本發明涉(she)及測試(shi)裝置，尤其涉(she)及一(yi)種(zhong)示波器探頭輔(fu)助測試(shi)裝置以及測試(shi)方法(fa)。

背景技術：

1、示(shi)波(bo)(bo)器(qi)是(shi)一(yi)種(zhong)用途十分廣泛的(de)(de)(de)電(dian)子(zi)測(ce)量儀器(qi)。它能把(ba)肉(rou)眼看不見(jian)的(de)(de)(de)電(dian)信號(hao)(hao)變(bian)(bian)換成看得見(jian)的(de)(de)(de)圖像(xiang)，便于(yu)人們研(yan)究各(ge)種(zhong)電(dian)現(xian)象的(de)(de)(de)變(bian)(bian)化(hua)過程(cheng)。示(shi)波(bo)(bo)器(qi)利用狹(xia)窄的(de)(de)(de)、由高速電(dian)子(zi)組成的(de)(de)(de)電(dian)子(zi)束(shu)，打(da)在涂有熒(ying)光物質的(de)(de)(de)屏(ping)面上(shang)，就可產生細小(xiao)的(de)(de)(de)光點（這是(shi)傳統的(de)(de)(de)模擬(ni)示(shi)波(bo)(bo)器(qi)的(de)(de)(de)工作原(yuan)理）。在被(bei)測(ce)信號(hao)(hao)的(de)(de)(de)作用下(xia)，電(dian)子(zi)束(shu)就好像(xiang)一(yi)支筆(bi)的(de)(de)(de)筆(bi)尖，可以在屏(ping)面上(shang)描繪出被(bei)測(ce)信號(hao)(hao)的(de)(de)(de)瞬時值的(de)(de)(de)變(bian)(bian)化(hua)曲線；

2、示波器通(tong)常有四個通(tong)道，而且每個通(tong)道由四種(zhong)顏色表示，探頭一(yi)端(duan)(duan)與(yu)通(tong)道連接(jie)，另(ling)一(yi)端(duan)(duan)與(yu)集成電路輸入端(duan)(duan)連接(jie)，能夠實現被測集成電路測試；

3、為降低信號(hao)干(gan)(gan)擾(rao)，公(gong)開(kai)號(hao)為cn109521232b的(de)發(fa)明(ming)創造公(gong)開(kai)了一(yi)種示波器探(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)輔助測(ce)試裝置，包括雙(shuang)極(ji)(ji)端(duan)子(zi)、探(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)聯(lian)合器及(ji)保護(hu)殼。探(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)聯(lian)合器及(ji)保護(hu)殼內(nei)開(kai)設有空(kong)腔，探(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)聯(lian)合器收容于(yu)保護(hu)殼的(de)空(kong)腔中(zhong)；雙(shuang)極(ji)(ji)端(duan)子(zi)包括依(yi)次(ci)相連(lian)的(de)測(ce)試段(duan)、中(zhong)間(jian)(jian)段(duan)和(he)(he)連(lian)接段(duan)；測(ce)試段(duan)遠離中(zhong)間(jian)(jian)段(duan)的(de)一(yi)端(duan)設有第一(yi)信號(hao)端(duan)和(he)(he)第一(yi)參考地端(duan)。通(tong)過雙(shuang)極(ji)(ji)端(duan)子(zi)能夠避免出現飛線(xian)(xian)引起干(gan)(gan)擾(rao)和(he)(he)影(ying)(ying)響回路完整(zheng)性，但是，如果被測(ce)集成(cheng)電(dian)(dian)路輸入(ru)端(duan)導線(xian)(xian)裸露在空(kong)氣(qi)中(zhong)，導線(xian)(xian)表面會形成(cheng)氧(yang)化層，由于(yu)集成(cheng)電(dian)(dian)路屬于(yu)弱電(dian)(dian)，受(shou)氧(yang)化層干(gan)(gan)擾(rao)，會引起集成(cheng)電(dian)(dian)路與探(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)接觸不良，影(ying)(ying)響測(ce)試準確(que)性；

