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存儲器的輸出電源測試裝置的制作方法

文(wen)檔序(xu)號:6135305閱讀:340來源(yuan):國知局(ju)
專利名稱:存儲器的輸出電源測試裝置的制作方法
技術領域
本發明關于一種電源測試裝置,特別是一種存儲器的輸出電源測試裝置。
背景技術
不論是成品或半成品的電子裝置,于電子裝置生產過程中,測試環節都是必不可少的。若是于研制新機型時,更需要經過反復測試及改進,才能確保此新機型的電子裝置的質量。即使是量產中的機型,于每次出貨前也是必須逐一地經過測試后,才可進行銷售。并且,就算僅是于量產的機型的電子裝置中增加一組件或是增加一組件的功能,仍然需再經過反復測試各項零件及功能后,才可進行銷售。一般來而言,于出廠測試過程中,基本上會對電子裝置中所包含的全部功能、組件和裝置進行檢測,因此若多增加一功能或一裝置時,相對會增加其所需的測試時間,所以如何于較短的測試時間內得到完整確實的測試結果為增加產能的主要方法之一。
于出廠測試過程中,對于存儲器測試中,需觀察其電源輸出的穩定性,一般來說存儲器電源輸出(output power)需維持于一固定值--2.5V,然而于實際輸出時會因電路設計和組成組件本身等影響僅為一接近2.5V的固定電壓。而若輸出電壓過大或過小時,易造成系統不穩定,甚至造成整個電子裝置故障。因此,于出廠測試過程中需進行存儲器電源的測試,以確保系統的穩定性。
先前的測試方式通過一可調電阻取代原先輸出端的分壓電阻,然后,通過調整可調電阻的阻值使輸出電壓產生±0.6V的變化(即1.9V~3.1V電壓范圍),并觀察系統的穩定性。然而,此做法需通過絡鐵先將分壓電阻取下,然后再將可調電阻焊接于原先分壓電阻的位置,才可進行測試,因此相當不方便,并且,此方法于取下分壓電阻和焊接可調電阻的過程中,很可能會損害到其它外圍的電子組件。另外,再調整可調電阻的阻值時需相當穩定,否則稍有些許變動即會造成輸出電壓值改變,因而影響到測試結果。

發明內容
本發明的主要目的在于提供一種存儲器的輸出電源測試裝置,以解決先前技術所存在的諸多限制與缺點。
為了達到上述目的,本發明提供了一種存儲器的輸出電源測試裝置,其中包括一信號控制裝置,用以產生多個測試信號;以及一調壓電路,連接至該信號控制裝置,用以根據該測試信號而調變輸出電壓。
根據本發明的構思,該信號控制裝置包括一連接器,具有多個插槽,以產生該測試信號;以及一個以上的跳接器,用以插入該插槽中,以改變該測試信號。
根據本發明的構思,該測試信號根據該跳接器的個數和插入該插槽的位置而變化。
根據本發明的構思,該存儲器的輸出電源測試裝置還包括一濾波電路,連接該調壓電路,以進行該調壓電路輸出電壓的濾波;以及一分壓電阻,與該濾波電路并聯。
根據本發明的構思,該濾波電路包括多個相互并聯的電容。
根據本發明的構思,該調壓電路為一集成電路。
本發明所揭示的存儲器的輸出電源測試裝置,通過一控制集成電路(IC)來改變輸出電壓值,以測試輸出電壓于±0.6V的變化時系統的穩定性。
也就是說,本發明所揭示的存儲器的輸出電源測試裝置,包括有一信號控制裝置和一調壓電路。信號控制裝置與調壓電路相連結,其中,調壓電路可根據來自信號控制裝置的一組測試信號而調整輸出電壓。也就是,信號控制裝置調變測試信號的高電平或低電平,進而使調壓電路根據測試信號的高電平或低電平分別輸出高電平或低電平的電壓。
于此,調壓電路可為一集成電路。而信號控制裝置可為一連接器,其上具有多個插槽。通過插槽上插置的跳接器(JUMP)個數以及插置的插槽位置而產生不同的測試信號組合。
此外,本發明所揭示的存儲器的輸出電源測試裝置,包括有一濾波電路以及一分壓電阻。其中分壓電阻以并聯的方式與濾波電路相連。濾波電路用以進行輸出電壓的濾波作用,而分壓電阻用以分壓。于此,濾波電路可由多個相同或相異的電容并聯而成。


