專利名稱：激光粒度測試儀的制作方法
技術領域：
本實用新型是關于激光粒度分布測試的儀器的。
隨著微粒粉碎技術的發展，科研、生產都迫切需要對超細顆粒的粒度進行測試，尤其是1.9微米以下顆粒。而現有的激光衍射式粒度分布測試儀由于僅對激光照在被測顆粒上產生的衍射光進行檢測，因此在測試1.9微米以下顆粒時誤差很大，不能滿足其需要。
本實用新型的目的是提供一種能準確測試1.9微米以下顆粒的粒度分布的激光粒度測試儀。
本實用新型提供的這種粒度測試儀是在現有激光衍射式粒度分布測試儀的基礎上增加對激光照在被測顆粒上產生的散射光的檢測來擴大現有激光衍射式粒度分布測試儀的測量范圍，降低測試下限，進而實現1.9微米以下顆粒粒度分布的準確測試。
本實用新型提供的這種粒度測試儀由激光器及依次位于激光器后的短焦透鏡、光欄、長焦透鏡、試樣池、衍射光聚焦鏡頭、衍射光光電轉換裝置等部件組成，在試樣池的上側還具有位置可以移動的由散射光聚焦鏡頭、散射光光電轉換裝置組成的波側散射光檢測系統。
由衍射光光電轉換裝置、散射光光電轉換裝置所轉換的電信號經放大后輸入計算機進行處理，3～5分鐘即可得出測試結果。
短焦透鏡、光欄、長焦透鏡構成擴束裝置，將激光器發出的激光束變成平行光線。
衍射光聚焦鏡頭、衍射光光電轉換裝置構成衍射光檢測系統。
散射光聚焦鏡頭、散射光光電轉換裝置構成波側散射光檢測系統。由于波側散射光的方向是多變的，因此由散射光聚焦鏡頭、散射光光電轉換裝置構成的波側散射光檢測系統是可以移動的，既可是遠離或靠近試樣池的上、下移動，也可以是以試樣池為園心的弧線運動。
本實用新型提供的這種粒度測試儀的優點是由于在現有激光衍射式粒度分布測試儀的基礎上增加了位置可移動的波側散射光檢測系統，儀器的測量范圍下限可達1.9微米以下顆粒。
附圖
是本實用新型提供的這種粒度測試儀的光路及結構示意圖。其中，激光器(1)、激光束(2)、短焦透鏡(3)、光欄(14)、長焦透鏡(4)、平行光(5)、試樣池(13)、試樣顆粒(12)、衍射光線(11)、衍射光聚焦鏡頭(9)、衍射光光電轉換裝置(10)、散射光線(8)、散射光聚焦鏡頭(7)、散射光光電轉換裝置(6)。
本實用新型提供的這種粒度分布測試儀的一種工作過程如下激光器(1)發出的激光束(2)經由短焦透鏡(3)、光欄(14)、長焦透鏡(4)組成的擴束裝置擴束成平行光(5)，然后平行光(5)照射在試樣池(13)內的試樣顆粒(12)上，一方面產生衍射光線(11)，并經衍射光聚焦鏡頭(9)后照射在衍射光光電轉換裝置(10)上，產生的電信號經放大后輸入計算機處理；另一方面產生的散射光線(8)，經散射光聚焦鏡頭(7)后照射在散射光光電轉換裝置(6)上，產生的電信號經放大后輸入計算機處理。即可在計算機顯示器上顯示、并通過打印機打印出測試結果。
權利要求一種激光粒度測試儀，由激光器(1)、及依次位于激光器(1)后的短焦透鏡(3)、光欄(14)、長焦透鏡(4)、試樣池(13)、衍射光聚焦鏡頭(9)、衍射光光電轉換裝置(10)等部件組成，其特征在于試樣池(13)的上側具有位置可以移動的由散射光聚焦鏡頭(7)、散射光光電轉換裝置(6)組成的波側散射光檢測系統。
專利摘要本實用新型是關于激光粒度測試儀的。由于該測試儀在現有激光衍射式粒度測試儀的基礎上增加了對激光照在被測顆粒上產生的散射光進行檢測的波側散射光檢測系統，儀器的檢測下限可達1.9微米以下。適用于一切有機和無機顆粒試樣，僅需3～5分鐘即可完成測試及結果輸出、打印工作。
文檔編號G01N15/02GK2251721SQ95242069
公開日1997年4月9日 申請日期1995年8月28日 優先權日1995年8月28日
發明者周定益 申請人:周定益