技術領域

本發(fa)明(ming)涉(she)及一種金屬(shu)化薄膜(mo)缺陷檢測(ce)(ce)-裁切裝(zhuang)置，屬(shu)于(yu)電容器檢測(ce)(ce)裝(zhuang)置技術領域。

背景技術：

目(mu)前電(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)(qi)(qi)在(zai)電(dian)(dian)(dian)(dian)力電(dian)(dian)(dian)(dian)子、通(tong)訊(xun)設(she)施(shi)及軌道運輸(shu)等領域應用(yong)廣泛，隨(sui)著科技(ji)水平的(de)(de)發(fa)展，電(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)(qi)(qi)憑借(jie)其(qi)良(liang)好的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)力性能(neng)和高(gao)可(ke)靠性，成為推動(dong)上述(shu)行業領域更新換代(dai)不可(ke)或缺(que)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)子元(yuan)件，其(qi)中(zhong)薄(bo)(bo)(bo)膜電(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)(qi)(qi)由于體積(ji)小、安全性高(gao)，極(ji)(ji)大(da)的(de)(de)推動(dong)了電(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)(qi)(qi)技(ji)術領域的(de)(de)發(fa)展。現有技(ji)術中(zhong)薄(bo)(bo)(bo)膜電(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)(qi)(qi)的(de)(de)通(tong)用(yong)制(zhi)法是將(jiang)金(jin)(jin)屬(shu)薄(bo)(bo)(bo)膜與聚乙(yi)(yi)酯、聚丙烯、聚苯(ben)乙(yi)(yi)烯或聚碳酸酯等塑料(liao)薄(bo)(bo)(bo)膜從兩端重疊后(hou)，卷繞(rao)成圓筒(tong)狀的(de)(de)金(jin)(jin)屬(shu)化(hua)薄(bo)(bo)(bo)膜電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)，然后(hou)放置到電(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)(qi)(qi)外殼中(zhong)，注入絕緣油和環氧樹脂，再經過(guo)(guo)組裝(zhuang)后(hou)得到薄(bo)(bo)(bo)膜電(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)(qi)(qi)。其(qi)中(zhong)，金(jin)(jin)屬(shu)化(hua)薄(bo)(bo)(bo)膜在(zai)蒸鍍過(guo)(guo)程中(zhong)會出(chu)現鍍層(ceng)厚(hou)薄(bo)(bo)(bo)不均、飛濺(jian)點、蛇(she)紋、氧化(hua)層(ceng)等缺(que)陷(xian)，該類缺(que)陷(xian)薄(bo)(bo)(bo)膜在(zai)卷繞(rao)成薄(bo)(bo)(bo)膜電(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)后(hou)容(rong)易出(chu)現損耗(hao)過(guo)(guo)大(da)，產品質(zhi)量難以控制(zhi)，嚴重時甚至引發(fa)電(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)(qi)(qi)爆炸。

其中，電容(rong)器厚度(du)檢測(ce)(ce)設備(bei)(bei)可(ke)以(yi)分(fen)為在(zai)線(xian)測(ce)(ce)厚設備(bei)(bei)和非在(zai)線(xian)測(ce)(ce)厚設備(bei)(bei)兩大類。這兩類測(ce)(ce)厚設備(bei)(bei)如(ru)果能夠配合使用(yong)是最理想(xiang)的(de)，但是在(zai)線(xian)測(ce)(ce)厚設備(bei)(bei)檢測(ce)(ce)設備(bei)(bei)較為復雜，并且(qie)采(cai)用(yong)非接(jie)觸式檢測(ce)(ce)，容(rong)易出現薄膜表面平整性(xing)不(bu)好而引(yin)起(qi)的(de)數據波動較大的(de)情況，而非在(zai)線(xian)測(ce)(ce)厚設備(bei)(bei)可(ke)以(yi)提供接(jie)觸式測(ce)(ce)量(liang)方(fang)法，有效彌補(bu)了在(zai)線(xian)測(ce)(ce)厚的(de)這一不(bu)足。目前，在(zai)線(xian)檢測(ce)(ce)設備(bei)(bei)大都通過(guo)人工(gong)進行視覺檢測(ce)(ce)，該檢測(ce)(ce)方(fang)法需要投入較大人力(li)，并且(qie)對于(yu)厚度(du)變(bian)化不(bu)明顯的(de)缺陷難(nan)以(yi)檢出，電容(rong)器產(chan)品質量(liang)存(cun)在(zai)安全隱(yin)患。

