接觸卡可靠性測試系統的制作方法
【專利摘要】一種接觸卡可靠性測試系統，該系統包括測試平臺終端，集線器模塊，集成讀卡器模塊，測試子板模塊，連接線，電源模塊，其中：測試平臺終端作為人機交互界面，用戶在其上設置各種測試參數，包括測試樣卡的選擇、復位、上電、下電、發送APDU命令等；集線器模塊將測試平臺終端與集成讀卡器模塊連接，實現測試平臺終端與讀卡器之間的實時通訊，集線器模塊具有至少20路以上的集線能力；集成讀卡器模塊中集成有多個讀卡器，完成測試平臺終端與被測試接觸卡之間的接口轉換；測試子板模塊為進行多路并行測試的智能卡提供卡槽；連接線連接在集成讀卡器模塊與測試子板模塊之間，包括信號連接線和電源連接線，為測試子板模塊提供信號連接和電源連接；電源模塊為測試子板和讀卡器提供穩定的電源。上述接觸卡可靠性測試系統可以支持20個以上的接觸卡同時進行測試，支持多接口、多類型接觸卡并行處理，提高了大規模測試的效率。
【專利說明】接觸卡可靠性測試系統

【技術領域】
[0001]本實用新型涉及接觸卡可靠性測試系統，尤其涉及一種高效的SIM卡可靠性測試系統。

【背景技術】
[0002]智能卡是續光電卡、條碼卡、磁卡等標識之后出現的一種高性能標識卡，是微電子、計算機和信息技術等發展的產物，現已廣泛應用于金融、交通、通訊、娛樂等諸多領域，IC電話卡、金融IC卡、社會保險卡、手機中的SIM卡等都屬于智能卡的范疇。智能卡又可分為接觸式和非接觸式兩類。
[0003]對于從事SM卡等智能卡研發的公司，必須對其研發的SM卡進行各種性能的測試，以便查看其研發的SIM卡是否符合質量標準。在對SIM進行早起失效率測試時，需將SIM卡設置于讀卡器的卡槽中，然后從用戶界面對讀卡器輸入測試程序，從而對卡槽中的SIM卡進行測試。此外，為了測試SM的可靠性能是否滿足極端條件的需要，經常需要將SIM卡至于高低溫箱中進行測試。在需要大規模對SIM卡進行測試的情況下，現有的讀卡器效率太低，且規格固定，難易滿足大規模測試和多規格測試的需要。


【發明內容】

[0004]本實用新型實施例提供了一種接觸卡可靠性測試系統，以解決當前接觸卡測試中效率低下，測試種類單一，測試方法受限的問題。
[0005]本實用新型實施例提供了一種接觸卡可靠性測試系統，該系統包括測試平臺終端，集線器模塊，集成讀卡器模塊，測試子板模塊，連接線，電源模塊，其中:
[0006]測試平臺終端作為人機交互界面，用戶在其上設置各種測試參數，包括測試樣卡的選擇、復位、上電、下電、發送APDU命令等；
[0007]集線器模塊將測試平臺終端與集成讀卡器模塊連接，實現測試平臺終端與讀卡器之間的實時通訊，集線器模塊具有至少20路以上的集線能力；
[0008]集成讀卡器模塊中集成有多個讀卡器，完成測試平臺終端與被測試接觸卡之間的接口轉換；
[0009]測試子板模塊為進行多路并行測試的智能卡提供卡槽；
[0010]連接線連接在集成讀卡器模塊、電源模塊與測試子板模塊之間，包括信號連線和電源連線，為測試子板模塊提供信號連接和電源連接；
[0011]電源模塊為測試子板和讀卡器提供穩定的電源。
[0012]優選的，所述系統的集成讀卡器模塊內的多個讀卡器隔離設置，并設置獨立的開關。
[0013]所述集成讀卡器可完成USB接口到7816接口的轉換。
[0014]優選的，所述集成讀卡器模塊中還設置有驅動電路。
[0015]所述集成讀卡器模塊的電源線上設有過熱、過流保護裝置。
[0016]優選的，所述測試子板模塊的卡槽可設置為接納不同規格的接觸卡。
[0017]所述不同規格的接觸卡包括SM卡、SD卡、TF卡等。
[0018]優選的，所述電源模塊的輸出電壓是可調的。
[0019]所述電源模塊的輸出電壓從1.6v?5.5v可調。
[0020]優選的，所述電源模塊中采用了自反饋設計，其中包括ADC、DAC、OP等模塊。
[0021]所述電源模塊輸出電壓的精度可以達到1mv量級。
[0022]優選的，所述連接線和測試子板模塊采用耐高低溫的材料制作。
[0023]該系統可工作于-55度至125度。
[0024]優選的，所述集線器模塊、集成讀卡器模塊以及電源模塊集成在一測試主機中使用。
[0025]該測試主機還包括由一輸入和顯示面板，可以作為調節和控制測試參數。
[0026]上述接觸卡可靠性測試系統，可以支持20個以上的接觸卡同時進行測試，大大提高了大規模測試的效率；支持多接口、多類型接觸卡并行處理；采用可調電壓源設計，并采用自反饋設計，提高了電源的精度和適用度；連接線和測試子卡模塊采用耐高低溫材料，可以滿足高低溫箱壽命測試的需要；測試主機可將集線器模塊、集成讀卡器模塊、電源模塊集成在一起，方便使用；還可以在測試主機上設置輸入和顯示面板，以直接在測試主機上進行測試控制，使測試更加人性化。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0027]圖1是本實用新型提出的接觸卡可靠性測試系統的結構示意圖；
[0028]圖2是PC機上一個智能卡自動測試平臺的圖示。

