專利名稱：高靈敏度的ic板測試制具裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種高靈敏度的IC板測試制具裝置，主要是在測試基板的上部設以一轉接板，具有模式化的共通電路，提供于上部再組裝以特定的IC測試板，以有效測試特定的IC板，即利用同一制具裝置，便可適用于測試各種不同IC板的良率，無須麻煩的更換程序。
背景技術：
傳統的高靈敏度的IC測試板制具裝置的結構如圖1，主要包括有一支撐框架1，組合以鋁框11，提供于各開孔處設以一支撐座12，使IC測試板2可架設于支撐座12上，而內部連接以電線21至計算機主機。IC定位座3可設于IC測試板2的上部，并組合以IC板31于其上，與測試板2相接觸，完成檢測電路是否為正常。此傳統結構由于每一IC測試板2僅能測試一種IC板31，當欲測試不同IC板時，必須更換整體支撐框架1及其上的測試板12，其工程相當繁瑣，非常麻煩。

發明內容
本實用新型的目的是提供一種高靈敏度的IC板測試制具裝置，利用轉換測量方式，在同一測試基板的結構下，以簡易轉換其測試功能，有效檢測不同種類的IC板。
以下結合附圖以具體實例對本實用新型進行詳細說明。


圖1為傳統IC板測試制具裝置局部立體圖；圖2為圖1的分解圖；圖3為本實用新型的使用狀態平面圖；圖4為圖2的側視圖；
圖5為本實用新型的局部立體圖；圖6為圖5的分解圖。
附圖標記說明1支撐框架；11鋁框；12支撐座；2 IC測試板；21電線；3 IC定位座；31 IC板；4測試基板；5轉接板。
具體實施方式
請先參閱圖3、圖4，本實用新型的高靈敏度的IC板測試制具裝置包括有傳統的支撐框架1，鋁框11及支撐座12，在該支撐框架1上可同時檢測許多組IC板。而本實用新型的特征在于提供一測試基板4設于支撐座12，其內部以電線連接于計算機主機。另于測試基板4上設以一轉接板5，該轉接板5具有上下電路線路，可將測試電路轉換為模式化的共通電路。而IC測試板2乃可置放于轉接板5的上部，形成導通，使IC定位座3所組合的IC板31放置于IC測試板2上部后，獲得高靈敏度的的檢測效果，以確定的品質的良性與否，達成測試目的。
在本實用新型的轉換程序下，整體制具無須更換其測試基板4及其內部線路，只須藉由轉換板5的變化及IC測試板2的配合，即可利用該制具來測試不同的IC板31，提升產業上的利用性。
權利要求1.一種高靈敏度的IC板測試制具裝置，包括有一支撐框架，鋁框及支撐座，以同時檢測許多組IC板；其特征在于沒有一測試基板于支撐座上，其內部以電線連接于計算機主機；另于測試基板上設以一轉接板，該轉接板具有上下電路線路，將測試電路轉換為模式化的共通電路，而IC測試板置放于轉接板的上部，形成導通，使IC定位座所組合的IC板放置于IC測試板上部后，得到檢測。
專利摘要本實用新型公開了一種高靈敏度的IC板測試制具裝置，主要系于測試基板的上部設以一轉接板，具有模式化的共通電路，以供于上部再組裝以特定的IC測試板，以有效測試特定的IC板，即利用同一制具裝置，便可適用于測試各種不同IC板的良率，無須麻煩的更換程序，深具產業上的利用價值。
文檔編號G01R31/28GK2625911SQ0320015
公開日2004年7月14日 申請日期2003年1月3日 優先權日2003年1月3日
發明者羅文伶 申請人:追日潤股份有限公司