光源光度與色度空間分布特性測試方法與裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種光源光度與色度空間分布特性測試方法，尤其是一種基于光纖掃描的光源光度與色度空間分布特性測試方法及裝置，屬于光源測試技術領域。
【背景技術】
[0002]發光二極管(LED)是作為一種新型光源，相對白熾燈等傳統光源具有功耗小、壽命長、體積小、重量輕、工作電壓低、發光響應時間短，光色純等一系列特性，已廣泛應用在指示燈、顯示屏、交通信號燈等諸多領域。但現有LED通常存在光強空間分布不均勻和不對稱的特性。
[0003]傳統LED光強空間分布特性的測試主要采用的是光源配光曲線測試。最常見的測量配光曲線的方法是采用一個光度探測器，可選擇光源不動，光度探測器圍繞它旋轉掃描，也可選擇光度探測器不動，光源圍繞一個固定中心點旋轉，被測LED或單元探測器旋轉一周才能獲取被測LED的一條光強分布二維曲線，而測試點一般設置有數十個，因此一條配光曲線的測試就需要較長的時間，如果測量三維空間的光強分布，則測試點將多達數百乃至數千個(通常為72 X 72個)，測試時間漫長(3-8小時以上)，測試精度難以保證，且所需設備昂貴，成本高昂。雖然諸如CN 101566500A等專利提出了一些新的LED光強空間分布特性測試方法，但其仍然無法快速、準確的實現LED空間光色分布特性測試。

【發明內容】

[0004]本發明的目的在于提供一種光源光度與色度空間分布特性測試方法與裝置，以實現半導體光源光色空間分布特性的快速、高效、準確的測試，從而克服現有技術中的不足。
[0005]為實現前述發明目的，本發明所采用的技術方案如下:
一種光源光度與色度空間分布特性測試方法，其包括:
提供呈環形均勻分布在一平面上的復數光采集探測模塊，且在測試時將待測試光源設置于該環形的圓心處，
向待測試光源提供工作電流使待測試光源正常工作，
驅使待測試光源或該復數光采集探測模塊按設定速度繞沿徑向穿過所述環形的圓心的軸線旋轉180°，并以該復數光采集探測模塊實時或在設定時刻檢測待測試光源的光強和/或光色參數，
以數據處理單元接收和處理該復數光采集探測模塊輸出的檢測數據，由此探知待測試光源的光色空間分布特性。
[0006]在一實施方案之中，該測試方法進一步包括:
待測試光源或該復數光采集探測模塊每繞所述軸線旋轉過設定角度，即以該復數光采集探測模塊檢測待測試光源的光強和/或光色參數。
[0007]在一優選實施方案之中，該測試方法進一步包括:
待測試光源或該復數光采集探測模塊每繞所述軸線旋轉過Φ度后，即以該復數光采集探測模塊檢測待測試光源的光強和/或光色，其中Φ=180° /η，η為大于或等于36的正整數。
[0008]一種半導體光源光色空間分布特性測試裝置，其包括:
呈環形均勻分布在一平面上的復數光采集探測模塊，用以檢測待測試光源的光強和/或光色參數，且在測試時待測試光源設置于該環形的圓心處；
驅動機構，用以驅使待測試光源或該復數光采集探測模塊按設定速度繞沿徑向穿過所述環形的圓心的軸線旋轉180° ；
數據處理單元，用以接收和處理該復數光采集探測模塊輸出的檢測數據，并由此探知待測試光源的光色空間分布特性。
[0009]在一實施方案之中，所述測試裝置進一步還可包括電源模塊，至少用以向待測試光源提供工作電流而使待測試光源正常工作。
[0010]在一實施方案之中，也可將該復數光采集探測模塊固定安裝于一環形機構上，且所述環形機構可在所述驅動機構的驅動下繞沿徑向穿過所述環形的圓心的軸線自由旋轉。
[0011]在一實施方案之中，所述光米集探測模塊包括光纖。
[0012]進一步的，所述光纖還與(XD、CMOS、光開關等元件中的一種或多種配合。
[0013]在一較佳實施方案之中，所述光采集探測模塊與光開關耦合。
[0014]在一實施方案之中，其中每一光纖分別與一光開關耦合。
[0015]在一實施方案之中，其中至少兩根光纖與一光開關親合。
[0016]在一實施方案之中，所述數據處理單元采用光譜儀。
[0017]較之現有技術，通過采用本發明的前述設計，可以在數十分鐘乃至數分鐘內完成諸如LED等半導體光源的光強、光色的空間分布特性的測試，簡單易操作，速度快，效率高，成本低，且測試結果更為準確，同時所需設備結構簡單，易于小型化，使用、維護方便。
[0018]下面結合附圖和【具體實施方式】對本發明做進一步的闡述。
【附圖說明】
[0019]圖1是本發明一實施例中半導體光源光色空間分布特性測試裝置的結構示意圖； 圖2是本發明一實施例中半導體光源光色空間分布特性測試裝置的原理圖。
【具體實施方式】
[0020]以下結合具體實施例對上述方案做進一步說明。應理解，這些實施例是用于說明本發明而不限于限制本發明的范圍。實施例中采用的實施條件可以根據實際需要而做進一步調整，未注明的實施條件通常為常規實驗中的條件。
[0021]本發明的一個方面提供了一種光源光色空間分布特性測試裝置10，請參閱圖1-2，其主要包括:
呈環形均勻分布在同一平面上的多個光采集探測模塊I (簡稱“光探測模塊”)，用以檢測待測試光源的光強和/或光色參數，且在測試時待測試光源2 (例如LED，但不限于此)優選設置于該環形的圓心處，
驅動機構，用以驅使待測試光源或該多個光采集探測模塊按設定速度繞沿徑向穿過所述環形的圓心的軸線旋轉170°以上，優選為180°， 數據處理單元，用以接收和處理該多個光采集探測模塊輸出的檢測數據，并由此探知待測試光源的光色空間分布特性。
[0022]進一步的，在前述的多個光采集探測模塊中，任意兩個相鄰光采集探測模塊與所述環形的圓形之間的夾角為360° /m, m為光采集探測模塊的數量。
[0023]為使對于半導體光源的空間光、色特性的測試結果與半導體光源的真實表現更為一致，一般來說，m的取值越大越好，但考慮到成本、設備結構的復雜度等因素，m取值為72左右時，即可在成本較低，且設備結構較為簡單緊湊的基礎上，取得較為理想的測試結果。
[0024]作為可選的實施方案之一，可將前述的多個光采集探測模塊固定安裝于一環形機構上，且該環形機構可在驅動機構的驅動下繞沿徑向穿過所述環形的圓心的軸線自由旋轉，如此可保證該多個光采集探測模塊于旋轉時的同步性。
[0025]當然，作為另一種可行的實施方案，也可令該待測試光源和該多個光采集探測模塊同時但沿相反方向旋轉，采用這樣的方式可在某些情況下提高測試速度。
[0026]前述光采集探測模塊可采用本領域技術人員已知的各類元件，而作為較為優選的實施方案，可以采用光纖，如此可使該測試裝置的結構更為簡單緊湊，利于將其小型化、便攜化，且可更為高效、準確的截獲半導體光源輸出的光信號。
[0027]其中，各光纖的光信號接收端呈環形均勻分布于半導體光源周圍且均指向半導體光源，以接收由半導體光源輸出的光信號。
[0028]其中，每一光采集探測模塊可采用一束光纖中的單根光纖，亦可采用由若干根光纖集束形成的一光纖