技術實現要素：

未解決現有技術中存在(zai)的問題，本發明提(ti)供(gong)了一種金屬化薄膜(mo)缺陷檢測-裁切裝置，具(ju)體技術方案(an)如下：

一種金(jin)(jin)屬(shu)化薄膜(mo)缺陷檢(jian)測(ce)-裁切裝(zhuang)置(zhi)，包括透(tou)光(guang)(guang)板(ban)(ban)(ban)，所(suo)(suo)述(shu)透(tou)光(guang)(guang)板(ban)(ban)(ban)下方設(she)置(zhi)有發(fa)光(guang)(guang)裝(zhuang)置(zhi)，所(suo)(suo)述(shu)透(tou)光(guang)(guang)板(ban)(ban)(ban)上(shang)(shang)鋪設(she)有金(jin)(jin)屬(shu)化薄膜(mo)，所(suo)(suo)述(shu)發(fa)光(guang)(guang)裝(zhuang)置(zhi)發(fa)出的(de)光(guang)(guang)線依次穿過透(tou)光(guang)(guang)板(ban)(ban)(ban)照射到(dao)(dao)金(jin)(jin)屬(shu)化薄膜(mo)背面(mian)，所(suo)(suo)述(shu)透(tou)光(guang)(guang)板(ban)(ban)(ban)上(shang)(shang)位于(yu)金(jin)(jin)屬(shu)化薄膜(mo)兩側分別設(she)置(zhi)有對稱的(de)激(ji)光(guang)(guang)發(fa)射裝(zhuang)置(zhi)和激(ji)光(guang)(guang)接收(shou)裝(zhuang)置(zhi)，所(suo)(suo)述(shu)檢(jian)測(ce)平臺一側的(de)激(ji)光(guang)(guang)發(fa)射裝(zhuang)置(zhi)向金(jin)(jin)屬(shu)化薄膜(mo)發(fa)射激(ji)光(guang)(guang)后反射到(dao)(dao)激(ji)光(guang)(guang)接收(shou)裝(zhuang)置(zhi)上(shang)(shang)。

作為(wei)上(shang)述(shu)技術(shu)方(fang)案(an)的(de)改進，所述(shu)發光(guang)(guang)裝置(zhi)外套有(you)透光(guang)(guang)的(de)感光(guang)(guang)盒，所述(shu)感光(guang)(guang)盒位于(yu)透光(guang)(guang)板(ban)下方(fang)。

作為上述技術方案的改進，所述感光盒(he)底部設(she)置有感光盒(he)支架。

作為(wei)上(shang)述技術方案的(de)(de)改進，所述金(jin)屬化(hua)薄(bo)膜(mo)的(de)(de)行程上(shang)位(wei)于透光(guang)板(ban)后的(de)(de)位(wei)置(zhi)設置(zhi)有(you)激(ji)光(guang)裁(cai)切(qie)裝置(zhi)，所述激(ji)光(guang)裁(cai)切(qie)裝置(zhi)包(bao)括支(zhi)撐架(jia)，所述支(zhi)撐架(jia)上(shang)設置(zhi)有(you)活動臂(bei)，所述活動臂(bei)上(shang)設置(zhi)有(you)激(ji)光(guang)器。

