專利名稱：一種可測量復雜回轉體零件表面輪廓的儀器的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種測量儀器，尤其涉及一種可測量復雜回轉體零件表面輪廓的儀
O
背景技術：
在測量內轉子、棘輪等回轉體零件表面輪廓時，圓度儀測量量程較小，不能滿足測 量要求，輪廓儀雖然能滿足測量量程的要求，但是不能實現對整個回轉體的測量。

發明內容
本發明目的是提供一種可測量復雜回轉體零件表面輪廓的儀器，其解決了現有圓 度儀或輪廓儀中不能對復雜回轉體零件表面輪廓進行測量的技術問題。本發明的技術方案為一種可測量復雜回轉體零件表面輪廓的儀器，包括工作臺、設于工作臺上的輪廓 儀，所述輪廓儀包括設置在工作臺上的Z軸氣浮立柱、設置在Z軸氣浮立柱上的X軸氣浮導 軌、設置在X軸氣浮導軌上的傳感器和測針、通過導軌安裝在工作臺上的移動平臺；所述測 針與工作臺的X軸平行；其特殊之處是所述儀器還包括設置工作臺上的三維臺，所述三維 臺上設置有可夾持被測零件的夾爪；所述三維臺的中心軸位于測針所在直線上。上述夾爪為三爪卡盤。本發明的技術效果為1、可在一臺儀器上實現對輪廓和圓度的同時測量。2、能對簡單輪廓或復雜回轉體表面輪廓進行測量。


圖1為本發明測量復雜回轉體表面輪廓時的結構示意圖；圖2為本發明測量簡單輪廓時的結構示意圖；附圖標記如下1-工作臺，2-X軸氣浮導軌，3-測針，4-被測零件，5-三爪卡盤， 6-三維臺，7-移動平臺，8-傳感器，9-Z軸氣浮立柱，10-導軌。
具體實施例方式參見圖1及圖2，本發明可在一臺儀器上分別實現對輪廓和圓度的測量。在測量被 測零件圓度時，將移動平臺7沿導軌10移動到遠離傳感器8的一端，將被測零件4放置在 三維臺6的三爪卡盤5上，調整被測零件4和輪廓儀上的傳感器8，進而轉動三維臺6就可 實現對圓度的測量，該測量原理同普通圓度儀相同，只是將原有圓度儀上的傳感器用輪廓 儀上的傳感器替代。在測量被測零件輪廓時，將移動平臺7沿導軌10移向靠近傳感器8的一端，將輪 廓測量工裝放在移動平臺7上，并裝夾上待測被測零件，調整輪廓儀上的傳感器8的觸頭垂直于被測零件表面，移動輪廓儀上的X軸氣浮導軌2即可實現對被測零件工作輪廓的測量，該測量原理同普通輪廓儀相同。本發明工作原理本發明不但可單獨測量被測零件的圓度或輪廓，而且還可以測量復雜回轉體的輪 廓。這解決了轉子和棘輪等復雜回轉體表面輪廓的測量問題，同時提高了測量效率。在對 于內轉子和棘輪等復雜回轉體零件表面輪廓的測量時，本發明通過將現有圓度儀及輪廓儀 有機結合起來實現同時測量圓度和輪廓。首先將被測零件4放置在如圖1所示三維臺6中 的三爪卡盤5上，調整輪廓儀上的傳感器8，使得傳感器8中心過回轉中心，其中傳感器8可 為電感傳感器，使得輪廓儀上的測針3正對三維臺6的中心，其中測針3上的測頭與被測零 件4接觸，將被測零件4表面的極徑變化傳遞給傳感器，并傳輸到計算機中。然后開始旋轉 三維臺6，利用輪廓儀上的傳感器測量圓度，同時由于三維臺6自身的旋轉，使得固定于其 上的被測零件4也隨之發生旋轉，則輪廓儀上的傳感器即可采集到被測零件在旋轉時的輪 廓，進而達到同時測得被測零件輪廓的效果。本發明利用圓度儀掃描方法對復雜回轉體表面輪廓掃描，利用輪廓儀傳感器測量 結構進行數據采集輪廓數據，從而實現了對轉子和棘輪等復雜回轉體表面輪廓的測量。
權利要求
1.一種可測量復雜回轉體零件表面輪廓的儀器，包括工作臺(1)、設于工作臺(1)上 的輪廓儀，所述輪廓儀包括設置在工作臺(1)上的ζ軸氣浮立柱(9)、設置在Z軸氣浮立柱 (9)上的X軸氣浮導軌(2)、設置在X軸氣浮導軌(2)上的傳感器(8)和測針(3)、通過導 軌(10)安裝在工作臺上的移動平臺(7)；所述測針(3)與工作臺(1)的X軸平行；其特征 在于所述儀器還包括設置工作臺(1)上的三維臺(6)，所述三維臺(6)上設置有可夾持被 測零件(4)的夾爪；所述三維臺(6)的中心軸位于測針(3)所在直線上。
2.根據權利要求1所述的儀器，其特征在于所述夾爪為三爪卡盤(5)。
全文摘要
本發明涉及一種可測量復雜回轉體零件表面輪廓的儀器，包括工作臺、設于工作臺上的輪廓儀，所述輪廓儀包括設置在工作臺上的Z軸氣浮立柱、設置在Z軸氣浮立柱上的X軸氣浮導軌、設置在X軸氣浮導軌上的傳感器和測針、通過導軌安裝在工作臺上的移動平臺；所述測針與工作臺的X軸平行；儀器還包括設置工作臺上的三維臺，三維臺上設置有可夾持被測零件的夾爪；三維臺的中心軸位于測針所在直線上。可在一臺儀器上實現對輪廓和圓度的同時測量。
文檔編號G01B7/28GK102102976SQ20091021956
公開日2011年6月22日 申請日期2009年12月18日 優先權日2009年12月18日
發明者戴桂秋 申請人:西安威而信精密儀器有限公司