本發(fa)明涉及一種電(dian)路測(ce)試方(fang)法、系統、電(dian)子設備(bei)和存(cun)儲介(jie)質(zhi)，尤其涉及一種車載設備(bei)電(dian)路測(ce)試方(fang)法、系統、電(dian)子設備(bei)和存(cun)儲介(jie)質(zhi)。

背景技術：

1、現有技術中在對車載設備(bei)電路進(jin)行(xing)診(zhen)斷(duan)(duan)測(ce)試(shi)(shi)時，是(shi)(shi)測(ce)試(shi)(shi)人員去(qu)向開發人員詢問各個(ge)診(zhen)斷(duan)(duan)服務id的測(ce)試(shi)(shi)方(fang)式，或者開發人員向測(ce)試(shi)(shi)人員提供自(zi)己(ji)模塊中的診(zhen)斷(duan)(duan)服務id的測(ce)試(shi)(shi)方(fang)法，但(dan)是(shi)(shi)各個(ge)模塊中的診(zhen)斷(duan)(duan)服務id都是(shi)(shi)獨立測(ce)試(shi)(shi)的。這樣會(hui)導致(zhi)測(ce)試(shi)(shi)項覆蓋不全(quan)面的情況(kuang)，亟需(xu)得到(dao)改(gai)進(jin)。

技術實現思路

1、本發明的(de)目的(de)在(zai)(zai)于(yu)提供一(yi)種車(che)載(zai)設(she)備電(dian)(dian)路(lu)測(ce)試方法、系統、電(dian)(dian)子設(she)備和(he)存(cun)儲介質，首先要(yao)解(jie)決(jue)(jue)的(de)技術(shu)問題(ti)是在(zai)(zai)進(jin)行車(che)載(zai)設(she)備電(dian)(dian)路(lu)測(ce)試時實現(xian)全(quan)面覆(fu)蓋(gai)，其(qi)次要(yao)解(jie)決(jue)(jue)的(de)問題(ti)是復現(xian)電(dian)(dian)路(lu)中可能(neng)存(cun)在(zai)(zai)的(de)故障情(qing)形，可以幫助測(ce)試人(ren)員更加全(quan)面、深入的(de)覆(fu)蓋(gai)要(yao)測(ce)試的(de)內(nei)容(rong)，解(jie)決(jue)(jue)現(xian)有技術(shu)存(cun)在(zai)(zai)的(de)缺憾。

2、本發(fa)明提供了下述方案：

3、一種車(che)(che)載設(she)備電路測(ce)試(shi)方法，應(ying)用于車(che)(che)載設(she)備電路測(ce)試(shi)系統，包(bao)括(kuo)：

4、在(zai)車載設備中對待測電(dian)路中的音頻放大(da)芯片和蜂鳴器進(jin)(jin)行配置，獲(huo)取待測電(dian)路的電(dian)路邏輯，根據(ju)所述電(dian)路邏輯進(jin)(jin)行電(dian)路測試(shi)，檢測測試(shi)電(dian)路的反饋；

5、如果測(ce)(ce)試(shi)電路的(de)(de)反饋為正(zheng)響(xiang)應(ying)，則之后對待(dai)測(ce)(ce)電路進(jin)行負響(xiang)應(ying)測(ce)(ce)試(shi)，所述(shu)負響(xiang)應(ying)測(ce)(ce)試(shi)為待(dai)測(ce)(ce)電路在(zai)非(fei)正(zheng)常工作狀態下的(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)反饋；

6、在獲得負(fu)響應(ying)的測試反饋之后(hou)進行故障恢復(fu)，用以復(fu)現待測電路的正常工作情(qing)形。

7、進一步的，所(suo)述(shu)待測電路(lu)為蜂鳴器控制電路(lu)，所(suo)述(shu)測試電路(lu)的反饋為正響應，具(ju)體為：

8、在測(ce)試電(dian)路中包括晶體管開關件(jian)、電(dian)阻(zu)(zu)和(he)二極管和(he)芯片(pian)的gpio引(yin)腳，所述電(dian)阻(zu)(zu)和(he)所述二極管設置于晶體管開關件(jian)和(he)gpio引(yin)腳之(zhi)間；

9、將(jiang)芯片(pian)的(de)gpio引腳(jiao)(jiao)的(de)電(dian)平置(zhi)0，并(bing)使晶體管(guan)開關件斷開，將(jiang)用于對蜂(feng)鳴器控制(zhi)電(dian)路進行(xing)控制(zhi)的(de)音頻輸出控制(zhi)管(guan)腳(jiao)(jiao)置(zhi)1；