4、另外，示(shi)波(bo)(bo)器通道眾(zhong)多(duo)，測試(shi)現(xian)場電路(lu)復雜，由于采用的(de)探(tan)(tan)頭一致(zhi)(zhi)，導致(zhi)(zhi)探(tan)(tan)頭應用的(de)哪(na)個示(shi)波(bo)(bo)器通道不好(hao)判(pan)斷，容易(yi)造成示(shi)波(bo)(bo)器出現(xian)錯(cuo)誤調試(shi)，給測試(shi)工(gong)作(zuo)帶來難度。

技術實現思路

1、本(ben)發明為了克服現有技(ji)術中不(bu)能去除氧化層，探(tan)(tan)頭(tou)與被測(ce)(ce)(ce)電路接觸(chu)不(bu)良，以及(ji)不(bu)便(bian)于工作人員(yuan)識別(bie)探(tan)(tan)頭(tou)應用的(de)示(shi)波器(qi)通(tong)道，測(ce)(ce)(ce)試工作難(nan)度大的(de)缺(que)點，本(ben)發明要解決的(de)技(ji)術問題是一種(zhong)示(shi)波器(qi)探(tan)(tan)頭(tou)輔(fu)助測(ce)(ce)(ce)試裝置(zhi)以及(ji)測(ce)(ce)(ce)試方(fang)法。

2、為實現上述目的(de)，本發明(ming)提供(gong)如下技術(shu)方案：一種示波器(qi)探(tan)(tan)頭(tou)輔助測(ce)試裝(zhuang)置，包括(kuo)探(tan)(tan)頭(tou)握(wo)把(ba)、開(kai)關(guan)、接(jie)地線和筆頭(tou)，所(suo)述開(kai)關(guan)設置在(zai)探(tan)(tan)頭(tou)握(wo)把(ba)頂部(bu)，所(suo)述接(jie)地線夾持在(zai)探(tan)(tan)頭(tou)握(wo)把(ba)接(jie)地端(duan)外壁(bi)，所(suo)述筆頭(tou)設置在(zai)探(tan)(tan)頭(tou)握(wo)把(ba)左端(duan)，還包括(kuo)打磨機(ji)(ji)構和識別機(ji)(ji)構，所(suo)述打磨機(ji)(ji)構內嵌在(zai)探(tan)(tan)頭(tou)握(wo)把(ba)右側(ce)，所(suo)述識別機(ji)(ji)構安裝(zhuang)在(zai)探(tan)(tan)頭(tou)握(wo)把(ba)左端(duan)。

