專利名稱：支柱絕緣子及瓷套超聲波探傷專用試塊的制作方法
技術領域：
本實用新型是一種做試驗檢測用的一種試塊，尤其是一種對支柱絕緣子及瓷套超聲波探傷專用探頭進行檢測試驗用的專用工具支柱絕緣子及瓷套超聲波探傷專用試塊。
背景技術：
目前對支柱絕緣子及瓷套超聲波探傷專用探頭的校對試驗及檢測，多用專用儀器進行，比較校對并確定出專用探頭缺陷量的大小，目前，還沒有很好的既簡單又實用的專用試塊出現。

發明內容
為了解決支柱絕緣子及瓷套超聲波探傷專用探頭校對試驗及檢測問題，本實用新型體提供了一種支柱絕緣子及瓷套超聲波探頭專用試塊。該試塊結構簡單實用，可以精確的測試出探頭缺陷量的大小，是對專用探頭校對、試驗及檢測的必備的專用工具。
本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是該試塊包括薄板體1、厚板體5、橫向、縱向刻度線3、7、及探測孔4、6四部分；其特征是該試塊為一個矩形的鋼板，在它的左半部，有一道曲線把該矩形板劃分為薄板體1及厚板體5兩部分，厚板體5的上部及右側，帶有毫米級的刻度線3、7，在靠近厚板體5的下側邊處，由近及遠順序開有3個大探測孔4，在靠近上側邊處，由上至下，順序開有3個小探測孔6，該試塊下側邊的左半部，為一個弧形邊，右半部邊為一道直邊；該板體的上側面，為一個凸出的帶有弧度的面，它的凸起弧度面與探頭的凹陷弧度面相吻合。使用時，用專用探頭的接觸面順著弧形突起側面移動，使超聲波在不同的位置發射，即會得到不同的波形，通過比較，可測出精確的比值及缺陷的大小。
其有益效果是，由于采用了上述方案，使該專用試塊結構特別簡單，實用，可以精確測試出探頭缺陷量的大小，是對專用探頭校對、試驗及檢測的必備專用工具。


以下結合附圖及實施例對本實用新型作進一步說明。
附圖1為本實用新型的主視結構示意圖，
附圖2為本實用新型的左視結構示意圖，附圖3為本實用新型的仰視結構示意圖。
圖中，1、薄板體，2、弧形凸起面，3、橫向刻度線，4、大探測孔，5、厚板體，6、小探測孔，7、縱向刻度線。
具體實施方式
在圖中，該專用探塊由20號鋼做成，其厚板體5的厚度為25±0.5mm，其薄板體1的厚度為20±0.5mm；其大探測孔4的直徑為φ6±0.10mm，其弧形凸起側面2的弧度半徑為120±0.5mm，該厚、薄板體5、1的分界曲線的弧度半徑為80±0.5mm，該探頭下左測邊的弧形半徑為120±0.5mm，該探頭的長寬為φ120±0.5mm×160±0.5mm。
權利要求1.一種支柱絕緣子及瓷套超聲波探傷專用試塊，該試塊包括薄板體1、厚板體5、橫向，縱向刻度線3、7、及探測孔4、6；其特征是該試塊為一個矩形的鋼板，在它的左半部，有一道曲線把該矩形板劃分為薄板體1及厚板體5，厚板體5的上部及右側，帶有毫米級的刻度線3、7，在靠近厚板體5的下側邊處由近及遠順序開有3個大探測孔4，在靠近上側邊處，由上至下，順序開有3個小探測孔6，該試塊下側邊的左半部，為一個弧形邊，右半部邊為一道直邊；該板體的上側邊，為一個凸出的帶有弧度的面，它的凸起弧度與探頭的凹陷弧度相吻合。
2.根據權利要求1所述的一種支柱絕緣子及瓷套超聲波探傷專用試塊，其特征是該專用探塊由20號鋼做成，其厚板體5的厚度為25±0.5mm，其薄板體1的厚度為20±0.5mm；其大探測孔4的直徑為Ф6±0.10mm，其弧形凸起側面2的弧度半徑為Ф120±0.5mm，該厚，薄板體5、1的分界曲線的弧度半徑為80±0.5mm，該探頭下左測邊的弧形半徑為120±0.5mm，該探頭的長寬為260±0.5mm×160±0.5mm。
專利摘要本實用新型是一種做試驗檢測用的一支柱絕緣子及瓷套超聲波探傷專用試塊。該試塊為一個矩形的鋼板，它的左半部，有一道曲線把該矩形板劃分為薄板體及厚板體，厚板體的上部及右側，帶有毫米級的刻度線，在靠近厚板體下側邊處，由近及遠順序開有3個大探測孔，在靠近上側邊處，由上至下，順序開有3個小探測孔，該試塊下側邊的左半部，為一個弧形邊，右半部為一道直邊；該板體的上側面，為一個凸出的帶有弧度的面，它的凸起弧度與探頭的凹陷弧度相吻合。它結構特別簡單，實用，可以精確測試出探頭缺陷量的大小，是專對探頭的校對試驗及檢測的必備專用工具。
文檔編號G01N29/14GK2692666SQ20042002603
公開日2005年4月13日 申請日期2004年4月3日 優先權日2004年4月3日
發明者王維東, 劉勇, 王鮮鳳 申請人:徐州市發電廠