10、檢測從音(yin)頻輸(shu)出控制(zhi)管腳到蜂(feng)鳴器的電路(lu)是(shi)否(fou)為(wei)通路(lu)，如果(guo)為(wei)通路(lu)，則判斷蜂(feng)鳴器處于正常工作狀態。

11、進(jin)(jin)一步的(de)，所述(shu)對待測(ce)電路進(jin)(jin)行負響應(ying)測(ce)試，具(ju)體為(wei)：

12、在測試電路中包括(kuo)晶(jing)體管開關件(jian)、電阻和(he)二極管和(he)芯片(pian)的gpio引(yin)腳(jiao)，所(suo)述電阻和(he)所(suo)述二極管設置(zhi)于晶(jing)體管開關件(jian)和(he)gpio引(yin)腳(jiao)之(zhi)間；

13、將(jiang)芯片的gpio引(yin)腳(jiao)的電平置1，并使晶體管開(kai)關件斷(duan)開(kai)，將(jiang)用于對蜂鳴器控(kong)制電路進行控(kong)制的音(yin)頻輸出控(kong)制管腳(jiao)置0；

14、檢測從音頻輸出控制管腳到蜂(feng)鳴器的電路是否為斷路，如(ru)果(guo)為斷路，則判斷蜂(feng)鳴器處于非正常(chang)工(gong)作(zuo)狀態(tai)。

15、進(jin)一步的，所述(shu)在獲(huo)得負響(xiang)應(ying)的測(ce)(ce)試反饋(kui)之后進(jin)行故(gu)障恢復，用(yong)以復現待測(ce)(ce)電(dian)路的正常工(gong)作情形，進(jin)一步包括：

16、將(jiang)芯(xin)片的(de)gpio引(yin)腳(jiao)的(de)電平重新置(zhi)0，將(jiang)當(dang)前(qian)常(chang)(chang)態高電平引(yin)腳(jiao)置(zhi)0一定(ding)時間(jian)后再(zai)置(zhi)1，使gpio引(yin)腳(jiao)和當(dang)前(qian)常(chang)(chang)態高電平引(yin)腳(jiao)恢(hui)復到默認狀態。

17、進一步的，所述將當前常態(tai)高(gao)電平(ping)引(yin)腳置(zhi)0一定(ding)時間(jian)后再(zai)置(zhi)1，具體為(wei)，將當前常態(tai)高(gao)電平(ping)引(yin)腳置(zhi)0一秒以(yi)上再(zai)置(zhi)1。

18、進(jin)一步(bu)的(de)(de)，所述在獲得負響應的(de)(de)測(ce)(ce)試反饋之后進(jin)行故障恢復(fu)，用以復(fu)現待測(ce)(ce)電(dian)路(lu)的(de)(de)正常工(gong)作情(qing)形，進(jin)一步(bu)包括(kuo)：測(ce)(ce)試電(dian)路(lu)向待測(ce)(ce)電(dian)路(lu)發(fa)送診(zhen)斷(duan)指令，根據待測(ce)(ce)電(dian)路(lu)返(fan)回的(de)(de)狀(zhuang)態(tai)碼，判斷(duan)待測(ce)(ce)電(dian)路(lu)的(de)(de)狀(zhuang)態(tai)。

19、進一步的(de)，所述

20、蜂(feng)(feng)鳴(ming)器控制電(dian)(dian)路包括：用(yong)于(yu)連接蜂(feng)(feng)鳴(ming)器正(zheng)負(fu)極的門(men)電(dian)(dian)路、用(yong)于(yu)控制蜂(feng)(feng)鳴(ming)器開啟/關(guan)閉的引(yin)腳spk_output_ctrl，蜂(feng)(feng)鳴(ming)器輸出(chu)spker_out，音頻(pin)放大芯片通過所(suo)述門(men)電(dian)(dian)路向蜂(feng)(feng)鳴(ming)器輸出(chu)發送(song)音頻(pin)信號(hao)。

21、一(yi)種車載設(she)備電路(lu)測(ce)試系統(tong)，用于(yu)實現所述的(de)車載設(she)備電路(lu)測(ce)試方法，包括：

22、測(ce)試電路(lu)(lu)(lu)設(she)(she)置模塊，在車載設(she)(she)備中對待(dai)測(ce)電路(lu)(lu)(lu)中的(de)音(yin)頻放大芯片和蜂鳴器進行(xing)(xing)配置，獲取待(dai)測(ce)電路(lu)(lu)(lu)的(de)電路(lu)(lu)(lu)邏輯，根據(ju)所述電路(lu)(lu)(lu)邏輯進行(xing)(xing)電路(lu)(lu)(lu)測(ce)試，檢測(ce)測(ce)試電路(lu)(lu)(lu)的(de)反饋(kui)；