3、優選的，目的在(zai)(zai)(zai)(zai)于(yu)對被測(ce)集成電路輸(shu)入端導線打磨(mo)(mo)(mo)，去除導線表面氧化層，防(fang)止測(ce)試(shi)時(shi)接(jie)(jie)(jie)觸(chu)不良，所(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)打磨(mo)(mo)(mo)機構包括盒體(ti)、滑(hua)槽、第(di)(di)(di)一(yi)(yi)(yi)夾板、第(di)(di)(di)二(er)(er)夾板、齒(chi)條(tiao)(tiao)(tiao)、打磨(mo)(mo)(mo)片、第(di)(di)(di)一(yi)(yi)(yi)轉(zhuan)(zhuan)軸(zhou)(zhou)、第(di)(di)(di)一(yi)(yi)(yi)齒(chi)輪(lun)、扭簧(huang)和(he)撥(bo)塊(kuai)(kuai)(kuai)，盒體(ti)內(nei)嵌在(zai)(zai)(zai)(zai)所(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)探頭握把右端，所(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)盒體(ti)正面開設有滑(hua)槽；第(di)(di)(di)一(yi)(yi)(yi)夾板數量為兩個(ge)，分別固(gu)定連接(jie)(jie)(jie)在(zai)(zai)(zai)(zai)所(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)盒體(ti)左右內(nei)壁(bi)；第(di)(di)(di)二(er)(er)夾板數量為兩個(ge)，分別插接(jie)(jie)(jie)在(zai)(zai)(zai)(zai)所(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)盒體(ti)內(nei)腔(qiang)(qiang)左右兩側(ce)；齒(chi)條(tiao)(tiao)(tiao)安(an)(an)裝(zhuang)在(zai)(zai)(zai)(zai)所(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)第(di)(di)(di)二(er)(er)夾板內(nei)側(ce)；打磨(mo)(mo)(mo)片數量為若(ruo)干(gan)個(ge)，安(an)(an)裝(zhuang)在(zai)(zai)(zai)(zai)所(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)第(di)(di)(di)一(yi)(yi)(yi)夾板和(he)第(di)(di)(di)二(er)(er)夾板相對面，打磨(mo)(mo)(mo)片為弧形；第(di)(di)(di)一(yi)(yi)(yi)轉(zhuan)(zhuan)軸(zhou)(zhou)通過軸(zhou)(zhou)承能夠繞自身軸(zhou)(zhou)線旋(xuan)轉(zhuan)(zhuan)的安(an)(an)裝(zhuang)在(zai)(zai)(zai)(zai)所(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)盒體(ti)內(nei)腔(qiang)(qiang)中心位(wei)置；第(di)(di)(di)一(yi)(yi)(yi)齒(chi)輪(lun)安(an)(an)裝(zhuang)在(zai)(zai)(zai)(zai)所(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)第(di)(di)(di)一(yi)(yi)(yi)轉(zhuan)(zhuan)軸(zhou)(zhou)外(wai)壁(bi)底端，且第(di)(di)(di)一(yi)(yi)(yi)齒(chi)輪(lun)與(yu)(yu)齒(chi)條(tiao)(tiao)(tiao)嚙合連接(jie)(jie)(jie)；扭簧(huang)套接(jie)(jie)(jie)在(zai)(zai)(zai)(zai)所(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)第(di)(di)(di)一(yi)(yi)(yi)轉(zhuan)(zhuan)軸(zhou)(zhou)外(wai)壁(bi)，扭簧(huang)兩端分別與(yu)(yu)盒體(ti)內(nei)壁(bi)頂(ding)部和(he)第(di)(di)(di)一(yi)(yi)(yi)齒(chi)輪(lun)頂(ding)部連接(jie)(jie)(jie)，在(zai)(zai)(zai)(zai)扭簧(huang)扭力作用下驅使第(di)(di)(di)一(yi)(yi)(yi)齒(chi)輪(lun)順時(shi)針旋(xuan)轉(zhuan)(zhuan)；撥(bo)塊(kuai)(kuai)(kuai)一(yi)(yi)(yi)端安(an)(an)裝(zhuang)在(zai)(zai)(zai)(zai)位(wei)于(yu)左側(ce)的所(suo)(suo)(suo)述(shu)(shu)第(di)(di)(di)二(er)(er)夾板正面，另一(yi)(yi)(yi)端貫穿滑(hua)槽內(nei)腔(qiang)(qiang)，通過撥(bo)塊(kuai)(kuai)(kuai)與(yu)(yu)滑(hua)槽配合對第(di)(di)(di)二(er)(er)夾板移動進行(xing)限位(wei)。