圖1是為說明公知的存儲器的輸出電路的概要結構圖;圖2是為說明公知的存儲器輸出電壓的測試電路的概要結構圖;圖3是為說明根據本發明的一實施例的存儲器的輸出電源測試裝置的概要結構圖;以及圖4是為說明于圖3中各個測試信號組成與輸出電壓Vo的關系表。
其中,附圖標記說明如下VCC-輸入電壓;V-電壓;Vo-輸出電壓;U-集成電路;Cs-濾波電路;R-分壓電阻;VR-可變電阻;VU-調壓電路;SC-信號控制裝置;S1~S5測試信號。
具體實施例方式
以下舉出具體實施例以詳細說明本發明的內容,并以附圖作為輔助說明。說明中提及的符號參照附圖符號。
于存儲器的電路設計上,于存儲器輸出端部分大部分包括一集成電路U、一濾波電路Cs和一分壓電阻R,其中三者依序相連,如圖1所示。因此,存儲器的輸出電壓會先經過集成電路U整合,然后通過濾波電路Cs由分壓電阻R分壓后而輸出。而一般濾波電路可由多個相同或相異的電容并聯而成。其中,分壓電阻以并聯方式與濾波電路相連。
于公知的測試方法中,如圖2所示,為公知的存儲器電源測試電路的結構圖,以一可變電阻VR取代原先分壓電阻的位置,因此,經由測試人員通過手動調整可變電阻VR的阻值,以改變輸出電壓值。
參照圖3,為本發明一實施例的存儲器的輸出電源測試裝置。于此,一調壓電路VU、一濾波電路Cs和一分壓電阻依序相連,并有一信號控制裝置SC連接至調壓電路VU。其中,調壓電路VU可根據一組測試信號S1~S5而調整輸出電壓,也就是根據的測試信號S1~S5的高電平或低電平而分別輸出高電平或低電平的電壓。而這些測試信號S1~S5通過信號控制裝置SC來調整其信號組成。于此,濾波電路可由多個相同或相異的電容并聯而成。而此調壓電路VU可為一集成電路,例如型號HIP6311的集成電路等。信號控制裝置SC可為一連接器(connecter),其上具有多個插槽。當一個以上的跳接器(JUMP)與插槽結合時,即可產生一組測試信號。也就是,通過插入跳接器的插槽個數和插槽位置的改變來產生不同的測試信號組合。
舉例來說,參照圖3,假設本發明一實施例的存儲器的輸出電源測試裝置中的調壓電路VU為一集成電路,而信號控制裝置SC為一連接器。將此存儲器的輸出電源測試裝置應用于一存儲器電路上時,測試人員進行存儲器的輸出電源測試時,可依序增加插入連接器的跳接器個數以及依序變化插入的插槽,因而不同電平的測試信號組S1~S5依序輸入至集成電路。此時,集成電路根據各個測試信號組依序調變輸出電壓Vo,其中,各個測試信號組成與輸出電壓Vo的關系,如下圖4所示,其中,“1”表示高電平的信號,而“0”表示低電平的信號。因而,輸出電壓即可產生±0.6V的變化,進而測試人員可通過此電壓變化進行整個系統穩定性的觀察。
雖然本發明以前述的較佳實施例揭示如上,然其并非用以限定本發明,任何熟悉相像技術者,在不脫離本發明的精神和范圍內,當可作些許的更動與潤飾,因此本發明的專利保護范圍須視本說明書所附的權利要求書所界定的為準。
權利要求
1.一種存儲器的輸出電源測試裝置,其中包括一信號控制裝置,用以產生多個測試信號;以及一調壓電路,連接至該信號控制裝置,用以根據該測試信號而調變輸出電壓。
2.如權利要求1所述的存儲器的輸出電源測試裝置,其特征是該信號控制裝置包括一連接器,具有多個插槽,以產生該測試信號;以及一個以上的跳接器,用以插入該插槽中,以改變該測試信號。
3.如權利要求2所述的存儲器的輸出電源測試裝置,其特征是該測試信號根據該跳接器的個數和插入該插槽的位置而變化。
4.如權利要求1所述的存儲器的輸出電源測試裝置,其特征是還包括一濾波電路,連接該調壓電路,以進行該調壓電路輸出電壓的濾波;以及一分壓電阻,與該濾波電路并聯。
5.如權利要求4所述的存儲器的輸出電源測試裝置,其特征是該濾波電路包括多個相互并聯的電容。
6.如權利要求1所述的存儲器的輸出電源測試裝置,其特征是該調壓電路為一集成電路。
全文摘要
本發明涉及一種存儲器的輸出電源測試裝置,包括有一信號控制裝置和一調壓電路。信號控制裝置與調壓電路相連結,且調壓電路可根據來自信號控制裝置的一組測試信號而調整輸出電壓。也就是,信號控制裝置調變測試信號的高電平或低電平,進而使調壓電路根據測試信號的高電平或低電平分別輸出高電平或低電平的電壓。
文檔編號G01R31/40GK1808166SQ20051000454
公開日2006年7月26日 申請日期2005年1月18日 優先權日2005年1月18日
發明者陳美惠 申請人:英業達股份有限公司
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