作為上(shang)述技術方案(an)的改(gai)進(jin)，所述活動臂側面設置有顯示器。

作為上(shang)述技術方(fang)(fang)案的改進，所(suo)述金屬化薄膜的行程上(shang)位(wei)于激光裁切(qie)裝置(zhi)(zhi)后的位(wei)置(zhi)(zhi)設置(zhi)(zhi)有(you)切(qie)膜機構(gou)(gou)，所(suo)述切(qie)膜機構(gou)(gou)包括龍(long)門(men)架(jia)(jia)，所(suo)述龍(long)門(men)架(jia)(jia)上(shang)懸掛(gua)有(you)驅動機構(gou)(gou)，所(suo)述驅動機構(gou)(gou)下方(fang)(fang)設置(zhi)(zhi)有(you)刀(dao)架(jia)(jia)，所(suo)述刀(dao)架(jia)(jia)下方(fang)(fang)固定(ding)有(you)刀(dao)頭。

上述技術方案通過(guo)設置(zhi)(zhi)在(zai)金(jin)屬(shu)化薄(bo)(bo)膜(mo)兩側的(de)激(ji)光發射裝(zhuang)置(zhi)(zhi)和激(ji)光接(jie)收(shou)裝(zhuang)置(zhi)(zhi)對膜(mo)厚(hou)進(jin)行檢測(ce)，當膜(mo)厚(hou)正(zheng)常時，激(ji)光接(jie)收(shou)裝(zhuang)置(zhi)(zhi)將(jiang)在(zai)同(tong)一位置(zhi)(zhi)接(jie)收(shou)到(dao)穩定的(de)激(ji)光信(xin)號，當膜(mo)厚(hou)異常時，則激(ji)光接(jie)收(shou)裝(zhuang)置(zhi)(zhi)的(de)接(jie)收(shou)位置(zhi)(zhi)將(jiang)發生改變，并產生相應(ying)警報提示，并以此來判斷電容器(qi)薄(bo)(bo)膜(mo)的(de)質量；然后(hou)通過(guo)發光裝(zhuang)置(zhi)(zhi)背光顯(xian)示金(jin)屬(shu)化薄(bo)(bo)膜(mo)的(de)缺(que)陷(xian)，提高(gao)(gao)缺(que)陷(xian)的(de)辨別幾(ji)率(lv)，實現缺(que)陷(xian)的(de)精確定位，減少檢測(ce)所需的(de)人力投(tou)入，提高(gao)(gao)了缺(que)陷(xian)檢出效(xiao)率(lv)。

附圖說明

圖1為本發(fa)明一種金屬(shu)化薄膜缺陷檢測(ce)-裁切裝(zhuang)置的結構示(shi)意圖；

圖2為本發明一(yi)種金(jin)屬化薄(bo)膜缺陷檢測-裁切裝置俯視時(shi)的示意圖。

具體實施方式

如圖1、圖2所(suo)示，本發(fa)明提供了一種(zhong)金(jin)屬(shu)化(hua)薄(bo)膜(mo)(mo)缺(que)陷檢測-裁切裝置(zhi)，包括透(tou)(tou)(tou)光(guang)(guang)(guang)板(ban)20，所(suo)述(shu)透(tou)(tou)(tou)光(guang)(guang)(guang)板(ban)20下方(fang)設(she)置(zhi)有(you)(you)發(fa)光(guang)(guang)(guang)裝置(zhi)31，所(suo)述(shu)透(tou)(tou)(tou)光(guang)(guang)(guang)板(ban)20上(shang)鋪(pu)設(she)有(you)(you)金(jin)屬(shu)化(hua)薄(bo)膜(mo)(mo)10，所(suo)述(shu)發(fa)光(guang)(guang)(guang)裝置(zhi)31發(fa)出的光(guang)(guang)(guang)線依次(ci)穿過(guo)透(tou)(tou)(tou)光(guang)(guang)(guang)板(ban)20照射到金(jin)屬(shu)化(hua)薄(bo)膜(mo)(mo)10背(bei)面，所(suo)述(shu)透(tou)(tou)(tou)光(guang)(guang)(guang)板(ban)20上(shang)位于金(jin)屬(shu)化(hua)薄(bo)膜(mo)(mo)10兩(liang)側(ce)分別設(she)置(zhi)有(you)(you)對稱(cheng)的激(ji)光(guang)(guang)(guang)發(fa)射裝置(zhi)40和激(ji)光(guang)(guang)(guang)接收(shou)裝置(zhi)41，所(suo)述(shu)檢測平臺20一側(ce)的激(ji)光(guang)(guang)(guang)發(fa)射裝置(zhi)40向金(jin)屬(shu)化(hua)薄(bo)膜(mo)(mo)10發(fa)射激(ji)光(guang)(guang)(guang)后反(fan)射到激(ji)光(guang)(guang)(guang)接收(shou)裝置(zhi)41上(shang)。