23、正(zheng)/負(fu)響應(ying)反(fan)饋獲取模塊，如果測(ce)(ce)(ce)試(shi)電(dian)路的反(fan)饋為(wei)正(zheng)響應(ying)，則對待(dai)測(ce)(ce)(ce)電(dian)路進行負(fu)響應(ying)測(ce)(ce)(ce)試(shi)，所述負(fu)響應(ying)測(ce)(ce)(ce)試(shi)為(wei)待(dai)測(ce)(ce)(ce)電(dian)路在非(fei)正(zheng)常工作(zuo)狀態下的測(ce)(ce)(ce)試(shi)反(fan)饋；

24、測(ce)(ce)試反(fan)饋(kui)故障恢復模塊，在獲得負響應的(de)(de)測(ce)(ce)試反(fan)饋(kui)之后進行故障恢復，用以復現待測(ce)(ce)電路的(de)(de)正常(chang)工(gong)作情形。

25、一種電子設備，包(bao)括：處(chu)理器(qi)(qi)、通(tong)信接口、存(cun)(cun)儲器(qi)(qi)和通(tong)信總線，其中(zhong)，處(chu)理器(qi)(qi)，通(tong)信接口，存(cun)(cun)儲器(qi)(qi)通(tong)過通(tong)信總線完成相互間的通(tong)信；所(suo)述(shu)存(cun)(cun)儲器(qi)(qi)中(zhong)存(cun)(cun)儲有(you)計算機程序(xu)，當所(suo)述(shu)計算機程序(xu)被(bei)所(suo)述(shu)處(chu)理器(qi)(qi)執行時，使(shi)得(de)所(suo)述(shu)處(chu)理器(qi)(qi)執行前述(shu)方法的步驟。

26、一種(zhong)計(ji)算機(ji)可讀存儲(chu)介質，其存儲(chu)有可由電(dian)子設(she)備(bei)(bei)執行(xing)的(de)計(ji)算機(ji)程序，當(dang)所(suo)述(shu)計(ji)算機(ji)程序在所(suo)述(shu)電(dian)子設(she)備(bei)(bei)上運行(xing)時，使得所(suo)述(shu)電(dian)子設(she)備(bei)(bei)執行(xing)所(suo)述(shu)方法的(de)步(bu)驟。

27、本(ben)發明與(yu)現有技術相比具有以下的優點(dian)：

28、本(ben)發明可(ke)(ke)以更清楚地(di)理解每個模塊的測(ce)試需(xu)求和(he)目(mu)標，降低(di)了測(ce)試的難度和(he)復雜性，通過(guo)深入了解did/rid的工作原理，可(ke)(ke)以更全面和(he)準(zhun)確地(di)理解它們的工作原理，從而提高了測(ce)試的準(zhun)確性。

29、本(ben)發明提(ti)高了(le)(le)測(ce)試(shi)效(xiao)率并減(jian)少(shao)了(le)(le)對專業知(zhi)識和經(jing)驗(yan)的(de)(de)(de)依賴(lai)，通過(guo)閱讀電路原理(li)圖將(jiang)有關聯(lian)的(de)(de)(de)did/rid結合起來進行(xing)診斷測(ce)試(shi)，可以避(bi)免重復(fu)測(ce)試(shi)，從而提(ti)高了(le)(le)測(ce)試(shi)的(de)(de)(de)效(xiao)率，不僅降(jiang)低了(le)(le)測(ce)試(shi)的(de)(de)(de)難度和復(fu)雜性，也減(jian)少(shao)了(le)(le)測(ce)試(shi)人員(yuan)對于(yu)開發人員(yuan)的(de)(de)(de)專業知(zhi)識、經(jing)驗(yan)的(de)(de)(de)依賴(lai)，使得更(geng)多(duo)的(de)(de)(de)人可以參與到測(ce)試(shi)工作(zuo)中來。

技術特征：

1.一種(zhong)車載(zai)設備電路測(ce)試方(fang)法，應用于(yu)車載(zai)設備電路測(ce)試系統，其特征在于(yu)，包括：

2.根據權利要求1所述(shu)的車載(zai)設備電路(lu)(lu)測試方(fang)法，其特征在于，所述(shu)待測電路(lu)(lu)為蜂鳴器(qi)控制電路(lu)(lu)，所述(shu)測試電路(lu)(lu)的反饋(kui)為正(zheng)響應，具(ju)體為：