4、優選(xuan)的，左右兩側兩組所述第一夾板與第二夾板構成的兩個圓形空腔直徑不同。

5、優選的(de)，兩個所(suo)述齒(chi)條相(xiang)對于第一(yi)齒(chi)輪中(zhong)心點旋轉180度(du)重合。

6、優選的(de)，目的(de)在于能夠(gou)改變(bian)探頭握(wo)把顏色，讓(rang)其與示波器通(tong)道顏色一(yi)致，防(fang)止示波器調試出現(xian)錯(cuo)誤，所(suo)述(shu)(shu)識別機構包(bao)括外(wai)殼(ke)、定(ding)位(wei)塊(kuai)(kuai)、色盤、內齒(chi)(chi)環(huan)、蓋(gai)板(ban)、第(di)(di)二(er)(er)轉(zhuan)軸(zhou)、彈(dan)簧(huang)、旋(xuan)(xuan)鈕(niu)、第(di)(di)二(er)(er)齒(chi)(chi)輪(lun)(lun)和定(ding)位(wei)槽(cao)，外(wai)殼(ke)安(an)裝在所(suo)述(shu)(shu)探頭握(wo)把左(zuo)端(duan)，且外(wai)殼(ke)頂部為(wei)開(kai)口狀；定(ding)位(wei)塊(kuai)(kuai)安(an)裝在所(suo)述(shu)(shu)外(wai)殼(ke)右(you)側(ce)壁頂部；色盤能夠(gou)旋(xuan)(xuan)轉(zhuan)的(de)插接(jie)在所(suo)述(shu)(shu)外(wai)殼(ke)內腔；內齒(chi)(chi)環(huan)安(an)裝在所(suo)述(shu)(shu)色盤內側(ce)；蓋(gai)板(ban)通(tong)過螺(luo)釘(ding)連接(jie)在所(suo)述(shu)(shu)外(wai)殼(ke)左(zuo)側(ce)壁；第(di)(di)二(er)(er)轉(zhuan)軸(zhou)通(tong)過軸(zhou)承能夠(gou)繞自身軸(zhou)線旋(xuan)(xuan)轉(zhuan)的(de)安(an)裝在所(suo)述(shu)(shu)蓋(gai)板(ban)外(wai)壁頂部；彈(dan)簧(huang)套接(jie)在所(suo)述(shu)(shu)第(di)(di)二(er)(er)轉(zhuan)軸(zhou)外(wai)壁；旋(xuan)(xuan)鈕(niu)安(an)裝在所(suo)述(shu)(shu)第(di)(di)二(er)(er)轉(zhuan)軸(zhou)左(zuo)端(duan)；第(di)(di)二(er)(er)齒(chi)(chi)輪(lun)(lun)套接(jie)在所(suo)述(shu)(shu)第(di)(di)二(er)(er)轉(zhuan)軸(zhou)外(wai)壁右(you)端(duan)，在彈(dan)簧(huang)彈(dan)力作用(yong)下推動第(di)(di)二(er)(er)齒(chi)(chi)輪(lun)(lun)右(you)移，所(suo)述(shu)(shu)第(di)(di)二(er)(er)齒(chi)(chi)輪(lun)(lun)右(you)側(ce)壁開(kai)設有定(ding)位(wei)槽(cao)，定(ding)位(wei)塊(kuai)(kuai)與定(ding)位(wei)槽(cao)插接(jie)對第(di)(di)二(er)(er)齒(chi)(chi)輪(lun)(lun)定(ding)位(wei)。

7、優(you)選的，所述定位(wei)塊外壁(bi)形狀(zhuang)為半(ban)圓形。

8、優選(xuan)的，所述色(se)盤外壁(bi)由四種顏色(se)等分。

9、優選的(de)，所述第二(er)轉(zhuan)軸為花鍵軸，讓(rang)第二(er)齒輪(lun)能夠在第二(er)轉(zhuan)軸外(wai)壁左右滑動。

10、優選的，所述第二齒輪與內齒環傳(chuan)動比為4:1。

11、一種示波(bo)器探(tan)頭輔助測試(shi)裝置的(de)測試(shi)方法，包(bao)括以下(xia)步驟：

12、步(bu)驟一，將筆頭(tou)與被(bei)(bei)測集成電路輸入(ru)端連接(jie)，通過開關(guan)調整倍數，在示波器配合(he)下對被(bei)(bei)測集成電路實(shi)現檢測；

13、步驟(zou)二(er)(er)(er)，當(dang)需要去除被(bei)測(ce)集成電路輸入端導線氧化層時，右(you)拉撥塊(kuai)，促使位(wei)于(yu)左側(ce)的(de)第(di)(di)(di)(di)二(er)(er)(er)夾(jia)(jia)板(ban)(ban)(ban)(ban)右(you)移，在(zai)第(di)(di)(di)(di)一齒(chi)輪與(yu)(yu)齒(chi)條(tiao)傳(chuan)動(dong)下，兩(liang)個第(di)(di)(di)(di)二(er)(er)(er)夾(jia)(jia)板(ban)(ban)(ban)(ban)同時向內(nei)側(ce)移動(dong)，第(di)(di)(di)(di)二(er)(er)(er)夾(jia)(jia)板(ban)(ban)(ban)(ban)與(yu)(yu)第(di)(di)(di)(di)一夾(jia)(jia)板(ban)(ban)(ban)(ban)之間遠離，將導線插(cha)入相對應的(de)第(di)(di)(di)(di)一夾(jia)(jia)板(ban)(ban)(ban)(ban)與(yu)(yu)第(di)(di)(di)(di)二(er)(er)(er)夾(jia)(jia)板(ban)(ban)(ban)(ban)組成的(de)空腔中，松(song)開撥塊(kuai)，在(zai)扭簧(huang)扭力作用下第(di)(di)(di)(di)一齒(chi)輪順(shun)時針旋(xuan)轉，第(di)(di)(di)(di)二(er)(er)(er)夾(jia)(jia)板(ban)(ban)(ban)(ban)向外(wai)側(ce)移動(dong)，打(da)磨(mo)片與(yu)(yu)導線接觸，拉動(dong)探頭握把，讓打(da)磨(mo)片與(yu)(yu)導線發生摩(mo)擦，破壞導線表面氧化層，保證筆(bi)頭與(yu)(yu)被(bei)測(ce)集成電路輸入端信號穩定；