上述技術方(fang)案中通過設置(zhi)在金屬化薄膜10兩側(ce)的(de)(de)(de)(de)激光(guang)發(fa)射裝(zhuang)(zhuang)置(zhi)40和激光(guang)接(jie)收(shou)裝(zhuang)(zhuang)置(zhi)41對膜厚進行(xing)檢(jian)測，當(dang)膜厚正常(chang)時，激光(guang)接(jie)收(shou)裝(zhuang)(zhuang)置(zhi)41將在同一位(wei)置(zhi)接(jie)收(shou)到穩(wen)定的(de)(de)(de)(de)激光(guang)信號，當(dang)膜厚異常(chang)時，則激光(guang)接(jie)收(shou)裝(zhuang)(zhuang)置(zhi)41的(de)(de)(de)(de)接(jie)收(shou)位(wei)置(zhi)將發(fa)生改變(bian)，并產生相(xiang)應警(jing)報提示(shi)，并以此來判斷(duan)電容器薄膜的(de)(de)(de)(de)質(zhi)量；然后通過發(fa)光(guang)裝(zhuang)(zhuang)置(zhi)31背光(guang)顯示(shi)金屬化薄膜10的(de)(de)(de)(de)缺(que)陷(xian)(xian)，提高(gao)缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)辨別幾率(lv)(lv)，實現缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)精確定位(wei)，減少檢(jian)測所需的(de)(de)(de)(de)人(ren)力投入(ru)，提高(gao)了缺(que)陷(xian)(xian)檢(jian)出效率(lv)(lv)。

進(jin)(jin)一(yi)步的，所述發光(guang)(guang)裝置31外套(tao)有透(tou)光(guang)(guang)的感光(guang)(guang)盒(he)(he)30，所述感光(guang)(guang)盒(he)(he)30位(wei)于透(tou)光(guang)(guang)板(ban)20下方(fang)，該感光(guang)(guang)盒(he)(he)30能夠對發光(guang)(guang)裝置31進(jin)(jin)行容納保護，并為發光(guang)(guang)裝置31提供的聚光(guang)(guang)作(zuo)用。

更進(jin)一步的(de)，所述感(gan)(gan)光(guang)盒(he)30底(di)部(bu)設置(zhi)有(you)感(gan)(gan)光(guang)盒(he)支(zhi)架(jia)32，該感(gan)(gan)光(guang)盒(he)支(zhi)架(jia)32能夠對(dui)感(gan)(gan)光(guang)盒(he)30、透光(guang)板20和(he)金屬化薄(bo)膜10進(jin)行支(zhi)撐。

