專利名稱：長短針治具結構的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種長短針治具結構，尤指一種用于壓測印刷電路板的長短針治具，該治具因為使用多層板材相迭合而成并通過由外而內的支柱鎖接，所以其整體結構也能較為堅固，同時使用的長短探針有效搭配探針所穿插的角度，使得該長短探針能有效的對印刷電路板作線路的測試。
使用時，首先將制作完成的印刷電路板(PCB)放置于下方治具8頂層的測試板83上，讓露出頂層測試板83的探針9與印刷電路板接觸，接著再操作測試機同時移動所述上、下治具7、8后面的伸縮立桿(圖中未顯示)，讓該印刷電路板夾于上、下治具7、8中間，同時上方治具7頂層測試板73露出的探針9也會接觸于所述的印刷電路板，最后再通過該上、下治具7、8的探針9對印刷電路板所作線路壓測的數據傳回測試機，讓操作人員得知所述印刷電路板的線路是否完整，是否有短路(short)及斷路(open)的情況。
通過對上述公知長短針治具的結構及使用說明可知，雖然公知長短針治具的結構可以達到測量印刷電路板線路完整性的目的，但是在其結構與使用上還是具有以下的缺點
1.因為現有探針治具雖然使用直徑6mm的銅支柱貫穿設置治具底層、中間到頂層針床板、多片的套板與測試板的板面內部與周圍，但是若要測量高密度的印刷電路板時，會因為插針的密度太高，直徑6mm銅支柱設置不下，造成治具中間無支撐柱結構，使得治具在壓測使用時，容易因支撐結構不足而產生治具變形，造成探針的彎曲損害。
2.現有探針治具由于頂層測試板只有3mm厚，所以治具在壓測使用時，往往會因為測試板的厚度不夠，容易造成治具壓測時彎曲變形，探針因此也彎曲，在測試時發生假(open)斷路與假(short)短路。
3.因為現有探針治具都是采用相同長度的探針，但是探針由底層貫穿設置治具的底層到頂層時，往往因為針插角度的不同而產生距離大小不同的斜率，所以當探針露出頂層測試板時，發生探針露出于測試板的長度變短而無法完全與印刷電路板接觸，造成測試時發生假(open)斷路與假(short)短路。
本實用新型的主要目的在于，提供一種長短針治具結構，是要讓該治具的結構能獲得全面的增強，即使該治具測量高密度的印刷電路板，也不會發生因結構不足造成探針彎曲，而損壞探針的情形。
本實用新型的次要目的在于，提供一種長短針治具結構，是要增加該治具頂層測試板的板材厚度，使測試板在壓測使用時，不會發生因板材厚度不夠而造成探針彎曲的情況。
本實用新型的另一次要目的，在于提供一種長短針治具結構，是要增加數種該治具上探針的長度，以配合探針因針插角度的不同，而產生距離大小不同的斜率問題，避免探針與印刷電路板接觸不完全的情形。
為達到上述目的，本實用新型包括上、下對應的治具，其特征在于該上、下治具由底層到頂層依次分別設置有多支直徑不同的支柱，該治具由底層至頂層還分別設置有長度不同的探針。使用時，通過增加頂層板材的厚度，并配合由外而內設置直徑不同的支柱，而能防止所述治具在使用時結構的變形，長度不同的探針則能因根據不同角度針插治具時而產生的斜率，使該探針在治具頂面的長度均能相等而避免壓測時與印刷電路板接觸不良，發生假(open)斷路的情況。
因此，本實用新型在設計上具有如下改進1.本實用新型除了于治具周圍板面設置相同直徑的銅支柱以貫穿設置在治具底層、中間到頂層針床板、多片的套板與測試板外，并在治具中間的套板上參雜設置了銅支柱與直徑較小的鐵支柱，如此可以增強治具周圍銅支柱的強度，使治具在測量高密度的印刷電路板時，也能因配合使用直徑較小的鐵支柱而增強治具整體的支撐結構，以避免發生治具變形造成探針彎曲的情況。