14、步(bu)驟(zou)三，當需要對(dui)探頭(tou)握把與選擇的(de)示波(bo)器通道保(bao)持一致(zhi)時(shi)，根據(ju)插入的(de)示波(bo)器通道顏(yan)色(se)(se)(se)(se)，旋(xuan)轉(zhuan)旋(xuan)鈕，在(zai)定位塊曲面阻擋下，第二(er)(er)(er)齒(chi)(chi)輪(lun)(lun)沿著第二(er)(er)(er)轉(zhuan)軸外壁左移后，第二(er)(er)(er)齒(chi)(chi)輪(lun)(lun)驅(qu)使(shi)內齒(chi)(chi)環順(shun)時(shi)針或逆時(shi)針旋(xuan)轉(zhuan)，色(se)(se)(se)(se)盤在(zai)外殼上顯(xian)示的(de)顏(yan)色(se)(se)(se)(se)發生變(bian)化(hua)，直(zhi)至色(se)(se)(se)(se)盤上顯(xian)示的(de)顏(yan)色(se)(se)(se)(se)與示波(bo)器通道一致(zhi)，彈簧在(zai)自身彈力作(zuo)用下推動(dong)第二(er)(er)(er)齒(chi)(chi)輪(lun)(lun)右(you)移，定位塊插入定位槽中對(dui)第二(er)(er)(er)齒(chi)(chi)輪(lun)(lun)定位，完成色(se)(se)(se)(se)盤調整(zheng)，防止在(zai)測試集成電路時(shi)造成混淆。

15、與(yu)現有技術相比，本發明具有如下有益效果：

16、1、本(ben)發明通過旋鈕右拉，在(zai)第(di)(di)(di)(di)一(yi)齒(chi)輪(lun)與齒(chi)條的傳動下，兩個(ge)(ge)第(di)(di)(di)(di)二(er)夾板(ban)(ban)同時向內側(ce)移(yi)動，第(di)(di)(di)(di)二(er)夾板(ban)(ban)與第(di)(di)(di)(di)一(yi)夾板(ban)(ban)間距變(bian)大，將(jiang)集(ji)成電(dian)路(lu)(lu)輸入端導線插入第(di)(di)(di)(di)一(yi)夾板(ban)(ban)與第(di)(di)(di)(di)二(er)夾板(ban)(ban)之間，在(zai)扭簧扭力(li)作(zuo)用下驅使第(di)(di)(di)(di)一(yi)齒(chi)輪(lun)順時針旋轉，讓(rang)兩個(ge)(ge)第(di)(di)(di)(di)二(er)夾板(ban)(ban)同時向外側(ce)移(yi)動，讓(rang)打(da)磨片(pian)對導線夾持(chi)，拉動探頭握把，打(da)磨片(pian)在(zai)導線上摩擦，打(da)磨掉氧化層，實(shi)現(xian)集(ji)成電(dian)路(lu)(lu)輸入端除氧化，提升筆頭與集(ji)成電(dian)路(lu)(lu)連接(jie)穩定性，保證被測集(ji)成電(dian)路(lu)(lu)測試準(zhun)確(que)性。

17、2、本發明(ming)通過旋鈕讓第(di)(di)二(er)轉(zhuan)(zhuan)軸旋轉(zhuan)(zhuan)，第(di)(di)二(er)齒輪跟隨(sui)第(di)(di)二(er)轉(zhuan)(zhuan)軸順時(shi)針或逆時(shi)針旋轉(zhuan)(zhuan)，第(di)(di)二(er)齒輪驅(qu)使(shi)色(se)(se)盤(pan)旋轉(zhuan)(zhuan)，第(di)(di)二(er)齒輪旋轉(zhuan)(zhuan)一(yi)周(zhou)，色(se)(se)盤(pan)完成一(yi)個顏色(se)(se)的(de)切(qie)換，直至外殼上能夠看到(dao)的(de)色(se)(se)盤(pan)顏色(se)(se)與所使(shi)用的(de)示波(bo)器通道保持一(yi)致(zhi)，彈簧彈力(li)推動(dong)第(di)(di)二(er)齒輪右移(yi)，定(ding)(ding)位塊插(cha)入定(ding)(ding)位槽中，對(dui)第(di)(di)二(er)齒輪定(ding)(ding)位，能夠對(dui)筆頭實現識別，防(fang)止示波(bo)器與筆頭混淆，避免示波(bo)器出現錯誤調試，降(jiang)低測量難度。

