專利名稱：X—熒光分析儀用的水泥樣品制樣模的制作方法
技術領域：
一種X—熒光分析儀用的水泥樣品制樣模，尤其是采用手動機械制備待測試水泥樣品用的制樣模。
傳統使用的制備X—熒光分析儀用的水泥樣品多將待測試水泥制品放在液壓傳動的壓片機上，用壓力壓制顆粒狀水泥，之后再將制備的水泥樣品與樣品盤一起取出，用X-熒光分析儀測定水泥中的鈣、鐵含量。這種設備成本高，且液壓傳動機構容易漏油不易維修，影響制備樣品的工作效率。
本實用新型的目的是提出一種簡易可手工操作的制樣模，以代替易出故障，成本高的壓片機。
本實用新型是這樣實現的一種X-熒光分析儀用的水泥樣品制樣模，包括壓頭1、定位套2、樣品盤3，其特征在于壓頭中部設置的凸臺12下端與定位套2的頂端緊密貼合形成定位平面21，壓頭下端垂直段13伸入樣品盤3的高度δ為0.1～1mm，壓頭下端垂直段13與定位套2的內壁套合，環形定位套2呈 形截面。定位平面21的寬度為4—6mm。定位套2與樣品盤外徑22滑動配合。全部結構以軸線為中心對稱設置。
本實用新型制樣方法簡單，易于掌握，制樣所用機具費用從3000元減少至200元；且制樣模可以多次重復使用，不易損壞；操作者可以就地制備水泥樣品，便于生產和施工的監督。


圖1本實用新型的結構示意圖圖2本實用新型的俯視示意圖圖3定位套與壓頭、樣品盤連接關系示意圖現結合附圖進一步敘述本實用新型的結構參見圖1—3由壓頭1、定位套2、樣品盤3組成本實用新型。圓形壓頭上端手柄11呈內凹弧形，壓頭中部突伸一帶環形平臺的凸臺12，壓頭下端垂直段13與定位套2的內壁套合。環形定位套2的截面呈 形，定位套2的頂端與壓頭凸臺12的底面接觸形成定位平面21。平臺H2的標高低于定位套2與樣品盤3的接觸平面H1的標高。H1與H2的間距δ為0.1～1mm。定位套2與樣品盤3外環邊緣接觸面22為滑動配合，使樣品盤3易于從定位套2中取出。
本實用新型采用了壓頭凸臺與定位套之間保持4～6mm的定位平面21，以及壓頭垂直面的標高埋入樣品盤3與定位套2接觸平面一個標高δ＝0.1～1mm兩項措施，使施加于水泥樣品上的壓力保持均勻。水泥顆粒受到的單位面積壓力均勻，提高了測量精度且使水泥樣品連同樣品盤易于從定位套中取出。
本實用新型的壓頭、定位套由不銹鋼材料制成。樣品盤3由硬鋁制成。
本實用新型的操作過程為把定位套2套在水泥樣品盤3上，把稱好一定重量的水泥樣品4倒入水泥樣品盤3內，并晃動定位套2與樣品盤3，使水泥樣品基本上成一平面；把壓頭1輕輕套入定位套2中，使定位套上沿與壓頭凸臺12的定位平面21緊密接觸，再將壓頭1按順時針方向旋轉360°或720°，把壓頭1連同定位套2從樣品盤3上移開，如此已經完成了X—熒光分析儀用的水泥樣品的制備工作。
權利要求1.一種X—熒光分析儀用的水泥樣品制樣模，包括壓頭(1)、定位套(2)、樣品盤(3)，其特征在于壓頭中部設置的凸臺(12)下端與定位套(2)的頂端緊密貼合形成定位平面(21)，壓頭下端垂直段(13)伸入樣品盤(3)的高度δ為0.1～1mm，壓頭下端垂直段(13)與定位套(2)的內壁套合，環形定位套(2)呈 形截面。
2.按權利要求1所述的X-熒光分析儀用的水泥樣品制樣模，其特征在于定位平面(21)的寬度為4—6mm。
3.按權利要求1所述的X-熒光分析儀用的水泥樣品制樣模，其特征在于定位套(2)與樣品盤外徑(22)滑動配合。
4.按權利要求1—3所述的X-熒光分析儀用的水泥樣品制樣模，其特征在于全部結構以軸線為中心對稱設置。
專利摘要一種X—熒光分析儀用的水泥樣品制樣模，包括壓頭、定位套、樣品盤，壓頭中部設置的凸臺下端與定位套頂端緊密貼合形成定位平面，壓頭下端垂直段伸入樣品盤的高度δ=0.1～1mm，壓頭下端垂直段與定位套的內壁套合，定位套呈形截面。結構簡單利于操作，成本低。
文檔編號G01T1/00GK2232592SQ95224590
公開日1996年8月7日 申請日期1995年10月27日 優先權日1995年10月27日
發明者黃業洋, 曾祥發, 黃金蘭 申請人:中國人民解放軍57607部隊