3.根據權利要求1所述的車載設備電(dian)路測試方法，其特征在于，所述對待測電(dian)路進行負響應測試，具體為(wei)：

4.根據權利要求1所述(shu)的車(che)載(zai)設備電路測試(shi)方(fang)法，其特征(zheng)在(zai)于(yu)，所述(shu)在(zai)獲得負響應(ying)的測試(shi)反饋之后進行故(gu)障恢復，用以(yi)復現待(dai)測電路的正常工作情形，進一步(bu)包括：

5.根據權利要(yao)求4所述的車載設備電(dian)路測試方法，其(qi)特征(zheng)在(zai)于，所述將當前常(chang)態高(gao)電(dian)平引(yin)腳置0一(yi)定時間后(hou)再置1，具體為，將當前常(chang)態高(gao)電(dian)平引(yin)腳置0一(yi)秒以上再置1。

6.根據權利要求(qiu)1所述的(de)(de)車載設備電(dian)路測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)方法，其特征(zheng)在(zai)于(yu)，所述在(zai)獲得負(fu)響應的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)反饋之(zhi)后進行故障恢復(fu)(fu)，用以復(fu)(fu)現待測(ce)(ce)(ce)(ce)電(dian)路的(de)(de)正常工作情形，進一(yi)步(bu)包括：測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)電(dian)路向待測(ce)(ce)(ce)(ce)電(dian)路發送診斷(duan)指(zhi)令，根據待測(ce)(ce)(ce)(ce)電(dian)路返(fan)回(hui)的(de)(de)狀(zhuang)(zhuang)態碼，判斷(duan)待測(ce)(ce)(ce)(ce)電(dian)路的(de)(de)狀(zhuang)(zhuang)態。

7.根據權(quan)利(li)要求1所述的(de)車載設備電路測試方法，其特征在(zai)于，所述

8.一(yi)種(zhong)車載設備電(dian)路測(ce)試系統，用于實現權利要求1至7中任一(yi)項(xiang)所述的車載設備電(dian)路測(ce)試方法，其特征在于，包括：

9.一種(zhong)電(dian)子設備(bei)，其特征在于，包(bao)括：處(chu)理(li)器(qi)、通(tong)(tong)信接口、存(cun)儲(chu)器(qi)和通(tong)(tong)信總(zong)(zong)線(xian)，其中，處(chu)理(li)器(qi)，通(tong)(tong)信接口，存(cun)儲(chu)器(qi)通(tong)(tong)過通(tong)(tong)信總(zong)(zong)線(xian)完成相互間的通(tong)(tong)信；所述(shu)(shu)(shu)存(cun)儲(chu)器(qi)中存(cun)儲(chu)有計算機程序，當所述(shu)(shu)(shu)計算機程序被所述(shu)(shu)(shu)處(chu)理(li)器(qi)執(zhi)行時，使得(de)所述(shu)(shu)(shu)處(chu)理(li)器(qi)執(zhi)行權利要求1至(zhi)7中任(ren)一項所述(shu)(shu)(shu)方法(fa)的步驟。

10.一(yi)種計(ji)算機(ji)可(ke)讀(du)存儲介(jie)質，其特征(zheng)在于，其存儲有(you)可(ke)由電(dian)子設備執(zhi)行的(de)(de)計(ji)算機(ji)程序，當(dang)所述計(ji)算機(ji)程序在所述電(dian)子設備上運行時，使得所述電(dian)子設備執(zhi)行權利要求1至7中(zhong)任(ren)一(yi)項所述方(fang)法(fa)的(de)(de)步驟。

技術總結
本發明公開了一種車載設備電路測試方法、系統、電子設備和存儲介質，該車載設備所述待測電路中有音頻放大芯片和蜂鳴器，獲取待測電路的電路邏輯，根據所述電路邏輯進行電路測試，檢測測試電路的反饋，如果測試電路的反饋為正響應，則之后對待測電路進行負響應測試，所述負響應測試為待測電路在非正常工作狀態下的測試反饋；在獲得負響應的測試反饋之后進行故障恢復，用以復現待測電路的正常工作情形。本發明可以更清楚地理解每個模塊的測試需求和目標，從而降低了測試的難度和復雜性，可以更全面和準確地理解它們的工作原理，從而提高了測試的準確性。

技術研發人員：劉壯,曾憲偉,胡文勝,田博
受保護的技術使用者：中國第一汽車股份有限公司
技術研發日：
技術公布日：2024/9/23