【具體實施方式】
[0029]為了使本實用新型的目的、技術方案和優點更加清楚明白，下面結合附圖和實施例對本實用新型作進一步的詳細說明。可以理解的是，此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋本實用新型，而非對本實用新型的限定。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與本實用新型相關的部分而非全部結構。
[0030]下面，以SIM卡為例介紹本實用新型的接觸卡可靠性測試系統，如圖1所示，為本實用新型的接觸卡可靠性測試系統的結構示意圖。該系統包括測試平臺終端，集線器模塊，集成讀卡器模塊，測試子板模塊，連接線，電源模塊。其中:
[0031]測試平臺終端是作為人機交互界面，用戶通過在PC機或其他終端的測試平臺軟件上設置各項測試參數，或編寫測試程序，以完成測試樣卡的選擇、復位、上電、下電、發送APDU命令等。通過上述參數的設置和測試程序的編寫，可以對成品的SIM卡進行測試，以檢測其早期失效率等可靠性性能。圖2給出了在PC機上一個智能卡自動測試平臺的圖示。
[0032]集線器模塊將測試平臺終端與集成讀卡器模塊連接，實現測試平臺終端與讀卡器之間的實時通訊。該集線器可以完成至少20路以上的一對多數據傳送。這樣的設計可以大大提高在大規模SIM卡測試時，SIM卡并行測試的能力。現有的集線器一般只有I轉3、I轉5、1轉7等規格，且轉換的鏈路越多，其成本上升越快。本實用新型的至少20路的一對多集線器例如可以利用一個I轉3、三個I轉7的集線器進行搭建，即滿足了多達20路的集線能力，也大大降低了成本。
[0033]集成讀卡器模塊主要完成接口的轉換，例如在對SIM進行測試，且集線器與測試平臺終端為USB連接的情況下，讀卡器模塊可以完成從USB接口到滿足SM卡接口標準的7816接口的轉換。本實用新型中采用了一個ARM模塊完成該接口轉換功能。集成讀卡器模塊中集成有多個讀卡器，為了使多個SIM卡并行測試時互不影響，集成讀卡器中的多個讀卡器采用隔離設計，可以快速定位失效的讀卡器電路位置并檢測信號，每個讀卡器還設有獨立的開關，可以單獨控制每個讀卡器的工作狀態。為了安全起見，讀卡器的電源線上還設置過熱、過流保護裝置，一旦檢測的電流超過門限電流，立即切斷電源。該門限電流例如可以設為0.5A。
[0034]測試子板模塊主要為進行多路并行測試的智能卡提供卡槽。本實用新型在測試子板上設有多達20個以上的卡槽，可以供20個以上的智能卡同時進行測試。此外，卡槽可以是不同規格，例如對SIM卡進行測試時，采用SIM卡卡槽JtSD卡進行測試時，可以提供SD卡卡槽。也可以為不同規格的卡提供不同種類的卡槽進行并行測試，例如適用于大部分手機的2FF類型的SM卡、適用于IPH0NE4的3FF類型的SM卡和適用于IPHONE5的4FF類型的SIM卡等。為了滿足高低溫壽命測試的需要，卡槽可以采用翻蓋式設計，以避免卡片在高溫條件下彎曲變形，另外測試子板模塊可由特殊的耐高低溫材料制成。本實用新型的測試子板模塊可以工作于-55度至125度，滿足工業用高低溫壽命測試的需求。
[0035]連接線連接在集成讀卡器模塊、電源模塊與測試子板模塊之間，包括信號連線和電源連線，為測試子板模塊提供信號連接和電源連接。考慮到連接線上存在一定的信號傳輸損耗，在集成讀卡器模塊中設有驅動電路，以補償信號衰減，同時降低噪聲干擾。為了滿足高低溫壽命測試的需要，連接線采用高溫屏蔽線涉及，其工作溫度可達到-55度至125度，滿足工業用高低溫壽命測試的需求。
[0036]電源模塊為測試子板和讀卡器提供穩定的電源。為了使工作電源穩定，本實用新型的電源模塊使用具有ADC、DAC、OP等子模塊的自反饋設計。在采用了上述自反饋設計之后，本實用新型的電源模塊具有1mv以上的精度。另外，為了滿足不同測試卡的測試規格，本實用新型的電源模塊還具有多電壓可調功能，智能卡一般具有1.8v、3.3v、5v三種規格，本實用新型通過冗余設計，輸出電壓從1.6v?5.5v可調，可以滿足不同規格智能卡工作/測試需要。在需要調整測試電壓時，測試人員只需在測試平臺終端進行設定即可，使用非常便利。
