閥門閥體局部減薄的射線檢測方法
【技術領域】
[0001 ] 本發明涉及閥門閥體老化檢測領域，特別是涉及一種閥門閥體局部減薄的射線檢測方法。
【背景技術】
[0002]閥門在運行過程中，由于較大紊流的沖刷和傳質作用，有可能在閥體結構復雜的敏感部位產生沖蝕或流動加速腐蝕，發生局部減薄。自20世紀80年代以來，核電廠不斷有較嚴重的閥體減薄現象被發現，如美國核電廠16英寸截止閥閥體沖蝕和韓國核電廠16英寸主給水隔離閥閥體流動加速腐蝕等，均影響核電廠的安全運行。閥體一旦因局部減薄失效造成泄漏或破裂，就會造成高溫高壓介質外泄，不但影響機組運行還會危及設備和人身安全。因此，很多國家的核安全管理機構，如美國核管會(NRC)和韓國的核安全機構(KINS)都要求營運單位建立壁厚管理大綱并將閥體壁厚納入管理體系中。
[0003]目前，核電廠開展的閥門維修、試驗、檢查工作，主要通過解體檢修，針對閥門功能性和可用性進行檢查，如閥芯密封檢查、盤根更換、閥門驅動機構檢查，控制系統檢查等。尚無對閥門閥體局部減薄進行有效、系統的監督檢查和管理工作，也沒有針對性的檢查方法和工藝。
[0004]同時，閥門閥體結構比一般管件更復雜，局部減薄的原因、部位和分布規律有一定的復雜性，一般的超聲回波反射測厚方法難以對閥體壁厚和局部減薄情況進行準確測定，因而更需要開發專門的閥體壁厚監測和局部減薄的檢查技術，以符合實際的監測需求。
【發明內容】
[0005]鑒于以上所述現有技術的缺點，本發明的目的在于提供一種閥門閥體局部減薄的射線檢測方法，用于解決現有技術中閥門檢測需解體檢測，不能現場檢測的問題。
[0006]為實現上述目的及其他相關目的，本發明提供一種閥門閥體局部減薄的射線檢測方法，其包括以下步驟:
[0007]I)根據現場情況和閥門種類及結構，直觀判斷閥體減薄的敏感部位，敏感部位包括閥體底部區域、閥體側面區域以及接管焊縫區域；
[0008]2)利用透照方式對步驟I)中所述敏感部位中的各區域進行射線拍照，具體過程為:在所述敏感部位所包含的三個區域中分別放置拍照用的底片，且確保各區域均被底片完全覆蓋；
[0009]3)使用掃描儀現場掃描所述底片并獲取數字照片，并且使用計算機對獲取的數字照片進行數字圖像的灰度對比，以此來判斷存在哪些減薄區域以及減薄程度。
[0010]優選的，所述步驟2)中對所述閥體底部區域進行透照時，采用傾斜透照的方式拍照，傾斜透照是指射線源從閥門上表面頸部傾斜照射。
[0011]優選的，所述步驟2)中對所述閥體側面區域進行透照時，采用垂直透照的方式拍照，垂直透照是指射線源從底片相對側垂直照射。
[0012]優選的，所述步驟2)中對所述接管焊縫區域進行透照時，采用垂直透照的方式拍照，垂直透照是指射線源從底片相對側垂直照射。
[0013]優選的，所述步驟2)中在進行透照時，射線源的位置以及射出角度以覆蓋全部所述底片為準，并且根據閥體壁厚選擇合適的透照時間。
[0014]如上所述，本發明的閥門閥體局部減薄的射線檢測方法，具有以下有益效果:該方法可用于核電廠及非核電廠的各類閥門閥體局部減薄檢測和評估，其采用數字射線技術，根據現場情況、閥門材料、類型和規格設計射線檢測工藝，具體包括透照位置、角度、時間和底片放置位置，并且主要對閥體底部下游部分和連接焊縫附近等易受流體沖刷和影響的部位進行射線檢測，通過掃描底片直接獲得數字照片，并直接使用計算機進行處理和分析，獲得閥體局部減薄情況；其采用射線在現場對閥門閥體進行檢測，無需解體，其具有適用性強、準確度高、效率高等優點。
【附圖說明】
[0015]圖1顯示為本發明的閥門閥體局部減薄的射線檢測方法中傾斜透照的示意圖。
[0016]圖2顯示為本發明的閥門閥體局部減薄的射線檢測方法中垂直透照的左視圖。
[0017]圖3顯示為利用本發明的閥門閥體局部減薄的射線檢測方法中垂直透照的俯視圖。
[0018]元件標號說明
[0019]I 閥體
[0020]2 射線源
[0021]3 底片
【具體實施方式】
[0022]以下由特定的具體實施例說明本發明的實施方式，熟悉此技術的人士可由本說明書所揭露的內容輕易地了解本發明的其他優點及功效。
[0023]請參閱圖1至圖3。須知，本說明書所附圖式所繪示的結構、比例、大小等，均僅用以配合說明書所揭示的內容，以供熟悉此技術的人士了解與閱讀，并非用以限定本發明可實施的限定條件，故不具技術上的實質意義，任何結構的修飾、比例關系的改變或大小的調整，在不影響本發明所能產生的功效及所能達成的目的下，均應仍落在本發明所揭示的技術內容所能涵蓋的范圍內。同時，本說明書中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中間”及“一”等的用語，亦僅為便于敘述的明了，而非用以限定本發明可實施的范圍，其相對關系的改變或調整，在無實質變更技術內容下，當亦視為本發明可實施的范疇。