2.本實用新型因為將現有治具頂層測試板厚度從3mm增加為4mm，所以在治具壓測使用時，就能因為測試板的厚度增加而避免測試板的彎曲變形，減少在對印刷電路板測試時，發生假(open)斷路與假(short)短路的機率。
本實用新型因為采取多種不同長度的探針，配合不同針插角度因距離不同而產生的斜率，所以當探針由底層貫穿設置治具底層到頂層露出測試板時，均能避免因探針總長度均相同，從而避免探針伸出于測試板時長度變短，發生與印刷電路板接觸不良的情況。
圖2為本實用新型的治具結構的剖視動作示意圖(一)。
圖3為本實用新型的治具結構的剖視動作示意圖(二)。
圖4為本實用新型的治具結構的長短針對照表。
圖5為本實用新型的治具結構的套板立體圖。
圖6為現有的治具結構的剖視動作示意圖。圖中1 上治具 11 針床板
111 銅支柱孔 112 插針孔12 套板 121 銅支柱孔122 插針孔 123 鐵支柱孔13 測試板 2下治具21 針床板 22 套板221 銅支柱孔 222 插針孔223 鐵支柱孔 23 測試板231 銅支柱孔 232 插針孔3套管 4探針種類41 探針一 42 探針二43 探針三 44 探針四5銅支柱 6鐵支柱7上治具 71 針床板72 套板 73 測試板8下治具 81 針床板82 套板 83 測試板9探針如圖4，5示，所述上治具1的底層到頂層的插針板11、多片的套板12與測試板13的厚度，分別是3mm、1mm與4mm，以套板12為例其上所設的銅支柱孔121、鐵支柱孔123的直徑分別是6mm與2mm。
如

圖1所示，所述下治具2由底層到頂層依序分別為針床板21、多片的套板22與測試板23，該針床板21為兩片堆疊的型態，所述下治具2的測試板23與針床板21結構相同，以測試板23為例在測試板23的板面周圍分別設有銅支柱孔231，并在測試板23的板面中間部份設有不同孔徑的插針孔232；另外，所述下治具2的套板22的板面周圍分別設有銅支柱孔221，在套板22的板面中間部份設有相對于上述測試板23上不同孔徑插針孔232的插針孔222，位于插針孔222與周圍的銅支柱孔221之間參雜設有銅支柱孔221與鐵支柱孔223。
如圖4和5所示，所述下治具2底層到頂層的插針板21、多片的套板22與測試板23的厚度，分別是3mm、1mm與4mm，以套板22為例其上所設的銅支柱孔221、鐵支柱孔223的直徑分別是6mm與2mm。
再如圖2和圖4所示，(并配合參閱圖1)，為本實用新型的剖視動作示意圖(一)與本實用新型的長短針對照表。本實用新型的探針種類4，分別有探針一41、探針二42、探針三43與探針四44四種型態，所述探針一41的長度為95.25mm、探針二42的長度為96.25mm、探針三43的長度為97.25mm與探針四44的長度為98.25mm，并且在探針二42、探針三43與探針四44的末端，分別鍍有10mm、20mm與30mm長度的鍍金，以區別不同長度的探針。
所述探針種類4是因應不同針插角度，而產生不同斜率距離所作的設計，探針一41、探針二42、探針三43與探針四44所適用的斜率范圍，分別是斜率0～400miles(距離)、斜率401～600miles(距離)、601～800miles(距離)與斜率801～1000miles(距離)。
接著如圖1，2和5所示，上治具1組合時，首先將所述的銅支柱5與鐵支柱6分別插入于上述多片套板12的銅支柱孔121與鐵支柱孔123內，接著將上治具1底層與頂層的插針板11與測試板13分別抵住插于中間多片套板12，露出銅支柱5與鐵支柱6的兩端，接著將銅支柱5分別插入于上述堆疊而成的插針板11、多片的套板12與測試板13板面周圍的銅支柱孔內，接著再依次將套管3套入于銅支柱5位于各板體之間所露出的外徑處，以形成一間接支撐與保護銅支柱5的結構，最后將螺絲旋入并鎖于插針板11與測試板13上銅支柱5的兩端，使銅支柱5固定在各板體周圍以形成上治具1完整的固定結構。