[0037]根據本實用新型一個實施例，測試平臺終端為PC機，該測試平臺軟件安裝在PC機上。根據實際的需要，該測試平臺終端也可以為其他終端，如筆記本電腦、掌上電腦、手機等可以安裝測試平臺軟件的終端。為方便使用，集線器模塊、集成讀卡器模塊以及電源模塊集成在一起作為測試主機，其通過一 USB接口與測試平臺終端連接，并通過連接線與測試子板模塊連接。該測試主機上設有多個獨立開關，分別控制不同的讀卡器。測試子板模塊可與部分連接線一起放置于高低溫箱中，以進行高低溫壽命測試。
[0038]根據本實用新型另一個實施例，測試主機中可以下載測試平臺程序，并且測試主機具有一輸入和顯示面板，可以采用按鍵或觸摸的方式對上述測試程序進行控制。例如，選擇各種測試參數，包括測試電壓、測試樣卡選擇、復位、上電、下電、發送APDU命令等。
[0039]上述接觸卡可靠性測試系統，可以支持20個以上的接觸卡同時進行測試，大大提高了大規模測試的效率；支持多接口、多類型接觸卡并行處理；采用可調電壓源設計，并采用自反饋設計，提高了電源的精度和適用度；連接線和測試子卡模塊采用耐高低溫材料，可以滿足高低溫箱壽命測試的需要；測試主機可將集線器模塊、集成讀卡器模塊、電源模塊集成在一起，方便使用；還可以在測試主機上設置輸入和顯示面板，以直接在測試主機上進行測試控制，使測試更加人性化。
[0040]注意，上述僅為本實用新型的較佳實施例及所運用技術原理。本領域技術人員會理解，本實用新型不限于這里所述的特定實施例，對本領域技術人員來說能夠進行各種明顯的變化、重新調整和替代而不會脫離本實用新型的保護范圍。因此，雖然通過以上實施例對本實用新型進行了較為詳細的說明，但是本實用新型不僅僅限于以上實施例，在不脫離本實用新型構思的情況下，還可以包括更多其他等效實施例，而本實用新型的范圍由所附的權利要求范圍決定。
【權利要求】
1.一種接觸卡可靠性測試系統，其特征在于，該系統包括測試平臺終端，集線器模塊，集成讀卡器模塊，測試子板模塊，連接線，電源模塊，其中: 測試平臺終端作為人機交互界面，用戶在其上設置各種測試參數，包括測試樣卡的選擇、復位、上電、下電、發送APDU命令； 集線器模塊將測試平臺終端與集成讀卡器模塊連接，實現測試平臺終端與讀卡器之間的實時通訊，集線器模塊具有至少20路以上的集線能力； 集成讀卡器模塊中集成有多個讀卡器，完成測試平臺終端與被測試接觸卡之間的接口轉換； 測試子板模塊為進行多路并行測試的智能卡提供卡槽； 連接線連接在集成讀卡器模塊、電源模塊與測試子板模塊之間，包括信號連線和電源連線，為測試子板模塊提供信號連接和電源連接； 電源模塊為測試子板和讀卡器提供穩定的電源。
2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于: 所述集成讀卡器模塊內的多個讀卡器隔離設置，并設置獨立的開關。
3.根據權利要求1、2任一所述的系統，其特征在于: 所述集成讀卡器完成USB接口到7816接口的轉換。
4.根據權利要求1、2任一所述的系統，其特征在于: 所述集成讀卡器模塊中還設置有驅動電路。
5.根據權利要求1、2任一所述的系統，其特征在于: 所述集成讀卡器模塊的電源線上設有過熱、過流保護裝置。
6.根據權利要求1、2任一所述的系統，其特征在于: 所述測試子板模塊的卡槽可設置為接納不同規格的接觸卡。
7.根據權利要求6所述的系統，其特征在于: 所述不同規格的接觸卡包括SIM卡、SD卡、TF卡。
8.根據權利要求1、2任一所述的系統，其特征在于: 所述電源模塊的輸出電壓是可調的。
9.根據權利要求8所述的系統，其特征在乎: 所述電源模塊的輸出電壓從1.6v?5.5v可調。
10.根據權利要求8所述的系統，其特征在于: 電源模塊中采用了自反饋設計，包括ADC、DAC、OP模塊。
11.根據權利要求8所述的系統，其特征在于: 所述電源模塊輸出電壓的精度可以達到1mv量級。
12.根據權利要求1、2任一所述的系統，其特征在于: 所述連接線和測試子板模塊采用既耐高溫也耐低溫的材料制作。
13.根據權利要求1、2任一所述的系統，其特征在于: 所述集線器模塊、集成讀卡器模塊以及電源模塊集成在一測試主機中使用。
14.根據權利要求13所述的系統，其特征在于: 該測試主機還包括由一輸入和顯示面板，可以作為調節和控制測試參數。
【文檔編號】G01R1/04GK204188647SQ201420391444
【公開日】2015年3月4日 申請日期:2014年7月16日 優先權日:2014年7月16日
【發明者】高健民 申請人:赤松城(北京)科技有限公司