更(geng)進一步的(de)(de)，所(suo)(suo)(suo)述(shu)金(jin)屬化薄膜10的(de)(de)行(xing)程(cheng)上(shang)位(wei)于透光(guang)(guang)(guang)板20后的(de)(de)位(wei)置(zhi)(zhi)設(she)置(zhi)(zhi)有激光(guang)(guang)(guang)裁(cai)切(qie)裝置(zhi)(zhi)，所(suo)(suo)(suo)述(shu)激光(guang)(guang)(guang)裁(cai)切(qie)裝置(zhi)(zhi)包括支撐架60，所(suo)(suo)(suo)述(shu)支撐架60上(shang)設(she)置(zhi)(zhi)有活動(dong)臂61，所(suo)(suo)(suo)述(shu)活動(dong)臂61上(shang)設(she)置(zhi)(zhi)有激光(guang)(guang)(guang)器(qi)62，該優選方案在缺(que)陷(xian)檢(jian)出(chu)后及時進行(xing)激光(guang)(guang)(guang)裁(cai)切(qie)裝置(zhi)(zhi)的(de)(de)裁(cai)切(qie)，由于活動(dong)臂61靈活性(xing)好，能夠攜帶(dai)激光(guang)(guang)(guang)器(qi)62進行(xing)快速移動(dong)，由于一塊金(jin)屬化薄膜10上(shang)并且(qie)有多(duo)條待(dai)分(fen)切(qie)的(de)(de)電容器(qi)膜電極，因此激光(guang)(guang)(guang)器(qi)62可以(yi)選擇性(xing)的(de)(de)將缺(que)陷(xian)所(suo)(suo)(suo)在的(de)(de)那一條電容器(qi)膜電極所(suo)(suo)(suo)在區(qu)域裁(cai)切(qie)掉，保證金(jin)屬化薄膜10整體的(de)(de)連續性(xing)，提高(gao)了連續生產(chan)的(de)(de)效率。

更進(jin)一步(bu)的(de)，所(suo)述活動臂61側面設置有顯示器(qi)(qi)63，該顯示器(qi)(qi)63的(de)作(zuo)用是對激光(guang)器(qi)(qi)42的(de)切割操作(zuo)進(jin)行(xing)實時(shi)反饋(kui)，便于操作(zuo)人員記錄、觀察。

更進一步的，所述(shu)(shu)金屬化薄膜(mo)10的行(xing)程上位于(yu)激光(guang)(guang)裁切(qie)(qie)(qie)(qie)(qie)裝置(zhi)后的位置(zhi)設置(zhi)有切(qie)(qie)(qie)(qie)(qie)膜(mo)機(ji)(ji)構(gou)(gou)(gou)，所述(shu)(shu)切(qie)(qie)(qie)(qie)(qie)膜(mo)機(ji)(ji)構(gou)(gou)(gou)包括龍門(men)架(jia)(jia)50，所述(shu)(shu)龍門(men)架(jia)(jia)50上懸掛有驅動(dong)機(ji)(ji)構(gou)(gou)(gou)51，所述(shu)(shu)驅動(dong)機(ji)(ji)構(gou)(gou)(gou)51下方設置(zhi)有刀(dao)(dao)架(jia)(jia)52，所述(shu)(shu)刀(dao)(dao)架(jia)(jia)52下方固定有刀(dao)(dao)頭53。該優選(xuan)方案通過切(qie)(qie)(qie)(qie)(qie)膜(mo)機(ji)(ji)構(gou)(gou)(gou)，在缺陷面積較大時能夠直接進行(xing)截斷，不再使(shi)(shi)用激光(guang)(guang)裁切(qie)(qie)(qie)(qie)(qie)裝置(zhi)進行(xing)選(xuan)擇性(xing)裁切(qie)(qie)(qie)(qie)(qie)，從(cong)而(er)實現切(qie)(qie)(qie)(qie)(qie)膜(mo)機(ji)(ji)構(gou)(gou)(gou)與激光(guang)(guang)裁切(qie)(qie)(qie)(qie)(qie)裝置(zhi)的相(xiang)互配合、替換使(shi)(shi)用。

以(yi)上對本發(fa)明(ming)的實(shi)施(shi)(shi)例進(jin)行了詳細說明(ming)，但所述內容僅為本發(fa)明(ming)的較(jiao)佳實(shi)施(shi)(shi)例，不(bu)能(neng)被(bei)認為用于限定本發(fa)明(ming)的實(shi)施(shi)(shi)范(fan)圍，凡依本發(fa)明(ming)范(fan)圍所作的均等(deng)變化與改進(jin)等(deng)，均應仍歸(gui)屬于本發(fa)明(ming)涵蓋范(fan)圍之內。