專利名稱：一種釹鐵硼平面工裝量具的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及稀土永磁材料技術領域，特別涉及一種釹鐵硼平面工裝量具。
背景技術：
目前，稀土永磁材料分為稀土-鈷合金系和釹鐵硼合金兩大類，其中的釹鐵硼合金采用燒結法生產的綜合磁性能最好，燒結釹鐵硼產品根據產品要求通過自動磁場成型壓機、圓柱成型壓機、方塊成型壓機來成型壓制。環形釹鐵硼合金制品一般作為填充結構與設備配合，因此需要較高的平面度和同心度等參數，特別是批量生產中對于同心度的測量，通過游標卡尺等普通測量壁厚的方式，會產生比較大的測量誤差，因此需要對量具進行改進來提高測量精度和速度。

實用新型內容本實用新型的目的在于針對現有技術的缺陷和不足，提供一種結構緊湊、操作方便的一種釹鐵硼平面工裝量具。為實現上述目的，本實用新型采用以下技術方案:本實用新型所述的一種釹鐵硼平面工裝量具，包括上表面光滑平整的基面平臺，所述基面平臺底面上設有支撐架，基面平臺底部設有測量器，測量器的靈敏觸頭穿過基面平臺且高出基面平臺的上表面。進一步地，所 述基面平臺底面設有固定架，固定架與測量器連接。進一步地，所述支撐架包括若干等高支腳，所述支腳對稱設置于基面平臺底面上。進一步地，所述測量器為千分表或者百分表。本實用新型有益效果為:本實用新型通過高精度的基面平臺為基準，產品沿基面平臺平移經過量具后即可測出產品的平面度，改變了卡尺對壁厚多點測量的誤差，提高了測量的效率。

圖1是本實用新型的正面結構示意圖；圖2是本實用新型的立體結構示意圖。圖中:1、基面平臺；2、支撐架；3、測量器； 11、固定架；31、靈敏觸頭。
具體實施方式
以下結合附圖對本實用新型作進一步的說明。本實用新型所述的一種釹鐵硼平面工裝量具，包括上表面光滑平整的基面平臺1，所述基面平臺I底面上設有支撐架2，支撐架2使基準平臺I的測量基面形成水平，基面平臺I底部設有測量器3，測量器3的靈敏觸頭31穿過基面平臺I且高出基面平臺I的上表面；靈敏觸頭31在基準平臺I上表面形成凸起的測量點。上述部件為本實用新型主體結構。所述支撐架2包括若干等高支腳，所述支腳對稱設置于基面平臺I底面上；所述基面平臺I底面設有固定架11，固定架11中心設置開口，測量器3的探頭穿過固定架11并與之連接；所述測量器3為千分表或者百分表。工作原理:工件的檢測面緊貼于基準平臺1，移動并使工件的底面經過測量器3的靈敏觸頭31，工件底面的平面度情況根據測量器3的讀數進行記錄后得出。以上所述僅是本實用新型的較佳實施方式，故凡依本實用新型專利申請范圍所述的構造、特征及原理所 做的等效變化或修飾，均包括于本實用新型專利申請范圍內。
權利要求1.一種釹鐵硼平面工裝量具，包括上表面光滑平整的基面平臺(1)，其特征在于:所述基面平臺(I)底面上設有支撐架(2 )，基面平臺(I)底部設有測量器(3 )，測量器(3 )的靈敏觸頭(31)穿過基面平臺(I)且高出基面平臺(I)的上表面。
2.根據權利要求1所述的釹鐵硼平面工裝量具，其特征在于:所述基面平臺(I)底面設有固定架(11)，固定架(11)與測量器(3)連接。
3.根據權利要求1所述的釹鐵硼平面工裝量具，其特征在于:所述支撐架(2)包括若干等高支腳，所述支腳對稱設置于基面平臺(I)底面上。
4.根據權利要求1所述的釹鐵硼平面工裝量具，其特征在于:所述測量器(3)為千分表或 百分表。
專利摘要本實用新型涉及稀土永磁材料技術領域，特別涉及一種釹鐵硼平面工裝量具；本實用新型所述的一種釹鐵硼平面工裝量具，包括上表面光滑平整的基面平臺，所述基面平臺底面上設有支撐架，基面平臺底部設有測量器，測量器的靈敏觸頭穿過基面平臺且高出基面平臺的上表面；本實用新型通過高精度的基面平臺為基準，產品沿基面平臺平移經過量具后即可測出產品的平面度，改變了卡尺對壁厚多點測量的誤差，提高了測量的效率。
文檔編號G01B5/28GK203132492SQ20132004124
公開日2013年8月14日 申請日期2013年1月23日 優先權日2013年1月23日
發明者卓劍虹, 易鵬鵬, 陳偉, 樂坤龍 申請人:寧波松科磁材有限公司