專利名稱：一種檢測倒角根部到該孔平面距離的檢具的制作方法
技術領域：
本發明涉及檢測內部距離結構的檢具的技術領域，具體為一種檢測倒角根部到該孔平面距離的檢具。
背景技術：
現有的內部距離尺寸檢測，大多是使用游標卡尺、高度尺等來檢測，所以檢驗范圍也受到很大的限制，其在檢測在零件內部的孔的倒角根部到平面的距離時相當復雜，檢測效率過慢，達不到生產線檢測要求的速率，且易產生誤差、檢測精度低。

發明內容
針對上述問題，本發明提供了一種檢測倒角根部到該孔平面距離的檢具，其可以檢測在零件內部的孔的倒角根部到平面的距離，操作方便，檢測效率高，且檢測精度高。一種檢測倒角根部到該孔平面距離的檢具，其技術方案是這樣的:其包括底座、支撐柱，其特征在于:其還包括校表座、校表塊、測量銷、表座、百分表，所述支撐柱緊固于所述底座，所述校表座緊固于所述支撐柱的上端面，所述校表塊支承于所述校表座的上端面，所述表座位于所述校表塊的正上方，所述測量銷的截止面為擴口圓臺結構，所述表座的內孔內設置有所述百分表的測頭，所述測量銷的頭部依次貫穿校表座、校表塊的通孔后插裝于所述表座的內孔，所述測量銷的頭部緊貼所述測頭的下端面，所述擴口圓臺結構頂住所述校表塊的通孔的下端面。其進一步特征在于:所述百分表的測頭和所述表座內孔的外環面之間設置有柱套。

采用本發明的結構后，用測量銷將表座在校表塊上校零，將表座置于零件的相應位置，測量銷從零件內部進入被測孔，擴口圓臺結構與被測零件倒角根部貼合，觀看百分表指針偏擺方向及相應數值，準確反應出測得尺寸與理論值的差值，其可以檢測在零件內部的孔的倒角根部到平面的距離，操作方便，檢測效率高，且檢測精度高。


圖1為本發明的主視圖結構示意 圖2是本發明對零件檢測的結構示意 圖3是圖2的A處局部放大結構示意圖。
具體實施例方式見圖1，其包括底座1、支撐柱2、校表座3、校表塊4、測量銷5、表座6、百分表7，支撐柱2緊固于底座1，校表座3緊固于支撐柱2的上端面，校表塊4支承于校表座3的上端面，表座6位于校表塊4的正上方，測量銷5的截止面為擴口圓臺結構8，表座6的內孔內設置有百分表7的測頭9，測量銷5的頭部依次貫穿校表座3、校表塊4的通孔后插裝于表座6的內孔，測量銷5的頭部緊貼測頭9的下端面，擴口圓臺結構8頂住校表塊4的通孔的下端面。百分表7的測頭9和表座6內孔的外環面之間設置有柱套10。其工作原理如下:圖1中，測量銷5的頭部緊貼測頭9的下端面，擴口圓臺結構8頂住校表塊4的通孔的下端面，百分表校零；見圖2、圖3，校零后，將表座6置于被測零件11相應位置并使表座6緊貼零件表面，將測量銷5從被測零件11的孔內塞入表座6中，觀察表針并讀數，百分表7上一小格帶表0.01mm。當指針像右偏轉n格時,倒角相應比標準值偏小0.0lXn，相反則為正 值，通過百分表指針的偏轉可準確讀出零件倒角尺寸。
權利要求
1.一種檢測倒角根部到該孔平面距離的檢具，其包括底座、支撐柱，其特征在于:其還包括校表座、校表塊、測量銷、表座、百分表，所述支撐柱緊固于所述底座，所述校表座緊固于所述支撐柱的上端面，所述校表塊支承于所述校表座的上端面，所述表座位于所述校表塊的正上方，所述測量銷的截止面為擴口圓臺結構，所述表座的內孔內設置有所述百分表的測頭，所述測量銷的頭部依次貫穿校表座、校表塊的通孔后插裝于所述表座的內孔，所述測量銷的頭部緊貼所述測頭的下端面，所述擴口圓臺結構頂住所述校表塊的通孔的下端面。
2.根據權利要求1所述的一種檢測倒角根部到該孔平面距離的檢具，其特征在于:所述百分表的測頭和所述表座內 孔的外環面之間設置有柱套。
全文摘要
本發明提供了一種檢測倒角根部到該孔平面距離的檢具，其可以檢測在零件內部的孔的倒角根部到平面的距離，操作方便，檢測效率高，且檢測精度高。其包括底座、支撐柱，其特征在于其還包括校表座、校表塊、測量銷、表座、百分表，所述支撐柱緊固于所述底座，所述校表座緊固于所述支撐柱的上端面，所述校表塊支承于所述校表座的上端面，所述表座位于所述校表塊的正上方，所述測量銷的截止面為擴口圓臺結構，所述表座的內孔內設置有所述百分表的測頭，所述測量銷的頭部依次貫穿校表座、校表塊的通孔后插裝于所述表座的內孔，所述測量銷的頭部緊貼所述測頭的下端面，所述擴口圓臺結構頂住所述校表塊的通孔的下端面。
文檔編號G01B5/14GK103234428SQ20131012439
公開日2013年8月7日 申請日期2013年4月11日 優先權日2013年4月11日
發明者張祥兵, 李靖宇, 鄧愛芳, 李順, 邱劉琴, 彭寶金 申請人:鷹普(中國)有限公司