCBA的測試點對應分布的探針，通過使探針與測試點連接來測試PCBA的功能，因此，每一個測試工裝只能用于測試一款PCBA。
[0003]目前，PCBA產品設計的種類繁多，由于每一種類都需要對應的測試工裝，因此目前的PCBA產品設計成本很高；另外，一旦一個項目結案，很多測試工裝就會被擱置甚至報廢，從而造成很大的成本浪費。

【發明內容】

[0004]本發明提供了一種測試工裝，用以解決現有技術中每一種測試工裝只能用于測試一款電路板、適用范圍較小的問題。
[0005]為達到上述目的，本發明提供以下技術方案:
[0006]一種測試工裝，包括:
[0007]測試平臺；
[0008]與所述測試平臺相對設置的電磁繼電器平臺；
[0009]位于所述電磁繼電器平臺和所述測試平臺之間的多個探針組件，每一個所述探針組件包括電磁座、以及安裝于所述電磁座背離所述電磁繼電器平臺一側的探針；當所述電磁繼電器平臺通電時，每一個所述電磁座與所述電磁繼電器平臺通過電磁力吸合在一起。
[0010]上述測試工裝中，探針組件通過電磁力的作用固定于電磁繼電器平臺，因此，通過控制電磁力可以使探針組件固定于電磁繼電器平臺或者與電磁繼電器平臺分開；具體地，當電磁繼電器平臺通電時可以產生電磁力，探針組件與電磁繼電器平臺由于電磁力的作用吸合在一起、從而可以使探針組件相對于電磁繼電器平臺固定，進而可以進行測試電路板；當電磁繼電器平臺斷電時，電磁力消失，此時探針組件可以脫離電磁繼電器平臺并進行移動，進而可以重新分布探針的位置以使該測試工裝可以用于測試其他電路板。
[0011]因此，上述測試工裝可以用于測試多種電路板，適用范圍很廣。
[0012]優選地，每一個探針組件中，探針朝向所述測試平臺的方向延伸，且所述探針可沿其延伸方向伸縮運動地安裝于所述電磁座。
[0013]優選地，每一個探針組件的探針朝向所述測試平臺的一端與所述測試平臺之間的距離不完全相同。
[0014]優選地，每一個探針組件中，所述探針可拆卸地安裝于所述電磁座。
[0015]優選地，每一個探針組件中，所述探針包括:安裝于所述電磁座的伸縮桿；可拆卸地安裝于所述伸縮桿的探頭。
[0016]優選地，每一個所述探針的探頭長度不同。
[0017]優選地，每一個探針組件中，電磁座設有延伸方向與所述探針的延伸方向相同的導向槽，所述探針的伸縮桿可沿所述導向槽伸縮運功地安裝于所述電磁座。
[0018]優選地，每一個探針組件還包括安裝于所述電磁座與所述伸縮桿之間的彈性件。
[0019]優選地，所述彈性件為彈簧，所述彈簧的一端與所述探針的伸縮桿相連、另一端與所述電磁座相連。
[0020]優選地，每一個探針組件中，所述電磁座還設有與所述探針的延伸方向垂直設置的檔板，所述擋板設有與所述探針的伸縮桿間隙配合的通孔。
[0021]優選地，每一個探針組件中，所述探針的伸縮桿表面設有限位部，所述限位部位于所述擋板與所述電磁座之間、且與所述擋板相抵。
[0022]優選地，每一個探針組件中，探頭距離所述探頭朝向測試平臺的一端的設定距離處設有定位部。
【附圖說明】
[0023]圖1為本發明實施例提供的測試工裝的結構示意圖；
[0024]圖2為本發明實施例提供的電磁繼電器平臺與探針組件的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0025]下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。
[0026]請參考圖1和圖2。
[0027]如圖1和圖2所示，本發明實施例提供的一種測試工裝，包括:
[0028]測試平臺1 ;
[0029]與測試平臺1相對設置的電磁繼電器平臺2 ;
[0030]位于電磁繼電器平臺2和測試平臺1之間的多個探針組件3，每一個探針組件3包括電磁座4、以及安裝于電磁座4背離電磁繼電器平臺2 —側的探針5 ;當電磁繼電器平臺2通電時，每一個電磁座4與電磁繼電器平臺2通過電磁力吸合在一起。
[0031]上述測試工裝中，探針組件3通過電磁力的作用固定于電磁繼電器平臺2，因此，通過控制電磁力可以使探針組件3固定于電磁繼電器平臺2或者與電磁繼電器平臺2分開；具體地，當電磁繼電器平臺2通電時可以產生電磁力，探針組件3與電磁繼電器平臺2通過電磁力的作用可以吸合在一起、從而可以使探針組件3相對于電磁繼電器平臺2固定，進而可以進行測試電路板10 ;當電磁繼電器平臺2斷電時，電磁力消失，此時探針組件3可以脫離電磁繼電器平臺2并進行移動，進而可以重新分布探針5的位置以使該測試工裝可以用于測試其他電路板10。
[0032]因此，上述測試工裝可以用于測試多種電路板，適用范圍很廣。
[0033]如圖1和圖2所示，一種具體的實施例中，每一個探針組件3中，探針5朝向測試平臺1的方向延伸，且探針5可沿其延伸方向伸縮運動地安裝于電磁座4。
[0034]每一個探針5可沿其延伸方向伸縮運動地安裝于電磁座4，可以避免探針5與電路板10的測試點連接不良；具體地，當多個探針組件3中探針5朝向測試平臺1的一端(探測端50)距離待測電路板10的距離不完全一致時，在將電磁繼電器平臺2向下移動以使探針5的探測端50與電路板10的測試點接觸的過程中，探測端50距離電路板10較近的探針5會首先與電路板10接觸，此時，由于探針5可沿其延伸方向伸縮運動，因此，可以將電磁繼電器平臺2繼續向下移動，直到探測端50距離電路板10最遠的探針5也完全與電路板的測試點相接觸；所以，本發明的測試工裝可以解決探針5的探測端50高度不一致時某些探針5與電路板10接觸不良的問題。
[0035]如圖1和圖2所示，在上述實施例的基礎上，一種具體的實施例中，每一個探針組件3的探針5朝向測試平臺1的一端(探測端50)與測試平臺1之間的距離不完全相同。
[0036]目前所有的測試工裝對于電路板10的各個測試點均為同時上電，但實際上大多數芯片對上電時序是有一定要求的，因此，同時上電可能會損壞電子元器件甚至導致整個電路板10無法正常工作。
[0037]本發明的測試工裝在用于測試電路板10時，由于待測電路板10放置于測試平臺1上，而每一個探針組件3中，探針5的探測端50與測試平臺1之間的距離不完全相同，且探針5可沿其延伸方向收縮，因此，在將電磁繼電器平臺2向下移動以使每一個探針5分別與電路板10的測試點接觸的過程中，多個探針5將按照長短順序先后與電路板10的測試點相接觸，即多個探針5可以實現對電路板10的各測試點按照一定時序進行上電，因此，本發明的測試工裝可以滿足電路板10對上電時序的要求。
[0038]如圖1所示，在上述各實施例的基礎上，一種具體的實施例中，每一個探針組件3中，探針5可拆卸地安裝于電磁座4。