最后再將欲使用的的探針，例如探針一41與探針二42依所需穿插的角度，貫穿設置于所述插針板11、多片的套板12與測試板13中間部份不同孔徑的插針孔內，并讓所述探針一41與探針二42露出于測試板13的頂面，以完成探針一41和探針二42與上治具1的組合。
下治具2組合時，首先所述的銅支柱5與鐵支柱6分別插入于上述多片套板22的銅支柱孔221與鐵支柱孔223內，接著將下治具2底層與頂層的插針板21與測試板23分別抵住插于中間多片套板22，露出銅支柱5與鐵支柱6的兩端，接著將銅支柱5分別插入于上述堆疊而成的插針板21、多片的套板22與測試板23板面周圍的銅支柱孔內，接著再依次將套管3套入于銅支柱5位于各板體之間所露出的外徑處，以形成一間接支撐與保護銅支柱5的結構，最后將螺絲旋入并鎖于插針板21與測試板23上銅支柱5的兩端，使銅支柱5固定在各板體周圍以形成下治具2完整的固定結構。
最后再將欲使用的的探針，例如探針一41與探針二42依所需穿插的角度，貫穿設置于所述插針板21、多片的套板22與測試板23中間部份不同孔徑的插針孔內，并讓所述探針一41與探針二42露出于測試板23的頂面，以完成探針一41和探針二42與下治具(2)的組合。
如圖2，3所示為(并配合參閱圖1)，本實用新型的剖視動作示意圖(一)、(二)。使用時，首先將制作完成欲壓測的印刷電路板(PCB)，放置于下治具2的測試板23上，使露出于測試板23頂面的探針一41與探針二42與印刷電路板接觸，接著操作壓測機同時移動所述上、下治具1、2后面的伸縮立桿(圖中未顯示)，讓該印刷電路板夾于上、下治具1、2中間，同時上方治具1頂層的測試板13露出的探針一41與探針二42也會接觸于所述的印刷電路板，最后再通過該上、下治具1、2的探針一41與探針二42對印刷電路板所作線路壓測的數據傳回測試機，使操作人員得知所述印刷電路板的線路是否完整，是否有短路(short)及斷路(open)的情形。
以上所述僅為用以解釋本實用新型的較佳實施例，并非企圖具以對本實用新型作任何形式上的限制，因此，凡有在相同的創作精神下所作有關本實用新型的任何修飾或變更，皆仍應包括在本實用新型意圖保護的范圍內。
權利要求1.一種長短針治具結構，包括上、下對應的治具，其特征在于所述上、下治具在由底層到頂層之間分別設置有多支直徑不同的支柱，所述治具由底層至頂層還分別設置有長度不一的探針。
2.根據權利要求1所述的長短針治具結構，其特征在于所述支柱為直徑6mm的銅支柱。
3.根據權利要求1所述的長短針治具結構，其特征在于所述支柱為直徑2mm的鐵支柱。
4.根據權利要求1所述的長短針治具結構，其特征在于所述探針的長度分別為95.25mm、96.25mm、97.25mm與98.25mm。
5.根據權利要求1所述的長短針治具結構，其特征在于所述上、下治具頂層為厚度4mm的測試板。
專利摘要本實用新型涉及一種長短針治具結構，包括上、下對應的治具，其特征在于該上、下治具由底層到頂層依次分別設置有多支直徑不同的支柱，該治具由底層至頂層還分別設置有長度不同的探針。使用時，通過增加頂層板材的厚度，并配合由外而內設置直徑不同的支柱，而能防止所述治具在使用時結構的變形，長度不一的探針則能因根據不同角度針插治具時而產生的斜率，使該探針在治具頂面的長度皆能相等而避免壓測時與印刷電路板接觸不良，發生假(open)斷路的情形。
文檔編號G01R31/28GK2604693SQ0325753
公開日2004年2月25日 申請日期2003年5月12日 優先權日2003年5月12日
發明者蘇思國 申請人:瑞統企業股份有限公司