1.一種示(shi)波器探(tan)頭(tou)(tou)(tou)輔(fu)助(zhu)測試(shi)(shi)裝置，包(bao)括探(tan)頭(tou)(tou)(tou)握(wo)(wo)把（1）、開關(guan)（2）、接(jie)(jie)(jie)地線(xian)（3）和(he)筆頭(tou)(tou)(tou)（4），所述開關(guan)（2）設置在(zai)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)握(wo)(wo)把（1）頂部(bu)，所述接(jie)(jie)(jie)地線(xian)（3）夾持在(zai)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)握(wo)(wo)把（1）接(jie)(jie)(jie)地端外(wai)壁，所述筆頭(tou)(tou)(tou)（4）設置在(zai)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)握(wo)(wo)把（1）左(zuo)端，其特征在(zai)于，所述示(shi)波器探(tan)頭(tou)(tou)(tou)輔(fu)助(zhu)測試(shi)(shi)裝置還包(bao)括打(da)磨(mo)機(ji)(ji)構（5）和(he)識別(bie)機(ji)(ji)構（6），所述打(da)磨(mo)機(ji)(ji)構（5）內嵌在(zai)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)握(wo)(wo)把（1）右側，所述識別(bie)機(ji)(ji)構（6）安(an)裝在(zai)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)握(wo)(wo)把（1）左(zuo)端；

2.根據權利要求1所(suo)(suo)述的一(yi)種示波器探頭輔助測試裝(zhuang)置(zhi)，其特征在于，左右兩側兩組(zu)所(suo)(suo)述第(di)一(yi)夾(jia)板（53）與第(di)二(er)夾(jia)板（54）構成的兩個圓形(xing)空腔直徑不同。

3.根據(ju)權利要求2所(suo)述的一(yi)種(zhong)示波器(qi)探頭(tou)輔(fu)助(zhu)測試裝置，其特征在于(yu)，兩個所(suo)述齒條（55）相(xiang)對于(yu)第一(yi)齒輪（58）中心點旋轉180度重合。

4.根據權(quan)利要求(qiu)3所述(shu)的一種示波器(qi)探頭(tou)輔(fu)助測試裝置，其特征(zheng)在(zai)于(yu)，所述(shu)識別機構（6）包括：

5.根據權利(li)要求4所述(shu)的一(yi)種示波器(qi)探頭輔助(zhu)測試裝置，其特征在于，所述(shu)定位塊（62）外壁形狀為半圓形。

6.根據(ju)權利要求(qiu)5所(suo)述(shu)的一種示波器(qi)探頭輔助測(ce)試裝置，其特(te)征在于，所(suo)述(shu)色盤（63）外壁(bi)由(you)四種顏色等分。

7.根據權利要求6所述的一(yi)種示波(bo)器探(tan)頭輔助測(ce)試裝置(zhi)，其(qi)特征在于，所述第二(er)(er)轉軸（66）為花鍵軸，讓(rang)第二(er)(er)齒輪（69）能夠在第二(er)(er)轉軸（66）外壁左右滑動。

8.根據權利要求7所(suo)述的一種示波器探頭輔助(zhu)測試裝(zhuang)置，其特征在(zai)于，所(suo)述第二齒輪（69）與內齒環（64）傳動(dong)比為4:1。

9.一(yi)種示(shi)波器探(tan)(tan)頭輔(fu)助(zhu)測(ce)試(shi)方法，其應用于如權利要求8所述的一(yi)種示(shi)波器探(tan)(tan)頭輔(fu)助(zhu)測(ce)試(shi)裝置中，其特征在于，包(bao)括以下(xia)步驟：