[0024]如圖1至圖3所示，本發明提供一種閥門閥體局部減薄的射線檢測方法，其包括以下步驟:
[0025]I)根據現場情況和閥門種類及結構，直觀判斷閥體I減薄的敏感部位，敏感部位包括閥體底部區域、閥體側面區域以及接管焊縫區域；
[0026]2)利用透照方式對步驟I)中所述敏感部位中的各區域進行射線拍照，具體過程為:在敏感部位所包含的三個區域中分別放置拍照用的底片3，且確保各區域均被底片3完全覆蓋；其中，閥體底部區域進行透照時，見圖1所示，采用傾斜透照的方式拍照，傾斜透照是指射線源2從閥門上表面頸部傾斜照射；閥體側面區域以及接管焊縫區域進行透照時，采用垂直透照的方式拍照，見圖2及圖3所示，垂直透照是指射線源2從3的相對側垂直照射；在進行透照時，射線源2的位置以及射出角度以覆蓋全部底片為準，并且根據閥體I的壁厚選擇合適的透照時間；
[0027]3)使用掃描儀現場掃描所述底片并獲取數字照片，并且使用計算機對獲取的數字照片進行數字圖像的灰度對比，以此來判斷存在哪些減薄區域以及減薄程度。
[0028]本發明采用數字射線技術，根據現場情況、閥門材料、類型和規格設計射線檢測工藝，射線檢測工藝包括透照位置、角度、時間和底片放置位置，主要對閥體底部下游部分和連接焊縫附近等易受流體沖刷和影響的部位進行射線檢測，通過掃描底片直接獲得數字照片，并直接使用計算機進行處理和分析，獲得閥體局部減薄情況。
[0029]綜上所述，本發明閥門閥體局部減薄的射線檢測方法，其采用射線在現場對閥門閥體進行檢測，無需解體，其具有適用性強、準確度高、效率高等優點。所以，本發明有效克服了現有技術中的種種缺點而具高度產業利用價值。
[0030]上述實施例僅例示性說明本發明的原理及其功效，而非用于限制本發明。任何熟悉此技術的人士皆可在不違背本發明的精神及范疇下，對上述實施例進行修飾或改變。因此，舉凡所屬技術領域中具有通常知識者在未脫離本發明所揭示的精神與技術思想下所完成的一切等效修飾或改變，仍應由本發明的權利要求所涵蓋。
【主權項】
1.一種閥門閥體局部減薄的射線檢測方法，其特征在于，包括以下步驟: 根據現場情況和閥門種類及結構，直觀判斷閥體(I)減薄的敏感部位，敏感部位包括閥體底部區域、閥體側面區域以及接管焊縫區域； 1)利用透照方式對步驟I)中所述敏感部位中的各區域進行射線拍照，具體過程為:在所述敏感部位所包含的三個區域中分別放置拍照用的底片(3)，且確保各區域均被底片(3)完全覆蓋； 2)使用掃描儀現場掃描所述底片(3)并獲取數字照片，并且使用計算機對獲取的數字照片進行數字圖像的灰度對比，以此來判斷存在哪些減薄區域以及減薄程度。2.根據權利要求1所述的閥門閥體局部減薄的射線檢測方法，其特征在于:所述步驟2)中對所述閥體底部區域進行透照時，采用傾斜透照的方式拍照，傾斜透照是指射線源(2)從閥門上表面頸部傾斜照射。3.根據權利要求1所述的閥門閥體局部減薄的射線檢測方法，其特征在于:所述步驟2)中對所述閥體側面區域進行透照時，采用垂直透照的方式拍照，垂直透照是指射線源(2)從底片(3)的相對側垂直照射。4.根據權利要求1所述的閥門閥體局部減薄的射線檢測方法，其特征在于:所述步驟2)中對所述接管焊縫區域進行透照時，采用垂直透照的方式拍照，垂直透照是指射線源(2)從底片(3)的相對側垂直照射。5.根據權利要求1所述的閥門閥體局部減薄的射線檢測方法，其特征在于:所述步驟2)中在進行透照時，射線源(2)的位置以及射出角度以覆蓋全部所述底片(3)為準，并且根據閥體壁厚選擇合適的透照時間。
【專利摘要】本發明提供一種閥門閥體局部減薄的射線檢測方法，其包括以下步驟：1）根據現場情況和閥門種類及結構，直觀判斷閥體減薄的敏感部位，敏感部位包括閥體底部區域、閥體側面區域以及接管焊縫區域；2）利用透照方式對步驟1）中所述敏感部位中的各區域進行射線拍照，具體過程為：在所述敏感部位所包含的三個區域中分別放置拍照用的底片，且確保各區域均被底片完全覆蓋；3）使用掃描儀現場掃描所述底片并獲取數字照片，并且使用計算機對獲取的數字照片進行數字圖像的灰度對比，以此來判斷存在哪些減薄區域以及減薄程度。本發明具有適用性強、準確度高、效率高等優點。
【IPC分類】G01N23/04
【公開號】CN104897701
【申請號】CN201510342688
【發明人】鄭會, 張維, 邊春華, 欒興峰, 李鍇, 楊恒亮, 王聰, 趙加冠, 鐘志民, 張曉源
【申請人】國核電站運行服務技術有限公司, 中核核電運行管理有限公司
【公開日】2015年9月9日
【申請日】2015年6月19日